2022

Angular Quasi-Phase-Matching in Periodically Poled Uniaxial and Biaxial Crystals
Petit, Yannick ; Peña, Alexandra ; Joly, Simon ; Lu, Dazhi ; Segonds, Patricia ; Boulanger, Benoît
Dans : Crystals
https://hal.science/hal-03726163

2021

Miniaturization of InGaP/InGaAs/Ge solar cells for microconcentrator photovoltaics
Albert, Pierre ; Jaouad, Abdelatif ; Hamon, Gwenaëlle ; Volatier, Maïté ; Valdivia, Christopher ; Deshayes, Yannick ; Hinzer, Karin ; Béchou, Laurent ; Aimez, Vincent ; Darnon, Maxime
Dans : Progress in Photovoltaics
https://hal.science/hal-03219465

Three‐junction monolithic interconnected modules for concentrator photovoltaics
Albert, Pierre ; Jaouad, Abdelatif ; Hamon, Gwenaëlle ; Volatier, Maïté ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Aimez, Vincent ; Darnon, Maxime
Dans : Progress in Photovoltaics
https://hal.science/hal-03174950

Narrow belt of debris around the Sco-Cen star HD 141011
Bonnefoy, M. ; Milli, J. ; Menard, F ; Delorme, P. ; Chomez, A. ; Bonavita, M. ; Lagrange, A.-M. ; Vigan, A. ; Augereau, J. ; Beuzit, J. ; Biller, B. ; Boccaletti, A. ; Desidera, S. ; Faramaz, V. ; Galicher, R. ; Gratton, R. ; Hinkley, S. ; Lazzoni, C. ; Matthews, E. ; Mesa, D. ; Mordasini, C. ; Mouillet, D. ; Olofsson, J. ; Pinte, C. ; Ménard, F. ; Chauvin, G.
Dans : Astronomy and Astrophysics - A&A
https://hal.science/hal-03458560

2020

Development and Experimental Demonstration of Negative First-Order Quasi-Phase Matching in a periodically-poled Rb-doped KTiOPO4 crystal
Petit, Yannick ; Pena, Alexandra ; Segonds, Patricia ; Debray, Jérôme ; Joly, Simon ; Zukauskas, Andrius ; Laurell, Fredrik ; Pasiskevicius, Valdas ; Canalias, Carlota ; Boulanger, Benoit
Dans : Optics Letters
https://hal.science/hal-02953325

2019

An analytical approach to predict maximal sensitivity of microring resonators for absorption spectroscopy
Diez Garcia, M. ; Girault, P. ; Joly, S. ; Oyhenart, L. ; Raimbault, Vincent ; Dejous, Corinne ; Bechou, L.
Dans : Journal of Lightwave Technology
https://hal.science/hal-02299723

Comparing results of a power prediction tool with measured data from a series of 35 boats
Dumortier, Charles ; Bonnet, Jean-François ; Régnier, Nicolas ; Ousten, Yves
Dans : Ocean Engineering
https://hal.science/hal-02120784

Comparison of on-wafer TRL calibration to ISS SOLT calibration with open-short de-embedding up to 500 GHz
Fregonese, Sebastien ; Deng, Marina ; de Matos, Magali ; Yadav, Chandan ; Raya, Christian ; Ardouin, Bertrand ; Joly, Simon ; Plano, Bernard ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
https://hal.science/hal-01985495

III—V Laser Power Converters With Vertically Stacked Subcells Demonstrating Superior Radiation Resilience
York, Mark C.A. ; Proulx, Francine ; Gilard, Olivier ; Bechou, Laurent ; Arès, Richard ; Aimez, Vincent ; Masson, Denis ; Fafard, Simon
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.science/hal-02149932

2018

Highlighting two integration technologies based on vias: Through silicon vias and embedded components into PCB. Strengths and weaknesses for manufacturing and reliability
Balmont, M. ; Bord Majek, I. ; Poupard, B. ; Bechou, L. ; Ousten, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-01885226

Direct patterning of polymer optical periodic nanostructures on CYTOP for visible light waveguiding
Diez, Miguel ; Raimbault, Vincent ; Joly, S. ; Oyhenart, L. ; Doucet, Jean-Baptiste ; Obieta, I. ; Dejous, Corinne ; Bechou, L.
Dans : Optical Materials
https://hal.science/hal-01825019

A quantitative thermal and thermomechanical analysis for design optimization and robustness assessment of microassembled high power Yb:CaF2 thin-disk Laser
Joly, S. ; Lemesre, M-A. ; Lévrier, B. ; Lyszyk, C. ; Plano, B. ; Courjaud, A. ; Taira, T. ; Bechou, L.
Dans : Optics & Laser Technology
https://hal.science/hal-02273406

Validation of the angular quasi-phase-matching theory for the biaxial optical class using PPRKTP
Lu, Dazhi ; Pena Revellez, Alexandra ; Segonds, Patricia ; Debray, Jérôme ; Joly, Simon ; Zukauskas, Andrius ; Laurell, Fredrik ; Pasiskevicius, Valdas ; Yu, Haohai ; Zhang, Huaijin ; Wang, Jiyang ; Canalias, Carlota ; Boulanger, Benoit
Dans : Optics Letters
https://hal.science/hal-01969673

Ba0.6Sr0.4TiO3 thin films deposited by spray coating for high capacitance density capacitors
Tetsi, Emmanuel ; Philippot, Gilles ; Bord Majek, Isabelle ; Aymonier, Cyril ; Audet, Jean ; Lemire, Roxan ; Bechou, Laurent ; Drouin, Dominique
Dans : physica status solidi (a)
https://hal.science/hal-01890960

2017

Thermal management characterization of microassembled high power DFB broad area lasers emitting at 975 nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecompte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : IEEE High Power Diode Lasers and Systems Conference
https://hal.science/hal-01711161

Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method
Vanzi, Massimo ; Marcello, Gulia ; Mura, Giovanna ; Le Gales, Germain ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-01711141

2016

Thermal Behavior of High Power GaAs-Based Laser Diodes in Vacuum Environment
Michaud, J ; Béchou, L ; Veyrié, D ; Laruelle, F ; Dilhaire, S ; Grauby, S
Dans : IEEE Photonics Technology Letters
https://hal.science/hal-01343339

Extended modal gain measurement in DFB Laser diodes
Vanzi, Massimo ; Marchello, Gulia ; Mura, Giovanna ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Le Gales, Germain ; Joly, Simon
Dans : IEEE Photonics Technology Letters
https://hal.science/hal-01711138

2015

Photothermal activated failure mechanism in polymer-based packaging of low power InGaN/GaN MQW LED under active storage
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Béchou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-01213954

Inorganic/organic nanocomposites: Reaching a high filler content without increasing viscosity using core-shell structured nanoparticles
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Bechou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Buet, Matthieu ; Louarn, Mélanie ; Weiss, M ; Rougé, Fabien ; Gaud, Vincent ; Ousten, Yves
Dans : Applied Physics Letters
https://hal.science/hal-01240791

Liquid Crystal Polymer for QFN packaging: Predicted thermo-mechanical fatigue and Design for Reliability
Chenniki, W. ; Bord-Majek, I. ; Louarn, M. ; Gaud, V. ; Diot, Jl. ; Wongtimnoi, K. ; Ousten, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-01255459

Correlation between forward-reverse low-frequency noise and atypical I–V signatures in 980 nm high-power laser diodes
del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Béchou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-01214031

Overview on sustainability, robustness and reliability of GaN single chip LED devices
Deshayes, Yannick ; Baillot, Raphael ; Joly, Simon ; Ousten, Yves ; Béchou, Laurent
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.science/hal-01221533

Study of a polymer optical microring resonator for hexavalent chromium sensing
Meziane, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Conédéra, Véronique ; Lachaud, Jean-Luc ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.science/hal-01112028

Investigations on electro-optical and thermal performances degradation of high power density GaAs-based laser diode in vacuum environment
Michaud, J. ; Pedroza, G. ; Béchou, L. ; How, L.S. ; Gilard, O. ; Veyrié, D. ; Laruelle, F. ; Grauby, S.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-01256856

Precise Facet Temperature Distribution of High- Power Laser Diodes: Unpumped Window Effect
Michaud, Jérémy ; del Vecchio, Pamela ; Béchou, Laurent ; Veyrié, David ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Grauby, Stéphane
Dans : IEEE Photonics Technology Letters
https://hal.science/hal-01155505

2014

Crack Propagation Modeling in Silicon: A Comprehensive Thermomechanical Finite-Element Model Approach for Power Devices
Calvez, Damien ; Roqueta, Fabrice ; Jacques, Sébastien ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Ducret, Samuel
Dans : IEEE Transactions on Components Packaging and Manufacturing Technology Part B
https://hal.science/hal-01061431

Qualification procedure for moisture in embedded capacitors
Frémont, Hélène ; Kludt, Jörg ; Wade, Massar ; Duchamp, Geneviève ; Weide-Zaage, Kirsten ; Bord-Majek, Isabelle
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-01091487

2013

Durability study of a fluorescent optical memory in glass studied by luminescence spectroscopy
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Béchou, Laurent ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00932228

Power MOSFET active power cycling for medical system reliability assessment
Sow, Amadou ; Somaya, Sinivassane ; Ousten, Yves ; Vinassa, Jean-Michel ; Patoureaux, Fanny
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00950594

Saint-Venant's principle and the minimum length of a dual-coated optical fiber specimen in reliability (proof) testing
Suhir, E. ; Bechou, L.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00937728

High-power diode laser bars and shear strain
T. Cassidy, Daniel ; Rehioui, O. ; K. Hall, Chadwick ; Bechou, L. ; Deshayes, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T. ; Ousten, Y.
Dans : Optics Letters
https://hal.science/hal-00979994

Examination of femtosecond laser matter interaction in multipulse regime for surface nanopatterning of vitreous substrates
Varkentina, Nadezda ; Cardinal, Thierry ; Moroté, Fabien ; Mounaix, Patrick ; André, Pascal ; Deshayes, Yannick ; Canioni, Lionel
Dans : Optics Express
https://hal.science/hal-00909676

2012

Improved performances of polymer-based dielectric by using inorganic/organic core-shell nanoparticles
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Gaud, Vincent ; Plano, Bernard ; Ousten, Yves
Dans : Applied Physics Letters
https://hal.science/hal-00765215

France : Le projet Archive & Forget pour l'archivage longue durée sur disque optique
Deshayes, Yannick
Dans : MOS Magazine
https://hal.science/hal-00979982

Hardening Principles and Characterization of an Optocoupler Including a Vertical Cavity Surface Emitting Laser
Gilard, O. ; del Vecchio, P. ; Moglia, R. ; Bechou, L. ; Quadri, Gianandrea
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.science/hal-00786227

Technical Diagnostics in Electronics: Application of Bayes Formula and Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov (BAZ) Model
Suhir, E. ; Bechou, L. ; Bensoussan, A.
Dans : Printed Circuit Design& Fab/Circuits Assembly
https://hal.science/hal-00797400

Predicted Thermal Stresses in a Photovoltaic Module (PVM)
Suhir, Ephraim ; Shangguan, Dongai ; Bechou, Laurent
Dans : Photovoltaics International (UK), 16th edition
https://hal.science/hal-00797395

2011

OPERATIONAL PERFORMANCES DEMONSTRATION OF POLYMER-CERAMIC EMBEDDED CAPACITORS FOR MMIC APPLICATIONS
Bord-Majek, Isabelle ; Kertesz, Philippe ; Mazeau, Julie ; Caban-Chastas, Daniel ; Levrier, Bruno ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology
https://hal.science/hal-00641070

Failure Mechanisms in Packaged Light-Emitting Diodes Under Gamma Radiations: Piezoelectric Model Based on Stark Effect
Deshayes, Y. ; Baillot, R. ; Rehioui, O. ; Béchou, L. ; Gilard, O. ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.science/hal-00673553

An original DoE-based tool for silicon photodetectors EoL estimation in space environments
Spezzigu, P. ; Bechou, L. ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, O. ; Ousten, Y. ; Vanzi, M.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00673537

2010

Effects of silicon coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Armand, C. ; Voillot, F. ; Sorieul, S. ; Ousten, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00979970

Strain Estimation in III-V Materials by Analysis of the Degree of Polarization of Luminescence
Cassidy, Dt ; Hall, Ck. ; Rehioui, O. ; Bechou, L.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-01061416

Starck effects model used to highlight selective activation of failure mechanisms in MQW InGaN/GaN light emitting diodes
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.science/hal-00979617

Silver Clusters Embedded in Glass as a Perennial High Capacity Optical Recording Medium
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Bellec, Matthieu ; Papon, Gautier ; Bousquet, Bruno ; Deshayes, Yannick ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel
Dans : Advanced Materials
https://hal.science/hal-00672097

The ANISEED database: Digital representation, formalization, and elucidation of a chordate developmental program
Tassy, O. ; Dauga, D. ; Daian, F. ; Sobral, D. ; Robin, F. ; Khoueiry, P. ; Salgado, D. ; Fox, V. ; Caillol, D. ; Schiappa, R. ; Laporte, B. ; Ríos, A. ; Luxardi, G. ; Kusakabe, T. ; Joly, S. ; Darras, S. ; Christiaen, L. ; Contensin, M. ; Auger, H. ; Lamy, C. ; Hudson, C. ; Rothbächer, U. ; Gilchrist, M. ; Makabe, K. ; Hotta, K. ; Fujiwara, S. ; Satoh, N. ; Satou, Y. ; Lemaire, Patrick
Dans : Genome Research
https://hal.science/hal-01780064

2009

Proton effects on low noise and high responsivity silicon-based photodiodes for space applications
Pedroza, Guillaume ; Gilard, Olivier ; Bourqui, Marie-Lise ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Sun How, Lip ; Rosala, François
Dans : Journal of Applied Physics
https://hal.science/hal-00402156

Implementation of a Design of Experiments Methodology for the Prediction of Phototransistor Degradation in a Space Environment"
Spezzigu, Piero ; Caddeo, C. ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, O. ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Vanzi, M.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.science/hal-00584333

2008

Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deletage, J.Y. ; Verdier, F. ; Deshayes, Y. ; Fregonese, S. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Laffitte, D.
Dans : Comptes Rendus de l'Academie des Sciences. Série IV, Physique, Astronomie
https://hal.science/hal-00266387

Thermal characteristics measurement of packaged double-heterostructure light emitting diodes for space applications using spontaneous optical spectrum properties
Bechou, L. ; Rehioui, O. ; Deshayes, Y. ; Gilard, O. ; Quadri, Gianandrea ; Ousten, Y.
Dans : Optics and Laser Technology
https://hal.science/hal-00266383

Reliability assessment: New tools for the next generation of packages
Bord, Isabelle ; Lévrier, Bruno ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Journal of Microelectronics and Electronic Packaging
https://hal.science/hal-00313790

Reliability investigations of 850 nm silicon photodiodes under proton irradiation for space applications
Bourqui, M.L. ; Bechou, L. ; Gilard, O. ; Deshayes, Y. ; del Vecchio, P. ; How, L.S. ; Rosala, F. ; Ousten, Y. ; Touboul, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00334728

Thermomechanical Stresses and Optical Misalignment in 1550 nm Emissive Optoelectronic Modules Using FEM and Process Dispersions
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frederic ; Ousten, Yves ; Laffitte, Dominique ; Goudard, Jean-Luc
Dans : IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies
https://hal.science/hal-00402624

Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation
Deshayes, Yannick ; Bord, Isabelle ; Barreau, Gérard ; Aiche, Mourad ; Moretto, Philippe ; Béchou, Laurent ; Roherig, A.C. ; Ousten, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00326851

Reversible photomagnetic properties of the molecular compound [{CuII(bipy)2}2{MoIV(CN)8}]·9H2O·CH3OH
Mathonière, Corine ; Kobayashi, Hirokazu ; Le Bris, Rémy ; Kaiba, Abdellah ; Bord, Isabelle
Dans : Comptes Rendus. Chimie
https://hal.science/hal-00319954

2007

Temperature influence on a differential capacitive rain sensor performances
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.science/hal-00182399

2006

Use of signal processing imaging for the study of a 3D package in harsh environment
Augereau, J. ; Ousten, Y. ; Levrier, B. ; Bechou, L.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00334732

Influence of the electrodes configuration on a differential capacitive rain sensor performances
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.science/hal-00182401

Defect detection in multilayer ceramic capacitors
Krieger, V. ; Wondrak, W. ; Dehbi, A. ; Bartel, W. ; Ousten, Y. ; Levrier, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00334736

2005

Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.science/hal-00181926

Vibration lifetime modelling of PCB assemblies using steinberg model
Dehbi, A. ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Wondrak, W.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00181927

Long-term reliability prediction of 935 nm InGaAs/GaAs Light Emitting Diodes using degradation laws and ageing tests with low acceleration factor
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.science/hal-00183945

Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier
Huyghe, S. ; Bechou, L. ; Zerounian, N. ; Deshayes, Y. ; Aniel, F. ; Denolle, A. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00162343

Failure mechanisms and qualification testing of passive components
Post, Ha ; Letullier, P. ; Briolat, T. ; Humke, R. ; Schuhmann, R. ; Saarinen, K. ; Werner, W. ; Ousten, Yves ; Lekens, G. ; Dehbi, A. ; Wondrak, W.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00181925

2004

Reliability of Low-Cost PCB Interconnections for Telecommunication Applications
Duchamp, Geneviève ; Verdier, Frédéric ; Deshayes, Yannick ; Marc, François ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00181802

Study of influence of failure modes on lifetime distribution prediction of 1.55 µm DFB laser diodes using weak drift of monitored parameters during ageing tests
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00183946

2003

Application of picosecond ultrasonics to non-destructive analysis in VLSI circuits
Andriamonje, G. ; Pouget, V. ; Ousten, Y. ; Lewis, D. ; Danto, Y. ; Rampnoux, Jean-Michel ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, Stéphane ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, Bertrand
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-01550917

Application of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Danto, Yves ; Rampnoux, J. M. ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, Bertrand
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00181929

An improved method for automatic detection and location of defects in electronics components using scanning ultrasonic microscopy
Bechou, Laurent ; Dallet, Dominique ; Danto, Yves ; Daponte, Pasquale ; Ousten, Yves ; Rapuano, Sergio
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.science/hal-00180554

FFT et applications : choix d'une fenêtre de pondération, caractérisation d'un CAN et réponse en fréquence d'un système linéaire
Couturier, Gérard ; Bechou, Laurent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Pellet, Claude
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.science/hal-00183112

Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations
Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Plano, Bernard ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00183949

Early failure signatures after thermal cycles of 1310 nm Laser modules using electrical, optical and spectral measurements
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Mendizabal, Laurent ; Danto, Yves
Dans : MEASUREMENT JOURNAL
https://hal.science/hal-00183947

Three-dimensional FEM simulations of thermomechanical stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, L. ; Deletage, Jy. ; Verdier, F. ; Danto, Y. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00162350

Impact of 1.55 µm laser diode degradation laws on fibre optic system performances using a system simulator
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Dumas, Jean-Michel ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00183948

Moisture Diffusion in BCB Resins used for MEMS Packaging
Tetelin, Angélique ; Pellet, Claude ; Deletage, Jean-Yves ; Carbonne, Bertrand ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00183113

2002

Detection and location of defects in electronic devices by means of scanning ultrasonic microscopy and the wavelet Transform
Angrisani, Léopoldo ; Bechou, Laurent ; Dallet, Dominique ; Daponte, Pasquale ; Ousten, Yves
Dans : Measurement - Journal of the International Measurement Confederation (IMEKO)
https://hal.science/hal-00180545

Acoustic analysis of an assembly : Structural identification by signal processing (wavelets)
Augereau, Jean ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00181930

Evaluation of a micropackaging analysis technique by highfrequency microwaves
Duchamp, Geneviève ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00181934

Behavioral studyof passive components and coating materials under isostatic pressure and temperature stress conditions
Tregon, Bernard ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Bechou, Laurent ; Parmentier, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00181931

1999

Localization of defects in die-attach assembly by continuous wavelet transform using scanning acoustic microscopy
Bechou, Laurent ; Angrisani, Léopoldo ; Ousten, Yves ; Dallet, Dominique ; Levi, Hervé ; Danto, Yves ; Daponte, Pasquale
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00180223

Study of Ca1-xPrxF2+x solid solution thin films grown on silicon substrates.
Tardy, Pascal ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Barriere, Albert-Serge ; Desbat, B. ; Elfajri, A.
Dans : Thin Solid Films
https://hal.science/hal-00183554

Spatial distribution of Pr3+ and ions in Ca1-xPrxF2+x luminescent thin films
Tardy, Pascal ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Barriere, Albert-Serge ; Elfajri, A. ; Desbat, B.
Dans : Mat. Sci. Forum
https://hal.science/hal-00183553

1998

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for multilayer ceramic capacitors type II crack detection
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.science/hal-00181936

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for crack detection in type II multilayer ceramic capacitors
Ousten, Yves ; Mejdi, Said ; Bechou, Laurent ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.science/hal-00181935

The Use Impedance Spectroscopy, SEM and SAM Imaging for Early Detection of Failure in SMT Assemblies
Ousten, Y. ; Medji, S. ; Fenech, A. ; Y. Deletage, J. ; Bechou, L. ; Perichaud, M.G. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00164931

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for MLCC crack detection
Ousten, Y. ; Mejdi, S. ; Bechou, L. ; Tregon, B. ; Danto, Y.
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.science/hal-00164925

1997

Ultrasonic characterisation improvement of microassembling technologies using Time-Frequency analysis
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00181937

Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, L. ; Tregon, B. ; Ousten, Y. ; Marc, F. ; Danto, Y. ; Kertesz, Ph. ; Even, R.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.science/hal-00164920

1996

Nondestructive detection and localization of defects in multilayer ceramic chip capacitors using electromechanical resonances
Bechou, L. ; Mejdi, S. ; Ousten, Y. ; Danto, Y.
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.science/hal-00164916

Nondestructive defect detection in multilayer ceramic chip capacitors using piezoelectric analysis and acoustic microscopy
Bechou, L. ; Mejdi, S. ; Ousten, Y. ; Danto, Y.
Dans : EXACT INTERNATIONAL PUBLICATIONS FOR PASSIVE MANUFACTURERS
https://hal.science/hal-00164912

1993

Simulation of assembly generated constraints during SMT processing and size optimisation of the capacitors by design of experiments
Ousten, Y. ; Bechou, L. ; Xiong, N.
Dans : HYBRID CIRCUITS
https://hal.science/hal-00164908

1992

Influence of the nature of the screen-printed electrode metal on the transport and detection properties of thick film semiconductor gas sensors
Dutronc, P. ; Carbonne, Bertrand ; Menil, Francis ; Lucat, Claude
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.science/hal-00196232

2022

Miniaturization of High Efficiency InGaP/InGaAs/Ge Solar Cells and Pathways for Further Improvements
Bidaud, Thomas ; Jouanneau, Corentin ; Albert, Pierre ; de Lafontaine, Mathieu ; Jaouad, Abdelatif ; Turala, Artur ; Hamon, Gwenaelle ; Darnon, Maxime
Dans : World Conference on Photovoltaics and Energy Conversion, Milan (Italy)
https://hal.science/hal-03831341

Sub-millimeter-scale multijunction solar cells for concentrator photovoltaics (CPV)
Darnon, Maxime ; de Lafontaine, Mathieu ; Albert, Pierre ; Jouanneau, Corentin ; Bidaud, Thomas ; Dubuc, Christian ; Volatier, Maïté ; Aimez, Vincent ; Jaouad, Abdelatif ; Hamon, Gwenaelle
Dans : Proceedings Volume 11996, Physics, Simulation, and Photonic Engineering of Photovoltaic, San Francisco (United States)
https://hal.science/hal-03781347

2021

Components and packaging based on polymer for future automotive applications
Ousten, Yves ; Bord Majek, Isabelle
Dans : SIA SFIP Materials for Future Mobility 2021, Bordeaux (Digital Edition) (France)
https://hal.science/hal-03194659

2020

Towards miniaturization of concentrated photovoltaics (CPV): impact on fabrication, performance and robustness of solar cells
Albert, Pierre ; Hamon, Gwenaelle ; Volatier, Maite ; Deshayes, Yannick ; Jaouad, Abdelatif ; Aimez, Vincent ; Bechou, Laurent ; Darnon, Maxime
Dans : 2020 IEEE 47th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), Calgary (virtual) (Canada)
https://hal.science/hal-03109711

Integrated optical microring resonators for absorption spectroscopy
Girault, Pauline ; Guillaume, Beaudin ; Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Laurent, Oyhenart ; Nguyen, C.T. ; Ledoux-Rak, I. ; Canva, Michael ; Charette, P. ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE BIOS Frontiers in Biological Detection: From Nanosensors to Systems XII, San Francisco (United States)
https://hal.science/hal-03078950

Optical microring resonator for low-cost integrated sensor
Girault, Pauline ; Guillaume, Beaudin ; Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Laurent, Oyhenart ; Nguyen, C.T. ; Ledoux-Rak, Isabelle ; Canva, Michael ; Charette, P. ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE BIOS Frontiers in Biological Detection: From Nanosensors to Systems XII, San Francisco (United States)
https://hal.science/hal-03070823

Optimization of integrated optical ring microresonator structure for sensitive absorption spectroscopy
Girault, Pauline ; Guillaume, Beaudin ; Díaz, Miguel ; Joly, Simon ; Laurent, Oyhenart ; Canva, Michael ; Charette, P. ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Photonics Europe, BioPhotonics in point of care, Strasbourg/online (France)
https://hal.science/hal-03070817

Negative first-order quasi-phase matching
Petit, Yannick ; Pena Revellez, Alexandra ; Segonds, Patricia ; Debray, Jérôme ; Joly, Simon ; Zukauskas, Andrius ; Laurell, Fredrik ; Pasiskevicius, Valdas ; Canalias, Carlota ; Boulanger, Benoît
Dans : Advanced Solid State Lasers, Washington (virtual) (United States)
https://hal.science/hal-03343039

2019

Area downsizing effects on electrical performance and robustness of triple junction solar cells for CPV applications
Albert,, Pierre ; Jaouad, Abdelatif ; Volatier, Maite ; Valdivia, Christopher E. ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Aimez., Vincent ; Darnon, Maxime
Dans : International Symposium on Reliability of Optoelectronics System, Toulouse (France)
https://hal.science/hal-02443117

High-Voltage Low-Current Multijunction Monolithic Interconnected Microcells
Albert, Pierre ; Jaouad, Abdelatif ; Darnon, Maxime ; Volatier, Maite ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Aimez, Vincent
Dans : 15th Conference on Concentrated PhotoVoltaics Systems, Fes (Morocco)
https://hal.science/hal-02339963

Micro/nanotechnologies to improve concentrated photovoltaics systems
Darnon, M. ; Volatier, M. ; Lafontaine, M. De ; Albert, P. ; Laucher, C. ; Hamon, G. ; Pargon, E. ; Bechou, L. ; Fafard, S. ; Aimez, V. ; Jaouad, A.
Dans : Journées nationales sur les technologies émergentes en micro-nano fabrication, (JNTE2019), Grenoble (France)
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02916153

Plasma processes for High Efficiency Multi-Junction Solar Cells Fabrication
Darnon, M. ; Volatier, M. ; Albert, P. ; Lafontaine, M. De ; St-Pierre, P. ; Hamon, G. ; Petit-Etienne, C. ; Gay, G. ; Pargon, E. ; Aimez, V. ; Fafard, S. ; Jaouad, A.
Dans : 66th International AVS Symposium & Topical Conferences, Columbus, Ohio (United States)
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02336676

Measurement and Characterization of Quantum Socket based on LGA Inteconnect Solutions at Low Temperature
Ezzouine, Zakaryae ; Danovitch, David ; Bechou, Laurent ; Pioro-Ladriere, Michel ; Lacerte, Michael
Dans : Canadian Graduate Quantum Conference (CGQC), Sherbrooke (Canada)
https://hal.science/hal-02320581

2018

Imaging based on low-coherence interferometry in the visible spectrum
Acha, M. Bravo ; Robles, R. ; Charette, P. G. ; Bechou, L. ; Sylvestre, J.
Dans : Photonics North, Montreal (Canada)
https://hal.science/hal-02093409

Front-Contacted Multijunction Micro Solar Cells: Fabrication & Characterization
Albert, Pierre ; Jaouad, Abdelatif ; Darnon, Maxime ; Valdivia, Christopher ; Volatier, Maite ; Deshayes, Yannick ; Hinzer, Karin ; Bechou, Laurent ; Aimez, Vincent
Dans : 14th International Conference on Concentrated PhotoVoltaics Systems, 2018-04-01 (Spain)
https://hal.science/hal-02339965

Highlighting two integration technologies based on vias: Through Silicon Vias and embedded components into PCB. Strengths and weaknesses for manufacturing and reliability
Balmont, Mickaël ; Bord Majek, Isabelle ; Poupard, B. ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : 29th European Symposium on Relaibility of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2018, Aalborg (Denmark)
https://hal.science/hal-01957288

Ultra-thin actives for embedded components: halfway between thin film technology and embedded Surface Mounted Device.
Balmont, Mickaël ; Majek, Isabelle Bord ; Ousten, Yves
Dans : 7th Electronic System-Integration Technology Conference, ESTC 2018, Dresden (Germany)
https://hal.science/hal-01957025

Microfabrication of multi junction solar cells for concentrated photovoltaics application
Darnon, Maxime ; Clement, Colin ; Volatier, Maité ; Albert, Pierre ; Lafontaine, Mathieu De ; Laucher, Clément ; Chancerel, François ; Ares, Richard ; Fafard, Simon ; Aimez, Vincent
Dans : European Advanced Energy Materials Congress, Stockholm (Sweden)
https://hal.science/hal-02338105

Submicron polymer optical waveguides on CYTOP for visible range operation
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Doucet, Jean-Baptiste ; Laurent, Oyhenart ; Bechou, Laurent ; Dejous, Corinne
Dans : EUROPTRODE, Naples (Italy)
https://hal.science/hal-01720764

Vers des systèmes optiques intégrés à base de polymères nanostructurés pour la détection en milieu liquide
Girault, Pauline ; Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Dejous, Corinne ; Nguyen, Chi Thanh ; Ledoux-Rak, Isabelle ; Bechou, Laurent
Dans : Optique, Toulouse (France)
https://hal.science/hal-02519382

Electrical modeling approach and manufacturing of a new adjustable capacitor for medical applications
Jebri, Zaineb ; Majek, Isabelle Bord ; Delafosse, Céline ; Ousten, Yves
Dans : 7th Electronic System-Integration Technology Conference, ESTC 2018, Dresden (Germany)
https://hal.science/hal-01957028

A new non-magnetic trimmer for the magnetic resonance imaging system
Jebri, Zaineb ; Majek, Isabelle Bord ; Delafosse, Céline ; Pasquet, Christophe ; Ousten, Yves
Dans : 2018 7th International Conference on Modern Circuits and Systems Technologies (MOCAST), Thessaloniki (Greece)
https://hal.science/hal-01906463

Trough-Lens-Cone optics with microcell arrays: High efficiency at low cost
Norman, Richard ; Siskavich, Brad ; Fafard, Simon ; Béchou, Laurent ; Arès, Richard ; Aimez, Vincent ; Frechette, Luc
Dans : 14TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON CONCENTRATOR PHOTOVOLTAIC SYSTEMS (CPV-14), Puertollano (Spain)
https://hal.science/hal-02073363

Spray coating of Ba0.6Sr0.4TiO3 nanoparticles: a low-cost and scalable process for the deposition of dielectric thin films
Tetsi, Emmanuel ; Philippot, Gilles ; Bord Majek, Isabelle ; Aymonier, Cyril ; Audet, Jean ; Lemire, Roxan ; Bechou, Laurent ; Drouin, Dominique
Dans : 44th International Conference on Micro and Nanoengineering (MNE 2018), Copenhague (Denmark)
https://hal.science/hal-01957047

Fabrication of High Capacitance Density Capacitor Using Spray Coated Ba0.6Sr0.4TiO3 Thin Films
Tetsi, Emmanuel ; Bord Majek, Isabelle ; Philippot, Gilles ; Aymonier, Cyril ; Lemire, Roxan ; Audet, Jean ; Bechou, Laurent ; Drouin, Dominique
Dans : 2018 IEEE 68th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), San Diego (United States)
https://hal.science/hal-01885255

2017

Submillimeter Multijunction Solar Cells: Impact of Dimension, Design and Architecture on Electrical Performances
Albert, Pierre ; Jaouad, Abdelatif ; Darnon, Maxime ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Aimez, Vincent
Dans : 13th International conference on Concentrator Photovoltaic Systems (CPV 13), Otawa (Canada)
https://hal.science/hal-01716137

Fiabilité des composants enfouis dans un circuit électronique dans le secteur de l’automobile
Balmont, Mickaël ; Bord Majek, Isabelle ; Ousten, Yves
Dans : XXèmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Strasbourg (France)
https://hal.science/hal-01655291

Comparative FEM thermo-mechanical simulations for built-in reliability: surface mounted technology versus embedded technology for silicon dies
Balmont, Mickaël ; Bord Majek, Isabelle ; Ousten, Yves
Dans : 21st European Microelectronics ans Packaging Conference (EMPC 2017), Warsaw (Poland)
https://hal.science/hal-01593354

Contraintes de pilotage en courant et performances de diodes Laser IR dans des conditions de surintensité et pulsées en régime sub-µs
Bechou, Laurent
Dans : Colloque CESIIUS, Sherbrooke (Canada)
https://hal.science/hal-01719955

Micro/Nanotechnologies for high efficiency solar cells fabrication
Darnon, Maxime ; Jaouad, Abdelatif ; Volatier, Maité ; Lafontaine, Mathieu De ; Colin, Clément ; Albert, Pierre ; Chancerel, François ; Fafard, Simon ; Aimez, Vincent
Dans : EMN Meeting on Optoelectronics, Victoria (Canada)
https://hal.science/hal-02097240

Composant optofluidique polymère pour la détection de polluants dans l’eau (COPDepol)
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Bechou, Laurent ; Dejous, Corinne
Dans : Défi Instrumentation aux limites, Colloque de restitution, Paris (France)
https://hal.science/hal-02526901

Enabling patterning of polymer optical devices working at visible wavelength using thermal nano-imprint lithography
Diez, Miguel ; Raimbault, Vincent ; Joly, Simon ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Nguyen, Chi Thanh ; Ledoux-Rak, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : 19th IEEE Conference Symposium on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS and MOEMS (DTIP 2017), Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01521571

Performances and robustness of IR seed Laser diodes under large overcurrent and short-pulse conditions for fiber Laser applications
Galès, Germain Le ; Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : EMN Americas Meetings, Victoria (Canada)
https://hal.science/hal-01719975

Développement d’un nouveau type de condensateur ajustable amagnétique RF haute tension pour l’IRM
Jebri, Zaineb ; Bord Majek, Isabelle ; Delafosse, Céline ; Pasquet, Christophe ; Ousten, Yves
Dans : XXèmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Strasbourg (France)
https://hal.science/hal-01655253

Seed laser diodes in pulsed operation: limitations and reliability
Le Gales, Germain ; Joly, Simon ; Giulia, Marcello ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Photonics West, San Francisco (United States)
https://hal.science/hal-01720741

Thermal management characterization of microassembled high power DFB broad area lasers emitting at 975 nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecompte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : 2017 IEEE High Power Diode Laser and Systems, coventry (United Kingdom)
https://hal.science/hal-01716140

Thermal Management Characterization of Microassemblied High Power Distributed-Feedback Broad Area Lasers Emitting at 975nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecompte, Michel ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : Advanced optical components and modules - 2017 IEEE 67th ECTC, San diego (United States)
https://hal.science/hal-01716130

2016

La fiabilité construite : Application à la photonique
Bechou, Laurent
Dans : COLLOQUE LN2, Sherbrooke (Canada)
https://hal.science/hal-01719929

Failure analysis of laser crystals by their electrical characterization under high pump power density
Bolanos, Western ; Joly, Simon ; Manek-Hönninger, Inka ; Delagnes, Jean-Christophe ; Cormier, Eric ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick
Dans : Optique Bordeaux, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01721120

Can plasma etching be used in photovoltaics?
Darnon, Maxime ; Jaouad, Abdelatif ; de Lafontaine, Mathieu ; Albert, Pierre ; Colin, Clement ; Bouzazi, Boussairi ; Volatier, Maite ; Fafard, Simon ; Ares, Richard ; Aimez, Vincent
Dans : Plasma Etch and Strip in Microtechnologies conference, Grenoble (France)
https://hal.science/hal-02339970

Plasma etching for high efficiency solar cells fabrication
Darnon, Maxime ; Jaouad, Abdelatif ; de Lafontaine, Mathieu ; Albert, Pierre ; Colin, Clement ; Bouzazi, Boussairi ; Volatier, Maite ; Fafard, Simon ; Ares, Richard ; Aimez, Vincent
Dans : CMOS Emerging Technologies Research, Montreal (Canada)
https://hal.science/hal-02339969

Plasma etching applications in concentrated photovoltaic cell fabrication
de Lafontaine, Mathieu ; Darnon, Maxime ; Jaouad, Abdelatif ; Albert, Pierre ; Bouzazi, Boussairi ; Colin, Clement ; Volatier, Maité ; Fafard, Simon ; Arès, Richard ; Aimez, Vincent
Dans : 12th International Conference on Concentrator Photovoltaic Systems (CPV-12), Freibourg (Germany)
https://hal.science/hal-02074637

Design and fabrication of polymer-on-glass optical sensors for environmental pollutants detection
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Bechou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : Colloque UMI-LN2, Orfaord (Canada)
https://hal.science/hal-01721145

Design and fabrication of polymer-on-glass optical sensors for environmental pollutants detection
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Nguyen, Chi Thanh ; Ledoux-Rak, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : 8ème Franco-Spanish Workshop IBERNAM-CMC2, Toulouse (France)
https://hal.science/hal-01393059

Design and fabrication of polymer-on-glass grating couplers for biosensing application
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : Optique Bordeaux 2016, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01393057

Design and fabrication of polymer-on-glass grating couplers for biosensing application
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : Euroregional Campus of International Excellence Euskampus – Bordeaux, 2nd workshop « Laser & Photonics », Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01393056

Imagerie multispectrale résolue en temps : Application à l'analyse de défauts ponctuels dans un matériau
Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : Workshop : " Fiabilité des LEDs et Lasers ", Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01721165

Time-resolved multispectral imaging: application to the characterization of photonic devices
Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : Symposium LAPHIA, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01721135

Seed laser diodes in pulsed operation: limitations and reliability investigations
Le Gales, Germain ; Giulia, Marcello ; Joly, Simon ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : Optique Bordeaux, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01721126

1060nm seed laser diodes in pulsed operation: performances and safe operating area
Le Gales, Germain ; Giulia, Marcello ; Joly, Simon ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Darracq, Frederic ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS 2016, Otwock (Poland)
https://hal.science/hal-01720731

Analysis of optical responses of 1060nm seed laser diodes under overcurrent and short-pulse conditions for reliability investigations
Le Galès, G. ; Joly, S. ; Pedroza, G. ; Morisset, A. ; Laruelle, F. ; Bechou, L.
Dans : SPIE Photonics Europe, Brussels (France)
https://hal.science/hal-01720697

Thermal investigation on high power dfb broad area lasers at 975 nm, with 60% efficiency
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecomte, Michel ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : Photonics West, San Francisco (United States)
https://hal.science/hal-01380760

Column-Grid-Array (CGA) Technology: Could Lead to a Highly Reliable Package Design ?
Suhir, Ephraim ; Ghaffarian, R. ; Bechou, Laurent ; Nicolics, Johann
Dans : 37th IEEE AEROSPACE AIAA CONFERENCE, Big Sky (United States)
https://hal.science/hal-01719903

Bow-Free Electronic Assembly: Predicted Stresses in Its Components and Embedded Devices
Suhir, Ephraim ; Nicolics, Johann ; Bechou, Laurent
Dans : 37th IEEE AEROSPACE AIAA CONFERENCE, Big Sky (United States)
https://hal.science/hal-01719899

Ba<inf>1−x</inf>Sr<inf>x</inf>TiO<inf>3</inf> (x =0.4) nanoparticles dispersion for 3D integration of decoupling capacitors on glass interposer
Tetsi, E. ; Philippot, Gilles ; Majek, I. Bord ; Aymonier, Cyril ; Audet, J. ; Bechou, L. ; Drouin, D.
Dans : 2016 6th Electronic System-Integration Technology Conference (ESTC), Grenoble (France)
https://hal.science/hal-02074288

Auto-assemblage de nanoparticules de Ba0.6Sr0.4TiO3 pour la réalisation de condensateurs de découplage intégrés sur interposeur pour l’électronique 3D
Tetsi, E. ; Philippot, Gilles ; Bord Majek, I. ; Aymonier, C. ; Audet, J. ; Béchou, L. ; Drouin, D.
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Toulouse (France)
https://hal.science/hal-01349015

An extended model for optical gain calculations in single-mode Laser diodes, International Symposium on Reliability of Optoelectronics for Systems
Vanzi, Massimo ; Giulia, Marcello ; Mura, Giovanna ; Le Gales, Germain ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS 2016, Otwok (Poland)
https://hal.science/hal-01720721

High Frequency Characterization of Nanocomposite LMaterials Based on Simulation and Measurement of Buried Capacitors
Wade, M. ; Duchamp, G. ; Dubois, T. ; Bord-Majek, I.
Dans : Proceedings of European Workshop, EuroSime, 2016, Montpellier (France)
https://hal.science/hal-02516482

High frequency characterization of nanocomposite materials based on simulation and measurement of buried capacitors
Wade, M. ; Duchamp, G. ; Dubois, T. ; Bord-Majek, I.
Dans : 17th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE 2016), Montpellier (France)
https://hal.science/hal-01349069

2015

Photothermal activated pellicular failure mechanism in polymer-based packaging of low power InGaN/GaN MQW LED under active storage
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : ESREF, Toulouse (France)
https://hal.science/hal-01219195

Monte-carlo computations for predicted degradation of photonic devices in space environment
Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Gilard, Olivier ; Quadri, Gianandrea ; How, L.S.
Dans : 2015 IEEE Aerospace Conference, AERO 2015, Yellowstone (France)
https://hal.science/hal-01219189

Hybrid materials for packaging
Bord-Majek, Isabelle ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Leti Days, D43D-C2MI, Grenoble (France)
https://hal.science/hal-01195940

Reduction of mechanical anisotropy in liquid crystal polymer based composite by functionalized silica nano-particles
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Louarn, Mélanie ; Gaud, Vincent ; Diot, Jean-Luc ; Wongtimnoi, Komkrisd ; Brunel, R ; Ousten, Yves
Dans : Fourth International Conference on Multifunctional, Hybrid and Nanomaterials (Hybrid Materials 2015), Sitges (Spain)
https://hal.science/hal-01188923

Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes
del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : CLEO/EUROPE, Munich (Germany)
https://hal.science/hal-01721054

Correlation between Forward-Reverse Low-Frequency Noise and atypical I-V signatures in 980nm High-Power Laser Diodes
del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Bechou, Laurent
Dans : ESREF, Toulouse (France)
https://hal.science/hal-01219200

Original Screening Methodology based on Correlation betweenLow-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behaviorof GaAs-based Laser Diodes
del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : CLEO 2015 (Conference on Lasers and Electro-Optics), munich (Germany)
https://hal.science/hal-01163620

Les LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Conférence Prix Nobel 2014, Aglet (France)
https://hal.science/hal-01221520

Les LEDs, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Café des Sciences, PAu (France)
https://hal.science/hal-01221516

Les LEDS, un défi technologique permanen
Deshayes, Yannick
Dans : Fête de la science : l'éclairage du futur, Combo les Bains (France)
https://hal.science/hal-01219935

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Colloque des Masters, Talence (France)
https://hal.science/hal-01177135

LES LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : DES TECHNOLOGIES DE L'ÉCLAIRAGE À L'ARCHITECTURE, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01177133

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Les sciences au collège, Pontacq (France)
https://hal.science/hal-01177131

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
Dans : Conférence Prix Nobel 2014, Pau (France)
https://hal.science/hal-01177128

Les LEDs : Un défi technologique permanent
Deshayes, Y.
Dans : Café des Sciences, Anglet (France)
https://hal.science/hal-01140920

Digital microfluidic system incorporating optical ring resonator for trace-level hexavalent chromium ions detection
Meziane, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Conédéra, Véronique ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : Journée CMC2 « Intégration du Matériau au Système de détection chimique résonant », Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01312736

Digital microfluidic system incorporating optical ring resonator for trace-level hexavalent chromium ions Cr(VI) detection
Meziane, Farida ; Raimbault, Vincent ; Joly, Simon ; Hallil, Hamida ; Conédéra, Véronique ; Lachaud, Jean-Luc ; Bechou, Laurent ; Dejous, Corinne
Dans : 18 èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro - nanoélectronique, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01308538

Developpement et caractérisation de laser de pompe monomode, forte puissance et rendement élevé emettant a 975nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Y., Robert ; Vinet, Eric ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Béchou, Laurent
Dans : JNOG 35, Rennes (France)
https://hal.science/hal-01219229

Scanning acoustic microscopy and shear wave imaging mode performances for failure detection in high-density microassembling technologies
Remili, Z. ; Ousten, Y. ; Levrier, B. ; Suhir, E. ; Bechou, L.
Dans : 2015 IEEE 65th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), San Diego (France)
https://hal.science/hal-01719760

Leakage current measurements of core/shell hyperbranched polyester/BaTiO3 composites for embedded capacitors
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Levrier, Bruno ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Geneviève
Dans : Fourth International Conference on Multifunctional, 
Hybrid and Nanomaterials (Hybrid Materials 2015), Sitges (Spain)
https://hal.science/hal-01188929

Leakage current measurements of core/shell hyperbranched polyester /BaTi03 composites for embedded capacitors
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Levrier, Bruno ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Geneviève
Dans : HYMA 2015, Barcellona (Spain)
https://hal.science/hal-01180995

2014

A novel approach on accelerated ageing towards reliability optimization of high concentration photovoltaic cells
A. Tsanakas, John ; Jaffre, Damien ; Sicre, Mathieu ; Elouamari, Rachid ; Vossier, Alexis ; de Salins, Jean-Edouard ; Bechou, Laurent ; Levrier, Bruno ; Perona, Arnaud ; Dollet, Alain
Dans : CPV-10 10th International Conference on Concentrator Photovoltaic Systems, Albuquerque (United States)
https://hal.science/hal-01070179

Predictive reliability using FEA simulations of power stacked ceramic capacitors for aeronautical applications
Benhadjala, Warda ; Levrier, Bruno ; Bord-Majek, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Ousten, Yves
Dans : EuroSimE 2014: IEEE International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems, Ghent (Belgium)
https://hal.science/hal-00979156

FEM simulations for built-in reliability of innovative Liquid Crystal Polymer-based QFN packaging and Sn96.5Ag3Cu0.5 solder joint
Chenniki, W. ; Bord-Majek, I. ; Levrier, B. ; Wongtimnoi, K. ; Diot, Jl. ; Ousten, Y.
Dans : Micro/Nano Electronics Packaging and Assembly, Design and Manufacturing Forum (MINAPAD), Grenoble (France)
https://hal.science/hal-01020090

FEM simulations for built-in reliability of innovative Liquid Crystal Polymer-based QFN packaging and Sn96.5Ag3Cu0.5 solder joint
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Levrier, Bruno ; Wongtimnoi, Komkrisd ; Diot, Jean-Luc ; Ousten, Yves
Dans : EuroSimE 2014: IEEE International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems, Ghent (Belgium)
https://hal.science/hal-00979149

Accurate electro-optical characterization of high power density GaAs-based laser diodes for screening strategies improvement
del Vecchio, Pamela ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : Colloque UMI-LN2, Allevard-Les-Bains (France)
https://hal.science/hal-01721178

Accurate electro-optical characterization of high power density GaAs-based laser diodes for screening strategies improvement
del Vecchio, Pamela ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Photonics Europe 2014: Photonics, Optics, Lasers, Micro- and Nanotechnologies, Brussels (Belgium)
https://hal.science/hal-00991556

Les LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
Dans : Conférences sur le sujet du prix Nobel de physique 2014, Pessac (France)
https://hal.science/hal-01095556

Qualification procedure for moisture in embedded capacitors
Frémont, H. ; Kludt, J. ; Wade, M. ; Weide-Zaage, K. ; Bord-Majek, I. ; Duchamp, G.
Dans : 25th European Symposium On Reliability of Electron Devices, Failure Physics an Analysis (ESREF 2014), Berlin (Germany)
https://hal.science/hal-01349082

Prediction of Remaining Useful Life (RUL) of Ball-Grid-Array (BGA) Interconnections during Testing on the Board Level
Gucik-Derigny, David ; Zolghadri, Ali ; Suhir, E. ; Bechou, Laurent
Dans : IEEE Aerospace Conference, Big Sky (France)
https://hal.science/hal-00984636

A model-based prognosis strategy for prediction of Remaining Useful Life of Ball-Grid-Array Interconnections
Gucik-Derigny, David ; Zolghadri, Ali ; Suhir, E. ; Bechou, Laurent
Dans : IFAC World Congress 2014, Cap Town (France)
https://hal.science/hal-00984629

Thermal and thermomechanical management of microassemblied high power thin-disk laser: a parametric study
Joly, Simon ; Lemesre, Marc Antoine ; Levrier, Bruno ; Lyszyk, Caroline ; Courjaud, Antoine ; Taira, Takunori ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS, Toulouse (France)
https://hal.science/hal-01721102

Novel metal ions sensor using uncoated polymer optical microring resonator for environmental applications
Meziane, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : Symposium LAPHIA, Talence (France)
https://hal.science/hal-01312737

Polymer photonic sensor for integration in a digital microfluidic system
Meziane, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : MADICA 2014 (9èmes Journées Maghreb-Europe, Les Matériaux et leurs Applications aux Dispositifs et Capteurs), Sousse (Tunisia)
https://hal.science/hal-01121483

Long term in-vacuum reliability testing of 980nm Laser Diode Pump Modules for Space Applications
Pedroza, G. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; How, Ls. ; Gilard, O. ; Goudard, Jl ; Laruelle, F.
Dans : IEEE Aerospace Conference, Big Sky (United States)
https://hal.science/hal-01022862

Thermomechanical stress analysis of copper/silicon interface in Through Silicon Vias using FEM simulations and experimental analysis
Remili, Z. ; Ousten, Y. ; Levrier, B. ; Mercier, D. ; Suhir, E. ; Bechou, L.
Dans : ESTC 2014 5th Electronics System-Integration Technology Conference, Helsinki (Finland)
https://hal.science/hal-01067621

Methodology Based on Experiments and 3-D EM Simulations for Frequency Characterization of Buried Capacitors
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Genevieve
Dans : ESTC 2014, Helsinki (Finland)
https://hal.science/hal-01109473

Methodology Based on Experiments and 3-D EM Simulations for Frequency Characterization of Buried Capacitors
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Genevieve
Dans : ESTC 2014 5th Electronics System-Integration Technology Conference, Helsinki (Finland)
https://hal.science/hal-01067613

Evolution de la Technologie des Condensateurs Enterrés pour des Applications Hautes Fréquences
Wade, M. ; Bord-Majek, I. ; Dubois, T. ; Duchamp, G.
Dans : 14ème atelier analyse et mécanismes de défaillance des composants pour l'électronique : ANADEF 2014, Seignosse-Hossegor (France)
https://hal.science/hal-01022751

2013

OPTIMIST - Optimisation et caractérisations de composants sous agressions environnantes
Amellal, Mohamed ; Amor, Sarrah ; Duchamp, Geneviève ; Ahaitouf, Ali ; Salvestrini, Jean-Paul ; Béchou, Laurent ; Ramdani, Mohamed ; Perdriau, Richard
Dans : TELECOM2013 & 8eme JFMMA, Marrakech (Morocco)
https://hal.science/hal-00844431

Effect of Processing Factors on Dielectric Properties of BaTiO3/Hyperbranched Polyester Core-Shell Nanoparticles
Benhadjala, Warda ; Bord, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Gaud, Vincent ; Ousten, Yves
Dans : The 63rd IEEE Electronic Component and Technology Conference (ECTC), Las Vegas (United States)
https://hal.science/hal-00858671

Electro-optical characterizations for robustness assessment of automotive qualified white LEDs multichip modules: failure analysis and packaging influence
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Bechou, L. ; Gasse, A. ; Deshayes, Y. ; Carreau, V.
Dans : ISAL Conference, Darmstadt (Germany)
https://hal.science/hal-01022723

Electro-optical characterizations for robustness assessment of automotive qualified white LEDs multichip modules: failure analysis and packaging influence
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Gasse, A. ; Bechou, L. ; Deshayes, Y. ; Carreau, V.
Dans : EMPC 2013, Grenoble (France)
https://hal.science/hal-01019770

Dispersion of functionalized SiO2 particles into a Liquid Crystal Polymer matrix for a reliable HF package
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Louarn, Mélanie ; Gaud, Vincent ; Diot, Jean-Luc ; Levrier, Bruno ; Verriere, Virginie ; Frank, Thomas ; Wongtimnoi, Komkrisd ; Ousten, Yves
Dans : EMPC 2013 European Microelectronics Packaging Conference, Grenoble (France)
https://hal.science/hal-00934255

Boîtier QFN en LCP : simulation thermo-mécanique 3D
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Ousten, Yves
Dans : XVIèmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Grenoble (France)
https://hal.science/hal-00859289

Résultats du projet Archive & Forget
Deshayes, Y. ; André, P. ; Canioni, L.
Dans : Workshop GIS SPADON & GDR Verres, Paris (France)
https://hal.science/hal-01020068

Characterization of scattering materials in the terahertz domain
Garet, Frédéric ; Hérault, Emilie ; Joly, Simon ; Ketchazo, Christian ; Simoens, François ; Coutaz, Jean-Louis
Dans : International Workshop on Optical TeraHertz Science and Technologies (OTST 2013), Kyoto (Japan)
https://hal.science/hal-00979378

Reflection 2D real time THz camera to image and identify sugar pellets
Meilhan, Jérôme ; Lalanne-Dera, Jérémy ; Joly, Simon ; Gidon, Serge ; Lasfargues, Gilles ; Pocas, Stéphane ; Ouvrier-Buffet, Jean-Louis ; Rabaud, Wilfried ; Garet, Frédéric ; Simoens, François
Dans : 38th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), 2013, Mainz (Germany)
https://hal.science/hal-00979376

Durability study of a fluorescent optical memory in glass studied by luminescence spectroscopy
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Béchou, Laurent ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.science/hal-01219687

Femtosecond Laser and chemical etching for surface patterning of glass for long-term data storage
Varkentina, N. ; Royon, A. ; Cardinal, T. ; Canioni, L. ; Deshayes, Y.
Dans : EMRS conference, Strasbourg (France)
https://hal.science/hal-01019861

Embedded capacitor design rules in multilayer organic-based substrate for HF circuits
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Genevieve
Dans : EMPC 2013 European Microelectronics Packaging Conference, Grenoble (France)
https://hal.science/hal-00934187

Conception, simulation et réalisation de condensateurs enterrés à base de nanocomposites pour des circuits hautes fréquences
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Geneviève
Dans : XVIèmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Grenoble (France)
https://hal.science/hal-00859249

2012

Optoélectronique des fibres et télécoms
Bechou, Laurent
Dans : 9ème Rencontres Régionales du Réseau des Electroniciens et Instrumentalistes de la Délégation CNRS Aquitaine-Limousin/Poitou-Charentes, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01019473

Intégration de la fiabilité dès la conception du composant : Application aux approches Top-down et Bottom-up
Bechou, L. ; Verdier, F. ; Ousten, Y.
Dans : Journée IMAPS, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-00786235

Novel Core-Shell Nanocomposite for RF Embedded Capacitors: Processing and Characterization
Benhadjala, Warda ; Bord, Isabelle ; Bechou, Laurent ; Suhir, Ephraïm ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Ousten, Yves
Dans : The 62th Electronic Components ad Technology Conference (ECTC), San Diego (United States)
https://hal.science/hal-00713850

Precise determination of the complex refrative index of samples showing low-transmission bands by THz time-domain spectroscopy
Bernier, Maxime ; Garet, Frédéric ; Coutaz, Jean-Louis ; Joly, Simon
Dans : EOS Topical meeting on TeraHertz Science and Technology, Prague (Czech Republic)
https://hal.science/hal-00979352

Modèle prédictif Simplifié de Propagation de Fissure dans les Puces en Silicium de Composants de Puissance
Calvez, Damien ; Roqueta, Fabrice ; Jacques, Sébastien ; Ducret, Samuel ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IMAPS Journée Puissance 2012, Tours (France)
https://hal.science/hal-00766157

A simplified and meaningful crack propagation model in silicon for microelectronic power devices
Calvez, Damien ; Roqueta, Fabrice ; Jacques, Sébastien ; Ducret, Samuel ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : 13th IEEE EUROSimE 2012, Lisbon (Portugal)
https://hal.science/hal-00766150

Eclairage Automobile: Les conséquences de l'intégration de DEL blanches de puissance sur la stratégie des tests de fiabilité
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Bechou, L. ; Carreau, V. ; Deshayes, Y. ; Gasse, A.
Dans : Journée IMAPS, Tours (France)
https://hal.science/hal-00786240

Thermo-mechanical simulation of cavity QFN package based on Liquid Cristal Polymer for reliability study
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Diot, Jean-Luc ; Levrier, Bruno ; Ousten, Yves ; Romain-Latu, Eddy ; Verriere, Virginie ; Vittu, Julien
Dans : Micro and Nano Electronics Packaging and Design Forum (MINAPAD), Grenoble (France)
https://hal.science/hal-00714005

Overview of thermal studies on photonics devices for reliability, robustness and new design
Deshayes, Y. ; Royon, A. ; Baillot, R. ; Bechou, L. ; Canioni, L. ; Petit, Y. ; Cardinal, Th. ; Bord, I. ; Levrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : 18th International Workshop on Thermal investigations of ICs and Systems (THERMINIC), Budapest (Hungary)
https://hal.science/hal-00786204

Accurate determination of the complex refractive index of scattering materials by THz time-domain spectroscopy
Joly, Simon ; Garet, Frédéric ; Coutaz, Jean-Louis ; Bernier, Maxime
Dans : EOS Topical meeting on TeraHertz Science and Technology, Prague (Czech Republic)
https://hal.science/hal-00979347

Direct Laser-writing in photosensitive glasses: Correlative microscopy of fluorescent silver aggregates and the associated space charge separation
Papon, G. ; Royon, A. ; Bourhis, K. ; Marquestaut, N. ; Petit, Y. ; Deshayes, Y. ; Dussauze, M. ; Rodriguez, V. ; Cardinal, T. ; Canioni, L.
Dans : International Workshop on Laser-Matter Interaction, Porquerolles (France)
https://hal.science/hal-01019283

Proton irradiation effects on InGaAs/InP Photodiodes for Space Applications
Pedroza, G. ; Boutillier, M. ; How, L.S. ; Bechou, L. ; Nuns, T. ; Arnolda, P. ; Ousten, Y.
Dans : RADECS, Biarritz (France)
https://hal.science/hal-00798135

Long term reliability prediction of fluorescent silver nanoclusters embedded in glass for perennial optical recording
Royon, A. ; Papon, G. ; Bourhis, K. ; Petit, Y. ; Cardinal, T. ; Deshayes, Y. ; Canioni, L.
Dans : SPIE Photonics West, Conference 8247 : Frontiers in Ultrafast Optics: Biomedical, Scientific, and Industrial Applications XII, San Diego (United States)
https://hal.science/hal-00798436

Probabilistic Design for Reliability (PDfR) and a Novel Approach to Qualification Testing (QT)
Suhir, Ephraim ; Mahajan, Ravi ; Lucero, Alan ; Bechou, Laurent
Dans : IEEE/AIAA Aerospace Conf., Big Sky, Montana (United States)
https://hal.science/hal-00797407

Thermal stresses in a pre-framed silicon-based photovoltaic module (PVM): How thick should the backsheet be?
Suhir, Ephraim ; Shangguan, Dongai ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Optics+Photonics, Conference 8472 : Reliability of Photovoltaic Cells, Modules, Components and Systems V, San Diego (United States)
https://hal.science/hal-00797387

2011

Optical performances degradation of InGaN/GaN MQW LEDs related to fluorescence shift of copolymer-based silicone coating
Baillot, R. ; Béchou, L. ; Belin, C. ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Absalon, C. ; Babot, O. ; Deshayes, Y. ; Ousten, Y.
Dans : Conférence SPIE Optics & Photonics, San Diego (United States)
https://hal.science/hal-00673972

OpERaS : un nouveau consortium pour l'évaluation de la fiabilité de dispositifs optoélectroniques et photoniques dédiés à l'environnement spatial
Bechou, L. ; How, L.S. ; Rosala, F. ; Guibaud, G. ; Gilard, O. ; Quadri, Gianandrea ; Ousten, Y.
Dans : Journées du Club Optique et Microonde, Rennes (France)
https://hal.science/hal-00673559

BaTiO3/polymer hybrid nanoparticles for embedded capacitor applications
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Marie-Curie Symposium, Warsaw (Poland)
https://hal.science/hal-00714031

Dielectric properties of core-shell hyperbranched polyester/barium titanate nanocomposites for embedded capacitor applications
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Ousten, Yves
Dans : Hybrid Materials 2011, (France)
https://hal.science/hal-00600614

Quelques solutions alternatives et leur évaluation
Deshayes, Yannick
Dans : Conférence de presse GIS DON, Paris (France)
https://hal.science/hal-01219908

Novel method for pulse control in Nd:YVO4/Cr4+:YAG passively Q-switched microchip laser
Joly, Simon ; Taira, Takunori
Dans : CLEO Europe, Munich (Germany)
https://hal.science/hal-01721112

Novel method for pulse control in Nd:YVO4/Cr4+:YAG passively Q-switched microchip laser
Joly, Simon ; Taira, Takunori
Dans : The European Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO/Europe EQEC 2011, Munich (Germany)
https://hal.science/hal-00979342

New step towards the future perennial high capacity optical recording medium
Royon, A. ; Bourhis, K. ; Papon, G. ; Bellec, Matthieu ; Bousquet, B. ; Deshayes, Y. ; Cardinal, T. ; Canioni, L.
Dans : Frontiers in Ultrafast Optics: Biomedical, Scientific, and Industrial Applications XI, San Fransisco (United States)
https://hal.science/hal-01017294

2010

Effects of silicone coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses
Baillot, R. ; Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Armand, C. ; Voillot, F. ; Sorieul, S. ; Ousten, Y.
Dans : ESREF 2010 - 21st European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Gaeta (Italy)
https://hal.in2p3.fr/in2p3-00532869

Environmental conditions influence on embedded capacitors - Comparison with discrete capacitors
Ousten, Yves ; Bord, Isabelle ; Blot, Cyril ; Levrier, Bruno ; Bechou, Laurent ; Kertesz, Philippe
Dans : CARTS USA 2010, New Orleans (United States)
https://hal.science/hal-00600734

Improvement of Stacked High Power Laser Diodes bars by Individual Emitter Characterization
Rehioui, O. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T.
Dans : HEC-DPSSL 6th Workshop, High Energy Class Diode Pumped Solid State Lasers (organized by LULI and IOGS), Versailles (France)
https://hal.science/hal-01022734

Degradation analysis of individual emitters in 808nm QCW Laser diode array for space applications
Rehioui, O. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T. ; Volluet, G.
Dans : SPIE Photonics West Conference, Conference LASE, San Francisco (United States)
https://hal.science/hal-01019447

2009

Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN
Baillot, Raphaël ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent
Dans : JNRDM, Lyon (France)
https://hal.science/hal-00402734

OpERaS : "OptoElectronic Reliability applied to Space environment" Un nouveau consortium pour l'évaluation de la fiabilité de dispositifs optoélectroniques et photoniques dédiés à l'environnement spatial
Bechou, Laurent ; Rosala, F. ; Guibaud, Gérald ; Ousten, Yves
Dans : Symposium " L'innovation à la croisée des savoirs " organisé par le Pôle Aquitaine de l'Institut de Communication du CNRS, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-00584317

Etude en basse fréquence de condensateurs à base de matériaux organiques enterrés dans les circuits imprimés
Blot, Cyril ; Bord, Isabelle ; Ousten, Yves
Dans : JNRDM, Lyon (France)
https://hal.science/hal-00402727

Customized and highly reliable 8-channel phototransistor array for aerospace optical encoder
Bregoli, Matteo ; Maglione, Alfredo ; Franchesci, M. ; Collini, Amos ; Bellutti, Pierluigi ; Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.science/hal-00402242

Lifetime distribution estimation of Light emitting diode
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.science/hal-00402233

Active pedagogy: A practical experiment at the Institut Universitaire de Technologie Bordeaux
Fremont, H. ; Couturier, G. ; Pellet, C. ; Bechou, L.
Dans : 20th EAEEIE conference, (Spain)
https://hal.science/hal-00577603

Electro-optical Characterizations at the Emitter Level in Stacked Laser Diodes Bars for Space Applications
Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent ; Fillardet, Thierry ; Kohl, Andreas ; Ousten, Yves ; Brousse, E. ; Volluet, Gérard
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.science/hal-00402236

Trapped mobile charges effects on electro-optical performances in silicon phototransistors for space applications
Spezzigu, Piero ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, Olivier ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Vanzi, Massimo
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.science/hal-00403233

Strain Estimation in III-V Materials by Analysis of the Degree of Polarization of Luminescence
T. Cassidy, Daniel ; K. Hall, Chadwick ; Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.science/hal-00402230

2008

Different Approaches to Packaging Reliability
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frederic ; Deshayes, Yannick ; Levrier, Bruno ; Bord, Isabelle ; Carbonne, Bertrand
Dans : European Electronics Assembly Reliability Summit, TALLINN (Estonia)
https://hal.science/hal-00335551

Evaluation of static and dynamic performances of silicon-based bipolar phototransistors under radiation
Quadri, Gianandrea ; Gilard, O. ; L. Roux, J. ; Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent ; Vanzi, M. ; Ousten, Yves ; Gibard, D.
Dans : IEEE RADIATION EFFECTS DATA WORKSHOP, Tucson - Arizona (United States)
https://hal.science/hal-00402614

Benefits of individual emitter electro-optical characterizations in packaged high power Laser diode bars for space applications
Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent ; Fillardet, Thierry ; Kohl, Andreas ; T. Cassidy, Daniel ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Volluet, Gérard
Dans : ICSO CONFERENCE, Toulouse (France)
https://hal.science/hal-00402617

Silicon phototransistor reliability assessment and new selection strategies for space applications
Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, Olivier ; Vanzi, Massimo
Dans : SPIE EUROPHOTONICS CONFERENCE, Strasbourg (France)
https://hal.science/hal-00402616

2007

Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deshayes, Y. ; Mendizabal, L. ; Verdier, F.
Dans : 7ème JNRDM 2004, Marseille-France, (France)
https://hal.science/hal-00162364

EURELNET (European Reliability Network)
Ousten, Y. ; Chapeleau, Xavier
Dans : Workshop EURELNET, Paris (France)
https://hal.science/hal-00334749

TEAD : Time Environment Analysis Device
Ousten, Yves ; Bord, Isabelle
Dans : Forum EURIPIDES, Versailles (France)
https://hal.science/hal-00305677

2006

Performance and reliability predictions of 1550 nm WDM optical transmission links using a system simulator
Bechou, L. ; Mendizabal, L. ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Deshayes, Y. ; Dumas, Jean-Michel ; Laffitte, D. ; Goudard, J.L. ; Danto, Y.
Dans : SPIE PHOTONICS EUROPE CONFERENCE, (France)
https://hal.science/hal-00162382

Impact of radiation effects on AlGaAs/GaAs, InGaN/GaN and AlGaInP/GaP packaged light emitting diodes for space applications
Gilard, O. ; Bechou, L. ; Kurz, B. ; Rehioui, O. ; Bourqui, M.L. ; Campillo, D. ; Deshayes, Y. ; Quadri, Gianandrea
Dans : RADECS 2006 WORKSHOP, (France)
https://hal.science/hal-00162386

Analyse de quartz soumis à une forte température
Lévrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : 10ème Atelier ANADEF, Port d'Albret (France)
https://hal.science/hal-00334751

Embedded passive components to increase the reliability of high frequency electronic circuits
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Duchamp, Geneviève ; Kertesz, Philippe
Dans : CARTS Europe 2006, (Germany)
https://hal.science/hal-00400482

MEMS Reliability Challenges in EURELNET
Ousten, Y. ; Chapeleau, Xavier
Dans : NEXUS Methodology Working group - Reliability and Test in conjunction with CANEUS and MEMUNITY, Milan (Italy)
https://hal.science/hal-00334753

Condensateurs enterrés dans les PCB
Ousten, Y. ; Lévrier, B.
Dans : 10ème Atelier ANADEF, Port d'Albret (France)
https://hal.science/hal-00334750

2005

Intra-IC Inspection and Metrology with Picosecond Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Danto, Yves
Dans : 22nd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC) 2005, (Canada)
https://hal.science/hal-00182901

Temperature influence on a differential capacitive rain sensor
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : Eurosensors XIX, Barcelone (Spain)
https://hal.science/hal-00182404

Study of Degradations in PCB Interconnections for High Frequency Applications
Duchamp, Geneviève ; Verdier, Frédéric ; Levrier, Bruno ; Marc, François ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : IPFA 2005, (Singapore)
https://hal.science/hal-00181898

Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : 7ème JNRDM 2004, (France)
https://hal.science/hal-00183951

Characterization and reliability of quartz resonators submitted to high temperature
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Andriamonje, Grégory
Dans : CARTS Europe 2005: 19th Annual Passive Components Conference, (Czech Republic)
https://hal.science/hal-00182900

Projet Européen VIGOR: Indusrialisation et dissipation thermique de modules 3D
Val, A. ; Golot, F. ; Couderc, P. ; Ousten, Yves ; Levrier, Bruno
Dans : IMAPS, INTERCONNEX 2005, (France)
https://hal.science/hal-00182902

2004

Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (United States)
https://hal.science/hal-00182909

Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (United States)
https://hal.science/hal-00182908

La Licence Professionnelle Microélectronique Microsystèmes: Une nouvelle approche dans le pôle CNFM bordelais (PCB)
Begueret, Jean-Baptiste ; Rebiere, Dominique ; Bechou, Laurent ; Pellet, Claude ; Maidon, Yvan ; Salaun, Ac ; Lhermite, H.
Dans : 8èmes journées Pédagogiques du CNFM, (France)
https://hal.science/hal-00183078

Dimensioning and first tests of a differential capacitive rain sensor
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : 2èmes Journées Franco-Espagnoles CMC2 - IBERNAM Microsystèmes, Bidart (France)
https://hal.science/hal-00305676

Capteur de pluie de type capacitif différentiel
Bord, Isabelle
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique JNRDM, Marseille (France)
https://hal.science/hal-00182409

Dimensioning anf first tests of a differential capacitive humidity sensor
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : Eurosensors XVIII, Rome (Italy)
https://hal.science/hal-00182405

Simulations of thermomechanical stresses and optical misalignment in 1.55 µm emissive optoelectronic modules using FEM and process dispersions
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : 2èmes Journées du RTP 31, (France)
https://hal.science/hal-00183953

Estimation of lifetime distributions on 1550 nm DFB laser diodes using Monte-Carlo statistic computations
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Tregon, Bernard ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl ; Hernandez, Y. ; Danto, Yves
Dans : SPIE PHOTONICS EUROPE CONFERENCE, (France)
https://hal.science/hal-00183952

Estimation of lifetime distributions on 1550 nm DFB laser diodes using Monte-Carlo statistic computations
Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Verdier, F. ; Tregon, B. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl. ; Hernandez, Y. ; Danto, Y.
Dans : , ()
https://hal.science/hal-00162359

Embedded Passive Design for High Speed Circuits
Duchamp, Geneviève ; Levrier, Bruno ; Ousten, Yves ; Kertesz, Philippe ; Heytens, Steven
Dans : XIX Conference on Design of Circuits and Integrated systems - DCIS 2004, (France)
https://hal.science/hal-00182905

Caractérisation des condensateurs enterrés pour des applications hyperfréquences
Duchamp, Geneviève ; Ousten, Yves ; Kertesz, Philippe ; Heytens, Steven
Dans : JCMM 2004 - 8ème Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, (France)
https://hal.science/hal-00182904

Reliability analysis of ceramic capacitors under 200C
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Verdier, Frédéric
Dans : CARTS Europe 2004: 18th Annual Passive Components Conference, (France)
https://hal.science/hal-00182907

Eurelnet (EUropean RE Liability NETwork)
Ousten, Yves ; Deletage, Jean-Yves
Dans : Commercialisation of Military and Space Electronics Conference and Exhibition, (United Kingdom)
https://hal.science/hal-00182906

Applications de l acoustique picoseconde à l analyse non destructive de circuits intégrés
Rampnoux, J. M. ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, Bertrand ; Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.science/hal-00182903

VIGOR European Project New industrial applications in 3D interconnection
Val, A. ; Delmas, J. ; Lignier, O. ; Ousten, Yves ; Chandler, N. ; Pizzato, A. ; Deshayes, Yannick
Dans : IMAPS, INTERCONNEX 2004, (France)
https://hal.science/hal-00182864

VIGOR European Project New industrial applications in 3D interconnection
Val, A. ; Delmas, J. ; Lignier, O. ; Ousten, Y. ; Chandler, N. ; Pizzato, A. ; Deshayes, Y.
Dans : APEX 2004, Santa Barbara (France)
https://hal.science/hal-00162374

2003

Impedance spectroscopy on aluminium and tantalum capacitors after more than 10 years in uses at EDF
Guffroy, Gilles ; Simon, Grégory ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : CARTS Europe 2003: 17th Annual Passive Components Conference, (Germany)
https://hal.science/hal-00182911

Extraction of the MLCC Matrix of Compliance Used for Reliability
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Augereau, Jean ; Bechou, Laurent
Dans : CARTS Europe 2003: 17th Annual Passive Components Conference, (Germany)
https://hal.science/hal-00182910

Photomagnétisme dans le système Cu2+/MoIV(CN)84-
Rombaut, G. ; Bord, Isabelle ; Kalisz, M. ; Mathonière, C. ; Herrera, J.-M. ; Marvaud, V. ; Verdaguer, M.
Dans : GDR Commutation Molécualire à l'Etat Solide COMES-POM3, Collonges la Rouge (France)
https://hal.science/hal-00305672

New industrial application in 3D interconnection
Val, C. ; Lignier, O. ; Chandler, N. ; Pizzato, A. ; Deletage, Jean-Yves ; Ousten, Yves ; Val, A.
Dans : 14th European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition, (Germany)
https://hal.science/hal-00182865

2002

Acoustic analysis of an assembly : Structural identification by signal processing (wavelets)
Augereau, Jean ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : ESREF 2002, (Italy)
https://hal.science/hal-00182912

Electron transfer and photomagnetism in the Cu2+/MoIV(CN)84- system
Bord, Isabelle ; Rombaut, G. ; Mathonière, C.
Dans : Cost D14 Working Group Meeting, Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-00305651

Reliability Analysis of Tantalum Capacitors for High Temperature Application
Dehbi, A. ; Wondrak, W. ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : CARTS Europe 2003: 17th Annual Passive Components Conference, (France)
https://hal.science/hal-00182913

Three-Dimensional FEM Simulations of Thermomechanical Stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : IPFA 2002, (Singapore)
https://hal.science/hal-00183954

Three-Dimensional FEM Simulations of Thermomechanical Stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Danto, Y. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl.
Dans : IPFA 2002, Singapore (France)
https://hal.science/hal-00162362

2001

New Methods for Scanning Ultrasonic Microscopy - Applications for Failure Analysis of Microassembling Technologies
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : IPFA 2001, (Singapore)
https://hal.science/hal-00182915

Dissipation thermique dans les dispositifs à fortes densités de puissance. Cas des TBHs sur GaAs et évaluation de deux techniques de report
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : 8èmes Journées Nationales de Microélectronique et Optoélectronique (JNMO'2001), (France)
https://hal.science/hal-00182914

FFT et applications : caractérisation d un CAN, choix d une fenêtre d analyse et réponse en fréquence d un système
Couturier, Gérard ; Bechou, Laurent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Pellet, Claude
Dans : CETSIS 2001, 3ème Colloque sur l Enseignement des Technologies et des Sciences de l Information, (France)
https://hal.science/hal-00183133

FFT et applications : caractérisation d'un CAN, choix d'une fenêtre d'analyse et réponse en fréquence d'un système
Couturier, Gérard ; Bechou, Laurent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Pellet, Claude
Dans : CETSIS-EEA, (France)
https://hal.science/hal-00183132

An improved method for automatic detection and location of defects in electronic components using scanning ultrasonic microscopy
Dallet, Dominique ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Daponte, Pasquale ; Ousten, Yves ; Rapuano, Sergio
Dans : IMTC 2001, Budapest (Hungary)
https://hal.science/hal-00568039

2000

Life prediction of BGA and CSP assemblies using an experimental degradation law and fem simulations
Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Louis, Patrick ; Danto, Yves ; Plano, Bernard ; Carbonne, Bertrand
Dans : IEMT, (Japan)
https://hal.science/hal-00183968

Etude de la fiabilité de composants et modules optoélectroniques
Deshayes, Yannick
Dans : IIIème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, (France)
https://hal.science/hal-00183955

1999

Caractérisation d interfaces Cu/Al2O3 par un système d analyse ultrasonore
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Rachidi, Omar ; Lucat, Claude
Dans : Journée « Couches épaisses pour électrocéramiques », (France)
https://hal.science/hal-00182873

1998

Analyse nondestructive par microscopie ultrasonore et laminographie X d assemblages CBGA soumis à des cyclages thermiques
Bechou, Laurent ; Navarro, Dominique ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis ; Salagoity, Michel
Dans : IMAPS 98, (France)
https://hal.science/hal-00182916

Time frequency methods for multilayer structures characterization
Bechou, Laurent ; Dallet, Dominique ; Berthoumieu, Yannick ; Ousten, Yves
Dans : International Workshop on Advanced Mathematical Methods in Electrical and Electronic Measurements, Milan (Italy)
https://hal.science/hal-00182872

MLCC Type II tested by resonant sound
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : CARTS EUROPE 98, (France)
https://hal.science/hal-00182917

1997

Improvement of ultrasonic images on Microassemblies using adapted signal processing techniques
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves ; Allano, Sylvain ; Salagoity, Michel
Dans : IEMT 97, (United States)
https://hal.science/hal-00182919

Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Tregon, Bernard ; Marc, François ; Danto, Yves ; Kertesz, Philippe
Dans : ESREF 97, (France)
https://hal.science/hal-00181907

Study of Time-Frequency methods for multilayer structures characterization
Dallet, Dominique ; Bechou, Laurent ; Berthoumieu, Yannick ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Acoustic Field, San Diego (United States)
https://hal.science/hal-00182922

The use of impedance spectroscopy, SEM and SAM imaging for early detection of failure in SMT assemblies
Ousten, Yves ; Mejdi, Said ; Fenech, Alain ; Deletage, Jean-Yves ; Bechou, Laurent ; Perichaud, Marie-Genevieve ; Danto, Yves
Dans : 6th International Symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits, (IPFA 97), (Singapore)
https://hal.science/hal-00182923

Improving Reliability Evaluation of Electronic Assemblies Using Early Physical and Electrical Indicators
Ousten, Yves ; Ponomarenko, S. ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Mejdi, Said ; Hijazi, A.
Dans : Third ESA Electronic Components Conference, (Netherlands)
https://hal.science/hal-00182920

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for multilayer ceramic capacitors type II crack detection
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves
Dans : CARTS 97, (Czech Republic)
https://hal.science/hal-00182918

Report des composants CMS à l'aide d'une colle conductrice
Perichaud, Marie-Genevieve ; Deletage, Jean-Yves ; Tregon, Bernard ; Ousten, Yves ; Fremont, Hélène ; Danto, Yves
Dans : Brasage soldering, (France)
https://hal.science/hal-00182921

1996

Thermomechanical behaviour of ceramic ball grid array based on FEM simulations and experimentations
Delétage, Jean-Yves ; Fenech, Alain ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Salagoity, Michel ; Faure, Christiane ; Rao, S.
Dans : Electronics Manufacturing Technology Symposium, 1996., Nineteenth IEEE/CPMT, Austin (United States)
https://hal.science/hal-00385312

1994

Analyse de défaillances dans les condensateurs céramique par signature piézoélectrique
Ousten, Yves ; Mejdi, Said ; Danto, Yves
Dans : 4ème atelier du cercle thématique 21.70 - Techniques d analyse de défaillances des composants., (France)
https://hal.science/hal-00182874

1991

Influence of the nature of the screen-printed electrode metal on the transport and detection propeties of thick film semiconductor gas sensors
Dutronc, P. ; Carbonne, Bertrand ; Menil, Francis ; Lucat, Claude
Dans : Eurosensors V, (Italy)
https://hal.science/hal-00203825

2016

Resonant wave-based microsensors for environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier ; Bahoumina, Prince ; Diez, Miguel ; Meziane, Farida ; Nikolaou, Ioannis
Dans : 8ème Franco-Spanish Workshop IBERNAM-CMC2, Toulouse (France)
https://hal.science/hal-01393043

2014

Overview on reliability investigation on LEDs devices
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Belin, Colette ; Buffeteau, Thierry ; Pianet, Isabelle ; Absalon, Christelle ; Deshayes, Yannick
Dans : Reliability of LED, Jongly (Taiwan)
https://hal.science/hal-01219888

2013

Processing Functional Polymers for the Fabrication of Low-Cost Biomedical MEMS Sensors in an All-Organic Approach
Ayela, Cédric ; Thuau, Damien ; Dubourg, Georges ; Bord-Majek, Isabelle ; Pellet, Claude ; Poulin, Philippe ; Dufour, Isabelle ; Haupt, Karsten
Dans : 2013 MRS Fall Meeting, Boston (United States)
https://hal.science/hal-00861592

Performances and reliability predictions of optical data transmission links using a system simulator for aerospace applications
Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Guerin, Alexandre ; Tronche, Christian
Dans : Aerospace Conference, 2013 IEEE, à Big Sky (Montana) (United States)
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00917358

Overview of thermal studies on photonics devices for reliability, robustness and new design
Deshayes, Y. ; Royon, A. ; Baillot, R. ; Béchou, L. ; Canioni, L. ; Petit, Y. ; Cardinal, Th. ; Bord, I. ; Levrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : Winter conference Laphia - CREOL, Orlando (United States)
https://hal.science/hal-01019130

2011

Methodology of failure analysis applied to packaged LEDs
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Belin, Colette ; Buffeteau, Thierry ; Pianet, Isabelle ; Absalon, Christelle ; Ousten, Yves
Dans : ICMAT, (Singapore)
https://hal.science/hal-00600570

Reliability assessment of optoelectronic and photonic devices in severe environments: architecture and applications of the OpERaS consortium
Bechou, L. ; Spezzigu, P.
Dans : QCA Day ESTEC / ESA, (Netherlands)
https://hal.science/hal-00673563

2009

OpERaS : A new consortium for reliability investigations of optoelectronic and photonic devices dedicated to space environments
Bechou, L. ; Rosala, F. ; Guibaud, G. ; Ousten, Y.
Dans : Colloque National "L'innovation à la croisée des savoirs : les enjeux interdisciplinaires à l'Université de Bordeaux", Bordeaux (France)
https://hal.science/hal-01019413

Overview of light emitting diodes: Reliability estimation from the junction to the packaging
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : INTERCONEX 2009 - IMAPS FRANCE, Paris (France)
https://hal.science/hal-01223382

Radiation effects on photoreceivers - radiation hardness and EOL degradations evaluation methods
Spezzigu, Piero ; Bourqui, Marie-Lise
Dans : RADIATION EFFECTS ON OPTOELECTRONICS (TUTORIAL OPTORAD), Cagliari, Sardinia (Italy)
https://hal.science/hal-00584363

2006

Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier
Huyghe, S. ; Bechou, L. ; Zerounian, N. ; Deshayes, Y. ; Aniel, F. ; Denolle, A. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl ; Danto, Y.
Dans : IPFA 2006, Singapore, IEEE Catalog No: 06TH8872, (Singapore)
https://hal.science/hal-00162384

2003

Electron transfer and photomagnetism in the Cu2+/[MoIV(CN)8]4-
Bord, Isabelle ; Rombaut, G. ; Mathonière, C. ; Herrera, J.-M. ; Marvaud, V.
Dans : European Materials Research Society Spring Meeting (EMRS), Strasbourg (France)
https://hal.science/hal-00305665

Photomagnetism in the M2+ / MoIV(CN)84- system with M = Mn and Cu
Mathonière, C. ; Bord, Isabelle ; Rombaut, G. ; Herrera, J.-M. ; Marvaud, V.
Dans : Jagielonian University Meeting, Cracovie (Poland)
https://hal.science/hal-00305668

1995

Mission Electronique en Chine 94-95
Ousten, Yves
Dans : L'électronique en Chine, (France)
https://hal.science/hal-00182875

1994

L Electronique en Aquitaine
Ousten, Yves
Dans : First electronics "CHINA'94, (China)
https://hal.science/hal-00182876

2012

Chapter 8 : Reliability estimation from the junction to packaging of LEDs : Light-Emitting Diodes and Optoelectronics: New Research
Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-00989418

2010

Chapter 7 : Laser Welding : characteristics and FEM simulations
Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-00989417

2008

APerture Synthesis in the MID-Infrared with the VLTI
Lopez, B. ; Wolf, S. ; Duguée, M. ; Graser, U. ; Mathias, Ph. ; Antonelli, P. ; Augereau, J.-C. ; Dutrey, Anne ; Coauthors, And
https://hal.science/hal-00320183

Chapitre 7 : Modélisation - Fiabilité
Ousten, Y. ; Deshayes, Y. ; Bechou, L.
https://hal.science/hal-00334737

2005

Three-Dimensional Techniques for FEM Simulations in Laser Modules and their Applications
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent
https://hal.science/hal-00182867

2003

Processing of piezoelectric ceramics and new applications of the piezoelectric resonance
Ousten, Yves ; Maglione, Mario ; von Der Muhll, R.
https://hal.science/hal-00182869

2017

IMS Bordeaux : Wave-based resonant microsensors for (bio)chemical detection, environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.science/hal-01516416

IMS Bordeaux : Wave-based resonant microsensors for (bio)chemical detection, environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.science/hal-01516415

2016

Photonics and Aeronautics: A wedding with a promising future – Physics of Failure and Reliability Assessment of Photonic Devices and Systems
Bechou, Laurent
https://hal.science/hal-01719964

IMS Bordeaux: Wave-based resonant microsensors for chemical and biological detection, examples of environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.science/hal-01393046

IMS Bordeaux: Wave-based resonant microsensors for chemical and biological detection, examples of environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.science/hal-01393045

Achieving a 60% Efficient Laser Diode Design With Optimized Thermal Management
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Béchou, Laurent ; Lecomte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel
https://hal.science/hal-01402314

Photonics & Aeronautics: a wedding with a promising future
Mounaix, Patrick ; Bechou, Laurent
https://hal.science/hal-01404480

2013

Archivage numérique pérenne - Les nouvelles solutions de stockage sur disques en verre
Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01219923

2012

Archivage numérique pérenne - Projet archive & Forget
Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01219920

Le projet Archive & Forget
Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01219912

2017

Méthodologies d’analyse de la fiabilité de dispositifs à LED
Baillot, Raphaël ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01711174

Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Baillot, Raphaël ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01711165

Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d’évaluation par la physique des défaillances
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
https://hal.science/hal-01711168

2016

Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.science/hal-01380736

2014

Optoélectronique appliquée : mesures, instrumentation et modèles électro-optiques : diodes électroluminescentes
Deshayes, Y.
https://hal.science/hal-01095719

2010

DIAGNOSTIC DE DEFAILLANCES DE SYSTEMES OPTOELECTRONIQUES
Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-00980005

2015

Passive Q-Switch Type Solid Laser Apparatus
Taira, Takunori ; Joly, Simon ; Bhandari, Rakesh
https://hal.science/hal-01721188

2015

Spécification technique des besoins - Module LED
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Bord-Majek, Isabelle ; Consonni, Marianne ; Deshayes, Yannick ; Adrien, Gasse
https://hal.science/hal-01222174

2014

Etude de la faisabilité de protection de disque optique polymère avec sol-gel
André, Pascal ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096118

Caractérisation de diode Laser de pompe 980 nm T1.1
del Vecchio, Pamela ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.science/hal-01096120

Caractérisation de diode Laser de pompe 14xx nm T1.2
Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.science/hal-01096123

2013

Etude de la mise en place d’un Laser beam recorder avec Laser femtoseconde
André, Pascal ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096115

Etude de la faisabilité d’inscription de donnée numérique en surface par Laser femtoseconde
André, Pascal ; Varkentina, Nadezda ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096105

Etude du comportement atypiques de diode lasers pour les télécoms
Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096100

2011

Resultats de vieillissements accélérés de diode électrolumnescentes pour applications spatiales (Projet COROT)
Baillot, Raphael ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096089

Caractérisation des imageurs OLEDs pour des applications aéronautiques
Marie, Lannegrand ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096092

Fiabilité des LEDs rouges pour applications avioniques
Yee Kin Choi, Elsa ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096096

2007

Analyse du comportement sous radiations de photodiodes Si et InGaAs utilisées en environnement spatial
Bourqui, Marie-Lise ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096088

2006

Essais de fiabilité sur LEDs Hamamatsu (projet DECLIC)
Bechou, Laurent ; Rehioui, Othman ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096086

2005

Results on the characterisation tests T4.1
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Deletage, Jean-Yves ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096084

2004

Simulations génériques des étapes de fabrication et des phases de vieillissement par simulateur ANSYS® d'un système complet optoélectronique
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Danto, Yves
https://hal.science/hal-01096068

Work package 3 : Thermal Test Vehicle of 3 D Module
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves
https://hal.science/hal-01096044

Thermal management Program VIGOR MIL 8
Ousten, Yves ; Deshayes, Yannick ; Levrier, Bruno
https://hal.science/hal-01096060

Simulation and results on thermal management T4.2
Ousten, Yves ; Deletage, Jean-Yves ; Levrier, Bruno ; Deshayes, Yannick
https://hal.science/hal-01096050

Analyse de la fiabilité de filières technologiques de diodes électroluminescentes pour des applications spatiales : synthèse bibliographique (technologies AlGaAs/GaAs, AlGaInP/GaP, InGaN/GaN)
Rehioui, Othman ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Danto, Yves
https://hal.science/hal-01096080

2003

Work package 3 : Thermal management of 3 D Module
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves
https://hal.science/hal-01096036

2002

Etude thermomécanique des têtes optiques LMI 1550 nm – Validations expérimentales des simulations
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.science/hal-01096011

2001

Etude thermomécanique des têtes optiques LMI 1550 nm – Evaluation technologique
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.science/hal-01096004

2020

Development of submillimeter multijunction cells for concentrator photovoltaics (micro-CPV) and assessment of their robustness
Albert, Pierre
https://theses.hal.science/tel-03121153

2019

Reliability of  embedded components into Printed Circuit Boards
Balmont, Mickael
https://theses.hal.science/tel-02384102

Development of a new type of adjustable magnetic non-magnetic capacitor for MRI
Jebri, Zaineb
https://theses.hal.science/tel-03024734

Development of thin films based on dielectric nanoparticles and optimisation of the deposition conditions for the fabrication of decoupling capacitors used in high density electronic modules assembling
Tetsi, Emmanuel
https://theses.hal.science/tel-02500602

2018

Development of high-power laser diodes emitting at 975nm with enhanced wall-plug efficiency and wavelength stabilization for optical pumping of doped fibers and realization of fiber lasers
Mostallino, Roberto
https://theses.hal.science/tel-02102847

2017

Reliability investigation on 1064nm Laser diodes driven under high-current pulsed conditions for high-power fiber laser seeding applications
Le Galès, Germain
https://theses.hal.science/tel-03738097

2015

Evaluation of the reliability of electronic packages QFN-based on nanocomposites LCP / SiO2 functionalized
Chenniki, Walide
https://theses.hal.science/tel-01230257

Evaluation of embedded capacitors based on ceramic/polymer materials for high frequency applications
Wade, Massar
https://theses.hal.science/tel-01245642

2014

Reliability investigation of high power white LEDs multichip modules for automotive applications
Chambion, Bertrand
https://theses.hal.science/tel-01148774

2011

METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN
Baillot, Raphaël
https://theses.hal.science/tel-00673985

FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis
Rehioui, Othman
https://theses.hal.science/tel-00674044

2006

Etude d'un capteur capacitif différentiel pour la détection de pluie
Bord, Isabelle
https://theses.hal.science/tel-01025459

Etude d'un capteur capacitif différentiel pour la détection de pluie
Bord, Isabelle
https://theses.hal.science/tel-00399619