Loic THEOLIER

Associate Professor

Research group : RELIABILITY

Team : RIAD,WBG

Tel : 0540002813

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Conference proceedings (7)

Apparent heat capacity model of the SiC MOSFET’s Aluminium top surface for short-circuits simulations Auteur(s): F. Loche-Moinet, L. Theolier, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-03665892 Increased Breakdown Voltage and robustness of Embedded power module Auteur(s): A. Tablati, N. Alayli, F. Arabi, K. El Boubakari, T. Youssef, L. Theolier, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-03665886 New simulation method for Deep Trench Termination diode (DT2) using mixed-mode TCAD sentaurus Auteur(s): F. Baccar, H. Arbess, L. Theolier, S. Azzopardi, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02500152 Initiation à la recherche sur la Fiabilité en microélectronique par la physique :Mini-projets en laboratoire Auteur(s): J-y Deletage, T. Dubois, G. Duchamp, L. Theolier, J-M Vinassa, E. Woirgard, H. Fremont, O. Briat, A. Guédon-Gracia Lien HAL : https://hal.science/hal-02516984 Vieillissement et caractérisation de véhicules de tests de composants de puissance pour l’aéronautique Auteur(s): F. Arabi, M. Medina, L. Theolier Lien HAL : https://hal.science/hal-02518867 Tuteurs tuteurés : Le tutorat de première année, un enseignement par les élèves, pour les élèves Auteur(s): H. Frémont, F. Arnal, L. Theolier, M. Tarisien Lien HAL : https://hal.science/hal-02517268 Initiation à la recherche sur la fiabilité en microélectronique par la physique : mini-projets en laboratoire Auteur(s): O. Briat, J.-Y. Delétage, T. Dubois, G. Duchamp, H. Frémont, A. Guédon-Gracia, L. Theolier, J.-M. Vinassa, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02518400

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