Article (6)
Methodology to Test Automotive Electrical Components to Wideband Pulse Interferences Auteur(s): T. Picon, T. Dubois, M. Klingler, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02515312 A conducted Immunity Model for Electromagnetic Reliability of a Voltage Reference Circuit Auteur(s): S. Hairoud, G. Duchamp, T. Dubois, J. Y. Delétage, A. Durier, H. Frémont Lien HAL : https://hal.science/hal-02515280 Moisture diffusion in plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) dielectrics characterized with three techniques under clean room conditions Auteur(s): V. Cartailler, G. Imbert, N. Rochat, C. Chaton, D. Vo-Thanh, D. Benoit, G. Duchamp, H. Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-02515324 Effects of HPEM stress on GaAs low-noise amplifier from circuit to component scale Auteur(s): M. Girard, T. Dubois, P. Hoffmann, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01884917 Une « Mallette Scan Champ Proche » pour l’enseignement de la compatibilité électromagnétique Auteur(s): Tristan Dubois, J-P. Guillet, G. Duchamp, J. Tomas Lien HAL : https://hal.science/hal-01698515 Effects of ageing on the conducted immunity of a voltage reference: Experimental study and modelling approach Auteur(s): S. Hairoud-Airieau, G. Duchamp, Tristan Dubois, J.-Y. Delétage, A. Durier, H. Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-01659294Conference proceedings (20)
Comportement d’une carte à base d’amplificateur opérationnel face à une perturbation électromagnétique de type impulsionnel modulé », Journée « Sécurité des systèmes électroniques et communicants Auteur(s): T. Dubois, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02515969 Investigating HPEM Effects on GaAs p-HEMT Low-Noise Amplifier Auteur(s): M. Girard, P. Hoffmann, T. Dubois, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02516469 ICIM-CI Model of Op. Amp. Taking Into Account Environment Effect for Robustness Concern Auteur(s): T. Dubois, S. Hairoud, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02516488 Methodology To Test Automotive Electrical Components To Wideband Pulse Interferences Auteur(s): T. Picon, M. Klingler, T. Dubois, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02516972 Initiation à la recherche sur la Fiabilité en microélectronique par la physique :Mini-projets en laboratoire Auteur(s): J-y Deletage, T. Dubois, G. Duchamp, L. Theolier, J-M Vinassa, E. Woirgard, H. Fremont, O. Briat, A. Guédon-Gracia Lien HAL : https://hal.science/hal-02516984 Moisture diffusion in dense SiO2 and ultra low k integrated stacks Auteur(s): V. Cartailler, G. Imbert, V. Guyader, M. Juhel, P. Lamontagne, M. Rafik, D. Ney, D. Benoit, C. Chaton, J. B. Moulard, G. Duchamp, H. Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-02477172 Moisture uptake of PECVD dielectrics at ambient and accelerated Test Conditions Auteur(s): V. Cartailler, G. Imbert, G. Duchamp, H. Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-02477098 Impact of asymmetrical shape for trapezoidal signal on ICs spectral emission envelope Auteur(s): N. Baptistat, K. Abouda, T. Dubois, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02515370 Analyse de la susceptibilité d’un montage à base d’AOP, comparaison des résultats entre modes conduit et rayonné Auteur(s): M. Girard, T. Dubois, G. Duchamp, P. Hoffmann Lien HAL : https://hal.science/hal-02515928 Using a 2-step electromagnetic and electric simulation approach for vehicle susceptibility analysis Auteur(s): T. Picon, T. Dubois, M. Klingler, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02515696 Modèle de simulation électromagnétique pour l’étude de susceptibilité véhicule Auteur(s): T. Picon, T. Dubois, M. Klingler, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02515782 Initiation à la recherche sur la fiabilité en microélectronique par la physique : mini-projets en laboratoire Auteur(s): O. Briat, J.-Y. Delétage, T. Dubois, G. Duchamp, H. Frémont, A. Guédon-Gracia, L. Theolier, J.-M. Vinassa, E. Woirgard Lien HAL : https://hal.science/hal-02518400 Evaluation de moyens d’essais pour l’étude de l’impact des impulsions modulées large bande en automobile Auteur(s): T. Picon, T. Dubois, M. Klingler, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02515349 Interférences Électromagnétiques Intentionnelles :étude de la susceptibilité et analyse des défaillances induites Auteur(s): T. Dubois, M. Girard, G. Duchamp, P. Hoffmann Lien HAL : https://hal.science/hal-02515979 Effects of Process-Voltage-Temperature (PVT) Variations on Low-Side MOSFET circuit Conducted Emission Auteur(s): N. Baptistat, K. Abouda, T. Dubois, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02515500 High Frequency Characterization of Nanocomposite LMaterials Based on Simulation and Measurement of Buried Capacitors Auteur(s): M. Wade, G. Duchamp, T. Dubois, I. Bord-Majek Lien HAL : https://hal.science/hal-02516482 High frequency characterization of nanocomposite materials based on simulation and measurement of buried capacitors Auteur(s): M. Wade, G. Duchamp, T. Dubois, I. Bord-Majek Lien HAL : https://hal.science/hal-01349069 Qualification procedure for moisture in embedded capacitors Auteur(s): H. Frémont, J. Kludt, M. Wade, K. Weide-Zaage, I. Bord-Majek, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01349082 How SI/EMC and reliability issues could interact together in embedded electronic systems? Auteur(s): K. Weide-Zaage, A. Moujbani, G. Duchamp, Tristan Dubois, Frédéric Verdier, H. Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-01180993 Evolution de la Technologie des Condensateurs Enterrés pour des Applications Hautes Fréquences Auteur(s): M. Wade, I. Bord-Majek, T. Dubois, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01022751Send a email to Geneviéve DUCHAMP :
