Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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FIABILITE / PACE
0540006539
A31A

Total : 3

Communication dans un congrès → 3 Voir

2019


Effects of Process-Voltage-Temperature (PVT) Variations on Low-Side MOSFET circuit Conducted Emission
BAPTISTAT, N. ; Abouda, K. ; Dubois, T. ; Duchamp, G.
Dans : Proceedings of EMC Compo 2019, Hangzhou (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02515500

Impact of asymmetrical shape for trapezoidal signal on ICs spectral emission envelope
BAPTISTAT, N. ; Abouda, K. ; Dubois, T. ; Duchamp, G.
Dans : Proceeding of EMC Compo 2019, Hangzhou (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02515370

2017


Dynamic Models of External Capacitors to Perform Accurate EMC and ESD Simulations
BAPTISTAT, N. ; Abouda, K. ; Doridant, A. ; Vrigon, B. ; Dubois, T.
Dans : Proceedings of EMC Europe, 2017, Leipzig (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02516480