Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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NANOELECTRONIQUE / MODEL
0540002832
A31A

Total : 7

Articles dans des revues avec comité de lecture → 1 Voir

2020


Importance and Requirement of frequency band specific RF probes EM Models in sub-THz and THz Measurements up to 500 GHz
Yadav, Chandan ; Deng, Marina ; Fregonese, Sebastien ; Cabbia, Marco ; De Matos, Magali ; Plano, Bernard ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02884144
Communication dans un congrès → 5 Voir

2020


In-Situ Calibration and De-Embedding Test Structure Design for SiGe HBT On-Wafer Characterization up to 500 GHz
Cabbia, M. ; DENG, Marina ; Fregonese, S. ; Matos, M. De ; Celi, D. ; Zimmer, T.
Dans : 2020 94th ARFTG Microwave Measurement Symposium (ARFTG), San Antonio (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02569052

2019


Characterization of Sub-THz & THz Transistors
Cabbia, Marco ; Fregonese, Sebastien ; DENG, Marina ; De Matos, Magalie ; Thomas, Zimmer ; Upadhyay, Abhishek Kumar
Dans : 3rd IEEE Student Branch BEE Week, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02512268

Caractérisation RF de transistors bipolaires à hétérojonction SiGe jusqu’à 500 GHz
Cabbia, Marco ; DENG, Marina ; Yadav, Chandan ; Fregonese, Sebastien ; De Matos, Magalie ; Zimmer, Thomas
Dans : XIIIème colloque national du GDR SOC², Montpellier (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02512232

On the Variation in Short-Open De-embedded S-parameter Measurement of SiGe HBT upto 500 GHz
Yadav, Chandan ; Fregonese, Sebastien ; DENG, Marina ; Cabbia, Marco ; De Matos, Magali ; Zimmer, Thomas
Dans : 2019 12th German Microwave Conference (GeMiC), Stuttgart (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02305963

Analysis of Test Structure Design Induced Variation in on Si On-wafer TRL Calibration in sub-THz
Yadav, Chandan ; Fregonese, Sebastien ; DENG, Marina ; Cabbia, Marco ; De Matos, Magali ; Jaoul, Mathieu ; Zimmer, Thomas
Dans : 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Kita-Kyushu City (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02163807
Conférences invitées → 1 Voir

2019


On wafer small signal characterization beyond 100 GHz for compact model assessment
Fregonese, Sebastien ; DENG, Marina ; Cabbia, Marco ; Yadav, Chandan ; Ranjan Panda, Soumya ; Zimmer, Thomas
Dans : European Microwave Week Workshop Recent advances in SiGe BiCMOS: technologies, modelling & circuits for 5G, radar & imaging, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02386275