Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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Puissance

Présentation
  • L’équipe « Puissance » travaille au développement de méthodologies et de modèles pour l’évaluation de la fiabilité des modules et systèmes de conversion de puissance et de stockage d’énergie dans leur environnement.

Technologie des assemblages de puissance et composants à semi-conducteur

Ce volet traite de l’évaluation de la fiabilité des assemblages de puissance basées sur des ruptures technologiques comme le remplacement des alliages de brasage par des joints frittés à base de pâte d’argent et la proposition d’architecture 3D conduisant à améliorer les performances multiphysiques d’un module de puissance. Une action est également menée sur la caractérisation électromécanique des puces de puissance diodes, IGBT et MOSFET pour en extraire des indicateurs de défaillance et étudier les régimes extrêmes de fonctionnement. Les travaux s’appuient fortement sur les simulations éléments finis 2D et 3D réalisées sur une plateforme de calcul dédiée.

Dispositifs de stockage d’énergie et gestion des sources hybrides

Ce volet est consacré à l’étude de l’interaction stockeurs-convertisseurs au cœur des nouvelles sources hybrides associant, batteries, supercondensateurs, accumulateurs cinétiques. L’effort est porté sur les méthodes de caractérisation et de modélisation de l’élément de stockage seul, prenant en compte le vieillissement, de manière à proposer une évaluation de l’état de santé utilisable par l’électronique associée (de puissance et de gestion) dans le but d’augmenter la fiabilité du système de stockage complet. La proposition d’indicateurs pertinents et de modèles de vieillissement s’appuient notamment sur la plate-forme de test CACYSSÉE (CAractérisation et CYclage des Systèmes de Stockage de l’Énergie Embarqués).

Membres

Enseignants - chercheurs

Stéphane AZZOPARDI, Détachement Olivier BRIAT, MCF-HDR Alexandrine GUEDON-GRACIA, MCF Loïc THEOLIER, MCF Jean-Michel VINASSA, PR, resp. Equipe Eric WOIRGARD, PR

Ingénieur de recherche

         
Jean-Yves DELETAGE, IR          

ATER et Post-Doc

         
Mohamed AYADI, ATER          

Doctorants

Faical ARABI Issam BAGHDADI Maxime BARRIERE Omar CHIHANI Guillaume MEJECAZE Antoine RENAUD
         
Yuanci ZHANG          

Compétences
  • Caractérisation électrique et thermique des composants de puissances
  • Caractérisation électromécanique des assemblages
  • Modélisation comportementale proche de la physique à base de circuit équivalent
  • Modélisation éléments finis 2d et 3D des assemblages
  • Conception et conduite de tests de vieillissement accélérés avec suivi d’indicateurs pertinents
  • Proposition de critères de fin de vie et de lois de vieillissement
  • Méthodes d’évaluation de l’état de santé
  • Prise en compte du vieillissement dans une stratégie de gestion de l’énergie du système complet
Publications

Total : 357

Articles dans des revues avec comité de lecture → 97 Voir

2018


Blood rheological abnormalities in sickle cell anemia
Connes, Philippe ; Renoux, Céline ; Romana, Marc ; Abkarian, Manouk ; Joly, Philippe ; Martin, Cyril ; Hardy-Dessources, Marie-Dominique ; Ballas, Samir
Dans : Clinical Hemorheology and Microcirculation
https://hal.univ-antilles.fr/hal-01825582

Integrating Cultural Ecosystem Services in an Ecosystem Satellite Account: A Case Study in the Gulf of Saint-Malo (France)
MARTIN, Jean-Christophe ; Mongruel, Rémi ; LEVREL, Harold
Dans : Ecological Economics
http://hal.univ-brest.fr/hal-01939798

Integrating Cultural Ecosystem Services in an Ecosystem Satellite Account: A Case Study in the Gulf of Saint-Malo (France)
MARTIN, Jean-Christophe ; Mongruel, Rémi ; LEVREL, Harold
Dans : Ecological Economics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01692267

Efficient state of health estimation of Li-ion battery under several ageing types for aeronautic applications
Zhang, Yuanci ; Briat, Olivier ; Delétage, Jean-Yves ; Martin, Cyril ; Chadourne, Nicolas ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01892422

2017


Thermo-Mechanical Reliability Assessment of AlN Power Substrates Subjected to Severe Aging Tests
Arabi, Faical ; Theolier, Loic ; Martineau, Donatien ; Delétage, J.-Y. ; Médina, Mathieu ; Woirgard, Eric
Dans : Materials Focus
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01662917

Effects of ageing on the conducted immunity of a voltage reference: Experimental study and modelling approach
Hairoud-Airieau, S. ; Duchamp, G. ; Dubois, Tristan ; Delétage, J.-Y. ; Durier, A. ; Fremont, H.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01659294

D-optimal design of experiments applied to lithium battery for ageing model calibration
Mathieu, Romain ; BAGHDADI, Issam ; Briat, Olivier ; GYAN, Philippe ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Energy
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01657437

Innovative conception of SiC MOSFET-Schottky 3D power inverter module with double side cooling and stacking using silver sintering
Maxime, Barriere ; Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Bontemps, Serge ; LE HENAFF, FRANCOIS
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01671865

Lifetime of power electronics interconnections in accelerated test conditions: High temperature storage and thermal cycling
Sabbah, Wissam ; Arabi, Faical ; Avino-Salvado, Oriol ; Buttay, Cyril ; Théolier, Loic ; Morel, Hervé
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01562549

2016


Power electronic assemblies: Thermo-mechanical degradations of gold-tin solder for attaching devices
Arabi, Faical ; Theolier, Loic ; Martineau, Donatien ; Delétage, J.-Y. ; Médina, Mathieu ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01662946

Chemical rate phenomenon approach applied to lithium battery capacity fade estimation
BAGHDADI, Issam ; Briat, Olivier ; Delétage, Jean-Yves ; GYAN, Philippe ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01657455

Lithium battery aging model based on Dakin’s degradation approach
BAGHDADI, Issam ; Briat, Olivier ; Delétage, Jean-Yves ; GYAN, Philippe ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Journal of Power Sources
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01657446

State of health assessment for lithium batteries based on voltage–time relaxation measure
Baghdadi, Issam ; Briat, Olivier ; GYAN, Philippe ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Electrochimica Acta
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01308702

Sizing and control of a Solid Oxide Fuel Cell/Gas microTurbine hybrid power system using a unique inverter for rural microgrid integration
BAUDOIN, Sylvain ; Vechiu, Ionel ; CAMBLONG RUIZ, HARITZA ; Vinassa, Jean-Michel ; Barelli, Linda
Dans : Applied Energy
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01331492

Impact of Voltage Resets on Supercapacitors Aging
German, Ronan ; Sari, Ali ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Venet, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Industrial Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01646203

2015


Improving the mechanical performances of a multilayered plate with the orientations of its layers of fibers
Ayadi, Mekki ; Gdhami, Asma ; Habbal, Abderrahmane ; Mokni, Maroua ; Yahyaoui, Boutheina
Dans : Computers and Mathematics with Applications
https://hal.inria.fr/hal-01247521

Vers l’électronique imprimée à l’IMS Bordeaux - plateforme technologique TAMIS (Technologies Alternatives aux MIcrosystèmes Silicium)
Debéda, Hélène ; Fadel-Taris, Ludivine ; Favre, Isabelle ; Lachaud, Jean-Luc ; Tomas, Jean
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01242534

Performance comparison of four lithium-ion battery technologies under calendar aging
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Energy
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01657464

Study on specific effects of high frequency ripple currents and temperature on supercapacitors ageing
German, Ronan ; Sari, Ali ; Venet, Pascal ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01657470

Lifetime evaluation of nano-scale silver sintered power modules for automotive application based on experiments and finite elements modeling
LE HENAFF, FRANCOIS ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric ; Youssef, Toni ; Bontemps, Serge ; Joguet, Julien
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01671796

Bonding strength of multiple SiC die attachment prepared by sintering of Ag nanoparticles
Li, Jianfeng ; Johnson, Mark ; Buttay, Cyril ; Sabbah, Wissam ; Azzopardi, Stephane
Dans : Journal of Materials Processing Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01065130

Assessment of constitutive properties of solder materials used in surface mounted devices for harsh environment applications
Pocheron,, M. ; Delétage, J.-Y. ; Plano, B. ; Gracia-Guedon, Alexandrine ; Fremont, Hélène
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01257918

Identification and analysis of power substrates degradations subjected to severe aging tests
Woirgard, Eric ; Arabi, Faical ; Sabbah, Wissam ; Martineau, Donatien ; Theolier, Loic ; Azzopardi, Stéphane
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01662947

Power modules die attach: A comprehensive evolution of the nanosilver sintering physical properties versus its porosity
Youssef, T. ; Rmili, W. ; Woirgard, E. ; Azzopardi, S. ; Vivet, N. ; Martineau, D. ; Meuret, R. ; Le Quilliec, G. ; Richard, C.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-univ-tours.archives-ouvertes.fr/hal-01857025

Power modules die attach: A comprehensive evolution of the nanosilver sintering physical properties versus its porosity
Youssef, Toni ; Rmili, Wafaa ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Vivet, Nicolas ; Martineau, Donatien ; Meuret, Régis ; LE QUILLIEC, Guenhael ; Richard, Caroline
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01333171

2014


Description of supercapacitor performance degradation rate during thermal cycling under constant voltage ageing test
Ayadi, Mohamed ; Briat, Olivier ; Lallemand, Richard ; Eddahech, Akram ; Coquery, Gérard ; Vinassa, Jean-Michel ; German, Ronan
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01657475

Capacitance recovery analysis and modelling of supercapacitors during cycling ageing tests
Chaari, Ramzi ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Energy Conversion and Management
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00964075

Determination of lithium-ion battery state-of-health based on constant-voltage charge phase
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Journal of Power Sources
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00964082

Modeling and adaptive control for supercapacitor in automotive applications based on artificial neural networks
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Ayadi, Mohamed ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Electric Power Systems Research
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950509

Prediction of supercapacitors floating ageing with surface electrode interface based ageing law
German, Ronan ; Sari, Ali ; Venet, Pascal ; Ayadi, Mohamed ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01657480

Improved Supercapacitor Floating Ageing Interpretation Through Multipore Impedance Model Parameters Evolution
German, Ronan ; Venet, Pascal ; Sari, Ali ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : IEEE Transactions on Power Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988961

2013


Thermal cycling impacts on supercapacitor performances during calendar ageing
Ayadi, Mohamed ; Briat, Olivier ; Eddahech, Akram ; German, Ronan ; Coquery, Gérard ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950554

Electrical characterization under mechanical stress at various temperatures of PiN power diodes in a health monitoring approach
Baccar, Fédia ; Azzopardi, Stéphane ; Théolier, Loïc ; El Boubkari, Kamal ; Deletage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00955719

An implementation solution for fractional partial differential equations
Bertrand, Nicolas ; Sabatier, Jocelyn ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Mathematical Problems in Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950573

Thermal characterization of a high-power lithium-ion battery: Potentiometric and calorimetric measurement of entropy changes
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Energy
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950541

Lithium-ion battery performance improvement based on capacity recovery exploitation
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Electrochimica Acta
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950535

Online Parameter Identification for Real-Time Supercapacitor Performance Estimation in Automotive Applications
Eddahech, Akram ; Ayadi, Mohamed ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : International Journal of Electrical Power and Energy Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00807911

Impact of high frequency current ripple on supercapacitors ageing through floating ageing tests
German, Ronan ; Briat, Olivier ; Sari, Ali ; Venet, Pascal ; Ayadi, Mohamed ; Zitouni, Younes ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950564

Die attach using silver sintering. Practical implementation and analysis
Masson, Amandine ; Sabbah, Wissam ; Riva, Raphaël ; Buttay, Cyril ; Azzopardi, Stephane ; Morel, Hervé ; Planson, Dominique ; Meuret, Régis
Dans : European Journal of Electrical Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00874465

Study of die attach technologies for high temperature power electronics: Silver sintering and gold-germanium alloy
Sabbah, Wissam ; Azzopardi, Stephane ; Buttay, Cyril ; Meuret, Régis ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00881584

Power MOSFET active power cycling for medical system reliability assessment
Sow, Amadou ; Somaya, Sinivassane ; Ousten, Yves ; Vinassa, Jean-Michel ; Patoureaux, Fanny
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950594

2012


Investigation on the Single Event Burnout Sensitive Volume Using Two-Photon Absorption Laser Testing
Darracq, Frédéric ; Mbaye, Nogaye ; Azzopardi, Stephane ; Pouget, Vincent ; Lorfèvre, E. ; Bezerra, F. ; Lewis, Dean
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00772095

Remaining Useful Life prediction of Lithium batteries in calendar ageing for automotive applications
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Woirgard, Eric ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00765063

Behavior and State-of-Health Monitoring of Li-ion Batteries Using Impedance Spectroscopy and Recurrent Neural Networks
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Bertrand, Nicolas ; Delétage, Jean-Yves ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : International Journal of Electrical Power and Energy Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00709570

Comparison of three topologies and controls of a hybrid energy storage system for microgrids
Etxeberria, Aitor ; Vechiu, Ionel ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Energy Conversion and Management
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00657235

New Investigation Possibilities on Forward Biased Power Devices using Cross-Sections
KOCINIEWSKI, T ; Moussodji, Jeff ; Khatir, Zoubir ; BERKANI, M ; LEFEBVRE, S ; Azzopardi, Stéphane
Dans : IEEE Electron Device Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00868892

New Investigation Possibilities on Forward Biased Power Devices using Cross-Sections
Kociniewski, Thierry ; Moussodji, Jeff ; Khatir, Zoubir ; Berkani, Mounira ; Lefebvre, Stéphane ; Azzopardi, Stephane
Dans : IEEE Electron Device Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00795342

A preliminary study on the thermal and mechanical performances of sintered nano-scale silver die-attach technology depending on the substrate metallization
Le Henaff, François ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric ; Delétage, Jean-Yves ; Bontemps, Serge ; Joguet, Julien
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00795345

2011


How supercapacitors reach end of life criteria during calendar life and power cycling tests
Chaari, Ramzi ; Briat, Olivier ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00641859

Ageing monitoring of lithium-ion cell during power cycling tests
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Henry, Hervé ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00641829

Influence of the performance fading of ultracapacitors on the operation of a hybrid vehicle [Impact du vieillissement cyclique des supercondensateurs sur les performances dans une application véhicule hybride]
El Brouji, Hassane ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Bertrand, Nicolas ; Dessirier, Bruno
Dans : European Journal of Electrical Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988729

2010


Experimental electro-mechanical static characterization of IGBT bare die under controlled temperature
Belmehdi, Yassine ; Azzopardi, Stephane ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584164

Embedded Fractional Nonlinear Supercapacitor Model and Its Parametric Estimation Method
Bertrand, Nicolas ; Sabatier, Jocelyn ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : IEEE Transactions on Industrial Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584803

Fractional Non-Linear modelling of Ultracapacitors
Bertrand, Nicolas ; Sabatier, Jocelyn ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Communications in Nonlinear Science and
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401139

Contribution of calendar ageing modes in the performances degradation of supercapacitors during power cycling
Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Bertrand, Nicolas ; El Brouji, Hassane ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00527080

An evaluation of IGBT protection with ZNO thick films varistors
Debéda, Hélène ; Azzopardi, Stephane ; Lucat, Claude ; Martin-Stempin, M.-P. ; Tardy, Pascal
Dans : IET Power Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585055

2009


Uni-axial mechanical stress effect on Trench Punch through IGBT under short-circuit operation
Belmehdi, Yassine ; Azzopardi, Stephane ; Benmansour, Adel ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00414779

L'enseignement de l'électronique accessible aux étudiants handicapés
Demontoux, François ; Woirgard, Eric ; Belliard, Elise ; Verdeau, Karine ; Bernou, Catherine
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00393003

Impact of Calendar Life and Cycling Ageing on Supercapacitor Performance
El Brouji, Hassane ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Bertrand, Nicolas ; Woirgard, Eric
Dans : IEEE Transactions on Vehicular Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00424304

Analysis of the dynamic behavior changes of supercapacitors during calendar life test under several voltages and temperatures conditions
El Brouji, Hassane ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Henry, Hervé ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00414775

An investigation into the reliability of power modules considering baseplate solders thermal fatigue in aeronautical applications
Micol, Alexandre ; Zéanh, Adrien ; Lhommeau, Tony ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric ; Dalverny, Olivier ; Karama, Moussa
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00414780

2008


Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deletage, J.Y. ; Verdier, F. ; Deshayes, Y. ; Fregonese, S. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Laffitte, D.
Dans : Comptes rendus de l’Académie des sciences. Série IV, Physique, astrophysique
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00266387

Comparison between changes of ultracapacitors model parameters during calendar life and power cycling ageing tests
El Brouji, Hassane ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Bertrand, Nicolas ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00333031

Reliability of Lead-Free BGA Assembly: Correlation Between Accelerated Ageing Tests and FE Simulations
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00403579

Reliability of the connections used in IGBT modules, in aeronautical environment
Zéanh, Adrien ; Dalverny, Olivier ; Karama, Moussa ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Bouzourene, A. ; Casut, J. ; Mermet-Guyennet, Michel
Dans : International Journal for Simulation and Multidisciplinary Design Optimization
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324002

2007


A step by step methodology to analyze the IGBT failure mechanisms under short circuit and turn-off inductive conditions using 2D physically based device simulation
Benmansour, Adel ; Azzopardi, Stephane ; MARTIN, Jean-Christophe ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324010

Trench IGBT failure mechanisms evolution with temperature and gate resistance under various short-circuit conditions
Benmansour, Adel ; Azzopardi, Stephane ; MARTIN, Jean-Christophe ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324008

Principle, design and validation of a flywheel based peak power source for heavy-duty electric vehicles
Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Azzopardi, Stéphane ; Woirgard, Eric
Dans : IET Electric Power Applications
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00168775

Thermo-mechanical optimization of heatspreader geometry for an automotive power assembly.
Delétage, J.-Y. ; Woirgard, E. ; Favre, I. ; Lagonotte, P. ; Burban, G.
Dans : SOCIÉTÉS DES INGÉNIEURS DE L'AUTOMOBILE
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00380410

Monitoring fading rate of ultracapacitors using online characterization during power cycling
Lajnef, Walid ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; El Brouji, Hassane ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180190

Quantification of ageing of ultracapacitors during cycling tests with current profile characteristics of hybrid and electric vehicles applications
Lajnef, Walid ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; El Brouji, Hassane ; Azzopardi, Stéphane ; Woirgard, Eric
Dans : IET Electric Power Applications
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00168779

Characterization methods and modelling of ultracapacitors for use as peak power sources
Lajnef, Walid ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Azzopardi, Stéphane ; Woirgard, Eric
Dans : Journal of Power Sources
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00161305

2006


Failure mechanism of Trench IGBT under short-circuit after turn-off
Benmansour, Adel ; Azzopardi, Stephane ; MARTIN, Jean-Christophe ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324011

Power cycling tests for accelerated ageing of ultracapacitors
Briat, Olivier ; Lajnef, Walid ; Vinassa, Jean-Michel ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00161309

2005


Assessment of the Trench IGBT reliability: low temperature experimental characterization
Azzopardi, Stephane ; Benmansour, Adel ; Ishiko, Masayasu ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324013

Correlation between Experimental Results and FE Simulations to Evaluate Lead-Free BGA Assembly Reliability
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179908

Specification and use of pulsed current profiles for ultracapacitors power cycling
Lajnef, Whalid ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183571

2004


A systematic hard- and soft-switching performances evaluation of 1200V punch through IGBT structures
Azzopardi, Stephane ; Vinassa, Jean-Michel ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian ; Briat, Olivier
Dans : IEEE Transactions on Power Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00161308

How to study delamination in plastic encapsulated devices
Fremont, Hélène ; Deletage, Jean-Yves ; Weide-Zaage, Kirsten ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183958

Influence of the thermo-mechanical residual state on the power assembly modellization
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian ; Roux, Pascal
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179907

First step in the reliability of ultracapacitors used as power source in hybrid electric vehicles
Lajnef, Whalid ; Vinassa, Jean-Michel ; Azzopardi, Stéphane ; Briat, Olivier ; Guedon, Alexandrine ; Zardini, Christian
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183573

2003


IGBT power modules thermal characterization : what is the optimum between a low current - high voltage or a high current - low voltage test condition for the same electrical power ?
Azzopardi, Stéphane ; Woirgard, Eric ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Zardini, Christian
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183574

Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations
Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Plano, Bernard ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183949

Three-dimensional FEM simulations of thermomechanical stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183950

Three-dimensional FEM simulations of thermomechanical stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, L. ; Deletage, Jy. ; Verdier, F. ; Danto, Y. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162350

Methodology to evaluate the correspondence between real conditions and accelerated tests of a thyristor system used in a power plant
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian ; Simon, Guillaume
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179906

1/f noise analysis of InP/InGaAs DHBTs submitted to bias and thermal stresses
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183090

Moisture Diffusion in BCB Resins used for MEMS Packaging
Tetelin, Angélique ; Pellet, Claude ; Deletage, Jean-Yves ; Carbonne, Bertrand ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183113

Strategy for designing accelerated ageing tests to evaluate IGBT power modules lifetime in real operation mode
Thebaud, Jean-Marc ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian ; Azzopardi, Stéphane ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183575

2002


Evaluation of lead-free soldering for automotive applications
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179904

2001


Local lifetime control IGBT structures: turn-off performances comparisonfor hard-soft-switching between 1200 V trench and new planar PT-IGBTs
Azzopardi, Stéphane ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183576

Evaluation of the moisture sensitivity of molding compounds of IC's Packages.
Fremont, Hélène ; Deletage, Jean-Yves ; Pintus, Alberto ; Danto, Yves
Dans : ASME journal of electronic packaging
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183959

Humidity Sensors for a Pulmonary Function Diagnostic Microsystem
Laville, Céline ; Deletage, Jean-Yves ; Pellet, Claude
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183117

2000


A non-destructive technological parameters extraction method for 2-D physically-based punch-through IGBT simulation
Azzopardi, Stéphane ; Trivedi, M. ; Shenai, K. ; Zardini, Christian
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185568

Reliability Evaluation of Adhesive bonded SMT Components in Industrial Applications
Perichaud, Marie-Genevieve ; Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183960

1999


Performances and Potentialities of a very simple self-compensated pressure sensor demonstrator
Menini, Philippe ; Blasquez, G. ; Pons, Patrick ; Chauffleur, X. ; Dondon, Philippe ; Zardini, Christian
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00348524

1991


3D Thermal simulation of Power Hybrid Assemblies
Zardini, Christian ; Rodes, Francis ; Duchamp, Geneviève ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : HYBRID CIRCUITS
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182883
Communications avec actes (nationales) → 84 Voir

2017


Détecteur de puissance intégré sur silicium stabilisé en température basé sur un coupleur compact pour applications spatiales en bande Ka
Potéreau, Manuel ; Mathieu, Romain ; Marque, Alexandre ; Ghiotto, Anthony ; Deltimple, Nathalie ; Rochette, Stéphane ; Jardel., Olivier
Dans : XXèmes Journées Nationales Microondes, Saint-Malo (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01525550

2016


Capacity fade of lithium-ion batteries upon mixed calendar/cycling aging protocol
GROLLEAU, Sebastien ; BAGHDADI, Issam ; GYAN, Philippe ; BEN MARZOUK, mohamed ; DUCLAUD, François
Dans : EVS29 - 2016 Electric Vehicle Symposium and Exhibition, Montréal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01363521

2014


Fiabilité d'une diode DT2 reportée sur un substrat DBC par frittage de pâte d'argent
Baccar, Fédia ; Théolier, Loïc ; Azzopardi, Stephane ; Le Henaff, François ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : SYMPOSIUM DE GÉNIE ELECTRIQUE (SGE'14), Cachan (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01017558

Vers l’électronique imprimée à l’IMS Bordeaux - plateforme technologique TAMIS (Technologies Alternatives aux Microsystèmes Silicium)
Debéda, Hélène ; Fadel-Taris, Ludivine ; Favre, Isabelle ; Tomas, Jean
Dans : 13èmes journées pédagogiques du CNFM, Saint Malo (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01101684

2013


Amélioration de la lisibilité des formations de l'EEA accessibles aux étudiants en situation de handicap - Vers une mutualisation des expériences et une généralisation des bonnes pratiques
Demontoux, François ; Fremont, Hélène ; Woirgard, Eric
Dans : CETSIS2013 : Enseignement des Technologies et des Sciences de l'Information et des Systemes, Caen (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00873510

2012


Stage de microassemblage Pôle CNFM de Bordeaux / IMS Bordeaux : réalisation de circuits hybrides et capteurs
Debéda, Hélène ; Dejous, Corinne ; Frémont, Hélène ; Gracia, Alexandrine ; Favre, Isabelle ; Lachaud, Jean-Luc ; Plano, Bernard ; Tomas, Jean
Dans : 12èmes journées pédagogiques du CNFM, Saint-Malo (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00744834

Frittage de nano-pâte d'argent : impact de la métallisation du substrat sur la tenue à la fatigue thermique des assemblages de puissance
Le Henaff, François ; Azzopardi, Stephane ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric ; Bontemps, Serge ; Joguet, Julien
Dans : Electronique de Puissance du Futur, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00782838

2010


Caractérisation électromécanique en puces " flottantes " d'IGBT à grille planaire"
Belmehdi, Yassine ; Azzopardi, Stephane ; Delétage, Jean-Yves ; Capy, Florence ; Woirgard, Eric
Dans : Conférence sur l'Electronique de Puissance du Futur, Saint Nazaire (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584114

2009


Impact du vieillissement cyclique des supercondensateurs sur les performances dans une application véhicule hybride
El Brouji, Hassane ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Bertrand, Nicolas ; Henry, Hervé ; Dessirier, Bruno
Dans : Journées Electrotechniques du Futur, Compiègne (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584825

2008


Etude prédictive de la fiabilité de l'électronique de puissance embarquée : projet CEPIA
Azzopardi, Stephane ; Fradin, Jean-Pierre ; Médina, Mathieu ; Meuret, Régis ; Piton, Michel ; Rollin, Pascal ; Tereskiewiez, Christophe ; Vidal, Paul-Etienne
Dans : Electronique de Puissance du Futur, Tours (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00322530

Varistances sérigraphiées à forte tension de seuil pour la protection d'IGBT
Debéda, Hélène ; Martin, Marie-Pascale ; Lucat, Claude ; Ménil, Francis ; Azzopardi, Stéphane
Dans : 12eme Colloque Electronique de Puissance EPF'2008, Tours (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00294047

Fiabilité des substrats en AlN utilisés dans les modules IGBT en environnement aéronautique
Zéanh, Adrien ; Dalverny, Olivier ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Karama, Moussa ; Bouzourene, A. ; Casut, J. ; Mermet-Guyennet, Michel
Dans : Conférence sur l'Electronique de Puissance du Futur, Tours (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324017

2006


Mécanisme de défaillance d un IGBT Trench en mode court-circuit après ouverture
Benmansour, Adel ; Azzopardi, Stéphane ; MARTIN, Jean-Christophe ; Woirgard, Eric
Dans : EPF (Electronique de Puissance du Futur), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185571

Mécanisme de défaillance de l IGBT Trench en mode de court-circuit après ouverture
Benmansour, Adel ; Azzopardi, Stéphane ; MARTIN, Jean-Christophe ; Woirgard, Eric
Dans : Electronique de Puissance du Futur, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185570

Mécanisme de défaillance de l'IGBT Trench en mode court-circuit après ouverture
Benmansour, Adel ; Azzopardi, Stephane ; MARTIN, Jean-Christophe ; Woirgard, Eric
Dans : Electronique de Puissance du Futur, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180643

Evaluation du Brasage sans Plomb pour des Applications Automobile
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : 12ème Forum de l'Interconnexion et du Packaging Microélectronique, IMAPS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179938

Cyclage de super-condensateurs utilisant des profils en courant impulsionnels
Lajnef, Walid ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Woirgard, Eric
Dans : 11ème Colloque Electronique de Puissance du Futur (EPF), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00175226

Reliability Analysis of a New Soldering Process For Automotive Power Module Application
Rizzi, Mathieu ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stéphane
Dans : Eurosime, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185572

An Assessment of the Reliability of a new Soldering Process for Automotive Power Module
Rizzi, Mathieu ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stéphane
Dans : Conference on Integrated Power Electronics Systems, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185569

2005


Effect of the High Input Capacitance of 1200V Trench IGBT on the Switching Characteristics under Inductive Load
Azzopardi, Stéphane ; Benmansour, Adel ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Woirgard, Eric
Dans : European Conference on Power Electronics and Applications, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183577

2004


What can be the optimum IGBT structure under UIS operation?
Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : IEEE Power Electronics Specialist Conference, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185576

A prototype of compact and low cost 5 to 10kW PWM inverter for 3-phases electric motor boat
Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : EET, (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185573

Test chip for qualification of packaging assemblies
Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Puig, Olivier ; Pellet, Claude ; Fouillat, Pascal ; Danto, Yves
Dans : SBMicro 2004, (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183081

Répercussion de l'état mécanique dû à la fabrication d'un assemblage de puissance sur la modélisation de sa durée de vie
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Roux, Pascal ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : Electronique de Puissance du Futur, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179942

Evaluation by Simulation of the Ageing State of a Thyristor System Used in a Power Plant
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Simon, Guillaume ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : International Conference on Electronics Packaging IEMT/IMC Symposium, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179919

Some Mechanical and Metallurgical Aspects of the Degradation in Interconnects
Ignat, Michel ; Fremont, Hélène ; Deletage, Jean-Yves ; Danto, Yves
Dans : 2èmes journées fiabilité des composants et packaging, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183965

First step in the reliability of ultracapacitors used as power source in hybrid electric vehicles
Lajnef, Whalid ; Vinassa, Jean-Michel ; Azzopardi, Stéphane ; Briat, Olivier ; Zardini, Christian
Dans : 15th European Symposium Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185575

Electro-thermal characterization of ultracapacitors used as power source in hybrid electric vehicle
Lajnef, Whalid ; Vinassa, Jean-Michel ; Azzopardi, Stéphane ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : 19th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185574

Ultracapacitors Modeling Improvement Using an Experimental Characterization Based on Step and Frequency Responses
Lajnef, Whalid ; Vinassa, Jean-Michel ; Azzopardi, Stéphane ; Briat, Olivier ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : IEEE Power Electronics Specialist Conference, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183580

Ultracapacitors modeling : dynamic behavior using impedance spectroscopy on a dedicated test bench
Lajnef, Whalid ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Azzopardi, Stéphane ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : European Ele-Drive Transportation Conference and Exhibition, (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183579

Study of ultracapacitors dynamic behaviour using impedance spectroscopy on a dedicated test bench
Lajnef, Whalid ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Azzopardi, Stéphane ; Zardini, Christian
Dans : IEEE International Symposium on Industrial Electronics, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183578

Analysis of avalanche regime in InP HBT's using physical simulation - Implementation in a DC Model
Maneux, Cristell ; MARTIN, Jean-Christophe ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : International Conference on Industrial Technology, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183100

InP/InGaAs/InP DHBT submitted to bias and thermal stresses: LF base noise analysis
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : SPIE Fluctuation and Noise Conference, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183103

Eurelnet (EUropean RE Liability NETwork)
Ousten, Yves ; Deletage, Jean-Yves
Dans : Commercialisation of Military and Space Electronics Conference and Exhibition, (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182906

2003


Integration of an electromechanical power source in a test bench for hybrid electric vehicles
Briat, Olivier ; Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Woirgard, Eric ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : 2ème Forum International sur la Mobilité Urbaine et Transport Avancé (MUTA), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183583

Experimentql comparison of two hybridization strategies for ESS-battery association in heavy duty electric vehicles
Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Lajnef, Whalid ; Azzopardi, Stéphane ; Zardini, Christian
Dans : 10th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183582

experimental validation of an ESS-battery combination as a hybrid source for heavy duty vehicles
Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Lajnef, Whalid ; Azzopardi, Stéphane ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : 20th International Electric Vehicle Symposium (EVE), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183581

Fiabilité du TBH sur InP - Analyse du Bruit aux Basses Fréquences
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : Journées Nationales Microondes - JNM, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183470

Extrinsic leakage current on InP/InGaAs DHBTs
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : 2003 IEEE Conference on Indium Phosphide and Related Materials, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183469

Analyse des courants de fuite extrinsèques des HBTs InP/InGaAs
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : Journées Scientifiques Francophones Electronique, Télécoms et Informatique, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183468

Investigations of switching characteristics of a PT-IGBT by considering the device internal resistance
Pilancinski, Jan ; Deskur, Jan ; Azzopardi, Stéphane
Dans : European Power Electronics Conference (EPE), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185551

2002


Investigations of switching characteristics of a PT-IGBT
Azzopardi, Stéphane ; Deskur, Jan ; Pilancinski, Jan
Dans : Symposium Electromagnetic Phenomena in Nonlinear Circuits, (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185552

Etude expérimentale d'une source hybride pour chaîne de traction électrique : conception et intégration d'un accumulateur cinétique d'énergie
Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Lajnef, Whalid ; Azzopardi, Stéphane ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : Electronique de Puissance du Futur (EPF02), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183584

Fiabilité du TBH à double hétérojonction sur InP : Résultats préliminaires
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : Journées Nationales Microélectronique Optoélectronique 2002, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183473

2001


Soft-switching turn-off characterization at high temperature of 1200V trench IGBTusing local lifetime control
Azzopardi, Stéphane ; Iwamoto, H. ; Kawamura, A.
Dans : Proc.IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and Ics, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185555

Soft-switching performances of 1200V new punch-through IGBT using local lifetimecontrol at high temperature
Azzopardi, Stéphane ; Iwamoto, H. ; Kawamura, A.
Dans : Proc. IEEE Power Electronics Specialists Conference, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185554

Local lifetime control IGBT structures : turn-off performances comparison for hard-and soft-switching between 1200V trench and new planar PT-IGBTs
Azzopardi, Stéphane ; Kawamura, A. ; Iwamoto, H. ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : 12th ESREF, Failure physics and analysis, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183587

Integration of an electromechanical power source in a test bench for hybridelectric vehicles
Briat, Olivier ; Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : 18th lectric Vehicle Ssymposium (EVS18), (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185553

Integration of an electromechanical power source in a test bench for hybrid electric vehicles
Briat, Olivier ; Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : Proc. of the 18th International Electric Vehicle Symposium (EVS), (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183586

Experimental study of sources hybridization : electromechanicalstorage system integration into an electric vehicle structure
Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : Proc. IEEE Power Electronics Specialists Conference, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183585

Evolution of Reliability Assessment In PCB Assemblies
Danto, Yves ; Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Fremont, Hélène
Dans : SBMicroélectronique, (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183967

Experimental Evidence of Impact Ionisation in InP HBT's Designed for Rapid Digital Applications:Implementation in a DC Model
Maneux, Cristell ; MARTIN, Jean-Christophe ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Benchimol, Jean-Louis
Dans : ESSDERC, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183474

2000


Design, Realization and Experimentation of a Ni-MH Battery Monitoring System (BMS) for Electric Vehicles
Abouda, K. ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : Proc. of the 17th International Electric Vehicle Symposium (EVS), (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183588

Shape of the collector-emitter voltage of punch-through IGBT for hard-switching
Azzopardi, Stéphane ; Iwamoto, H. ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian ; Kawamura, A.
Dans : International Power Electronics Conference, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185550

Analysis of the punch-through IGBT internal behaviour under failure at turn-off on unclamped inductive switching
Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian
Dans : International Power Electronics Conference, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185549

Tools for experimentation and simulation of heavy duty HEV power train
Briat, Olivier ; Abouda, K. ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : Proc. of the 17th International Electric Vehicle Symposium (EVS), (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183590

Tools for experimentation and simulation of heavy duty HEV power train
Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : 17th International Electric Vehicle Symposium (EVS17), (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183589

Vieillissement par pénétration d humidité des résines d enrobage de circuits intégrés
Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Danto, Yves
Dans : SFP 7èmes journées de la matière condensée, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183969

Life prediction of BGA and CSP assemblies using an experimental degradation law and fem simulations
Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Louis, Patrick ; Danto, Yves ; Plano, Bernard ; Carbonne, Bertrand
Dans : IEMT, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183968

Humidity Sensors for a Pulmonary Function Diagnostic Microsystem
Laville, Céline ; Deletage, Jean-Yves ; Pellet, Claude
Dans : 8th International Meeting on Chemical Sensors, (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183136

1999


Contribution in a regulation method of battery current in electric vehicles. Application in a racing sail ship
Abouda, K. ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Henry, Hervé
Dans : Proc. of the International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ELECO), (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183591

Performances of 1200V punch-through and non punch-through IGBTs under unclampedinductive switching
Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian
Dans : Proceedings of the IEEE International Conference on Power Electronics andDrive Systems (PEDS), (Hong Kong SAR China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185559

Behaviour of fast and ultra-fast 600V punch-through IGBT under unclamped inductiveswitching stress at high temperature
Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian
Dans : Proceedings of the European Power Electronics Conference (EPE), (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185558

A study of 600V punch-through IGBT dynamics under unclamped inductive switching
Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian
Dans : Proceedings of the IEEE Applied Power Electronics Conference (APEC), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185557

A punch-through IGBT model using a simple technological parameters extractionmethod for two-dimensional physical simulation
Azzopardi, Stéphane ; Trivedi, M. ; Shenai, K. ; Zardini, Christian
Dans : Proceedings of the European Power Electronics Conference (EPE), (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185556

1998


Switching performances comparison of 1200V punch-through and nonpunch-through IGBTs under hard-switching at high Temperature
Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Woirgard, Eric
Dans : Proceedings of the IEEE Power Electronics Specialist Conference (PESC), (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185562

Hybrid power modules using a metal matrix composite baseplate : an evaluation
Azzopardi, Stéphane ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : Proceedings of the 2nd IEMT/IMC'98 Symposium, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185561

Al/SiC base-plate hybrid power modules : evaluation of the thermo-mechanical performances
Azzopardi, Stéphane ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : Proc. IEEE International Workshop on Integrated Power Packaging, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185560

Analyse nondestructive par microscopie ultrasonore et laminographie X d assemblages CBGA soumis à des cyclages thermiques
Bechou, Laurent ; Navarro, Dominique ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis ; Salagoity, Michel
Dans : IMAPS 98, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182916

Screen-printed copper superthick films for power hybrid circuits
Lucat, Claude ; Rachidi, Omar ; Menil, Francis ; Zardini, Christian ; Bontemps, Sylvain ; Despagne, M.
Dans : IWIPP Conference, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203773

Thermomechanical Behaviour of Adhesive Jointed SMT Components
Perichaud, Marie-Genevieve ; Deletage, Jean-Yves ; Carboni, Davide ; Fremont, Hélène ; Danto, Yves ; Faure, Christiane
Dans : IEEE 3rd International Conference on Adhesive Joining and Coating Technology in Electronics Manufacturing, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183973

Optimisation of an Assembling Process of Passive Components reported with Conductive Adhesives
Perichaud, Marie-Genevieve ; Deletage, Jean-Yves ; Tregon, Bernard ; N'Kaoua, Gilles ; Fremont, Hélène ; Danto, Yves ; Puig, Olivier
Dans : 12th European Passive Components Conference, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183972

Evaluation of conductive adhesives for industrial SMT assemblies
Perichaud, Marie-Genevieve ; Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Danto, Yves ; Faure, Christiane ; Salagoity, Michel
Dans : IEMTS, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183970

1997


Thermal resistance inflence of a power hybrid asselbly on the internal physical and electrical behaviour of the IGBT
Azzopardi, Stéphane ; Thebaud, Jean-Marc ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian
Dans : MIxed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES), (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185564

Investigations on the internal physical behaviour of 600V punch-through IGBT under latch-up at high temperature
Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Zardini, Christian
Dans : 27th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185563

The use of impedance spectroscopy, SEM and SAM imaging for early detection of failure in SMT assemblies
Ousten, Yves ; Mejdi, Said ; Fenech, Alain ; Deletage, Jean-Yves ; Bechou, Laurent ; Perichaud, Marie-Genevieve ; Danto, Yves
Dans : 6th International Symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits, (IPFA 97), (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182923

Report des composants CMS à l'aide d'une colle conductrice
Perichaud, Marie-Genevieve ; Deletage, Jean-Yves ; Tregon, Bernard ; Ousten, Yves ; Fremont, Hélène ; Danto, Yves
Dans : Brasage soldering, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182921

1996


Temperature effects on the internal physical and electrical behaviour of the n-channel punch-through insulated gate bipolar transistor
Azzopardi, Stéphane ; Zardini, Christian
Dans : 2nd THERMINIC Workshop, (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185565

Evaluation thermomécanique de nouveaux substrats sérigraphiés pour des assemblages hybrides de forte puissance
Rachidi, Omar ; Zardini, Christian ; Sable, P. ; Lucat, Claude
Dans : EPF'96(Electronique de Puissance du Futur), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203777

1992


Direct digitization of low level transducer outputs for low power intracorporeal telemetry systems
Rodes, Francis ; Zardini, Christian ; Deval, Yann ; Burny, F.
Dans : Proceedings of twelfth International Symposium on Biotelemetry, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184309

1989


Caractérisation physicochimique et thermique d'un assemblage hybride de puissance en technologie cuivre sur AlN
Massiot, P. ; Lucat, Claude ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : Journée ISHM, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203834

Thermal parametric studies of Hybrid Power Assemblies
Zardini, Christian ; Rodes, Francis ; Duchamp, Geneviève ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : ANSYS Conference, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182897

1988


Mesure de la température de surface des semi-conducteurs de puissance par thermographie infrarouge et cristaux liquides
Zardini, Christian ; Rodes, Francis ; Duchamp, Geneviève ; Aucouturier, Jean-Louis ; Destrade, C.
Dans : Congrès Electronique de Puissance du Futur, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182898

1983


The use of Hybrid Microelectronic techniques for the achievement of a miniaturized self contained gas sensor
Pistre, Jacques ; Lucat, Claude ; Portier, J. ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : 4 th European Hybrid Microelectronics Conference, (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203852
Communications avec actes (internationales) → 105 Voir

2018


Power Electronic Integration and packaging for aeronautic application in harsh environment
Meuret, Régis ; Martineau, Donatien ; Youssef, Toni ; Martin, Christian ; Yade, Ousseynou
Dans : CIPS, Stuttgart (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01919984

2017


Failure mechanism study of gold-tin solder for attaching power electronic devices
Arabi, Faical ; Théolier, Loïc ; Martineau, Donatien ; Woirgard, Eric
Dans : MEA 2017, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01663005

Lithium-ion battery ageing assessment based on a reduced design of experiments
BAGHDADI, Issam ; Mathieu, Romain ; Briat, Olivier ; GYAN, Philippe ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : IEEE Vehicle Power and Propulsion Conference, VPPC, Belfort (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01657688

Identification des propriétés thermomécaniques d'assemblages frittés en nano-pâte d'argent de composants électroniques de puissance pour des applications aéronautiques
Le Quilliec, Guénhaël ; Rmili, Wafaa ; Youssef, Toni ; Guilbaud, Laurent ; Leduc, Dominique ; Richard, Caroline ; Dosseul, Franck
Dans : 13e colloque national en calcul des structures, Giens, Var (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01899337

Performance quantification of last generation Li-ion batteries in wide temperature range
Zhang, Yuanci ; Briat, Olivier ; Martin, Cyril ; Delétage, Jean-Yves ; Gager, Guillaume ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 43th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, IECON, Beijing (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01657701

2016


Corrosion study on BGA assemblies
Guédon-Gracia, A. ; Frémont, H. ; Delétage, J. Y. ; Weide-Zaage, K.
Dans : 2016 Pan Pacific Microelectronics Symposium, Big Island, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01400226

2015


Electro-thermal model of lithium-ion batteries for electrified vehicles applications
Baghdadi, Issam ; Briat, Olivier ; Eddahech, Akram ; GYAN, Philippe ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 24th IEEE International Symposium on Industrial Electronics, ISIE 2015, Buzios, Rio de Janeiro (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01308668

Dynamic battery aging model: representation of reversible capacity losses using first order model approach
Baghdadi, Issam ; Briat, Olivier ; Delétage, Jean-Yves ; GYAN, Philippe ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 12th IEEE Vehicle Power and Propulsion Conference, VPPC 2015, Montreal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01308647

Study of Static Converters related Ripple Currents Effects on Supercapacitors Ageing within DC Networks
German, Ronan ; Sari, Ali ; Venet, Pascal ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : ISIE, Buzios, Rio de Janeiro (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01778388

Control of a Solid Oxide Fuel Cell/Gas MicroTurbine hybrid system using a multilevel convertor
Vechiu, Ionel ; Baudoin, Sylvain ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel ; Kreckelbergh, Stephane
Dans : Power Electronics and Applications (EPE'15 ECCE-Europe), 2015 17th European Conference on, Geneva (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01251233

2014


First Assemblies Using Deep Trench Termination Diodes
Baccar, Fédia ; Théolier, Loïc ; Azzopardi, Stephane ; Le Henaff, François ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : The 26th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD'14), Waikoloa (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01017522

Electrical Characteristics Evolution of the Deep Trench Termination Diode Based on a Finite Elements Simulation Approach
Baccar, Fédia ; Le Henaff, François ; Théolier, Loïc ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric
Dans : EuroSimE, Ghent (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01017506

Analysis and validation of a biogas hybrid SOFC/MG emulator
BAUDOIN, Sylvain ; Vechiu, Ionel ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel ; Barelli, Linda ; Kreckelbergh, Stephane
Dans : 2014 IEEE International Workshop on Intelligent Energy Systems (IWIES), San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01095038

Feasibility and performances of BOOST converter in automotive application using silicon power transistors operating at 200°C
Roder, Raphaël ; Azzopardi, Stephane ; Théolier, Loïc ; Woirgard, Eric ; Bontemps, Serge
Dans : IEEE Applied Power Electronics Conference, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01065131

2013


Voltage and temperature impacts on leakage current in calendar ageing of supercapacitors
Ayadi, Mohamed ; Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : POWERENG 2013, Istanbul (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988323

Electrosorption phenomena taken into account in a fractional model of supercapacitor
Bertrand, Nicolas ; Sabatier, Jocelyn ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 6th Workshop on Fractional Differentiation and Its Applications, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988884

A one week-lecture in the Euro-dots course program: Microelectronic assemblies: From packaging to reliability
Debéda, H. ; Favre, I. ; Guédon-Gracia, A. ; Labat, N. ; Plano, B. ; Frémont, H.
Dans : 24th EAEEIE Annual Conference, (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905901

Criteria of the EIE courses accessible to disabled students. Legibility of cursus and experiences sharing for generalizing good practices
Demontoux, François ; Fremont, Hélène ; Woirgard, Eric
Dans : 24th EAEEIE Annual Conference (EAEEIE), (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00853821

Multilevel neural-network model for supercapacitor module in automotive applications
Eddahech, Akram ; Ayadi, Mohamed ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : POWERENG 2013, Istanbul (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988774

Ultracapacitor performance determination using dynamic model parameter identification
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Ayadi, Mohamed ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : ISIE 2013, Taipei (Taiwan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988292

Lithium-ion battery heat generation investigation based on calorimetric entropy measurements
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : ISIE 2013, Taipei (Taiwan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988290

Strategy for lithium-Ion battery performance improvement during power cycling
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : IECON 2013, Vienne (Austria)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988279

Failure initiation of IGBT due to emitter contact degradation: a 2D finite elements electro-thermal multi-cell simulation approach under hard switching, short-circuit and avalanche operations
El Boubkari, Kamal ; Azzopardi, Stephane ; Théolier, Loïc ; Roder, Raphaël ; Woirgard, Eric ; Bontemps, Serge
Dans : IEEE Applied Power Electronics Conference (APEC), Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00955738

Impact of high frequency current ripple on supercapacitors ageing through floating ageing tests
German, Ronan ; Briat, Olivier ; Sari, Ali ; Venet, Pascal ; Ayadi, Mohamed ; Zitouni, Younes ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : ESREF, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00998341

Supercapacitors Ageing Prediction by Neural Networks
German, Ronan ; Venet, Pascal ; Sari, Ali ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : IECON, Vienne (Austria)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00972062

Processing and characterization of a 100 % low-temperature Ag-sintered three-dimensional structure, European Conference on Power Electronics and Applications
Masson, Amandine ; Azzopardi, Stéphane ; Le Henaff, François ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric ; Bontemps, Serge ; Joguet, Julien
Dans : European Conference on Power Electronics and Applications,, Lille (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00955727

Supercapacitors Ageing Prediction by Neural Networks
Soualhi, Abdenour ; Sari, Ali ; Razik, Hubert ; Venet, Pascal ; Clerc, Guy ; German, Ronan ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : IECON, Vienne (Austria)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00920298

2012


Real-Time SOC and SOH Estimation for EV Li-Ion Cell Using Online Parameters Identification
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, Raleigh (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00765071

Adaptive Voltage Estimation for EV Li-ion Cell Based on Artificial Neural Networks State-of-Charge Meter
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : IEEE ISIE12, Hangzhou (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00765051

2D finite elements electro-thermal modeling for IGBT: uni and multicellular approach
El Boubkari, Kamal ; Azzopardi, Stephane ; Théolier, Loïc ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : EuroSimE, Lisbone (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00795341

Control of a Hybrid Energy Storage System Using a Three Level Neutral Point Clamped Converter
Etxeberria, Aitor ; Vechiu, Ionel ; Baudoin, Sylvain ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 38th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, Montreal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00751887

Measurement and simulation of moisture effects on electromagnetic radiation of printed circuit boards
Fridhi, Hassene ; Duchamp, Geneviève ; Vigneras, Valerie ; Guedon-Gracia, Alexandrine ; Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Dubois, Tristan
Dans : EuroSiME 2012, Dubrovnik (Croatia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00709116

Interpretation of Electrochemical Double Layer Capacitors (Supercapacitors) Floating Ageing by Multi-pore Model
German, Ronan ; Venet, Pascal ; Sari, Ali ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier
Dans : IPEC, Ho Chi Minh City (Vietnam)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00798810

Comparison of EDLC impedance models used for ageing monitoring
German, Ronan ; Venet, Pascal ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Sari, Ali
Dans : REVET, Hammamet (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00747083

Thermal performance evaluation of SiC power devices packaging
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric
Dans : Eurosime 2012, (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00788775

Development of high temperature packaging technologies for SiC power devices based on finite elements simulations and experiments: thermal approach
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric
Dans : CIPS, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00788759

Thermal performance evaluation of SiC power devices packaging
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric
Dans : Eurosime, Lisbonne (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00788331

Report de puce par frittage d'argent - mise en oeuvre et analyse
Masson, Amandine ; Sabbah, Wissam ; Riva, Raphaël ; Buttay, Cyril ; Azzopardi, Stephane ; Morel, Hervé ; Planson, Dominique ; Meuret, Régis
Dans : EPF'2012, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00729156

Evaluation of silver-sintering die attach
Sabbah, Wissam ; Riva, Raphaël ; Hascoët, Stanislas ; Buttay, Cyril ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric ; Planson, Dominique ; ALLARD, Bruno ; Meuret, Régis
Dans : Conference on Integrated Power Systems (CIPS), Nuremberg (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00707733

Thermal performances evaluation of new high temperature power packages using SiC devices
Zhang, Ludi ; Azzopardi, Stephane ; Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Delétage, Jean-Yves
Dans : EuroSimE, Lisbone (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00795339

Development of high temperature packaging technologies for SiC power devices based on finite elements simulanation and experiments: thermal approach
Zhang, Ludi ; Azzopardi, Stephane ; Gracia, Alexandrine ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : 8th International Conference on Integration of Power Electronics Systems, Nurember (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00795337

2011


An electric vehicle model and a driving cycle for mail delivery use
Al Jed, Habib ; Mieze, André ; Simon, Rémi ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 14th European Conference on Power Electronics and Applications, Birmingham (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988735

Investigation of mechanical stress effect on electrical behavior of Trench Punch Through IGBT under short-circuit condition at low and high temperature
Belmehdi, Yassine ; Azzopardi, Stephane ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : European Conference on Power Electronics and Applications (EPE), Birmingham (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00955754

Does power device sensitivity to mechanical stress can be used as sensor for power assembly health monitoring?
Capy, Florence ; Azzopardi, Stephane ; El Boubkari, Kama ; Belmehdi, Yassine ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : 3rd IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, Phoénix (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00591063

Ageing quantification of supercapacitors during power cycling using online and periodic characterization tests
Chaari, Ramzi ; Briat, Olivier ; Delétage, Jean-Yves ; Lallemand, Richard ; Kauv, Juliette ; Coquery, Gérard ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : VPPC 2011, Chicago (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00641857

Performances regeneration of supercapacitors during accelerated ageing tests in power cycling
Chaari, Ramzi ; Briat, Olivier ; Delétage, Jean-Yves ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : EPE 2011, Birmingham (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00641852

Imaging the Single Event Burnout sensitive volume of vertical power MOSFETs using the laser Two-Photon Absorption technique
Darracq, Frédéric ; Mbaye, Nogaye ; Larue, Camille ; Pouget, V. ; Azzopardi, Stephane ; Lorfèvre, E. ; Bezerra, F. ; Lewis, D.
Dans : 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Seville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00772102

La télé participation aux enseignements. Un outil pour l'accès à tous les enseignements pour les étudiants handicapés
Demontoux, François ; Dicky, Anne ; Verdeau, Karine ; Woirgard, Eric
Dans : 9e Colloque sur l'Enseignement des Technologies et des Sciences de l'Information et des Systèmes, Trois rivières (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670800

Lithium-ion Cell Modeling from Impedance Spectroscopy for EV Applications
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Chaari, Ramzi ; Bertrand, Nicolas ; Henry, Hervé ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : ECCE 2011, Phoenix (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00641849

Li-Po Batteries Modeling for Mail Delivery Electric Vehicles
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Al Jed, Habib ; Chaari, Ramzi ; Mieze, André ; Simon, Rémi ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : VPPC 2011, Chicago (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00641847

Neural networks based model and voltage control for lithium polymer batteries
Eddahech, Akram ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : SDEMPED 2011, Bologne (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00641840

Comparison of Sliding Mode and PI Control of a Hybrid Energy Storage System in a Microgrid Application
Etxeberria, Aitor ; Vechiu, Ionel ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : International Conference on Smart Grid and Clean Energy Technologies (ICSGCE 2011), Chengdu (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00657238

Transistor thermal fractional modeling for junction temperature estimation
Sabatier, Jocelyn ; Farges, Christophe ; Nguyen, H.C. ; Moreau, Xavier ; Delétage, Jean-Yves
Dans : IFAC, Milan (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00668926

Advanced Power Electronic Interface for Hybrid Energy Storage System
Vechiu, Ionel ; Etxeberria, Aitor ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : International Renewable Energy Congress, Hammamet (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00657239

Three-level Neutral Point Clamped Inverter Interface for Flow Battery/Supercapacitor Energy Storage System used for Microgrids
Vechiu, Ionel ; Etxeberria, Aitor ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : Innovative Smart Grid Technologies (ISGT Europe), 2011 2nd IEEE PES International Conference and Exhibition on, Manchester (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00657222

2010


A first approach on the failure mechanisms of IGBT inverters for aeronautical applications: effect of humidity-pressure combination
Abbad, Hassan ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric ; Delétage, Jean-Yves ; Rollin, P. ; Marchand, Karl ; Lhommeau, Tony ; Piton, Michel
Dans : IEEE International Power Electronics Conference, Sapporo (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584142

Mathematical modeling of aging factors for Li-ion battery cells
Al Jed, Habib ; Mieze, André ; Vinassa, Jean-Michel ; Simon, Rémi
Dans : 6th IEEE Vehicle Power and Propulsion Conference, Lille (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584823

Evaluation of the performances of a novel Punch Through Trench IGBT using a Si(1-x)Ge(x) N+ buffer layer by using finite elements simulations
Azzopardi, Stephane ; Belmehdi, Yassine ; Capy, Florence ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : International Power Electronics Conference, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584133

A connection of thermo-mechanical finite elements tools with electro-thermal finite elements simulation: towards an electro-thermo-mechanical finite elements modeling for power semiconductor devices
Belmehdi, Yassine ; Azzopardi, Stephane ; Woirgard, Eric ; Delétage, Jean-Yves ; Favre, Isabelle
Dans : EuroSimE, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585076

Electromechanical Characterization of "Flying" Planar Gate Punch Through IGBT Bare Die
Belmehdi, Yassine ; Azzopardi, Stephane ; Capy, Florence ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : 2nd IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, Atlanta (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585061

Supercapacitor model for efficient energy management in micro-hybrid vehicles applications
Bertrand, Nicolas ; Briat, Olivier ; Sabatier, Jocelyn ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 4th European Symposium on Super Capacitors and Applications, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584821

Impact of the ageing of supercapacitors in power cycling on the behaviour of hybrid electric vehicles applications
Bertrand, Nicolas ; Briat, Olivier ; El Brouji, Hassane ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 2010 IEEE Vehicle Power and Propulsion Conference, Lille (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00527110

Impact of temperature and voltage on the evolution of performance of supercapacitor in the calendar ageing
Chaari, Ramzi ; Bertrand, Nicolas ; Briat, Olivier ; El Brouji, Hassane ; Delétage, Jean-Yves ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 4th European Symposium on Super Capacitors and Applications, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584822

La télé participation aux enseignements de travaux pratiques. Application à l'accès à tous les enseignements pour les étudiants handicapés
Demontoux, François ; Belliard, Elise ; Dicky, Anne ; Verdeau, Karine ; Woirgard, Eric
Dans : 11° Rencontres Mondiales du Logiciel Libre, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00511087

Hybrid Energy Storage Systems For Renewable Energy Sources Integration In A Microgrig: a Review
Etxeberria, Aitor ; Vechiu, Ionel ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : The 9th International Power and Energy Conference, IPEC2010, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00557170

Thermo-mechanical simulations in double-sided heat transfer power assemblies
Woirgard, Eric ; Favre, Isabelle ; Delétage, Jean-Yves ; Azzopardi, Stephane ; Léon, Renan ; Convenant, Guy ; Khatir, Zoubir
Dans : EUROSIME, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584904

2009


Assessment of uni-axial mechanical stress on Trench IGBT under severe operating conditions: a 2D physically-based simulation approach
Belmehdi, Yassine ; Azzopardi, Stephane ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : 1st IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, San Jose (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585066

A new non-linear supercapacitor embedded model and its online time identification method
Bertrand, Nicolas ; Sabatier, Jocelyn ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier
Dans : 7th International Design Engineering Technical Conferences & Computers and Information in Engineering Conference 4th Symposium on "Fractional Derivatives and their Applications, San Diego (CA) (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584824

Influence of relaxation process on supercapacitor time response
Bertrand, Nicolas ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; El Brouji, Hassane
Dans : 13th European Conference on Power Electronics and Applications, Barcelona (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00414777

Ageing quantification of supercapacitors during calendar life and power cycling tests
El Brouji, Hassane ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Bertrand, Nicolas ; Woirgard, Eric
Dans : 1st IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, San Jose (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00416527

Moisture induced effects in PoP
Guédon-Gracia, A. ; Feng, W. ; Delétage, J.-Y. ; Verdier, F. ; Fremont, Hélène
Dans : International conference on Thermal, Mechanical, and Multi-physics Simulation and Experiments in Micro-electronics and micro-systems (EuroSimE), (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00385358

2008


An ultracapacitor non-linear fractional model
Bertrand, Nicolas ; Sabatier, Jocelyn ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 3rd IFAC Workshop on Fractional Differentiation and its Applications, Ankara (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401676

Development of a physics-based impedance model of ultracapacitor
Bertrand, Nicolas ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; El Brouji, Hassane ; Woirgard, Eric
Dans : 3rd European Symposium on Super Capacitors & Applications (ESSCAP), Rome (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00339539

Porous electrode theory for ultracapacitor modelling and experimental validation
Bertrand, Nicolas ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Sabatier, Jocelyn ; El Brouji, Hassane
Dans : VPPC'08, Harbin (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00321870

Design of a fast, high power magnetic generator for the stimulation of living tissues: A biomedical engineering application of electromagnetism and power electronics.
Charlet De Sauvage, R. ; Dondon, Philippe ; Martin, C. ; Donkin, J. ; Veyret, B.
Dans : WSEAS EDU'08, CORFOU (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00347497

L'Enseignement de l'Electronique Accessible aux étudiants Handicapés
Demontoux, François ; Woirgard, Eric ; Belliard, Elise ; Verdeau, Karine ; Bernou, Catherine
Dans : 7° Colloque sur l'Enseignement des Technologies et des sciences de l'Information et des Systèmes, Bruxelles (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00345706

Ageing quantification of ultracapacitors during calendar life and power cycling tests using a physically-based impedance model
El Brouji, Hassane ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Bertrand, Nicolas ; Woirgard, Eric
Dans : 3rd European Symposium on Super Capacitors & Applications (ESSCAP), Rome (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00339532

Ultracapacitors self discharge modelling using a physical description of porous electrode impedance
El Brouji, Hassane ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Bertrand, Nicolas ; Woirgard, Eric
Dans : VPPC'08, Harbin (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00321871

Parameters evolution of an ultracapacitor impedance model with ageing during power cycling tests
El Brouji, Hassane ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Lajnef, Walid ; Bertrand, Nicolas ; Woirgard, Eric
Dans : PESC'08, Rhodes (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00317860

Programme EPO-Auto+ : Électronique de puissance pour l'automobile de demain: du module au système
Woirgard, Eric ; Razafiarivelo, J. ; Lagonotte, Patrick ; Khatir, Zoubir
Dans : EPF'2008, ÉLECTRONIQUE DE PUISSANCE DU FUTUR, TOURS (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00418221

Thermomechanical Modelling and Reliability Study of an IGBT Module for an Aeronautical Application
Zéanh, Adrien ; Dalverny, Olivier ; Karama, Moussa ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Bouzourene, A. ; Casutt, J. ; Mermet-Guyennet, Michel
Dans : Thermal, Mechanical and Multiphysics Simulation and Experiments in Micro-Electronics and Micro-Systems (EuroSimE), (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324035

Improvement of the Reliability of Connections Used in IGBT Modules, in Aeronautical Environment
Zéanh, Adrien ; Dalverny, Olivier ; Karama, Moussa ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Bouzourene, A. ; Casutt, J. ; Mermet-Guyennet, Michel
Dans : International Symposium on Aircraft Materials (ACMA), (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324032

Proposition of IGBT modules assembling technologies for aeronautical applications
Zéanh, Adrien ; Dalverny, Olivier ; Karama, Moussa ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Bouzourene, A. ; Casutt, J. ; Mermet-Guyennet, Michel
Dans : International Conference on Integration of Power Electronics Systems (CIPS), Nuremberg (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324022

2007


Turn-off failure mechanism analysis of Trench IGBT under clamped inductive switching operation
Benmansour, Adel ; Azzopardi, Stephane ; MARTIN, Jean-Christophe ; Woirgard, Eric
Dans : European Conference on Power Electronics and Applications, Aalborg (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180637

Failure mechanisms of Trench IGBT under various short-circuit conditions
Benmansour, Adel ; Azzopardi, Stephane ; MARTIN, Jean-Christophe ; Woirgard, Eric
Dans : IEEE Power Electronics Specialists Conference, Orlando (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180627

Thermo-mechanical optimization of heat spreader geometry for an automotive power assembly
Delétage, J.-Y. ; Woigard, E. ; Favre, I. ; Lagonotte, P. ; Burban, G.
Dans : 2nd International Conference Automotive Power Electronics, PARIS (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00380428

Thermo-mechanical optimization of heatspreader geometry for an automotive power assembly
Woirgard, Eric ; Delétage, Jean-Yves ; Favre, Isabelle ; Lagonotte, Patrick ; Burban, Gwenael
Dans : Conference on Automotive Power Electronics, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182176

Reliability of the connections used in IGBT modules, in aeronautical environment
Zéanh, Adrien ; Dalverny, Olivier ; Karama, Moussa ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Bouzourene, A. ; Casutt, J. ; Mermet-Guyennet, Michel
Dans : International Symposium on Aircraft Materials, Agadir (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00324038

2006


Ultracapacitors characteristics changes during power cycling using specific current profiles
Lajnef, Walid ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Woirgard, Eric
Dans : 3ème Congrés Européen Alternatives Energétiques dans l'Automobile (AEA), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00175223

Method for ageing quantification of ultracapacitors during power cycling based on specific characterization tests
Lajnef, Walid ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier ; Woirgard, Eric
Dans : 2nd European Symposium on Super Capacitors & Applications (ESSCAP), (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00175220

Reliability Evaluation by Simulations and Experimentations of new Assembly Process for Automotive Power Application
Rizzi, Mathieu ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane
Dans : Meeting of MIT/Industry Consortium on Advanced Electrical/Electronic Components and systems held in coordination with the S.I.A. European Congress on Automotive Power Electronics, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180660

Reliability Analysis of a New Soldering Process For Automotive Power Module Application
Rizzi, Mathieu ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane
Dans : Eurosime, Come (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180656

An assessment of the reliability of a new soldering process for automotive power module
Rizzi, Mathieu ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane
Dans : Conference on Integrated Power Electronics Systems, Naples (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180647

2005


Reliability Analysis of Lead-Free BGA Assemblies Linking FE Simulations and Experimental Results
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Roux, Pascal ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : EuroSime, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179928

2004


An assessment of the connection between the working operations of a thyristor system used in a power plant and accelerated ageing tests
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Simon, Guillaume ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : International Symposium on Industrial Electronics, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179922

Ultracapacitor electrical modeling using temperature dependent parameters
Lajnef, Walid ; Briat, Olivier ; Azzopardi, Stéphane ; Vinassa, Jean-Michel ; Woirgard, Eric
Dans : 1st European Symposium on Super Capacitors & Applications (ESSCAP), Belfort (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00339560

2003


Lead-Free Electronics For Automotive Applications: Specific Constraints, Failure Modes And Related Design Guidelines For Reliability
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian ; Martin, Gérard-Marie
Dans : International Conference on Lead Free Electronics, IPC and SOLDERTEC, (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179917

2002


An Assessment of Lead-Free Soldering for Automotive Applications: Influence of the Components Finishes on the Reliability of Solder Joints
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : International Conference on Electronics Packaging IEMT/IMC Symposium, Tokyo (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179916

1996


Thermomechanical behaviour of ceramic ball grid array based on FEM simulations and experimentations
Delétage, Jean-Yves ; Fenech, Alain ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Salagoity, Michel ; Faure, Christiane ; Rao, S.
Dans : Electronics Manufacturing Technology Symposium, 1996., Nineteenth IEEE/CPMT, Austin (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00385312

1995


Thermal Transient Characterization of Electronic Assemblies by Infrared Camera in Fast Line Scan Mode
Dondon, Philippe ; Lauriou, J. ; Zardini, Christian
Dans : THERMINIC, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00350072

Design of a very low noise bipolar integrated preamplifier for Infrared Cameras
Dondon, Philippe ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : THERMO 95, Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00350060

Thermal Transient Characterization of Electronic Assemblies by Infrared Thermography and DeltaVbemeter Methods
Dondon, Philippe ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : 11th IEEE SEMICONDUCTOR THERMAL MEASUREMENT AND MANAGEMENT SYMPOSIUM, San Jose (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00350049

1994


Caractérisation en puissance des condensateurs céramiques multicouches par thermographie infrarouge
Dondon, Philippe ; Darouzes, Didier ; Zardini, Christian
Dans : EPF'94, CACHAN (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00350054

1993


BICMOS Integrated Interface circuit for pressure sensors in automotive applications - Experimental results
Dondon, Philippe ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : EUROASIC 1993, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00350068

1992


BICMOS Integrated circuit for capacitive pressure sensors in automotive applications
Dondon, Philippe ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis
Dans : EUROASIC, San Sebastien (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00350342
Communications sans actes → 33 Voir

2018


Characterization of external pressure effects on lithium-ion pouch cell
Zhang, Yuanci ; Briat, Olivier ; Delétage, Jean-Yves ; Martin, Cyril ; Gager, Guillaume ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 19th International Conference of IEEE on Industrial Technology (ICIT), Lyon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01892433

2017


Effect of voids on crack propagation in AuSn die attach for high-temperature power modules
Arabi, Faical ; Théolier, Loic ; Youssef, Toni ; Medina, Mathieu ; Deletage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : EurosimE 2017, Dresden (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01662929

Perturbation d’une boucle à verrouillage de phase par injection conduite d’onde électromagnétique
Maures, Matthieu ; Dubois, Tristan ; Hoffmann, Patrick
Dans : GDR ONDES 2017, Sophia Antipolis (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01698523

Modélisation d'un Moyen d'Injection en Courant pour l'Etude
Mejecaze, Guillaume ; Puybaret, Frédéric ; Dubois, Tristan ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : GDR Ondes, Sophia Antipolis (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01698531

2016


Etude thermomécanique de la dégradation des assemblages de puissance soumis à des vieillissements à haute température
Arabi, Faical ; Théolier, Loïc ; D., Martineau ; Deletage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : Symposium de Genie Electrique, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01361692

A multiphysics cosimulation for a wide band gap power module fatigue-related performance assessment
Boulbene, Benjamin ; Martineau, Donatien ; Woirgard, Eric ; Meuret, Régis ; Youssef, Toni ; d, Balland
Dans : NAFEMS Americas Conference, The International Association for the Engineering Modeling, Analysis and Simulation Community, Seattle (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01671810

Near-field scan tools for embedded electronic analysis
Dubois, Tristan ; Duchamp, Geneviève ; Weckbrodt, Julien ; Azzopardi, Stephane
Dans : Pan Pacific Microelectronics Symposium (Pan Pacific), 2016, Big Island (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01659420

2015


Silver sintered double-sided cooling power package process for controlled Si power semiconductor devices with aluminum top-metallization
Maxime, Barriere ; Azzopardi, Stephane ; Roder, Raphaël ; Favre, Isabelle ; Woirgard, Eric ; Bontemps, Serge ; Le Henaff, François
Dans : IEEE International Workshop On Integrated Power Packaging IWIPP , Chicago (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01671837

The use of co-simulation in order to study reliability of power modules under harsh environment
Youssef, Toni ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Martineau, Donatien ; Meuret, Régis
Dans : Journées des Jeunes Chercheurs en Génie Electrique, JCGE, Cherbourg (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01671683

Multi-physics Modelling of Thin Films: Optimization for Finite Elements Simulations Tools
Youssef, Toni ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Martineau, Donatien ; Meuret, Régis
Dans : IEEE International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems, EuroSimE, Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01671659

Reliability in Power Modules Die Attach: A Comprehensive Evolution of the Nanocrystalline Silver Sintering Physical Properties Versus its Porosity
Youssef, Toni ; Rmili, Wafaa ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Vivet, Nicolas ; Martineau, Donatien ; Meuret, Régis ; LE QUILLIEC, Guenhael ; Richard, Caroline
Dans : 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01333190

2014


Influence of Thermal Cycling on Supercapacitor Performance Fading During Ageing Test at Constant Voltage
Ayadi, Mohamed ; Briat, Olivier ; Lallemand, Richard ; Coquery, Gérard ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 23rd IEEE International Symposium on Industrial Electronics, ISIE 2014, Istanbul (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01784002

Fiabilité d'une diode DT2 reportée sur un substrat DBC par frittage de pâte d'argent
Baccar, Fédia ; Théolier, Loïc ; Azzopardi, Stephane ; LE HENAFF, FRANCOIS ; Deletage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : Symposium de Génie Électrique 2014, Cachan (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01065237

Analyse et validation d'un émulateur de système hybride SOFC/GT au biogaz
BAUDOIN, Sylvain ; Vechiu, Ionel ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel ; Barelli, Linda
Dans : Symposium de Génie Électrique 2014, Cachan (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01065205

Analysis and validation of a biogas hybrid SOFC/GT emulator
Camblong, Haritza ; Baudoini, Sylvain ; Vechiu, Ionel ; Vinassa, Jean-Michel ; Barelli, Linda ; Kreckelbergh, Stephane
Dans : 2014 IEEE International Workshop on Intelligent Energy Systems (IWIES), San Diego (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01708279

Smart integrated conditioning electronics for electrostatic vibration energy harvesters
Dudka, Andrii ; Galayko, Dimitri ; Blokhina, Elena
Dans : Circuits and Systems (ISCAS), 2014 IEEE International Symposium on, Melbourne VIC (Australia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01522171

Ageing Law for Supercapacitors Floating Ageing
German, Ronan ; Sari, Ali ; Venet, Pascal ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel
Dans : 23rd IEEE International Symposium on Industrial Electronics, ISIE 2014, Istanbul (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01783998

Silver sintering wire-bonding less power module for high temperature applications
LE HENAFF, FRANCOIS ; Azzopardi, Stephane ; Théolier, Loïc ; Deletage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric ; Bontemps, Serge ; Joguet, Julien
Dans : Symposium de Génie Électrique 2014, Cachan (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01065293

Decreased electrical activity in neuronal networks exposed to CW and GSM-1800 signals
Moretti, D. ; Garenne, André ; Poulletier De Gannes, Florence ; Azzopardi, Stephane ; Roder, Raphaël ; Haro, Emmanuelle ; Lagroye, Isabelle ; Veyret, Bernard ; Lewis, Noëlle
Dans : BIOEM2014 conference, Cape Town (South Africa)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01016649

Feasibility and performances of BOOST converter in automotive application using silicon power transistors operating at 200°C
Roder, Raphaël ; Azzopardi, Stéphane ; LE HENAFF, FRANCOIS ; Briat, Olivier ; Vinassa, Jean-Michel ; Bontemps, Serge
Dans : 29th IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition, APEC 2014, Fort Worth (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01778418

Traction électrique automobile : convertisseur BOOST à base de composants silicium IGBT et CoolMOSTM fonctionnant à 200°C
Roder, Raphaël ; Azzopardi, Stephane ; Briat, Olivier ; LE HENAFF, FRANCOIS ; Vinassa, Jean-Michel ; Bontemps, Serge
Dans : Symposium de Génie Électrique 2014, Cachan (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01065380

Multi-physics Modelling of Thin Ni/Au layer in power modules
Youssef, Toni ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stephane ; Martineau, Donatien ; Meuret, Régis
Dans : IMAPS, TOURS (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01671645

2013


ELENA Giant Electrostriction of soft Nanomaterials for energy harvesting P2N 2012
Ayela, Cédric ; Debéda, Hélène ; Dufour, Isabelle ; Allouch, Nouha ; Nesser, Hussein ; Thuau, Damien ; Vinassa, Jean-Michel ; Jaillet, C. ; Néri, W. ; Poulin, Philippe ; Yuan, J. ; Zakri, Cécile ; Colin, Annie ; Laval, C. ; Luna, A. ; Salmon, Jean-Baptiste
Dans : J3N 2013, Marseille (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00933244

2012


Intérêt de la simulation 2D multicellulaire par éléments-finis pour l'analyse d'un défaut lié un décollement de fil de câblage sur une puce de puissance IGBT
El Boubkari, Kamal ; Azzopardi, Stéphane ; Théolier, Loïc ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : 14ème édition de la Conférence sur l'Electronique de Puissance du Futur, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00955758

2011


Adaptation d'un poste de travaux pratiques en électronique pour un étudiant tétraplégique
Demontoux, François ; Dicky, Anne ; Eydon, Fabienne ; Verdeau, Karine ; Woirgard, Eric
Dans : 1° journée de rencontre sur l'adaptation des enseignements, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01024135

La télé participation aux enseignements. Un outil pour l'accès à tous les enseignements pour les étudiants handicapés
Demontoux, François ; Dicky, Anne ; Eydon, Fabienne ; Verdeau, Karine ; Woirgard, Eric
Dans : 1° journée de rencontre sur l'adaptation des enseignements, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01024131

2009


Modélisation non entière et non linéaire des supercapacités et procédure d'estimation paramétrique associée
Bertrand, Nicolas ; Sabatier, Jocelyn ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier
Dans : Journées du Groupe de travail Automatique et Automobile, sous l'égide du Club EEA, de la SEE, du Ministère de la Recherche et du GdR MACS du CNRS, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585452

2003


New industrial application in 3D interconnection
Val, C. ; Lignier, O. ; Chandler, N. ; Pizzato, A. ; Deletage, Jean-Yves ; Ousten, Yves ; Val, A.
Dans : 14th European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182865

2002


Caractérisation électrique et modélisation de l'ionisation par impact sur des Transistors Bipolaires à Hétérojonction sur InP
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral Microélectronique 2002, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183105

1998


Varistances à base d oxyde de zinc
Ai, B. ; Loubiere, A. ; Bley, V. ; Lucat, Claude ; Menil, Francis ; Zardini, Christian
Dans : Journée « Intégration de puissance », (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203909

Varistances à base d oxyde de zinc
Rachidi, Omar ; Zardini, Christian ; Sable, P. ; Lucat, Claude
Dans : Journée « Intégration en électronique de puissance », (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203910

Réalisation de circuits hybrides de forte puissance à l aide de «couches superépaisses » de cuivre sur alumine
Rachidi, Omar ; Lucat, Claude ; Menil, Francis ; Zardini, Christian ; Bontemps, Sylvain ; Despagne, M. ; Sable, P.
Dans : Journées du Pôle Aquitaine Matériaux, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203908

1997


Optimisation d un nouveau procédé de métallisation de substrats céramiques pour la réalisation d un assemblage de puissance
Bontemps, Sylvain ; Cardolaccia, C. ; Sable, P. ; Lucat, Claude ; Menil, Francis ; Rachidi, Omar ; Zardini, Christian
Dans : Journées du Pôle Aquitaine Matériaux, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203911
Conférences invitées → 5 Voir

2010


Nouveaux indicateurs de suivi de vieillissement des assemblages de puissance : impact des contraintes mécaniques sur les caractéristiques électriques des composants de puissance silicium
Azzopardi, Stephane ; Belmehdi, Yassine ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : ANADEF Atelier, Port d'Albret (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585071

2006


Reliability Evaluation by Simulations and Experimentations of new Assembly Process for Automotive Power Application
Rizzi, Mathieu ; Woirgard, Eric ; Azzopardi, Stéphane
Dans : Meeting of MIT/Industry Consortium on Advanced Electrical/Electronic Components and systems held in coordination with the S.I.A. European Congress on Automotive Power Electronics, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185566

2005


Quelles sont les solutions de substitution ?
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : RoHS et DEEE, EuroForum France, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179936

2004


Projet ELFNET, Réseau européen sur le brasage sans plomb
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : Journée Technique IMAPS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179934

Description du réseau ELFNET
Guédon-Gracia, Alexandrine ; Woirgard, Eric ; Zardini, Christian
Dans : 14ème Forum de l'Interconnexion et du Packaging Microélectronique, IMAPS, Interconex 2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179933
Chapitres d'ouvrages scientifiques → 2 Voir

2015


Matière condensée : organisation et dynamique
Arnold, Claude ; Beaufort, Marie-France ; Bertrand, Loïc ; Blase, Xavier ; Boeglin, Christine ; Colin, Jérôme ; Di Meglio, Jean-Marc ; Drouet, Michel ; Géminard, Jean-Christophe ; Guarino, Alessio ; Henry, Hervé ; Hÿtch , Martin ; Languille, Marie-Angélique ; Lemaire, Elisabeth ; Levitz, Pierre ; Pareige, Philippe ; Rougemaille, Nicolas ; Ruello, Pascal ; Tourin, Arnaud ; Viallat, Annie ; Warot-Fonrose, Bénédicte
http://hal.univ-reunion.fr/hal-01461528

2011


Thermal Capability of Components
Zardini, Christian ; Delétage, Jean-Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988736
Direction d'ouvrage, Proceedings → 1 Voir

2013


Power Electronics
Azzopardi, Stéphane ; Ferrieux, Jean-Paul
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00989547
Habilitation à diriger des recherches → 1 Voir

2016


Performances et fiabilité du stockage d'énergie pour le véhicule électrique et hybride
Briat, Olivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-01657717
Preprint, Working Paper, Document sans référence, etc. → 2 Voir

2014


Vers l'électronique imprimée à l'IMS Bordeaux -plateforme technologique TAMIS (Technologie Alternative aux Microsystèmes Silicium)
Debéda, Hélène ; Fadel-Taris, Ludivine ; Favre, Isabelle ; Tomas, Jean
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01717704

2011


Advanced Power Electronic Interface for Hybrid Energy Storage System used for Microgrids
Vechiu, Ionel ; Etxeberria, Aitor ; Camblong, Haritza ; Vinassa, Jean-Michel
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00675465
Brevets → 3 Voir

2015


Procédé d’évaluation de l’état de santé d’une batterie électrochimique
Baghdadi, Issam ; Vinassa, Jean-Michel ; Briat, Olivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01784008

Method and Apparatus for Evaluating the State of Health of a Lithium Battery
Vinassa, Jean-Michel ; Eddahech, Akram ; Briat, Olivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01784007

1993


Dispositif électronique d'amplification intégré faible bruit pour mono-détecteur de caméra thermique
Dondon, Philippe ; Zardini, Christian
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00350395
Rapport de recherche → 6 Voir

2011


Failure Analysis of IGBT under High Temperature, High Current Density and High Switching Speed. Step 3: Clarification of SOA
Azzopardi, Stephane ; Benmansour, Adel ; Martin, J.-C.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584190

Failure Analysis of IGBT under High Temperature, High Current Density and High Switching Speed. Step 2 : IGBT modelling
Azzopardi, Stephane ; Benmansour, Adel ; Martin, J.-C.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584189

Failure Analysis of IGBT under High Temperature, High Current Density and High Switching Speed. Step 1 : Background and State of the Art of the IGBT
Azzopardi, Stephane ; Benmansour, Adel ; Martin, J.-C.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584186

Low temperature Trench IGBT static and dynamic operating modes investigation based on simulation and experiments
Azzopardi, Stephane ; Benmansour, Adel
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584181

2005


Results on the characterisation tests T4.1
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Deletage, Jean-Yves ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096084

2004


Simulation and results on thermal management T4.2
Ousten, Yves ; Deletage, Jean-Yves ; Levrier, Bruno ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096050
Theses → 18 Voir

2018


Evaluation of the reliability of GaN technologies in power conversion
Chihani, Omar
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01929435

Modelling and numerical methods applied to health monitoring of power electronics devices
Renaud, Antoine
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01830693

2017


Ageing test and reliability characterization of power electronic assemblies 40 kW for aeronautics
Arabi, Faical
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01557536

Aging modes taking into account in the modeling of lithium-ion batteries performance for lifetime assessment in automotive usage
BAGHDADI, Issam
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01578752

2016


Multiphysics modeling of high temperature power module for aeronautical applications
Youssef, Toni
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01426334

2015


Study and modeling of the ageing of supercapacitors in combined cycling/calendar mode for transportation applications
Ayadi, Mohamed
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01240899

Integration and reliability of a smart solid state circuit breaker for high temperature designed for low and medium DC voltage.
Roder, Raphaël
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01674205

2014


Influence of fast charging on the performances of lithium batteries for electric vehicles used in mail delivery missions.
Al jed, Habib
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01206511

Contribution to the study, the processing and the evaluation of a power semiconductor device attachment solution : silver sintering technology at high pressure and low temperature
Le Henaff, François
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01198670

Contribution à l'étude, la mise en œuvre et à l'évaluation d'une solution de report de puce de puissance par procédé de frittage de pâte d'argent à haute pression et basse température
Le Henaff, François
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00988784

Reliability assessment of an X-rays generator in medical application
Sow, Amadou Tidiane
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01151242

2013


Ageing evaluation and modeling of supercapacitors for hybrid applications
Chaari, Ramzi
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01086867

Aging modeling and state-of-health determination for lithium-ion batteries used in electric and hybrid vehicle applications
EDDAHECH, Akram
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00957678

2012


Etude de fiabilité des modules d'électronique de puissance à base de composant SiC pour applications hautes températures
Zhang, Ludi
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00988235

2011


CONTRIBUTION A L'IDENTIFICATION DE NOUVEAUX INDICATEURS DE DEFAILLANCE DES MODULES DE PUISSANCE A IGBT
Belmehdi, Yassine
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00988332

Electrical characterization, highlight of physicochemical phenomena and fractional modeling of supercapacitors made of activated carbon electrodes
Bertrand, Nicolas
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00979094

2008


CONTRIBUTION A L'ETUDE D'ASSEMBLAGES ELECTRONIQUES SUR CIRCUITS IMPRIMES A HAUTE DENSITE D'INTEGRATION COMPORTANT UN NOMBRE DE COUCHES IMPORTANT ET DES CONDENSATEURS ENTERRES
Puil, Jérôme
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00988349

Contribution à l'étude de la fiabilité des modules de puissance pour application automobile
Rizzi, Mathieu
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00988362