Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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ONDES / EDMINA
0540002768
A31A A1 20

Total : 132

Articles dans des revues avec comité de lecture → 32 Voir

2017


Thermal management characterization of microassembled high power DFB broad area lasers emitting at 975 nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecompte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : IEEE High Power Diode Lasers and Systems Conference
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711161

Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method
Vanzi, Massimo ; Marcello, Gulia ; Mura, Giovanna ; Le Gales, Germain ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711141

2016


Extended modal gain measurement in DFB Laser diodes
Vanzi, Massimo ; Marchello, Gulia ; Mura, Giovanna ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Le Gales, Germain ; Joly, Simon
Dans : IEEE Photonics Technology Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711138

2015


Photothermal activated failure mechanism in polymer-based packaging of low power InGaN/GaN MQW LED under active storage
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Béchou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01213954

Correlation between forward-reverse low-frequency noise and atypical I–V signatures in 980 nm high-power laser diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Béchou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01214031

Overview on sustainability, robustness and reliability of GaN single chip LED devices
Deshayes, Yannick ; Baillot, Raphael ; Joly, Simon ; Ousten, Yves ; Béchou, Laurent
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01221533

2013


Durability study of a fluorescent optical memory in glass studied by luminescence spectroscopy
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Béchou, Laurent ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00932228

High-power diode laser bars and shear strain
T. Cassidy, Daniel ; Rehioui, O. ; K. Hall, Chadwick ; Bechou, L. ; Deshayes, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T. ; Ousten, Y.
Dans : Optics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979994

Examination of femtosecond laser matter interaction in multipulse regime for surface nanopatterning of vitreous substrates
Varkentina, Nadezda ; Cardinal, Thierry ; Moroté, Fabien ; Mounaix, Patrick ; André, Pascal ; Deshayes, Yannick ; Canioni, Lionel
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00909676

2012


France : Le projet Archive & Forget pour l'archivage longue durée sur disque optique
Deshayes, Yannick
Dans : MOS Magazine
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979982

2011


Failure Mechanisms in Packaged Light-Emitting Diodes Under Gamma Radiations: Piezoelectric Model Based on Stark Effect
Deshayes, Y. ; Baillot, R. ; Rehioui, O. ; Béchou, L. ; Gilard, O. ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673553

2010


Effects of silicon coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Armand, C. ; Voillot, F. ; Sorieul, S. ; Ousten, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979970

Starck effects model used to highlight selective activation of failure mechanisms in MQW InGaN/GaN light emitting diodes
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979617

Silver Clusters Embedded in Glass as a Perennial High Capacity Optical Recording Medium
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Bellec, Matthieu ; Papon, Gautier ; Bousquet, Bruno ; Deshayes, Yannick ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel
Dans : Advanced Materials
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00672097

2009


Proton effects on low noise and high responsivity silicon-based photodiodes for space applications
Pedroza, Guillaume ; Gilard, Olivier ; Bourqui, Marie-Lise ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Sun How, Lip ; Rosala, François
Dans : Journal of Applied Physics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402156

2008


Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deletage, J.Y. ; Verdier, F. ; Deshayes, Y. ; Fregonese, S. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Laffitte, D.
Dans : Comptes rendus de l’Académie des sciences. Série IV, Physique, astrophysique
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00266387

Thermal characteristics measurement of packaged double-heterostructure light emitting diodes for space applications using spontaneous optical spectrum properties
Bechou, L. ; Rehioui, O. ; Deshayes, Y. ; Gilard, O. ; Quadri, Gianandrea ; Ousten, Y.
Dans : Optics and Laser Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00266383

Reliability assessment: New tools for the next generation of packages
Bord, Isabelle ; Lévrier, Bruno ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Journal of Microelectronics and Electronic Packaging
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00313790

Reliability investigations of 850 nm silicon photodiodes under proton irradiation for space applications
Bourqui, M.L. ; Bechou, L. ; Gilard, O. ; Deshayes, Y. ; Del Vecchio, P. ; How, L.S. ; Rosala, F. ; Ousten, Y. ; Touboul, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334728

Thermomechanical Stresses and Optical Misalignment in 1550 nm Emissive Optoelectronic Modules Using FEM and Process Dispersions
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frederic ; Ousten, Yves ; Laffitte, Dominique ; Goudard, Jean-Luc
Dans : IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402624

Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation
Deshayes, Yannick ; Bord, Isabelle ; Barreau, Gérard ; Aiche, Mourad ; Moretto, Philippe ; Béchou, Laurent ; Roherig, A.C. ; Ousten, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326851

2005


Long-term reliability prediction of 935 nm InGaAs/GaAs Light Emitting Diodes using degradation laws and ageing tests with low acceleration factor
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183945

Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier
Huyghe, S. ; Bechou, L. ; Zerounian, N. ; Deshayes, Y. ; Aniel, F. ; Denolle, A. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162343

2004


Reliability of Low-Cost PCB Interconnections for Telecommunication Applications
Duchamp, Geneviève ; Verdier, Frédéric ; Deshayes, Yannick ; Marc, François ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181802

Study of influence of failure modes on lifetime distribution prediction of 1.55 µm DFB laser diodes using weak drift of monitored parameters during ageing tests
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183946

2003


Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations
Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Plano, Bernard ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183949

Three-dimensional FEM simulations of thermomechanical stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183950

Early failure signatures after thermal cycles of 1310 nm Laser modules using electrical, optical and spectral measurements
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Mendizabal, Laurent ; Danto, Yves
Dans : MEASUREMENT JOURNAL
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183947

Three-dimensional FEM simulations of thermomechanical stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, L. ; Deletage, Jy. ; Verdier, F. ; Danto, Y. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162350

Impact of 1.55 µm laser diode degradation laws on fibre optic system performances using a system simulator
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Dumas, Jean-Michel ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183948

1999


Study of Ca1-xPrxF2+x solid solution thin films grown on silicon substrates.
Tardy, Pascal ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Barriere, Albert-Serge ; Desbat, B. ; Elfajri, A.
Dans : Thin Solid Films
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183554

Spatial distribution of Pr3+ and ions in Ca1-xPrxF2+x luminescent thin films
Tardy, Pascal ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Barriere, Albert-Serge ; Elfajri, A. ; Desbat, B.
Dans : Mat. Sci. Forum
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183553
Communication dans un congrès → 59 Voir

2019


Area downsizing effects on electrical performance and robustness of triple junction solar cells for CPV applications
Albert,, Pierre ; jaouad, abdelatif ; Volatier, Maite ; Valdivia, Christopher E. ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Aimez., Vincent ; Darnon, Maxime
Dans : International Symposium on Reliability of Optoelectronics System, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02443117

High-Voltage Low-Current Multijunction Monolithic Interconnected Microcells
Albert, Pierre ; jaouad, abdelatif ; Darnon, Maxime ; Volatier, Maite ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Aimez, Vincent
Dans : 15th Conference on Concentrated PhotoVoltaics Systems, Fes (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02339963

2018


Front-Contacted Multijunction Micro Solar Cells: Fabrication & Characterization
Albert, Pierre ; jaouad, abdelatif ; Darnon, Maxime ; Valdivia, Christopher ; Volatier, Maite ; Deshayes, Yannick ; Hinzer, Karin ; Bechou, Laurent ; Aimez, Vincent
Dans : 14th International Conference on Concentrated PhotoVoltaics Systems, 2018-04-01 (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02339965

2017


Submillimeter Multijunction Solar Cells: Impact of Dimension, Design and Architecture on Electrical Performances
Albert, Pierre ; jaouad, abdelatif ; Darnon, Maxime ; Deshayes, Yannick ; Bechou., Laurent ; Aimez., Vincent
Dans : 13th International conference on Concentrator Photovoltaic Systems (CPV 13), Ottawa (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02097254

Submillimeter Multijunction Solar Cells: Impact of Dimension, Design and Architecture on Electrical Performances
Albert, Pierre ; jaouad, abdelatif ; Darnon, Maxime ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Aimez, Vincent
Dans : 13th International conference on Concentrator Photovoltaic Systems (CPV 13), Otawa (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01716137

Thermal management characterization of microassembled high power DFB broad area lasers emitting at 975 nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecompte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : 2017 IEEE High Power Diode Laser and Systems, coventry (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01716140

Thermal Management Characterization of Microassemblied High Power Distributed-Feedback Broad Area Lasers Emitting at 975nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecompte, Michel ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : Advanced optical components and modules - 2017 IEEE 67th ECTC, San diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01716130

2016


Failure analysis of laser crystals by their electrical characterization under high pump power density
Bolanos, Western ; Joly, Simon ; Manek-Hönninger, Inka ; Delagnes, Jean-Christophe ; Cormier, Eric ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick
Dans : Optique Bordeaux, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721120

Imagerie multispectrale résolue en temps : Application à l'analyse de défauts ponctuels dans un matériau
Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : Workshop : " Fiabilité des LEDs et Lasers ", Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721165

Time-resolved multispectral imaging: application to the characterization of photonic devices
Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : Symposium LAPHIA, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721135

Thermal investigation on high power dfb broad area lasers at 975 nm, with 60% efficiency
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecomte, Michel ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : Photonics West, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01380760

An extended model for optical gain calculations in single-mode Laser diodes, International Symposium on Reliability of Optoelectronics for Systems
Vanzi, Massimo ; Giulia, Marcello ; Mura, Giovanna ; Le Gales, Germain ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS 2016, Otwok (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720721

2015


Photothermal activated pellicular failure mechanism in polymer-based packaging of low power InGaN/GaN MQW LED under active storage
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : ESREF, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219195

Monte-carlo computations for predicted degradation of photonic devices in space environment
Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Gilard, Olivier ; Quadri, Gianandrea ; How, L.S.
Dans : 2015 IEEE Aerospace Conference, AERO 2015, Yellowstone (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219189

Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : CLEO/EUROPE, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721054

Correlation between Forward-Reverse Low-Frequency Noise and atypical I-V signatures in 980nm High-Power Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Bechou, Laurent
Dans : ESREF, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219200

Original Screening Methodology based on Correlation betweenLow-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behaviorof GaAs-based Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : CLEO 2015 (Conference on Lasers and Electro-Optics), munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163620

Les LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Conférence Prix Nobel 2014, Aglet (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01221520

Les LEDs, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Café des Sciences, PAu (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01221516

Les LEDS, un défi technologique permanen
Deshayes, Yannick
Dans : Fête de la science : l'éclairage du futur, Combo les Bains (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219935

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Colloque des Masters, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01177135

LES LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : DES TECHNOLOGIES DE L'ÉCLAIRAGE À L'ARCHITECTURE, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01177133

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Les sciences au collège, Pontacq (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01177131

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
Dans : Conférence Prix Nobel 2014, Pau (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01177128

Les LEDs : Un défi technologique permanent
Deshayes, Y.
Dans : Café des Sciences, Anglet (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01140920

Developpement et caractérisation de laser de pompe monomode, forte puissance et rendement élevé emettant a 975nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Y., Robert ; Vinet, Eric ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Béchou, Laurent
Dans : JNOG 35, Rennes (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219229

2014


Accurate electro-optical characterization of high power density GaAs-based laser diodes for screening strategies improvement
Del Vecchio, Pamela ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : Colloque UMI-LN2, Allevard-Les-Bains (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721178

Accurate electro-optical characterization of high power density GaAs-based laser diodes for screening strategies improvement
Del Vecchio, Pamela ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Photonics Europe 2014: Photonics, Optics, Lasers, Micro- and Nanotechnologies, Brussels (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00991556

Les LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
Dans : Conférences sur le sujet du prix Nobel de physique 2014, Pessac (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01095556

2013


Electro-optical characterizations for robustness assessment of automotive qualified white LEDs multichip modules: failure analysis and packaging influence
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Bechou, L. ; Gasse, A. ; Deshayes, Y. ; Carreau, V.
Dans : ISAL Conference, Darmstadt (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01022723

Electro-optical characterizations for robustness assessment of automotive qualified white LEDs multichip modules: failure analysis and packaging influence
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Gasse, A. ; Bechou, L. ; Deshayes, Y. ; Carreau, V.
Dans : EMPC 2013, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019770

Résultats du projet Archive & Forget
Deshayes, Y. ; André, P. ; Canioni, L.
Dans : Workshop GIS SPADON & GDR Verres, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01020068

Durability study of a fluorescent optical memory in glass studied by luminescence spectroscopy
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Béchou, Laurent ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219687

Femtosecond Laser and chemical etching for surface patterning of glass for long-term data storage
Varkentina, N. ; Royon, A. ; Cardinal, T. ; Canioni, L. ; Deshayes, Y.
Dans : EMRS conference, Strasbourg (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019861

2012


Eclairage Automobile: Les conséquences de l'intégration de DEL blanches de puissance sur la stratégie des tests de fiabilité
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Bechou, L. ; Carreau, V. ; Deshayes, Y. ; Gasse, A.
Dans : Journée IMAPS, Tours (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786240

Overview of thermal studies on photonics devices for reliability, robustness and new design
Deshayes, Y. ; Royon, A. ; Baillot, R. ; Bechou, L. ; Canioni, L. ; Petit, Y. ; Cardinal, Th. ; Bord, I. ; Levrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : 18th International Workshop on Thermal investigations of ICs and Systems (THERMINIC), Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786204

Direct Laser-writing in photosensitive glasses: Correlative microscopy of fluorescent silver aggregates and the associated space charge separation
Papon, G. ; Royon, A. ; Bourhis, K. ; Marquestaut, N. ; Petit, Y. ; Deshayes, Y. ; Dussauze, M. ; Rodriguez, V. ; Cardinal, T. ; Canioni, L.
Dans : International Workshop on Laser-Matter Interaction, Porquerolles (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019283

Long term reliability prediction of fluorescent silver nanoclusters embedded in glass for perennial optical recording
Royon, A. ; Papon, G. ; Bourhis, K. ; Petit, Y. ; Cardinal, T. ; Deshayes, Y. ; Canioni, L.
Dans : SPIE Photonics West, Conference 8247 : Frontiers in Ultrafast Optics: Biomedical, Scientific, and Industrial Applications XII, San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00798436

2011


Optical performances degradation of InGaN/GaN MQW LEDs related to fluorescence shift of copolymer-based silicone coating
Baillot, R. ; Béchou, L. ; Belin, C. ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Absalon, C. ; Babot, O. ; Deshayes, Y. ; Ousten, Y.
Dans : Conférence SPIE Optics & Photonics, San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673972

Quelques solutions alternatives et leur évaluation
Deshayes, Yannick
Dans : Conférence de presse GIS DON, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219908

New step towards the future perennial high capacity optical recording medium
Royon, A. ; Bourhis, K. ; Papon, G. ; Bellec, Matthieu ; Bousquet, B. ; Deshayes, Y. ; Cardinal, T. ; Canioni, L.
Dans : Frontiers in Ultrafast Optics: Biomedical, Scientific, and Industrial Applications XI, San Fransisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01017294

2010


Effects of silicone coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses
Baillot, R. ; Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Armand, C. ; Voillot, F. ; Sorieul, S. ; Ousten, Y.
Dans : ESREF 2010 - 21st European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Gaeta (Italy)
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00532869

2009


Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN
Baillot, Raphaël ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent
Dans : JNRDM, Lyon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402734

Lifetime distribution estimation of Light emitting diode
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402233

2008


Different Approaches to Packaging Reliability
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frederic ; Deshayes, Yannick ; Levrier, Bruno ; Bord, Isabelle ; Carbonne, Bertrand
Dans : European Electronics Assembly Reliability Summit, TALLINN (Estonia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00335551

Benefits of individual emitter electro-optical characterizations in packaged high power Laser diode bars for space applications
Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent ; Fillardet, Thierry ; Kohl, Andreas ; T. Cassidy, Daniel ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Volluet, Gérard
Dans : ICSO CONFERENCE, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402617

Silicon phototransistor reliability assessment and new selection strategies for space applications
Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, Olivier ; Vanzi, Massimo
Dans : SPIE EUROPHOTONICS CONFERENCE, Strasbourg (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402616

2007


Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deshayes, Y. ; Mendizabal, L. ; Verdier, F.
Dans : 7ème JNRDM 2004, Marseille-France, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162364

2006


Performance and reliability predictions of 1550 nm WDM optical transmission links using a system simulator
Bechou, L. ; Mendizabal, L. ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Deshayes, Y. ; Dumas, Jean-Michel ; Laffitte, D. ; Goudard, J.L. ; Danto, Y.
Dans : SPIE PHOTONICS EUROPE CONFERENCE, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162382

Impact of radiation effects on AlGaAs/GaAs, InGaN/GaN and AlGaInP/GaP packaged light emitting diodes for space applications
Gilard, O. ; Bechou, L. ; Kurz, B. ; Rehioui, O. ; Bourqui, M.L. ; Campillo, D. ; Deshayes, Y. ; Quadri, Gianandrea
Dans : RADECS 2006 WORKSHOP, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162386

2005


Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : 7ème JNRDM 2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183951

2004


Simulations of thermomechanical stresses and optical misalignment in 1.55 µm emissive optoelectronic modules using FEM and process dispersions
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : 2èmes Journées du RTP 31, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183953

Estimation of lifetime distributions on 1550 nm DFB laser diodes using Monte-Carlo statistic computations
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Tregon, Bernard ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl ; Hernandez, Y. ; Danto, Yves
Dans : SPIE PHOTONICS EUROPE CONFERENCE, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183952

Estimation of lifetime distributions on 1550 nm DFB laser diodes using Monte-Carlo statistic computations
Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Verdier, F. ; Tregon, B. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl. ; Hernandez, Y. ; Danto, Y.
Dans : , ()
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162359

VIGOR European Project New industrial applications in 3D interconnection
Val, A. ; Delmas, J. ; Lignier, O. ; Ousten, Yves ; Chandler, N. ; Pizzato, A. ; Deshayes, Yannick
Dans : IMAPS, INTERCONNEX 2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182864

VIGOR European Project New industrial applications in 3D interconnection
Val, A. ; Delmas, J. ; Lignier, O. ; Ousten, Y. ; Chandler, N. ; Pizzato, A. ; Deshayes, Y.
Dans : APEX 2004, Santa Barbara (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162374

2002


Three-Dimensional FEM Simulations of Thermomechanical Stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : IPFA 2002, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183954

Three-Dimensional FEM Simulations of Thermomechanical Stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Danto, Y. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl.
Dans : IPFA 2002, Singapore (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162362

2000


Etude de la fiabilité de composants et modules optoélectroniques
Deshayes, Yannick
Dans : IIIème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183955
Conférences invitées → 6 Voir

2014


Overview on reliability investigation on LEDs devices
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Belin, Colette ; Buffeteau, Thierry ; Pianet, Isabelle ; Absalon, Christelle ; Deshayes, Yannick
Dans : Reliability of LED, Jongly (Taiwan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219888

2013


Performances and reliability predictions of optical data transmission links using a system simulator for aerospace applications
Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Guerin, Alexandre ; Tronche, Christian
Dans : Aerospace Conference, 2013 IEEE, à Big Sky (Montana) (United States)
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00917358

Overview of thermal studies on photonics devices for reliability, robustness and new design
Deshayes, Y. ; Royon, A. ; Baillot, R. ; Béchou, L. ; Canioni, L. ; Petit, Y. ; Cardinal, Th. ; Bord, I. ; Levrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : Winter conference Laphia - CREOL, Orlando (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019130

2011


Methodology of failure analysis applied to packaged LEDs
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Belin, Colette ; Buffeteau, Thierry ; Pianet, Isabelle ; Absalon, Christelle ; Ousten, Yves
Dans : ICMAT, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00600570

2009


Overview of light emitting diodes: Reliability estimation from the junction to the packaging
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : INTERCONEX 2009 - IMAPS FRANCE, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01223382

2006


Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier
Huyghe, S. ; Bechou, L. ; Zerounian, N. ; Deshayes, Y. ; Aniel, F. ; Denolle, A. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl ; Danto, Y.
Dans : IPFA 2006, Singapore, IEEE Catalog No: 06TH8872, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162384
Chapitres d'ouvrages scientifiques → 4 Voir

2012


Chapter 8 : Reliability estimation from the junction to packaging of LEDs : Light-Emitting Diodes and Optoelectronics: New Research
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00989418

2010


Chapter 7 : Laser Welding : characteristics and FEM simulations
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00989417

2008


Chapitre 7 : Modélisation - Fiabilité
Ousten, Y. ; Deshayes, Y. ; Bechou, L.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334737

2005


Three-Dimensional Techniques for FEM Simulations in Laser Modules and their Applications
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182867
Preprint, Working Paper, Document sans référence, etc. → 4 Voir

2016


Achieving a 60% Efficient Laser Diode Design With Optimized Thermal Management
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Béchou, Laurent ; Lecomte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01402314

2013


Archivage numérique pérenne - Les nouvelles solutions de stockage sur disques en verre
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219923

2012


Archivage numérique pérenne - Projet archive & Forget
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219920

Le projet Archive & Forget
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219912
Ouvrages scientifiques → 6 Voir

2017


Méthodologies d’analyse de la fiabilité de dispositifs à LED
Baillot, Raphaël ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711174

Investigation of LED Devices for Public Light Applications
Baillot, Raphaël ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711165

Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d’évaluation par la physique des défaillances
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711168

2016


Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01380736

2014


Optoélectronique appliquée : mesures, instrumentation et modèles électro-optiques : diodes électroluminescentes
Deshayes, Y.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01095719

2010


DIAGNOSTIC DE DEFAILLANCES DE SYSTEMES OPTOELECTRONIQUES
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00980005
Rapport de recherche → 21 Voir

2015


Spécification technique des besoins - Module LED
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Bord-Majek, Isabelle ; Consonni, Marianne ; Deshayes, Yannick ; Adrien, Gasse
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01222174

2014


Etude de la faisabilité de protection de disque optique polymère avec sol-gel
André, Pascal ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096118

Caractérisation de diode Laser de pompe 980 nm T1.1
Del Vecchio, Pamela ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096120

Caractérisation de diode Laser de pompe 14xx nm T1.2
Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096123

2013


Etude de la mise en place d’un Laser beam recorder avec Laser femtoseconde
André, Pascal ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096115

Etude de la faisabilité d’inscription de donnée numérique en surface par Laser femtoseconde
André, Pascal ; Varkentina, Nadezda ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096105

Etude du comportement atypiques de diode lasers pour les télécoms
Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096100

2011


Resultats de vieillissements accélérés de diode électrolumnescentes pour applications spatiales (Projet COROT)
Baillot, Raphael ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096089

Caractérisation des imageurs OLEDs pour des applications aéronautiques
Marie, Lannegrand ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096092

Fiabilité des LEDs rouges pour applications avioniques
Yee Kin Choi, Elsa ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096096

2007


Analyse du comportement sous radiations de photodiodes Si et InGaAs utilisées en environnement spatial
Bourqui, Marie-Lise ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096088

2006


Essais de fiabilité sur LEDs Hamamatsu (projet DECLIC)
Bechou, Laurent ; Rehioui, Othman ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096086

2005


Results on the characterisation tests T4.1
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Deletage, Jean-Yves ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096084

2004


Simulations génériques des étapes de fabrication et des phases de vieillissement par simulateur ANSYS® d'un système complet optoélectronique
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Danto, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096068

Work package 3 : Thermal Test Vehicle of 3 D Module
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096044

Thermal management Program VIGOR MIL 8
Ousten, Yves ; Deshayes, Yannick ; Levrier, Bruno
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096060

Simulation and results on thermal management T4.2
Ousten, Yves ; Deletage, Jean-Yves ; Levrier, Bruno ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096050

Analyse de la fiabilité de filières technologiques de diodes électroluminescentes pour des applications spatiales : synthèse bibliographique (technologies AlGaAs/GaAs, AlGaInP/GaP, InGaN/GaN)
Rehioui, Othman ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Danto, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096080

2003


Work package 3 : Thermal management of 3 D Module
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096036

2002


Etude thermomécanique des têtes optiques LMI 1550 nm – Validations expérimentales des simulations
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096011

2001


Etude thermomécanique des têtes optiques LMI 1550 nm – Evaluation technologique
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096004
Page perso:
Curriculum Vitae

Fonctions actuelles et rattachement à la 63ème section

Maître de conférence à l’université de Bordeaux dans le collège Sciences et Technologies et dans l’Unité de Formation Sciences de l’Ingénieur – Laboratoire IMS / groupe onde / équipe Evaluation des Dispositifs Micro et Nano Assemblés. Mes spécialités en enseignement sont : l’électrotechnique, l’électronique de puissance, les circuits électroniques, la physique des matériaux pour l’électronique, l’électromagnétisme et la photonique. Ma spécialité en recherche est l’évaluation du vieillissement prématuré de systèmes photoniques : diodes électroluminescentes pour l’éclairage public, diodes lasers pour les applications de télécommunications, spatiales et défense, dispositifs de stockage optique sur verre, oscillateur laser à l’état solide et interaction laser matière.

Diplômes universitaires

  • 23 juin 2016 - Habilitation à diriger des recherches en électronique à l’université de Bordeaux, Etude du vieillissement prématuré de dispositifs photoniques : de l’analyse physique des défaillances au modèle de fiabilité, Jury : V. Aimez – P.U - U. Sherbrooke (Rapporteur), L. Béchou P.U, L. Canioni P.U (président du jury), E. Cormier P.U (Rapporteur local), Y. Deval P.U, J. Jimenez P.U - U. de Valladolid (Rapporteur), M. Garcia (III-V Lab), D. Laffitte (Alcatel Submarine Network), Z. Zojiesky (Valéo Ligthing Systems).
  • 19 juillet 2002 Doctorat en électronique à l’université de Bordeaux 1 - MENRT,  Diagnostic de défaillance de systèmes optoélectroniques émissifs pour applications de télécommunication : Caractérisations électro-optiques et simulations thermomécaniques
  • Juin 97 DEA d’électronique à l’université de Bordeaux 1 - mention bien

Expériences professionnelles

  • 01/09/2004 – aujourd’hui : Maître de conférences en électronique à l’université de Bordeaux
  • 2003 – 2004 : Ingénieur de recherche dans le programme Européen VIGOR (PIDEA)
  • 2001 – 2003 : ATER en électronique à l’ENSEIRB (Bordeaux INP)

Réalisations - Valorisation

  • Co-inventeur du brevet : Diagnostic en cours de vie d’état de LEDs PJ-14-0198 avec Renault - 23 mars 2014. Quotte part de l’invention : 20% - Brevet en dépôt en Janvier 2015.
  • Participation / responsabilité de contrats industriels : 22 projets dont 7 nationaux (ANR, Investissement d’avenir, BPI, université) et 15 européens et industriels. 9 projets en participation et 13 en porteur de projet (902 k€).

Rayonnement scientifique

  • Commissions, conseils : commission paritaire de l’établissement (CPE 2012-2014-40 dossiers traités), commission scientifique GIS Support Pérenne d’Archivage de Données Numériques, commission scientifique de la plateforme photonique de l’université de Bordeaux
  • Responsabilités liées à la recherche : Membre rédacteur de l’IDEX – Labex Laphia, participation au RTP 31 Fiabilité et au GIS ALBATROS, chef éditeur collection (édition ISTE) avec deux livres sortis (1 en septembre 2016 et 1 en mars 2017), Animateur du regroupement pôle Route des Lasers / OpticsValley (1200 entreprises, 50 structures académiques, …)
  • Rayonnement (national et international) : Rapporteur et membre du comité de lecture dans les revues IEEE Photonic technology lettre (11), IEEE Sensor Journal (7), IEEE Transaction on Electronic Devices (13), Journal Of Light wave Technology (1), Microelectronics Reliability (5), IEEE Quantum electronics (1), Material Science ; Comité de sélection conférences internationales : ESREF, ISROS, MSEP ; Membre du Technical Program Committee : MSEP ; Session chair : IMAPS 2009, IEEE THERMINICS 2012
  • Collaborations académiques nationales et internationales : participation à l’accueil de 7 professeurs invités : Ephraim Suhir, Professeur émérite, Université de Californie, Department of Electrical engineering, Santa Cruz, Daniel Cassidy, Professeur à l’université Mc Master, Engineering & Physics, Ontario, Canada, Ali Ahaitouf, Professeur à l’Université de Fès Maroc, Chercheur à l'UMI Georgia Tech/Supelec à Metz France, Kamel Remidi, Enseignant à l’Ecole Normale Supérieure de Kouba, Algerie, Masimo Vanzi, professeur à l’université de Cagliari, Electrical and electronic engineering, Italie, Juan Jimenez, professeur à l’université de Valladolid, optical characterization of semiconductors and devices using microscopic technique, Espagne, Jens W. Tomm, scientific staff of the Max-Born-Institut, (Berlin, Germany)
  • Organisation de conférences et workshops : 5 workshops dont 4 nationaux (2 locaux) et 1 international, un workshop organisé les 22 et 23 juin 2016 à l’occasion de ma soutenance d’HDR
  • Direction de thèse : Co-encadrement de thèse (50%) – 4 thèses dont 3 soutenues (membre du jury de thèse dont un absent pour raisons médicales) entre 2008 et 2016 ; participation à l’encadrement technique de 5 thèses entre 2002 à 2016
  • Rapporteur et expertises : 1 rapport de thèse 28/11/2016 (Université de Toulouse III) – soutenance prévue en 2017, 3 rapports thèses ANRT, région (IDF) et prix de thèse; 3 expertises ANR blanc,  3 expertises industrielles
  • Direction de post-doc, ingénieur et master : 7 masters, 2 post-docs, 2 ingénieurs de recherche sur des projets dont j’ai eu la direction
  • Spotlight Nature : Arnaud Royon, Kevin Bourhis, Matthieu Bellec, Gautier Papon, Bruno Bousquet, Yannick Deshayes, Thierry Cardinal & Lionel Canioni, "Silver clusters embedded in glass as a perennial high capacity optical recording medium", Nature 468, 9 04 November 2010
  • Publications : 108 références : 30 publications dans les revues internationales, 27 conférences avec actes, 11 conférences sans actes, 6 papiers invités, 4 chapitres de livres, 4 papiers dans des revues de presse ou industrielles, 4 livres, 22 rapports de recherch
  • Conférences grand public : 10 conférences grand public dont deux cafés des sciences, un exposé dans un collège, deux exposés à des lycéens, un exposé aux masters de physique Université de Bordeaux, un exposé dans un musée et une conférences de presse public à Paris.

Enseignements

  • Enseignements et responsabilités pédagogiques, enseignements effectués depuis le 01/09/ 2004 à l’université de Bordeaux  - total de 2556,64 heures équivalent TD - 213,05 heures équivalent TD par an – 50% cours, 30% TD et 20 % TP. 1 président du Jury VAE Master AICE

 

Thèmes des différents projets d’enseignement Années
Responsable de la 2ème année de licence EEA & plateforme électrotechnique du département EEA – Membre du bureau du département EEA et de l’équipe pédagogique de licence (Licence Sciences et Technologies) 2004-2010
Responsable de la 2ème année de Master professionnel physique : parcours « Systèmes à cœur optique » – Membre de l’équipe pédagogique de master  en physique (MST) – Création du parcours et mise en place des différents enseignements et collaborations industrielles. 2007-2011
Responsable d’UE ouverture professionnelle 700 étudiants L2 – 25 professeurs sur 1 semaine 2009-2012

Enseignement en EEA – 63ème section

Electrotechnique / électronique de puissance – cours niveaux Licence 2, Licence 3 et Master (94 h C, 415 h TD et 179 h TP)

Electronique analogique – Cours niveau Licence 2 et licence 1 (267 h CI, 152 h TP)

TP AIME – Elaboration de MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) 120 h de TP

2004 à 2010

2004…

2008 à 2012

Enseignement en physique des matériaux pour l’électronique et l’optoélectronique

Optoélectronique – Cours niveau Master 2 et Master 1 (EEA), 1ère année ENSEIRB

Composants optoélectroniques pour les télécommunications – Cours de Master 2

Cours et TD de physique 1ère année ENSEIRB Systèmes Electroniques Embarqués et Electronique (374 h C, 240 h TD)

2007…

 

Autres responsabilités sur des établissements extérieurs : président de jury du BAC (2), correcteur à l’école polytechnique depuis 2010, commission pédagogique et scientifique de l’ANADEF 2016 (analyse de défaillance de composants électroniques), membre de la plateforme PYLA (centre de formation optique et laser) 

Activités de recherche

Les activités de recherche portant sur l’analyse du vieillissement prématuré de dispositifs photoniques sont portées au Laboratoire IMS depuis 1998. J’ai donc entièrement créé et ouvert ce domaine avec ma thèse débutée la même année avec l’aide de Laurent Béchou et de Yves Danto.

Les collaborations industrielles et académiques ont commencé, avec ma thèse [1] en 1999 avec la société Alcatel Optronics devenue aujourd’hui 3S Photonics sur les systèmes optoélectroniques pour les télécommunications [P 5, 11, 14, Ccl 1, 2, 4, L1-4]. La collaboration a permis la soutenance de quatre thèses de doctorat et deux thèses CIFRE dont une en cours Germain Le Gales [Tht5]. La thèse de Laurent Mendizabal [Tht2] a notamment permis d’ouvrir une première collaboration internationale avec le professeur D. Cassidy (Université de Mac Master - Ontario) sur le modèle de défaillance Multi-Component-Method [P3, 7, 11, Ccl 5] de diode Laser ILM (Diode laser DFB avec modulateur électro-absorbant). Actuellement la collaboration porte principalement sur l’analyse de comportements atypiques de diodes Lasers de forte puissance (1W), pour des applications de pompe optique pour les amplificateurs optiques (EDFAs), ayant un taux de défaillance extrêmement faible (<100 FIT) – Thèse de Pamela Del Vecchio (encad. 50%) soutenue en 09/2016 [Th3, P 28, Ccl 20, 22, 24].

En 2004, J’ai participé à engager une seconde collaboration avec le Centre National d’Etudes Spatiales. Les activités de recherche liées à cette collaboration ont ouvert le domaine de l’optoélectronique pour le spatial [P12, 15, 17, Ccl 6-8, 21, Ci 5]. Cette collaboration a conduit au co-encadrement de trois thèses dont trois soutenues. Le travail principal a été d’élaborer un modèle électro-optique mono-puce afin de comprendre les mécanismes de défaillance de composants optoélectroniques soumis à des contraintes environnementales sévères.

En 2007, j’ai pris l’initiative d’ouvrir notre équipe aux activités de recherche en photonique par l’association de l’IMS, l’ICMCB et le LOMA au sein du GIS AMA. J’ai initié l’étude du vieillissement prématuré de clusters d’Ag structurés au LOMA dans des verres phosphates élaborés à l’ICMCB. Cette formidable opportunité d’intégrer la fiabilité dès la conception de l’idée fondamentale a permis un rayonnement académique autour de 14 parutions dans divers papiers, colloques et conférences de presse [P20, 21, 23, 25, 26, Ccl 13, 15, 16, 17, Ci4, RGP 1-3, GP1]. Cette activité de recherche fait partie de mon expertise recherche et représente un fait marquant de l’IMS.

En 2008, une collaboration entre l’IMS et Quantel Laser diode (Thales Laser diode) a été initiée autour de la thèse d’Othman Rehioui [Tht3] sur des diodes Lasers de puissance (100 W) pour des applications spatiales [P24, Ccl 19]. Les compétences acquises lors de cette collaboration ont été : l’analyse optique par polarisation en électroluminescence d’une diode Laser multi-puces et l’étude d’indicateur de défaillances de ces dispositifs. Cette collaboration a été complétée avec le professeur D. Cassidy (U. de Mac Master - Ontario) pour sa spécialité sur l’analyse de la polarisation de la lumière par photoluminescence afin extraire la distribution des contraintes mécaniques de la structure et particulièrement le long de la cavité laser.

En 2009, une collaboration avec le CEA LETI s’est formalisée sous mon impulsion aidée du professeur Yves Ousten afin de développer une activité sur les systèmes d’éclairage à LEDs. La collaboration a donc commencée avec la thèse de Raphael Baillot (encad. 50%) [Th1] pour l’étude de LEDs blanches pour l’éclairage public [P 19, 27, 29, Ccl 12, 14, 16, 23, Ci3, 6, L8]. Cette thèse a renforcé la mise en place d’un modèle électro-optique analytique mono-puce performant pour l’analyse de défaillance. Elle s’est poursuivie par la thèse de Bertrand Chambion (encad. 50%) [Th2], soutenue en 2014, sur le domaine de l’éclairage dans l’automobile avec le constructeur Renault [Ccl 18, 19, 1 brevet]. Dans ce contexte, la mise en place d’un des premiers modèles compactes multi-puces a été élaboré à partir des précédents modèles mono-puces. J’ai également rédigé avec B. Champion une partie du brevet mis en place en janvier 2015 avec Renault. Cette activité de recherche entre dans mon cœur de métier et représente un second fait marquant du laboratoire.

En 2010, un tournant important des projets photoniques s’est produit par la mise en contact entre l’IMS et le GIS SPADON par l’intermédiaire du Pr. Laurent Béchou. J’ai donc animé un ‟brainstorming” mis en place entre les membres du GIS, l’académie des Sciences et des technologies et le pôle de Bordeaux. J’ai mis en place l’idée d’élaborer un disque optique basé sur les résultats de recherche du CELIA - structuration de cluster d’Ag par Laser femto-seconde. Pour faire évoluer les compétences à Bordeaux, j’ai encadré un post-doc, Arnaud Royon, pendant 12 mois en collaboration avec Lionel Canioni (CELIA) [P 20, 21, Ccl 13, 15]. Nous avons mis en évidence le mode de vieillissement de verres dopés Ag sous contrainte thermique (100°C). En 2010, j’ai dirigé la réponse à l’appel à projet ‟Investissement d’Avenir - économie numérique” et j’ai proposé le projet ‟Archive & Forget”. J’ai également formé le consortium du projet : d’Essilex, Amplitude système, IMS, LOMA, IOGS, IS2M. J’ai encadré pendant 20 mois un ingénieur de recherche Pascal André et un post-doc Nadejda Varkentina avec Lionel Canioni (CELIA) [P 26, Ccl, Csl 18]. En 2011 j’ai organisé un workshop fiabilité et j’ai invité E. Spitz au laboratoire IMS [WS 1].

En 2012, J’ai conduit une collaboration entre Sunna Design (Raphael Baillot) et l’IMS sur la fiabilité de LEDs blanches pour l’éclairage autonome. Cette collaboration autour d’un projet BPI France que je dirige au laboratoire permet de finaliser la mise en place des manipulations sur composants assemblés [P27, 29, Ccl 23, Ci6, L8]. Les activités de recherche renforcent le lien existant entre l’IMS et le CEA LETI puisque ce dernier est un partenaire du projet.

Une des dernières collaborations s’est engagée, en 2013, avec la société III-V Lab et Thales Research and Technology (TRT) autour de la thèse de Roberto Mostallino (encad. 50%) [Th4] sur la fiabilité de diodes Lasers pour des applications militaires [Ccl 25, 26, 27, RGP4]. Un des avantages d’une telle collaboration est de mettre réellement en place la construction de la fiabilité sur des diodes Lasers au niveau de l’épitaxie. J’ai organisé un worshop GIS SPADON – GDR Verre à Paris à l’UMPC [WS 2].

En 2013, j’ai participé à l’élaboration du projet EXOLAS traitant de l’étude de nouvelles sources Laser impulsionnelles intenses pour applications militaires. Les partenaires sont le CELIA, l’ICMCB, le LOMA et l’IMS. Ce projet a été initié au sein du Labex Laphia. Je dirige les recherches dans ce domaine à l’IMS et j’encadre un post-doc (Western Bolanos) sur 18 mois. L’objectif majeur est d’étudier le vieillissement prématuré des cristaux et céramiques utilisés sous fort flux.

En 2015, et à la suite de ma visite à Taiwan de la société EPISTAR (leader international de l’élaboration de LEDs sur Wafer), j’ai finalisé un contrat de collaboration avec cette entreprise. Nous travaillons actuellement sur des LED UV émettant à 354 nm. J’ai également pris la direction d’une collection de livres aux éditions ISTE/ELSEVIER. J’ai animé, co-organisé ou été invité à 9 conférences grand public sur le sujet des LEDs pour l’éclairage [GP 2-10]. J’ai organisé un meeting afin de de proposer un projet Européen sur l’archivage pérenne de données numériques [WS 3].

En 2016, notre Collègue Laurent Béchou est nommé professeur détaché à l’université de Sherbrooke au LN2 (Canada). Cette formidable opportunité pour l’équipe permet d’apporter bon nombre de projets de recherche en amont sur des sujets tels que les cellules photovoltaïques à concentration avec la thèse de Pierre Albert (encad. 20%) [Th5] ou le packaging des dispositifs photoniques quantiques [Thp2] dont j’ai proposé le sujet pour 2017 (dir. de thèses - encad. 50%). J’ai également fait le premier cours d’optoélectronique dans l’atelier ANADEF. J’ai donc pu mettre à profit mes compétences pour mettre en place une thèse CIFRE [Thp1] avec Thales pour le début 2017 (dir. de thèse - encad. 100%) et deux projets industriels avec TE connectivity et Zodiac Aerospace. J’ai organisé deux workshops à l’université : 1 grand public sur l’éclairage à LEDs et 1 sur la fiabilité LEDs/Laser à l’issu duquel j’ai soutenu mon HDR.

Ces différentes collaborations permettent d’inscrire l’équipe EDMINA comme un des acteurs de référence dans le domaine de l’étude du vieillissement prématuré de systèmes photoniques. 
l’archivage de données numériques à long terme
 
ACTIVITÉS DE RECHERCHE