Article (5)
Mechanical stress investigation after technological process in Deep Trench Termination DT2 using BenzoCycloButene as dielectric material Auteur(s): H. Arbess, F. Baccar, L. Theolier, S. Azzopardi, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02500148v1 Ageing mechanisms in Deep Trench Termination (DT2) Diode Auteur(s): F. Baccar, H. Arbess, L. Theolier, S. Azzopardi, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02500141v1 Thermo-Mechanical Reliability Assessment of AlN Power Substrates Subjected to Severe Aging Tests Auteur(s): Faical Arabi, Loic Theolier, Donatien Martineau, J.-Y. Delétage, Mathieu Médina, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-01662917v1 Power electronic assemblies: Thermo-mechanical degradations of gold-tin solder for attaching devices Auteur(s): Faical Arabi, Loic Theolier, Donatien Martineau, J.-Y. Delétage, Mathieu Médina, Eric Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-01662946v1 Identification and analysis of power substrates degradations subjected to severe aging tests Auteur(s): Eric Woirgard, Faical Arabi, Wissam Sabbah, Donatien Martineau, Loic Theolier, Stéphane Azzopardi Lien HAL : https://hal.science/hal-01662947v1Conference proceedings (7)
Increased Breakdown Voltage and robustness of Embedded power module Auteur(s): A. Tablati, N. Alayli, F. Arabi, K. El Boubakari, T. Youssef, L. Theolier, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-03665886v1 Apparent heat capacity model of the SiC MOSFET’s Aluminium top surface for short-circuits simulations Auteur(s): F. Loche-Moinet, L. Theolier, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-03665892v1 Vieillissement et caractérisation de véhicules de tests de composants de puissance pour l’aéronautique Auteur(s): F. Arabi, M. Medina, L. Theolier Lien HAL : https://hal.science/hal-02518867v1 Initiation à la recherche sur la Fiabilité en microélectronique par la physique :Mini-projets en laboratoire Auteur(s): J-y Deletage, T. Dubois, G. Duchamp, L. Theolier, J-M Vinassa, E. Woirgard, H. Fremont, O. Briat, A. Guédon-Gracia Lien HAL : https://hal.science/hal-02516984v1 Tuteurs tuteurés : Le tutorat de première année, un enseignement par les élèves, pour les élèves Auteur(s): H. Frémont, F. Arnal, L. Theolier, M. Tarisien Lien HAL : https://hal.science/hal-02517268v1 Initiation à la recherche sur la fiabilité en microélectronique par la physique : mini-projets en laboratoire Auteur(s): O. Briat, J.-Y. Delétage, T. Dubois, G. Duchamp, H. Frémont, A. Guédon-Gracia, L. Theolier, J.-M. Vinassa, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02518400v1 New simulation method for Deep Trench Termination diode (DT2) using mixed-mode TCAD sentaurus Auteur(s): F. Baccar, H. Arbess, L. Theolier, S. Azzopardi, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02500152v1Send a email to Loic THEOLIER :
