Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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OPERA

Présentation

La Plateforme OpERaS est dédiée à l'évaluation de la fiabilité de dispositifs optoélectroniques et photoniques soumis aux environnements sévères. Elle permet de mettre à disposition de partenaires industriels des moyens de caractérisation, d"analyse de défaillance et de vieillissement accéléré efficacement répartis entre le Laboratoire IMS (caractérisation et prévision de fiabilité), THALES Security System (analyse de défaillance) et AdvEOTec (qualification).

Equipements

Caractérisation puces nues sur embase :

  • Testeur sous pointes en température (4,2K à 350K) pour caractérisation électrique (4 bras) et optique (2 fibres)
  • Mesures électriques très faibles niveaux (DC, impulsionnel 500ns-5A, électromètre Keithley, 10-18A de résolution à 0,1 fA mesuré) en régime direct et inverse
  • Mesures spectro-polarimétriques avec spectromètre à réseaux de très haute résolution (qqes pm) dans la gamme 300nm-1500nm
  • Banc dédié à la mesure du degré de polarisation par électroluminescence d’émetteurs Laser (sous et au-dessus du seuil Laser) en température par différenciation optique des modes TE/TM
  • Imagerie spectrale avec caméras Silicium (0,4-1,1 µm), InGaAs (0,8-1,8 µm), InSb/MCT (3-5 µm) et détection THz.

Caractérisation composants packagés et fibrés :

  • Emetteurs : Mesures électriques en régime direct et inverse (I-V, 10aA-100 mA) en température (77K-400K), optiques (P-I avec sphère 4’’, 2’’, 1’, résolution 0,1µW), spectrales (300nm-1800nm, résolution 10nm), goniomètre (champ lointain 320nm-1100nm, résolution 0,055°), thermique (Rth, Cth, Tj …), largeur de raie, mesure de RIN, Chirp, réponse en fréquence
  • Photodétecteurs : Mesures I-V en température (77K-400K) sous flux lumineux, mesures C-V (0-2000 pF), réponse spectrale absolue, CTR, Gummel Plot
Contact
         
Laurent Béchou          

Compétences