Loic THEOLIER

Special issue (1)

Mise en place d’une SAÉ de ventilation solaire autonome à base de panneaux photovoltaïques Auteur(s): Marouane Frini, Loïc Théolier, François Augereau, Marie Gueunier-Farret Lien HAL : https://hal.science/hal-04263307v1

Conference proceedings (25)

Comparison of crack resistance of two SiC MOSFETs gate geometries under short-circuit by FE simulations Auteur(s): Florent Loche-Moinet, Loïc Théolier, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-04993053v1 Multi-scale electro-thermo-mechanical simulation of a SiC MOSFET transitor during short-circuit Auteur(s): Florent Loche-Moinet, Loïc Théolier, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-04263298v1 Electrical and thermo-mechanical study of a new design to improve the breakdown voltage of an Embedded power module Auteur(s): A. Tablati, Loïc Théolier, N. Alayli, Toni Youssef, Faical Arabi Lien HAL : https://hal.science/hal-03554208v1 Évaluation des mécanismes de défaillance et de la fiabilité d’une nouvelle terminaison haute tension : approche expérimentale et modélisation associée Auteur(s): Loïc Théolier Lien HAL : https://hal.science/hal-02518858v1 New simulation method for Deep Trench Termination diode (DT²) using mixed-mode TCAD sentaurus Auteur(s): F. Baccar, H. Arbess, L. Theolier, S. Azzopardi, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02500152v1 Évaluation des mécanismes de défaillance et de la fiabilité d’une nouvelle terminaison haute tension : approche expérimentale et modélisation associée Auteur(s): Loïc Théolier Lien HAL : https://hal.science/hal-02500358v1 Vieillissement et caractérisation de véhicules de tests de composants de puissance pour l’aéronautique Auteur(s): F. Arabi, M. Medina, L. Theolier Lien HAL : https://hal.science/hal-02518867v1 Tuteurs tuteurés : Le tutorat de première année, un enseignement par les élèves, pour les élèves Auteur(s): H. Frémont, F. Arnal, L. Theolier, M. Tarisien Lien HAL : https://hal.science/hal-02517268v1 Initiation à la recherche sur la fiabilité en microélectronique par la physique : mini-projets en laboratoire Auteur(s): O. Briat, J.-Y. Delétage, T. Dubois, G. Duchamp, H. Frémont, A. Guédon-Gracia, L. Theolier, J.-M. Vinassa, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02518400v1 Temperature and voltage effects on HTRB and HTGB stresses for AlGaN/GaN HEMTs Auteur(s): Omar Chihani, Loïc Théolier, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard, Alain Bensoussan, André Durier Lien HAL : https://hal.science/hal-02500021v1 Initiation à la recherche sur la Fiabilité en microélectronique par la physique :Mini-projets en laboratoire Auteur(s): J-y Deletage, T. Dubois, G. Duchamp, L. Theolier, J-M Vinassa, E. Woirgard, H. Fremont, O. Briat, A. Guédon-Gracia Lien HAL : https://hal.science/hal-02516984v1 L'effet de la température et de la tension sur des vieillissements HTRB et HTGB pour des HEMTs GaN de puissance Auteur(s): Omar Chihani, Loïc Théolier, Alain Bensoussan, Pierre Bondue, Jean-Yves Deletage, André Durier, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02981877v1 Apport de la simulation numérique dans l’analyse de défaillance Auteur(s): H. Frémont, Loïc Théolier Lien HAL : https://hal.science/hal-02517284v1 Effect of voids on crack propagation in AuSn die attach for high-temperature power modules Auteur(s): Faical Arabi, Loic Théolier, Toni Youssef, Mathieu Medina, Jean-Yves Deletage, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-01662929v1 Failure mechanism study of gold-tin solder for attaching power electronic devices Auteur(s): Faical Arabi, Loïc Théolier, Donatien Martineau, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-01663005v1 Etude thermomécanique de la dégradation des assemblages de puissance soumis à des vieillissements à haute température Auteur(s): Faical Arabi, Loïc Théolier, Martineau D., Jean-Yves Deletage, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-01361692v1 Intérêt de la simulation 2D multicellulaire par éléments-finis pour l'analyse d'un défaut lié un décollement de fil de câblage sur une puce de puissance IGBT Auteur(s): Kamal El Boubkari, Stéphane Azzopardi, Loïc Théolier, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-00955758v1 Electrical Characteristics Evolution of the Deep Trench Termination Diode Based on a Finite Elements Simulation Approach Auteur(s): Fédia Baccar, François Le Henaff, Loïc Théolier, Stephane Azzopardi, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-01017506v1 Fiabilité d'une diode DT2 reportée sur un substrat DBC par frittage de pâte d'argent Auteur(s): Fédia Baccar, Loïc Théolier, Stephane Azzopardi, François Le Henaff, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-01017558v1 Silver sintering wire-bonding less power module for high temperature applications Auteur(s): Francois Le Henaff, Stephane Azzopardi, Loïc Théolier, Jean-Yves Deletage, Eric Woirgard, Serge Bontemps, Julien Joguet Lien HAL : https://hal.science/hal-01065293v1 Failure initiation of IGBT due to emitter contact degradation: a 2D finite elements electro-thermal multi-cell simulation approach under hard switching, short-circuit and avalanche operations Auteur(s): Kamal El Boubkari, Stephane Azzopardi, Loïc Théolier, Raphaël Roder, Eric Woirgard, Serge Bontemps Lien HAL : https://hal.science/hal-00955738v1 Fiabilité d'une diode DT2 reportée sur un substrat DBC par frittage de pâte d'argent Auteur(s): Fédia Baccar, Loïc Théolier, Stephane Azzopardi, Francois Le Henaff, Jean-Yves Deletage, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-01065237v1 Feasibility and performances of BOOST converter in automotive application using silicon power transistors operating at 200°C Auteur(s): Raphaël Roder, Stephane Azzopardi, Loïc Théolier, Eric Woirgard, Serge Bontemps Lien HAL : https://hal.science/hal-01065131v1 First Assemblies Using Deep Trench Termination Diodes Auteur(s): Fédia Baccar, Loïc Théolier, Stephane Azzopardi, François Le Henaff, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-01017522v1 2D finite elements electro-thermal modeling for IGBT: uni and multicellular approach Auteur(s): Kamal El Boubkari, Stephane Azzopardi, Loïc Théolier, Jean-Yves Delétage, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-00795341v1