Geneviève DUCHAMP

Professor

Research group : RELIABILITY

Team : REMI,RIAD

Tel : 0540006539

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Article (22)

A conducted Immunity Model for Electromagnetic Reliability of a Voltage Reference Circuit Auteur(s): S. Hairoud, G. Duchamp, T. Dubois, J. Y. Delétage, A. Durier, H. Frémont Lien HAL : https://hal.science/hal-02515280 A New Method for the Characterization of Electronic Components Immunity Auteur(s): Tristan Dubois, Ala Ayed, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01725100 Immunity Measurement and Modeling of an ADC Embedded in a Microcontroller Using RFIP Technique Auteur(s): Ala Ayed, Tristan Dubois, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01725099 Une « Mallette Scan Champ Proche » pour l’enseignement de la compatibilité électromagnétique Auteur(s): Tristan Dubois, J-P. Guillet, G. Duchamp, J. Tomas Lien HAL : https://hal.science/hal-01698515 Effects of ageing on the conducted immunity of a voltage reference: Experimental study and modelling approach Auteur(s): S. Hairoud-Airieau, G. Duchamp, Tristan Dubois, J.-Y. Delétage, A. Durier, H. Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-01659294 Failure mechanism study and immunity modeling of an embedded analog-to-digital converter based on immunity measurements Auteur(s): Ala Ayed, Tristan Dubois, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01180979 Characterization and model of temperature effect on the conducted immunity of Op. Amp Auteur(s): Tristan Dubois, Siham Hairoud, Marcio Gomes de Oliveira, Helene Frémont, Genevieve Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01180983 Qualification procedure for moisture in embedded capacitors Auteur(s): Hélène Frémont, Jörg Kludt, Massar Wade, Geneviève Duchamp, Kirsten Weide-Zaage, Isabelle Bord-Majek Lien HAL : https://hal.science/hal-01091487 Methodological approach for predictive reliability: practical case studies Auteur(s): Hélène Fremont, Geneviève Duchamp, Alexandrine Guedon-Gracia, Frédéric Verdier Lien HAL : https://hal.science/hal-00788556 Control of the Electromagnetic compatibility : an issue for IC reliability Auteur(s): Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Jean-Luc Levant, Christian Marot Lien HAL : https://hal.science/hal-00671604 La Validation des Acquis de l'Expérience - De la démarche personnelle à la réalisation encadrée :Une expérience à l'université Bordeaux 1 Auteur(s): Isabelle Sand, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00671615 ACCREDITATION OF EXPERIENTIAL LEARNING (AEL) From personal initiative to supervised realization An experiment at Bordeaux 1 University Auteur(s): Isabelle Sand, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00525830 Electromagnetic immunity model of an ADC for microcontroller's reliability improvement Auteur(s): Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Alain Meresse †, Jean-Luc Levant Lien HAL : https://hal.science/hal-00400457 Reliability of Low-Cost PCB Interconnections for Telecommunication Applications Auteur(s): Geneviève Duchamp, Frédéric Verdier, Yannick Deshayes, François Marc, Yves Ousten, Yves Danto Lien HAL : https://hal.science/hal-00181802 Evaluation of a micropackaging analysis technique by highfrequency microwaves Auteur(s): Geneviève Duchamp, Yves Ousten, Yves Danto Lien HAL : https://hal.science/hal-00181934 3D Thermal simulation of Power Hybrid Assemblies Auteur(s): Christian Zardini, Francis Rodes, Geneviève Duchamp, Jean-Louis Aucouturier Lien HAL : https://hal.science/hal-00182883 Near-field EMC study to improve electronic component reliability Auteur(s): Geneviève Duchamp, Didier Castagnet, Alain Meresse Lien HAL : https://hal.science/hal-00180353 A New Tool for Slot-Microstrip Transition Simulation Auteur(s): Geneviève Duchamp, Laurent Casadebaig, S. Gauffre, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182881 Surface Acoustic Wave NO2 sensor : Influence of humidity Auteur(s): Dominique Rebiere, Geneviève Duchamp, Jacques Pistre, Moussa Hoummady, Daniel Hauden, Roger Planade Lien HAL : https://hal.science/hal-00182882 An Automatic Adaptation Method for Heterojunction Bipolar Transistor Dynamic Test Auteur(s): S. Gauffre, Geneviève Duchamp, Laurent Casadebaig, Jacques Pistre, Alain Cazarré Lien HAL : https://hal.science/hal-00182880 An alternative method for end effect characterization in shorted slotlines Auteur(s): Geneviève Duchamp, Laurent Casadebaig, S. Gauffre, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182879 Multilayered duplexer system Auteur(s): Geneviève Duchamp, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182878

Conference proceedings (81)

Modèle de simulation électromagnétique pour l’étude de susceptibilité véhicule Auteur(s): T. Picon, T. Dubois, M. Klingler, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02515782 Moisture uptake of PECVD dielectrics at ambient and accelerated Test Conditions Auteur(s): V. Cartailler, G. Imbert, G. Duchamp, H. Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-02477098 Evaluation de moyens d’essais pour l’étude de l’impact des impulsions modulées large bande en automobile Auteur(s): T. Picon, T. Dubois, M. Klingler, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-02515349 Effets du stress électromagnétique sur un transistor p-HEMT GaAs Auteur(s): Maxime Girard, Patrick Hoffmann, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01698527 Multiport ICIM-CI modeling approach applied to a bandgap voltage reference Auteur(s): Siham Hairoud Airieau, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp, André Durier Lien HAL : https://hal.science/hal-01688230 Near-field scan tools for embedded electronic analysis Auteur(s): Tristan Dubois, Geneviève Duchamp, Julien Weckbrodt, Stephane Azzopardi Lien HAL : https://hal.science/hal-01659420 EMC susceptibility characterization of an operational amplifier-based circuit combining different technique Auteur(s): Maxime Girard, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp, Patrick Hoffmann Lien HAL : https://hal.science/hal-01659305 An Analog-to-Digital Converter Immunity Modelling based on a Stochastic Approach Auteur(s): Siham Hairoud Airieau, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp, André Durier Lien HAL : https://hal.science/hal-01655915 Multiport ICIM-CI modeling approach applied to a bandgap voltage reference Auteur(s): Siham Hairoud Airieau, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp, Andre Durier Lien HAL : https://hal.science/hal-01659310 BEHAVIORAL MODELLING TAKING INTO ACCOUNT AGEING EFFECTS FOR IC'S IMMUNITY PREDICTION Auteur(s): Geneviève Duchamp, Tristan Dubois Lien HAL : https://hal.science/hal-01598944 High frequency characterization of nanocomposite materials based on simulation and measurement of buried capacitors Auteur(s): M. Wade, G. Duchamp, T. Dubois, I. Bord-Majek Lien HAL : https://hal.science/hal-01349069 Qualification procedure for moisture in embedded capacitors Auteur(s): H. Frémont, J. Kludt, M. Wade, K. Weide-Zaage, I. Bord-Majek, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01349082 A methodologic project to characterize and model COTS components EMC behavior after ageing Auteur(s): Andre Durier, Alexandre Boyer, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01698337v2 Methodology Based on Experiments and 3-D EM Simulations for Frequency Characterization of Buried Capacitors Auteur(s): Massar Wade, Isabelle Bord-Majek, Tristan Dubois, Genevieve Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01109473 Méthode RFIP : vers une meilleure caractérisation de l’immunité des circuits intégrés Auteur(s): Ala Ayed, Tristan Dubois, Jean-Luc Levant, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01109486 Leakage current measurements of core/shell hyperbranched polyester /BaTi03 composites for embedded capacitors Auteur(s): Massar Wade, Isabelle Bord-Majek, Bruno Levrier, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01180995 Measurement and simulation of electromagnetic drift for obsolescence management in electronics Auteur(s): Geneviève Duchamp, Tristan Dubois, Ala Ayed, Christian Marot, Hélène Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-01180999 Measurement and Simulation of Electromagnetic Drift for Obsolescence Management in Electronics Auteur(s): Geneviève Duchamp, Tristan Dubois, Ala Ayed, Christian Marot, Hélène Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-01153333 RFIP method: towards a better characterization of integrated circuits immunity Auteur(s): Ala Ayed, Tristan Dubois, Jean-Luc Levant, Genevieve Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01109462 Simulations and Measurements to Predict EMC Characteristics in Electronic Assemblies: Obsolescence Management Auteur(s): Geneviève Duchamp, Tristan Dubois, Hélène Frémont Lien HAL : https://hal.science/hal-01153323 Evaluation of a Surface Equivalent Model in the Case of Conductive Reinforced Composite Sheets Auteur(s): Ammar Kader, Marco Klingler, Tristan Dubois, Genevieve Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01104480 Evaluation of the EMC Performances of a Partial Composite Vehicle Body Depending on the Type of Material. Auteur(s): Ammar Kader, Marco Klingler, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01122149 Evaluation of the Radiated Field by a Harness Above a Partial Composite Material Chassis Auteur(s): Ammar Kader, Marco Klingler, Tristan Dubois, Genevieve Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01109451 Evaluation de la résistance entre deux points d’un matériau composite Auteur(s): Ammar Kader, Marco Klingler, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01109481 How SI/EMC and reliability issues could interact together in embedded electronic systems? Auteur(s): K. Weide-Zaage, A. Moujbani, G. Duchamp, Tristan Dubois, Frédéric Verdier, H. Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-01180993 Leakage current measurements of core/shell hyperbranched polyester/BaTiO3 composites for embedded capacitors Auteur(s): Massar Wade, Isabelle Bord-Majek, Bruno Levrier, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01188929 Embedded capacitor design rules in multilayer organic-based substrate for HF circuits Auteur(s): Massar Wade, Isabelle Bord-Majek, Tristan Dubois, Genevieve Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00934187 Surface Equivalent Modeling of Layered Composite Material Auteur(s): Ammar Kader, Marco Klingler, Tristan Dubois, Genevieve Duchamp, Gilles Ruffié, Fabrice Bonnaudin Lien HAL : https://hal.science/hal-00938681 Evolution de la Technologie des Condensateurs Enterrés pour des Applications Hautes Fréquences Auteur(s): M. Wade, I. Bord-Majek, T. Dubois, G. Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01022751 To improve the variability of one complex system with the MKME Auteur(s): Maxime Breant, O. Maurice, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00938985 Conducted immunity of three Op-Amps using the DPI measurement technique and VHDL-AMS modeling Auteur(s): Siham Hairoud, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp, Angélique Tételin Lien HAL : https://hal.science/hal-00938699 Methodology Based on Experiments and 3-D EM Simulations for Frequency Characterization of Buried Capacitors Auteur(s): Massar Wade, Isabelle Bord-Majek, Tristan Dubois, Genevieve Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-01067613 OPTIMIST - Optimisation et caractérisations de composants sous agressions environnantes Auteur(s): Mohamed Amellal, Sarrah Amor, Geneviève Duchamp, Ali Ahaitouf, Jean-Paul Salvestrini, Laurent Béchou, Mohamed Ramdani, Richard Perdriau Lien HAL : https://hal.science/hal-00844431 To improve the variability of one complex system with the MKME Auteur(s): Maxime Breant, Olivier Maurice, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00844418 Conception, simulation et réalisation de condensateurs enterrés à base de nanocomposites pour des circuits hautes fréquences Auteur(s): Massar Wade, Isabelle Bord-Majek, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00859249 Simulation of aging effects on radiated emission of microstrip line Auteur(s): Hassene Fridhi, Geneviève Duchamp, Valérie Vigneras Lien HAL : https://hal.science/hal-00671606 Influence du vieillissement en environnement humide sur l'émission rayonnée des PCB Auteur(s): Hassene Fridhi, Geneviève Duchamp, Valérie Vigneras Lien HAL : https://hal.science/hal-00709118 VHDL-AMS relevance for predicting integrated circuits emissivity and immunity Auteur(s): Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Jean-Luc Levant Lien HAL : https://hal.science/hal-00671610 Conception d'une maquette avionique pour l'étude du codage Gillham de l'altitude Auteur(s): Denis Michaud, Olivier Devos, Franck Cazaurang, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00671612 Measurement and simulation of moisture effects on electromagnetic radiation of printed circuit boards Auteur(s): Hassene Fridhi, Geneviève Duchamp, Valerie Vigneras, Alexandrine Guedon-Gracia, Jean-Yves Deletage, Hélène Fremont, Tristan Dubois Lien HAL : https://hal.science/hal-00709116 Maitrise de la CEM des circuits intégrés : normes de modélisation Auteur(s): Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Jean-Luc Levant Lien HAL : https://hal.science/hal-00585078 Utilisation des plans d'expériences pour l'étude de l'influence des variations paramétriques sur l'émission rayonnée d'une ligne micro-ruban Auteur(s): Hassene Fridhi, Geneviève Duchamp, Valérie Vigneras Lien HAL : https://hal.science/hal-00585074 An Immunity Measurement Bench dedicated to Analog to Digital Converter Auteur(s): Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Jean-Luc Levant Lien HAL : https://hal.science/hal-00525804 Optimisation de l'immunité d'un circuit CAN intégré à l'aide de son modèle ICIM-CI Auteur(s): Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Alain Meresse †, Jean-Luc Levant Lien HAL : https://hal.science/hal-00525803 Resistive RF injection Probe Test Method Auteur(s): Jean-Luc Levant, Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Mohamed Ramdani Lien HAL : https://hal.science/hal-00525798 An Analog to Digital Converter ICIM-CI Model Based on Design Auteur(s): Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Alain Meresse †, Jean-Luc Levant, Christian Marot Lien HAL : https://hal.science/hal-00525796 La Validation des Acquis de l'Expérience - De la démarche personnelle à la réalisation encadrée :Une expérience à l'université Bordeaux 1 Auteur(s): Isabelle Sand, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00525828 Validation du modèle ICEM en émission conduite et rayonnée dans un circuit intégré Auteur(s): Kaoutar Taghouti, Ali Ahaitouf, Alain Meresse, Geneviève Duchamp, Fatima Errahimi Lien HAL : https://hal.science/hal-00400484 Prédiction de l'émission conduite et rayonnée d'un circuit intégré Auteur(s): Kaoutar Taghouti, Ali Ahaitouf, Alain Meresse, Geneviève Duchamp, Fatima Errahimi Lien HAL : https://hal.science/hal-00400486 Modélisation des perturbations électromagnétiques en champ proche pour l'agression d'un circuit intégré. Auteur(s): Didier Castagnet, Geneviève Duchamp, Alain Meresse Lien HAL : https://hal.science/hal-00351955 CEM et Fiabilité des Systèmes Electroniques Embarqués. Projet étudiant pour la mesure de la susceptibilité électromagnétique d'un circuit intégré. Auteur(s): Geneviève Duchamp, Alain Meresse, Yves Danto Lien HAL : https://hal.science/hal-00400496 Embedded passive components to increase the reliability of high frequency electronic circuits Auteur(s): Yves Ousten, Bruno Levrier, Geneviève Duchamp, Philippe Kertesz Lien HAL : https://hal.science/hal-00400482 Modélisation de l'immunité interne d'un convertisseur analogique numérique avec l'approche ICIM-CI Auteur(s): Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Alain Meresse, Jean-Luc Levant Lien HAL : https://hal.science/hal-00403538 Modèle de couplage en champ proche pour l'étude de susceptibilité d'un circuit intégré Auteur(s): Geneviève Duchamp, Alain Meresse Lien HAL : https://hal.science/hal-00403531 High Density IC Packaging Reliability Auteur(s): Geneviève Duchamp, Hélène Null Fremont, Alexandrine Guedon-Gracia, Frédéric Verdier Lien HAL : https://hal.science/hal-00323388 Optimisation et réalisation d'un diplexeur en bande X utilisant des transitions microruban/ligne à fente inhomogènes Auteur(s): Pierre Gouget, Geneviève Duchamp, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182888 Design of X band Filter using Inhomogeneous Microstrip to slotline Transition Auteur(s): Pierre Gouget, Geneviève Duchamp, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182889 Intégration d'un duplexeur en technologie hybride multicouches Auteur(s): Geneviève Duchamp, Laurent Casadebaig, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182891 A Broadband Microwave Amplifier Using Multilayer Technology Auteur(s): Geneviève Duchamp, S. Gauffre, Laurent Casadebaig, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182893 Mise en oeuvre de l'outil MDS-Momentum pour la modélisation de la transition ligne à fente - ligne microruban en bande X. Applications à la fonction filtrage Auteur(s): Geneviève Duchamp, Laurent Casadebaig, S. Gauffre, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182895 Small and Large Signal Characterisation System for HBT and Microwave Power Components Auteur(s): S. Gauffre, Geneviève Duchamp, Laurent Casadebaig, Jacques Pistre, Alain Cazarré Lien HAL : https://hal.science/hal-00181942 A probe characterisation for near field measurements Auteur(s): Geneviève Duchamp, Alain Meresse, Didier Castagnet Lien HAL : https://hal.science/hal-00182884 Technique de compensation par réseau hybride multicouche pour la réalisation d'un amplificateur micro onde large bande Auteur(s): Geneviève Duchamp, S. Gauffre, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182892 Caractérisation et mise en oeuvre de couches épaisses densifiées pour la réalisation de circuits hyperfréquences Auteur(s): Geneviève Duchamp, Claude Lucat, Francis Menil, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182896 A Method for Power Integrity Analysis of a System-In-Package Auteur(s): Guillaume Boguszewski, Geneviève Duchamp, Jean-Marc Yannou, Alain Meresse Lien HAL : https://hal.science/hal-00180356 Caractérisation des condensateurs enterrés pour des applications hyperfréquences Auteur(s): Geneviève Duchamp, Yves Ousten, Philippe Kertesz, Steven Heytens Lien HAL : https://hal.science/hal-00182904 Study of Degradations in PCB Interconnections for High Frequency Applications Auteur(s): Geneviève Duchamp, Frédéric Verdier, Bruno Levrier, François Marc, Yves Ousten, Yves Danto Lien HAL : https://hal.science/hal-00181898 Optimisation of Microwave Filter Using Microstrip to Slotline Transitions Auteur(s): Geneviève Duchamp, Pierre Gouget, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182890 Thermal parametric studies of Hybrid Power Assemblies Auteur(s): Christian Zardini, Francis Rodes, Geneviève Duchamp, Jean-Louis Aucouturier Lien HAL : https://hal.science/hal-00182897 Mesure de la température de surface des semi-conducteurs de puissance par thermographie infrarouge et cristaux liquides Auteur(s): Christian Zardini, Francis Rodes, Geneviève Duchamp, Jean-Louis Aucouturier, C. Destrade Lien HAL : https://hal.science/hal-00182898 Utilisation du VHDL-AMS pour l obtention d un modèle de comportement CEM d un circuit intégré numérique Auteur(s): Alain Meresse, Geneviève Duchamp, David Bedenes Lien HAL : https://hal.science/hal-00182886 Optimisation and Comparison of Three Diplexers Based on a New Slot to Microstrip Junction Auteur(s): Pierre Gouget, Geneviève Duchamp, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182887 ETUDE DE LA SUSCEPTIBILITE DES CIRCUITS ELECTRONIQUES PAR DES PERTURBATIONS EN CHAMP PROCHE CAS D'UN INVERSEUR CMOS Auteur(s): Alain Meresse, Didier Castagnet, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00180345 Embedded Passive Design for High Speed Circuits Auteur(s): Geneviève Duchamp, Bruno Levrier, Yves Ousten, Philippe Kertesz, Steven Heytens Lien HAL : https://hal.science/hal-00182905 Etude comparative de sondes de champ magnétique pour la mesure de champs proches. Auteur(s): Didier Castagnet, Alain Meresse, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00180339 Characterization of a near-field probe for IC cartography. Auteur(s): Didier Castagnet, Alain Meresse, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00180341 ELECTRIC DIPOLE FOR ELECTRIC RADIATED FIELD SUSCEPTIBILITY TEST Auteur(s): Didier Castagnet, Geneviève Duchamp, Alain Meresse Lien HAL : https://hal.science/hal-00180347 IC's electromagnetic susceptibility: comparison between a near field injection method and a direct injection method Auteur(s): Didier Castagnet, Alain Meresse, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00180352 Fiabilité des assemblages microélectroniques complexes Auteur(s): Frédéric Verdier, Geneviève Duchamp, Hélène Null Fremont Lien HAL : https://hal.science/hal-00167725 Phase Jitter Injection via a Switchable Lowpass Filter Auteur(s): Y. Lemsagued, G. Zimmer, Pierre Gouget, Geneviève Duchamp Lien HAL : https://hal.science/hal-00182885 Modélisation Quadripolaire de structures planaires mixtes microruban - ligne à fente. Auteur(s): Geneviève Duchamp, Laurent Casadebaig, S. Gauffre, Jacques Pistre Lien HAL : https://hal.science/hal-00182894

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