Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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NANOELECTRONIQUE / LASER
0540002631
A31A C54

Total : 58

Articles dans des revues avec comité de lecture → 24 Voir

2017


Art Painting Diagnostic Before Restoration with Terahertz and Millimeter Waves
Guillet, Jean-Paul ; Roux, M. ; Wang, K. ; Ma, Xue ; Fauquet, F. ; Balacey, H. ; Recur, B. ; Darracq, F. ; Mounaix, P.
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01437051

TCAD simulation capabilities towards gate leakage current analysis of advanced AlGaN/GaN HEMT devices
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01625567

2D and 3D Terahertz Imaging and X-Rays CT for Sigillography Study
Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, F. ; Balacey, H. ; Recur, B. ; Darracq, F. ; Fabre, M. ; Bassel, L. ; Bou Sleiman, J. ; Perraud, J.-B.
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653623

2016


Terahertz imaging and tomography as efficient instruments for testing polymer additive manufacturing objects
Perraud, Jean Baptiste ; obaton, anne françoise ; Bou-Sleiman, Joyce ; Recur, Benoit ; Balacey, Hugo ; Darracq, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390875

2015


Low-frequency noise effect on terahertz tomography using thermal detectors.
Guillet, Jean-Paul ; Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Darracq, F. ; Lewis, Dean ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263737

2014


A comprehensive study of the application of the EOP techniques on bipolar devices
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Elise, Bernou ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091179

2013


Negative Bias Temperature Instability Effect on the Single Event Transient Sensitivity of a 65 nm CMOS Technology
El Moukhtari, Issam ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Larue, Camille ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880480

Impact of negative bias temperature instability on the single-event upset threshold of a 65 nm SRAM cell
El Moukhtari, Issam ; Pouget, Vincent ; Larue, Camille ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880459

Characterization and modeling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
Mbaye, Nogaye ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880471

2012


Investigation on the Single Event Burnout Sensitive Volume Using Two-Photon Absorption Laser Testing
Darracq, Frédéric ; Mbaye, Nogaye ; Azzopardi, Stephane ; Pouget, Vincent ; Lorfèvre, E. ; Bezerra, F. ; Lewis, Dean
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00772095

2011


Investigation on the SEL Sensitive Depth of an SRAM Using Linear and Two-Photon Absorption Laser Testing
Faraud, Emeric ; Pouget, V. ; Shao, Kai ; Larue, Camille ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Samaras, A. ; Bezerra, F. ; Lorfèvre, E. ; Ecoffet, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667336

2008


Evaluation of Recent Technologies of Nonvolatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, V. ; Darracq, Frédéric ; David, J.P ; Soonckindt, S.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667419

Evaluation of Recent Technologies of Nonvolatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; David, J.P. ; Soonckindt, S.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327362

2007


Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Guitard, Nicolas ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00382949

2006


Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Journal of Integrated Circuits and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00359396

Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204547

Application of various optical techniques for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Remmach, Mustapha ; Beaudoin, Félix ; Guitard, Nicolas ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204570

2004


Evaluation of SRAMS reliability for space electronics using ultra short laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Electrochemical Society
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185395

2003


Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Fouillat, Pascal ; Dufayel, R. ; Carriere, T.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185396

2002


Backside SEU laser testing for commercial off-the-shelf SRAMs
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Buard, Nadine ; Mounsi, Faresse ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204728

Single-Event Sensitivity of a Single SRAM Cell
Darracq, Frédéric ; Beauchene, Thomas ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185398

Backside SEU Laser Testing for Commercial-Off-The-Shelf SRAM
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Mounsi, F. ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185397

Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose-Rate-Hardened Linear Integrated Circuits
Deval, Yann ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J. ; Darracq, Frédéric ; Briand, Renaud ; Lewis, Dean ; Schrimpf, Rd
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184299

2000


Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Darracq, Frédéric ; Touboul, Andre
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185403
Communications avec actes (nationales) → 5 Voir

2004


Evaluation of SRAMs Reliability for Space Electronics Using Ultra Short Laser Pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : 19th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro 2004), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185409

2003


A Non-Linear Model to Express Laser-induced SRAM Cross-sections versus an Effective Laser LET
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal
Dans : 7th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185410

2001


Single-event Sensitivity of a single SRAM cell
Darracq, Frédéric ; Beauchene, Thomas ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : RADECS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185411

Test de circuits intégrés par faisceau laser pulsé
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185412

A New Laser System for X-Rays Flashes Sensitivity Evaluation
Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Deval, Yann ; Maidon, Yvan ; Darracq, Frédéric ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal
Dans : Proc. of the 7th IEEE International On-Line Testing Workshop, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184302
Communications avec actes (internationales) → 18 Voir

2018


Investigation of the trap-limited transient response of GaN HEMTs
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : 2018 Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-wave Circuits Workshop, Brives (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01851997

Comprehensive study into underlying mechanisms of anomalous gate leakage degradation in GaN HEMTs
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : 2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Burlingham (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01787593

Investigation of Trapping Behaviour in GaN HEMTs through physical TCAD Simulation of Capacitance Voltage characteristics
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : EuroSimE 2018, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718857

2017


Art Painting Testing with Terahertz Pulse and Frequency Modulated Continuous Wave
Guillet, Jean-Paul ; Roux, Marie ; Wang, Kejian ; Ma, Xue ; Fauquet, Frederic ; Darracq, Frederic ; Mounaix, Patrick
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium, Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546450

2016


Frequency modulated continuous wave terahertz imaging for art restoration
Guillet, Jean-Paul ; Wang, Kejian ; Roux, Marie ; Fauquet, Frederic ; Darracq, Frédéric ; Mounaix, Patrick
Dans : IRMMW 2016, Copenhagen (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01418837

Frequency Modulated Continuous Wave Terahertz Imaging For Art Restoration
Mounaix, Patrick ; Darracq, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, Frederic ; Roux, Marie ; Wang, Kejian
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404415

2014


Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Lewis, Dean
Dans : 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091188

Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
Rebai, Mohamed ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kévin ; Lewis, D.
Dans : 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01020683

2013


Analysis of Short-Term NBTI Effect on the Single-Event Upset Sensitivity of a 65nm SRAM using Two-Photon Absorption
Issam, El Moukthari ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Larue, Camille ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe
Dans : 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091193

How to Interpret the Reflected Laser Probe Signal of Multiple Elementary Substructures in Very Deep Submicron Technologies
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kévin
Dans : 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2013), San José (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00903364

A physical prediction model issued from TCAD investigations for single event burnout in power MOSFETs
Sara, Siconolfi ; Guillaume, Hubert ; Laurent, Artola ; Darracq, Frédéric ; Jean Pierre, David
Dans : 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091195

2011


Imaging the Single Event Burnout sensitive volume of vertical power MOSFETs using the laser Two-Photon Absorption technique
Darracq, Frédéric ; Mbaye, Nogaye ; Larue, Camille ; Pouget, V. ; Azzopardi, Stephane ; Lorfèvre, E. ; Bezerra, F. ; Lewis, D.
Dans : 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Seville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00772102

2009


Investigation of single event burnout sensitive depth in power MOSFETS
Darracq, Frédéric ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Lorfèvre, E. ; Ecoffet, R. ; Bezerra, F.
Dans : 2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS),, Bruges (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667364

2007


Evaluation of Recent Technologies of Non-Volatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; David, J.P. ; Soonckindt, S.
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397841

2006


Applications of various optical techniques for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Remmach, Mustapha ; Beaudoin, Félix ; Guitard, Nicolas ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), wuppertal (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401519

OBIC technique for ESD defect localization : Influence of the experimental procedure
Essely, F. ; Guitard, Nicolas ; Darracq, F. ; Pouget, V. ; Bafleur, Marise ; Touboul, A. ; Lewis, D.
Dans : 3th Workshop EOS/ESD/EMI, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327412

Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Guitard, Nicolas ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204574

2005


Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Phillipe
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2005, Cap d'Agde (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397942
Communications sans actes → 7 Voir

2018


Comprehensive Study into Underlying Mechanisms of Anomalous Gate Leakage Degradation in GaN High Electron Mobility Transistors
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : IRPS 2018, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718850

2017


Performances and robustness of IR seed Laser diodes under large overcurrent and short-pulse conditions for fiber Laser applications
Galès, Germain Le ; Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : EMN Americas Meetings, Victoria (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719975

2016


1060nm seed laser diodes in pulsed operation: performances and safe operating area
Le Gales, Germain ; Giulia, Marcello ; Joly, Simon ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Darracq, Frederic ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS 2016, Otwock (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720731

2013


Characterization and modelling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
Mbaye, N. ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; Lewis, D.
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935694

Analysis of short-term NBTI effect on the Single-Event Upset sensitivity of a 65nm SRAM using two-photon absorption
Moukhtari, I. El ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; Larue, C. ; Perdu, P. ; Lewis, D.
Dans : IEEE RADECS, Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935693

Impact of Negative Bias Temperature Instability on the Single-Event Upset Threshold of a 65nm SRAM cell
Moukhtari, I. El ; Pouget, V. ; Larue, C. ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, P.
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935692

2004


Radiation Hardness Assessment of an ADC for Space Application using a Laser Test Equipment
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Darracq, Frédéric
Dans : Proc. of XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS) 2004, ISBN 2-9522971-0-X, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887701
Conférences invitées → 3 Voir

2006


A Review and some Future Prospects on Laser-Based Techniques for Single-Event Effects Testing and Analysis
Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Darracq, Frédéric
Dans : International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications (RASEDA), Tokyo (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398038

Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event effects testing
Mcmorrow, D. ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Darracq, Frédéric ; Buchner, S. ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Séville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401321

2005


Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event upset testing
Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Darracq, Frédéric ; Buchner, S. ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Manaus (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401314
Chapitres d'ouvrages scientifiques → 1 Voir

2007


Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing
Fouillat, P. ; Pouget, V. ; Mcmorrow, D. ; Darracq, F. ; Buchner, S. ; Lewis, D.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206315