Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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ONDES / EDMINA
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A31A A0.41

Total : 216

Articles dans des revues avec comité de lecture → 64 Voir

2019


An analytical approach to predict maximal sensitivity of microring resonators for absorption spectroscopy
Diez Garcia, M. ; Girault, P. ; Joly, S. ; Oyhenart, L. ; Raimbault, Vincent ; Dejous, Corinne ; Bechou, L.
Dans : Journal of Lightwave Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02299723

III—V Laser Power Converters With Vertically Stacked Subcells Demonstrating Superior Radiation Resilience
York, Mark C.A. ; Proulx, Francine ; Gilard, Olivier ; Bechou, Laurent ; Arès, Richard ; Aimez, Vincent ; Masson, Denis ; Fafard, Simon
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02149932

2018


Highlighting two integration technologies based on vias: Through silicon vias and embedded components into PCB. Strengths and weaknesses for manufacturing and reliability
Balmont, M. ; Bord Majek, I. ; Poupard, B. ; Bechou, L. ; Ousten, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01885226

Direct patterning of polymer optical periodic nanostructures on CYTOP for visible light waveguiding
Diez, Miguel ; Raimbault, Vincent ; Joly, S. ; Oyhenart, L. ; Doucet, Jean-Baptiste ; Obieta, I. ; Dejous, Corinne ; Bechou, L.
Dans : Optical Materials
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01825019

A quantitative thermal and thermomechanical analysis for design optimization and robustness assessment of microassembled high power Yb:CaF2 thin-disk Laser
Joly, S. ; Lemesre, M-A. ; Lévrier, B. ; Lyszyk, C. ; Plano, B. ; Courjaud, A. ; Taira, T. ; Bechou, L.
Dans : Optics & Laser Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02273406

Ba0.6Sr0.4TiO3 thin films deposited by spray coating for high capacitance density capacitors
Tetsi, Emmanuel ; Philippot, Gilles ; Bord Majek, Isabelle ; Aymonier, Cyril ; Audet, Jean ; Lemire, Roxan ; Bechou, Laurent ; Drouin, Dominique
Dans : physica status solidi (a)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01890960

2017


Thermal management characterization of microassembled high power DFB broad area lasers emitting at 975 nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecompte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : IEEE High Power Diode Lasers and Systems Conference
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711161

Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method
Vanzi, Massimo ; Marcello, Gulia ; Mura, Giovanna ; Le Gales, Germain ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711141

2016


Thermal Behavior of High Power GaAs-Based Laser Diodes in Vacuum Environment
Michaud, J ; Béchou, L ; Veyrié, D ; Laruelle, F ; Dilhaire, S ; Grauby, S
Dans : IEEE Photonics Technology Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01343339

Extended modal gain measurement in DFB Laser diodes
Vanzi, Massimo ; Marchello, Gulia ; Mura, Giovanna ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Le Gales, Germain ; Joly, Simon
Dans : IEEE Photonics Technology Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711138

2015


Photothermal activated failure mechanism in polymer-based packaging of low power InGaN/GaN MQW LED under active storage
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Béchou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01213954

Inorganic/organic nanocomposites: Reaching a high filler content without increasing viscosity using core-shell structured nanoparticles
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Bechou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Buet, Matthieu ; Louarn, Mélanie ; weiss, M ; Rougé, Fabien ; Gaud, Vincent ; Ousten, Yves
Dans : Applied Physics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01240791

Correlation between forward-reverse low-frequency noise and atypical I–V signatures in 980 nm high-power laser diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Béchou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01214031

Overview on sustainability, robustness and reliability of GaN single chip LED devices
Deshayes, Yannick ; Baillot, Raphael ; Joly, Simon ; Ousten, Yves ; Béchou, Laurent
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01221533

Study of a polymer optical microring resonator for hexavalent chromium sensing
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Conédéra, Véronique ; LACHAUD, Jean-Luc ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01112028

Investigations on electro-optical and thermal performances degradation of high power density GaAs-based laser diode in vacuum environment
Michaud, J. ; Pedroza, G. ; Béchou, L. ; How, L.S. ; Gilard, O. ; Veyrié, D. ; Laruelle, F. ; Grauby, S.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01256856

Precise Facet Temperature Distribution of High- Power Laser Diodes: Unpumped Window Effect
Michaud, Jérémy ; Del Vecchio, Pamela ; Béchou, Laurent ; Veyrié, David ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Grauby, Stéphane
Dans : IEEE Photonics Technology Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01155505

2014


Crack Propagation Modeling in Silicon: A Comprehensive Thermomechanical Finite-Element Model Approach for Power Devices
Calvez, Damien ; Roqueta, Fabrice ; Jacques, Sébastien ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Ducret, Samuel
Dans : IEEE Transactions on Components Packaging and Manufacturing Technology Part B
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01061431

2013


Durability study of a fluorescent optical memory in glass studied by luminescence spectroscopy
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Béchou, Laurent ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00932228

Saint-Venant's principle and the minimum length of a dual-coated optical fiber specimen in reliability (proof) testing
Suhir, E. ; Bechou, L.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00937728

High-power diode laser bars and shear strain
T. Cassidy, Daniel ; Rehioui, O. ; K. Hall, Chadwick ; Bechou, L. ; Deshayes, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T. ; Ousten, Y.
Dans : Optics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979994

2012


Improved performances of polymer-based dielectric by using inorganic/organic core-shell nanoparticles
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Gaud, Vincent ; Plano, Bernard ; Ousten, Yves
Dans : Applied Physics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00765215

Hardening Principles and Characterization of an Optocoupler Including a Vertical Cavity Surface Emitting Laser
Gilard, O. ; Del Vecchio, P. ; Moglia, R. ; Bechou, L. ; Quadri, Gianandrea
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786227

Technical Diagnostics in Electronics: Application of Bayes Formula and Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov (BAZ) Model
Suhir, E. ; Bechou, L. ; Bensoussan, A.
Dans : Printed Circuit Design& Fab/Circuits Assembly
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797400

Predicted Thermal Stresses in a Photovoltaic Module (PVM)
Suhir, Ephraim ; Shangguan, Dongai ; Bechou, Laurent
Dans : Photovoltaics International (UK), 16th edition
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797395

2011


OPERATIONAL PERFORMANCES DEMONSTRATION OF POLYMER-CERAMIC EMBEDDED CAPACITORS FOR MMIC APPLICATIONS
Bord-Majek, Isabelle ; Kertesz, Philippe ; Mazeau, Julie ; Caban-Chastas, Daniel ; Levrier, Bruno ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00641070

Failure Mechanisms in Packaged Light-Emitting Diodes Under Gamma Radiations: Piezoelectric Model Based on Stark Effect
Deshayes, Y. ; Baillot, R. ; Rehioui, O. ; Béchou, L. ; Gilard, O. ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673553

An original DoE-based tool for silicon photodetectors EoL estimation in space environments
Spezzigu, P. ; Bechou, L. ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, O. ; Ousten, Y. ; Vanzi, M.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673537

2010


Effects of silicon coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Armand, C. ; Voillot, F. ; Sorieul, S. ; Ousten, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979970

Strain Estimation in III-V Materials by Analysis of the Degree of Polarization of Luminescence
Cassidy, Dt ; Hall, Ck. ; Rehioui, O. ; Bechou, L.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01061416

Starck effects model used to highlight selective activation of failure mechanisms in MQW InGaN/GaN light emitting diodes
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979617

2009


Proton effects on low noise and high responsivity silicon-based photodiodes for space applications
Pedroza, Guillaume ; Gilard, Olivier ; Bourqui, Marie-Lise ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Sun How, Lip ; Rosala, François
Dans : Journal of Applied Physics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402156

Implementation of a Design of Experiments Methodology for the Prediction of Phototransistor Degradation in a Space Environment"
Spezzigu, Piero ; Caddeo, C. ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, O. ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Vanzi, M.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584333

2008


Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deletage, J.Y. ; Verdier, F. ; Deshayes, Y. ; Fregonese, S. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Laffitte, D.
Dans : Comptes rendus de l’Académie des sciences. Série IV, Physique, astrophysique
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00266387

Thermal characteristics measurement of packaged double-heterostructure light emitting diodes for space applications using spontaneous optical spectrum properties
Bechou, L. ; Rehioui, O. ; Deshayes, Y. ; Gilard, O. ; Quadri, Gianandrea ; Ousten, Y.
Dans : Optics and Laser Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00266383

Reliability assessment: New tools for the next generation of packages
Bord, Isabelle ; Lévrier, Bruno ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Journal of Microelectronics and Electronic Packaging
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00313790

Reliability investigations of 850 nm silicon photodiodes under proton irradiation for space applications
Bourqui, M.L. ; Bechou, L. ; Gilard, O. ; Deshayes, Y. ; Del Vecchio, P. ; How, L.S. ; Rosala, F. ; Ousten, Y. ; Touboul, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334728

Thermomechanical Stresses and Optical Misalignment in 1550 nm Emissive Optoelectronic Modules Using FEM and Process Dispersions
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frederic ; Ousten, Yves ; Laffitte, Dominique ; Goudard, Jean-Luc
Dans : IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402624

Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation
Deshayes, Yannick ; Bord, Isabelle ; Barreau, Gérard ; Aiche, Mourad ; Moretto, Philippe ; Béchou, Laurent ; Roherig, A.C. ; Ousten, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326851

2006


Use of signal processing imaging for the study of a 3D package in harsh environment
Augereau, J. ; Ousten, Y. ; Levrier, B. ; Bechou, L.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334732

2005


Long-term reliability prediction of 935 nm InGaAs/GaAs Light Emitting Diodes using degradation laws and ageing tests with low acceleration factor
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183945

Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier
Huyghe, S. ; Bechou, L. ; Zerounian, N. ; Deshayes, Y. ; Aniel, F. ; Denolle, A. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162343

2004


Study of influence of failure modes on lifetime distribution prediction of 1.55 µm DFB laser diodes using weak drift of monitored parameters during ageing tests
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183946

2003


An improved method for automatic detection and location of defects in electronics components using scanning ultrasonic microscopy
Bechou, Laurent ; Dallet, Dominique ; Danto, Yves ; Daponte, Pasquale ; Ousten, Yves ; Rapuano, Sergio
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180554

FFT et applications : choix d'une fenêtre de pondération, caractérisation d'un CAN et réponse en fréquence d'un système linéaire
Couturier, Gérard ; Bechou, Laurent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Pellet, Claude
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183112

Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations
Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Plano, Bernard ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183949

Three-dimensional FEM simulations of thermomechanical stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183950

Early failure signatures after thermal cycles of 1310 nm Laser modules using electrical, optical and spectral measurements
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Mendizabal, Laurent ; Danto, Yves
Dans : MEASUREMENT JOURNAL
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183947

Three-dimensional FEM simulations of thermomechanical stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, L. ; Deletage, Jy. ; Verdier, F. ; Danto, Y. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162350

Impact of 1.55 µm laser diode degradation laws on fibre optic system performances using a system simulator
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Dumas, Jean-Michel ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183948

2002


Detection and location of defects in electronic devices by means of scanning ultrasonic microscopy and the wavelet Transform
Angrisani, Léopoldo ; Bechou, Laurent ; Dallet, Dominique ; Daponte, Pasquale ; Ousten, Yves
Dans : Measurement - Journal of the International Measurement Confederation (IMEKO)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180545

Acoustic analysis of an assembly : Structural identification by signal processing (wavelets)
Augereau, Jean ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181930

Behavioral studyof passive components and coating materials under isostatic pressure and temperature stress conditions
Tregon, Bernard ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Bechou, Laurent ; Parmentier, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181931

1999


Localization of defects in die-attach assembly by continuous wavelet transform using scanning acoustic microscopy
Bechou, Laurent ; Angrisani, Léopoldo ; Ousten, Yves ; Dallet, Dominique ; Levi, Hervé ; Danto, Yves ; Daponte, Pasquale
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180223

1998


Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for multilayer ceramic capacitors type II crack detection
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181936

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for crack detection in type II multilayer ceramic capacitors
Ousten, Yves ; Mejdi, Said ; Bechou, Laurent ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181935

The Use Impedance Spectroscopy, SEM and SAM Imaging for Early Detection of Failure in SMT Assemblies
Ousten, Y. ; Medji, S. ; Fenech, A. ; Y. Deletage, J. ; Bechou, L. ; Perichaud, M.G. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164931

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for MLCC crack detection
Ousten, Y. ; Mejdi, S. ; Bechou, L. ; Tregon, B. ; Danto, Y.
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164925

1997


Ultrasonic characterisation improvement of microassembling technologies using Time-Frequency analysis
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181937

Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, L. ; Tregon, B. ; Ousten, Y. ; Marc, F. ; Danto, Y. ; Kertesz, Ph. ; Even, R.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164920

1996


NON-DESTRUCTIVE DETECTION AND LOCALIZATION OF DEFECTS IN MULTILAYER CERAMIC CHIP CAPACITORS USING ELECTROMECHANICAL RESONANCES
Bechou, Laurent ; Mejdi, Said ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181938

Nondestructive detection and localization of defects in multilayer ceramic chip capacitors using electromechanical resonances
Bechou, L. ; Mejdi, S. ; Ousten, Y. ; Danto, Y.
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164916

Nondestructive defect detection in multilayer ceramic chip capacitors using piezoelectric analysis and acoustic microscopy
Bechou, L. ; Mejdi, S. ; Ousten, Y. ; Danto, Y.
Dans : EXACT INTERNATIONAL PUBLICATIONS FOR PASSIVE MANUFACTURERS
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164912

1993


Simulation of assembly generated constraints during SMT processing and size optimisation of the capacitors by design of experiments
Ousten, Y. ; Bechou, L. ; Xiong, N.
Dans : HYBRID CIRCUITS
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164908
Communications avec actes (nationales) → 24 Voir

2016


Auto-assemblage de nanoparticules de Ba0.6Sr0.4TiO3 pour la réalisation de condensateurs de découplage intégrés sur interposeur pour l’électronique 3D
Tetsi, E. ; Philippot, G. ; Bord Majek, I. ; Aymonier, C. ; Audet, J. ; Béchou, L. ; Drouin, D.
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01349015

2015


Digital microfluidic system incorporating optical ring resonator for trace-level hexavalent chromium ions Cr(VI) detection
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Joly, Simon ; Hallil, Hamida ; Conédéra, Véronique ; Lachaud, Jean-Luc ; Bechou, Laurent ; Dejous, Corinne
Dans : 18 èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro - nanoélectronique, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01308538

Developpement et caractérisation de laser de pompe monomode, forte puissance et rendement élevé emettant a 975nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Y., Robert ; Vinet, Eric ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Béchou, Laurent
Dans : JNOG 35, Rennes (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219229

2009


Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN
Baillot, Raphaël ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent
Dans : JNRDM, Lyon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402734

OpERaS : "OptoElectronic Reliability applied to Space environment" Un nouveau consortium pour l'évaluation de la fiabilité de dispositifs optoélectroniques et photoniques dédiés à l'environnement spatial
Bechou, Laurent ; Rosala, F. ; Guibaud, Gérald ; Ousten, Yves
Dans : Symposium " L'innovation à la croisée des savoirs " organisé par le Pôle Aquitaine de l'Institut de Communication du CNRS, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584317

2005


Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : 7ème JNRDM 2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183951

2004


La Licence Professionnelle Microélectronique Microsystèmes: Une nouvelle approche dans le pôle CNFM bordelais (PCB)
Begueret, Jean-Baptiste ; Rebiere, Dominique ; Bechou, Laurent ; Pellet, Claude ; Maidon, Yvan ; Salaun, Ac ; Lhermite, H.
Dans : 8èmes journées Pédagogiques du CNFM, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183078

Simulations of thermomechanical stresses and optical misalignment in 1.55 µm emissive optoelectronic modules using FEM and process dispersions
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : 2èmes Journées du RTP 31, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183953

Estimation of lifetime distributions on 1550 nm DFB laser diodes using Monte-Carlo statistic computations
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Tregon, Bernard ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl ; Hernandez, Y. ; Danto, Yves
Dans : SPIE PHOTONICS EUROPE CONFERENCE, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183952

2003


Extraction of the MLCC Matrix of Compliance Used for Reliability
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Augereau, Jean ; Bechou, Laurent
Dans : CARTS Europe 2003: 17th Annual Passive Components Conference, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182910

2002


Acoustic analysis of an assembly : Structural identification by signal processing (wavelets)
Augereau, Jean ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : ESREF 2002, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182912

Three-Dimensional FEM Simulations of Thermomechanical Stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : IPFA 2002, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183954

2001


New Methods for Scanning Ultrasonic Microscopy - Applications for Failure Analysis of Microassembling Technologies
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : IPFA 2001, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182915

Dissipation thermique dans les dispositifs à fortes densités de puissance. Cas des TBHs sur GaAs et évaluation de deux techniques de report
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : 8èmes Journées Nationales de Microélectronique et Optoélectronique (JNMO'2001), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182914

FFT et applications : caractérisation d un CAN, choix d une fenêtre d analyse et réponse en fréquence d un système
Couturier, Gérard ; Bechou, Laurent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Pellet, Claude
Dans : CETSIS 2001, 3ème Colloque sur l Enseignement des Technologies et des Sciences de l Information, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183133

FFT et applications : caractérisation d'un CAN, choix d'une fenêtre d'analyse et réponse en fréquence d'un système
Couturier, Gérard ; Bechou, Laurent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Pellet, Claude
Dans : CETSIS-EEA, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183132

1998


Analyse nondestructive par microscopie ultrasonore et laminographie X d assemblages CBGA soumis à des cyclages thermiques
Bechou, Laurent ; Navarro, Dominique ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis ; Salagoity, Michel
Dans : IMAPS 98, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182916

MLCC Type II tested by resonant sound
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : CARTS EUROPE 98, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182917

1997


Improvement of ultrasonic images on Microassemblies using adapted signal processing techniques
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves ; Allano, Sylvain ; Salagoity, Michel
Dans : IEMT 97, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182919

Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Tregon, Bernard ; Marc, François ; Danto, Yves ; Kertesz, Philippe
Dans : ESREF 97, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181907

Study of Time-Frequency methods for multilayer structures characterization
Dallet, Dominique ; Bechou, Laurent ; Berthoumieu, Yannick ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Acoustic Field, San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182922

The use of impedance spectroscopy, SEM and SAM imaging for early detection of failure in SMT assemblies
Ousten, Yves ; Mejdi, Said ; Fenech, Alain ; Deletage, Jean-Yves ; Bechou, Laurent ; Perichaud, Marie-Genevieve ; Danto, Yves
Dans : 6th International Symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits, (IPFA 97), (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182923

Improving Reliability Evaluation of Electronic Assemblies Using Early Physical and Electrical Indicators
Ousten, Yves ; Ponomarenko, S. ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Mejdi, Said ; Hijazi, A.
Dans : Third ESA Electronic Components Conference, (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182920

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for multilayer ceramic capacitors type II crack detection
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves
Dans : CARTS 97, (Czech Republic)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182918
Communications avec actes (internationales) → 48 Voir

2018


Submicron polymer optical waveguides on CYTOP for visible range operation
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Doucet, Jean-Baptiste ; Laurent, Oyhenart ; Bechou, Laurent ; Dejous, Corinne
Dans : EUROPTRODE, Naples (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720764

2017


Enabling patterning of polymer optical devices working at visible wavelength using thermal nano-imprint lithography
Diez, Miguel ; Raimbault, Vincent ; Joly, Simon ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Nguyen, Chi Thanh ; Ledoux-Rak, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : 19th IEEE Conference Symposium on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS and MOEMS (DTIP 2017), Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01521571

2016


Design and fabrication of polymer-on-glass optical sensors for environmental pollutants detection
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Bechou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : Colloque UMI-LN2, Orfaord (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721145

Design and fabrication of polymer-on-glass optical sensors for environmental pollutants detection
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Nguyen, Chi Thanh ; Ledoux-Rak, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : 8ème Franco-Spanish Workshop IBERNAM-CMC2, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393059

Thermal investigation on high power dfb broad area lasers at 975 nm, with 60% efficiency
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecomte, Michel ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : Photonics West, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01380760

Ba1-xSrxTiO3 (x=0.4) nanoparticles dispersion for 3D integration of decoupling capacitors on glass interposer
Tetsi, Emmanuel ; Philippot, Gilles ; Bord-Majek, Isabelle ; Aymonier, Cyril ; Audet, Jean ; Bechou, Laurent ; Drouin, Dominique
Dans : 6th Electronics System-Integration Technology Conference (ESTC 2016), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01566969

2015


Photothermal activated pellicular failure mechanism in polymer-based packaging of low power InGaN/GaN MQW LED under active storage
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : ESREF, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219195

Monte-carlo computations for predicted degradation of photonic devices in space environment
Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Gilard, Olivier ; Quadri, Gianandrea ; How, L.S.
Dans : 2015 IEEE Aerospace Conference, AERO 2015, Yellowstone (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219189

Correlation between Forward-Reverse Low-Frequency Noise and atypical I-V signatures in 980nm High-Power Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Bechou, Laurent
Dans : ESREF, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219200

Original Screening Methodology based on Correlation betweenLow-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behaviorof GaAs-based Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : CLEO 2015 (Conference on Lasers and Electro-Optics), munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163620

2014


A novel approach on accelerated ageing towards reliability optimization of high concentration photovoltaic cells
A. Tsanakas, John ; Jaffre, Damien ; Sicre, Mathieu ; Elouamari, Rachid ; Vossier, Alexis ; De Salins, Jean-Edouard ; Bechou, Laurent ; Levrier, Bruno ; Perona, Arnaud ; Dollet, Alain
Dans : CPV-10 10th International Conference on Concentrator Photovoltaic Systems, Albuquerque (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01070179

Predictive reliability using FEA simulations of power stacked ceramic capacitors for aeronautical applications
Benhadjala, Warda ; Levrier, Bruno ; Bord-Majek, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Ousten, Yves
Dans : EuroSimE 2014: IEEE International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems, Ghent (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979156

Accurate electro-optical characterization of high power density GaAs-based laser diodes for screening strategies improvement
Del Vecchio, Pamela ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Photonics Europe 2014: Photonics, Optics, Lasers, Micro- and Nanotechnologies, Brussels (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00991556

Prediction of Remaining Useful Life (RUL) of Ball-Grid-Array (BGA) Interconnections during Testing on the Board Level
Gucik-Derigny, David ; Zolghadri, Ali ; Suhir, E. ; Bechou, Laurent
Dans : IEEE Aerospace Conference, Big Sky (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00984636

A model-based prognosis strategy for prediction of Remaining Useful Life of Ball-Grid-Array Interconnections
Gucik-Derigny, David ; Zolghadri, Ali ; Suhir, E. ; Bechou, Laurent
Dans : IFAC World Congress 2014, Cap Town (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00984629

Polymer photonic sensor for integration in a digital microfluidic system
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : MADICA 2014 (9èmes Journées Maghreb-Europe, Les Matériaux et leurs Applications aux Dispositifs et Capteurs), Sousse (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01121483

Long term in-vacuum reliability testing of 980nm Laser Diode Pump Modules for Space Applications
Pedroza, G. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; How, Ls. ; Gilard, O. ; Goudard, Jl ; Laruelle, F.
Dans : IEEE Aerospace Conference, Big Sky (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01022862

Thermomechanical stress analysis of copper/silicon interface in Through Silicon Vias using FEM simulations and experimental analysis
Remili, Z. ; Ousten, Y. ; Levrier, B. ; Mercier, D. ; Suhir, E. ; Bechou, L.
Dans : ESTC 2014 5th Electronics System-Integration Technology Conference, Helsinki (Finland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01067621

2013


OPTIMIST - Optimisation et caractérisations de composants sous agressions environnantes
Amellal, Mohamed ; Amor, Sarrah ; Duchamp, Geneviève ; Ahaitouf, Ali ; Salvestrini, J.P. ; Béchou, Laurent ; Ramdani, Mohamed ; Perdriau, Richard
Dans : TELECOM2013 & 8eme JFMMA, Marrakech (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00844431

Effect of Processing Factors on Dielectric Properties of BaTiO3/Hyperbranched Polyester Core-Shell Nanoparticles
Benhadjala, Warda ; Bord, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Gaud, Vincent ; Ousten, Yves
Dans : The 63rd IEEE Electronic Component and Technology Conference (ECTC), Las Vegas (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00858671

Electro-optical characterizations for robustness assessment of automotive qualified white LEDs multichip modules: failure analysis and packaging influence
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Bechou, L. ; Gasse, A. ; Deshayes, Y. ; Carreau, V.
Dans : ISAL Conference, Darmstadt (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01022723

Electro-optical characterizations for robustness assessment of automotive qualified white LEDs multichip modules: failure analysis and packaging influence
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Gasse, A. ; Bechou, L. ; Deshayes, Y. ; Carreau, V.
Dans : EMPC 2013, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019770

Durability study of a fluorescent optical memory in glass studied by luminescence spectroscopy
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Béchou, Laurent ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219687

2012


Novel Core-Shell Nanocomposite for RF Embedded Capacitors: Processing and Characterization
Benhadjala, Warda ; Bord, Isabelle ; Bechou, Laurent ; Suhir, Ephraïm ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Ousten, Yves
Dans : The 62th Electronic Components ad Technology Conference (ECTC), San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00713850

A simplified and meaningful crack propagation model in silicon for microelectronic power devices
Calvez, Damien ; Roqueta, Fabrice ; Jacques, Sébastien ; Ducret, Samuel ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : 13th IEEE EUROSimE 2012, Lisbon (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00766150

Overview of thermal studies on photonics devices for reliability, robustness and new design
Deshayes, Y. ; Royon, A. ; Baillot, R. ; Bechou, L. ; Canioni, L. ; Petit, Y. ; Cardinal, Th. ; Bord, I. ; Levrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : 18th International Workshop on Thermal investigations of ICs and Systems (THERMINIC), Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786204

Proton irradiation effects on InGaAs/InP Photodiodes for Space Applications
Pedroza, G. ; Boutillier, M. ; How, L.S. ; Bechou, L. ; Nuns, T. ; Arnolda, P. ; Ousten, Y.
Dans : RADECS, Biarritz (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00798135

Probabilistic Design for Reliability (PDfR) and a Novel Approach to Qualification Testing (QT)
Suhir, Ephraim ; Mahajan, Ravi ; Lucero, Alan ; Bechou, Laurent
Dans : IEEE/AIAA Aerospace Conf., Big Sky, Montana (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797407

Thermal stresses in a pre-framed silicon-based photovoltaic module (PVM): How thick should the backsheet be?
Suhir, Ephraim ; Shangguan, Dongai ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Optics+Photonics, Conference 8472 : Reliability of Photovoltaic Cells, Modules, Components and Systems V, San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797387

2011


Optical performances degradation of InGaN/GaN MQW LEDs related to fluorescence shift of copolymer-based silicone coating
Baillot, R. ; Béchou, L. ; Belin, C. ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Absalon, C. ; Babot, O. ; Deshayes, Y. ; Ousten, Y.
Dans : Conférence SPIE Optics & Photonics, San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673972

2010


Effects of silicone coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses
Baillot, R. ; Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Armand, C. ; Voillot, F. ; Sorieul, S. ; Ousten, Y.
Dans : ESREF 2010 - 21st European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Gaeta (Italy)
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00532869

Environmental conditions influence on embedded capacitors - Comparison with discrete capacitors
Ousten, Yves ; Bord, Isabelle ; Blot, Cyril ; Levrier, Bruno ; Bechou, Laurent ; Kertesz, Philippe
Dans : CARTS USA 2010, New Orleans (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00600734

Degradation analysis of individual emitters in 808nm QCW Laser diode array for space applications
Rehioui, O. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T. ; Volluet, G.
Dans : SPIE Photonics West Conference, Conference LASE, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019447

2009


Customized and highly reliable 8-channel phototransistor array for aerospace optical encoder
Bregoli, Matteo ; Maglione, Alfredo ; Franchesci, M. ; Collini, Amos ; Bellutti, Pierluigi ; Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402242

Lifetime distribution estimation of Light emitting diode
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402233

Active pedagogy: A practical experiment at the Institut Universitaire de Technologie Bordeaux
Fremont, H. ; Couturier, G. ; Pellet, C. ; Bechou, L.
Dans : 20th EAEEIE conference, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00577603

Electro-optical Characterizations at the Emitter Level in Stacked Laser Diodes Bars for Space Applications
Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent ; Fillardet, Thierry ; Kohl, Andreas ; Ousten, Yves ; Brousse, E. ; Volluet, Gérard
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402236

Trapped mobile charges effects on electro-optical performances in silicon phototransistors for space applications
Spezzigu, Piero ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, Olivier ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Vanzi, Massimo
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00403233

Strain Estimation in III-V Materials by Analysis of the Degree of Polarization of Luminescence
T. Cassidy, Daniel ; K. Hall, Chadwick ; Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402230

2008


Different Approaches to Packaging Reliability
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frederic ; Deshayes, Yannick ; Levrier, Bruno ; Bord, Isabelle ; Carbonne, Bertrand
Dans : European Electronics Assembly Reliability Summit, TALLINN (Estonia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00335551

Evaluation of static and dynamic performances of silicon-based bipolar phototransistors under radiation
Quadri, Gianandrea ; Gilard, O. ; L. Roux, J. ; Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent ; Vanzi, M. ; Ousten, Yves ; Gibard, D.
Dans : IEEE RADIATION EFFECTS DATA WORKSHOP, Tucson - Arizona (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402614

Benefits of individual emitter electro-optical characterizations in packaged high power Laser diode bars for space applications
Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent ; Fillardet, Thierry ; Kohl, Andreas ; T. Cassidy, Daniel ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Volluet, Gérard
Dans : ICSO CONFERENCE, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402617

Silicon phototransistor reliability assessment and new selection strategies for space applications
Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, Olivier ; Vanzi, Massimo
Dans : SPIE EUROPHOTONICS CONFERENCE, Strasbourg (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402616

2006


Performance and reliability predictions of 1550 nm WDM optical transmission links using a system simulator
Bechou, L. ; Mendizabal, L. ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Deshayes, Y. ; Dumas, Jean-Michel ; Laffitte, D. ; Goudard, J.L. ; Danto, Y.
Dans : SPIE PHOTONICS EUROPE CONFERENCE, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162382

2004


Estimation of lifetime distributions on 1550 nm DFB laser diodes using Monte-Carlo statistic computations
Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Verdier, F. ; Tregon, B. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl. ; Hernandez, Y. ; Danto, Y.
Dans : , ()
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162359

2002


Three-Dimensional FEM Simulations of Thermomechanical Stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Danto, Y. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl.
Dans : IPFA 2002, Singapore (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162362

2001


An improved method for automatic detection and location of defects in electronic components using scanning ultrasonic microscopy
Dallet, Dominique ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Daponte, Pasquale ; Ousten, Yves ; Rapuano, Sergio
Dans : IMTC 2001, Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00568039

1996


Thermomechanical behaviour of ceramic ball grid array based on FEM simulations and experimentations
Delétage, Jean-Yves ; Fenech, Alain ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Salagoity, Michel ; Faure, Christiane ; Rao, S.
Dans : Electronics Manufacturing Technology Symposium, 1996., Nineteenth IEEE/CPMT, Austin (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00385312
Communications sans actes → 49 Voir

2019


Area downsizing effects on electrical performance and robustness of triple junction solar cells for CPV applications
Albert,, Pierre ; jaouad, abdelatif ; Volatier, Maite ; Valdivia, Christopher E. ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Aimez., Vincent ; Darnon, Maxime
Dans : International Symposium on Reliability of Optoelectronics System, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02443117

High-Voltage Low-Current Multijunction Monolithic Interconnected Microcells
Albert, Pierre ; jaouad, abdelatif ; Darnon, Maxime ; Volatier, Maite ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Aimez, Vincent
Dans : 15th Conference on Concentrated PhotoVoltaics Systems, Fes (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02339963

Measurement and Characterization of Quantum Socket based on LGA Inteconnect Solutions at Low Temperature
Ezzouine, Zakaryae ; Danovitch, David ; Bechou, Laurent ; Pioro-Ladriere, Michel ; Lacerte, Michael
Dans : Canadian Graduate Quantum Conference (CGQC), Sherbrooke (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02320581

Ba0.6Sr0.4TiO3 nanocrystals self assembly into thin films for the development of high capacitance Metal-Insulator-Metal (MIM)
Tetsi, Emmanuel ; G., Philippot ; Bord Majek, Isabelle ; Aymonier, C. ; Audet, J. ; LEMIRE, R. ; Bechou, Laurent ; Drouin, Dominique
Dans : Self-Assembly of Colloidal Systems Conference (SACS'18), Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02453589

2018


Imaging based on low-coherence interferometry in the visible spectrum
Acha, M. Bravo ; Robles, R. ; Charette, P. G. ; Bechou, L. ; Sylvestre, J.
Dans : Photonics North, Montreal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02093409

Front-Contacted Multijunction Micro Solar Cells: Fabrication & Characterization
Albert, Pierre ; jaouad, abdelatif ; Darnon, Maxime ; Valdivia, Christopher ; Volatier, Maite ; Deshayes, Yannick ; Hinzer, Karin ; Bechou, Laurent ; Aimez, Vincent
Dans : 14th International Conference on Concentrated PhotoVoltaics Systems, 2018-04-01 (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02339965

Highlighting two integration technologies based on vias: Through Silicon Vias and embedded components into PCB. Strengths and weaknesses for manufacturing and reliability
Balmont, Mickaël ; Bord Majek, Isabelle ; Poupard, B. ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : 29th European Symposium on Relaibility of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2018, Aalborg (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01957288

Trough-Lens-Cone optics with microcell arrays: High efficiency at low cost
Norman, Richard ; Siskavich, Brad ; Fafard, Simon ; Béchou, Laurent ; Arès, Richard ; Aimez, Vincent ; Frechette, Luc
Dans : 14TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON CONCENTRATOR PHOTOVOLTAIC SYSTEMS (CPV-14), Puertollano (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02073363

Spray coating of Ba0.6Sr0.4TiO3 nanoparticles: a low-cost and scalable process for the deposition of dielectric thin films
Tetsi, Emmanuel ; Philippot, Gilles ; Bord Majek, Isabelle ; Aymonier, Cyril ; Audet, Jean ; Lemire, Roxan ; Bechou, Laurent ; Drouin, Dominique
Dans : 44th International Conference on Micro and Nanoengineering (MNE 2018), Copenhague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01957047

Fabrication of High Capacitance Density Capacitor Using Spray Coated Ba0.6Sr0.4TiO3 Thin Films
Tetsi, Emmanuel ; Bord Majek, Isabelle ; Philippot, Gilles ; Aymonier, Cyril ; Lemire, Roxan ; Audet, Jean ; Bechou, Laurent ; Drouin, Dominique
Dans : 2018 IEEE 68th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01885255

2017


Submillimeter Multijunction Solar Cells: Impact of Dimension, Design and Architecture on Electrical Performances
Albert, Pierre ; jaouad, abdelatif ; Darnon, Maxime ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Aimez, Vincent
Dans : 13th International conference on Concentrator Photovoltaic Systems (CPV 13), Otawa (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01716137

Contraintes de pilotage en courant et performances de diodes Laser IR dans des conditions de surintensité et pulsées en régime sub-µs
Bechou, Laurent
Dans : Colloque CESIIUS, Sherbrooke (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719955

Performances and robustness of IR seed Laser diodes under large overcurrent and short-pulse conditions for fiber Laser applications
Galès, Germain Le ; Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : EMN Americas Meetings, Victoria (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719975

Seed laser diodes in pulsed operation: limitations and reliability
Le Gales, Germain ; Joly, Simon ; Giulia, Marcello ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Photonics West, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720741

Thermal management characterization of microassembled high power DFB broad area lasers emitting at 975 nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecompte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : 2017 IEEE High Power Diode Laser and Systems, coventry (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01716140

Thermal Management Characterization of Microassemblied High Power Distributed-Feedback Broad Area Lasers Emitting at 975nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecompte, Michel ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : Advanced optical components and modules - 2017 IEEE 67th ECTC, San diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01716130

2016


La fiabilité construite : Application à la photonique
Bechou, Laurent
Dans : COLLOQUE LN2, Sherbrooke (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719929

Failure analysis of laser crystals by their electrical characterization under high pump power density
Bolanos, Western ; Joly, Simon ; Manek-Hönninger, Inka ; Delagnes, Jean-Christophe ; Cormier, Eric ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick
Dans : Optique Bordeaux, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721120

Design and fabrication of polymer-on-glass grating couplers for biosensing application
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : Optique Bordeaux 2016, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393057

Design and fabrication of polymer-on-glass grating couplers for biosensing application
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : Euroregional Campus of International Excellence Euskampus – Bordeaux, 2nd workshop « Laser & Photonics », Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393056

Imagerie multispectrale résolue en temps : Application à l'analyse de défauts ponctuels dans un matériau
Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : Workshop : " Fiabilité des LEDs et Lasers ", Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721165

Time-resolved multispectral imaging: application to the characterization of photonic devices
Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : Symposium LAPHIA, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721135

Seed laser diodes in pulsed operation: limitations and reliability investigations
Le Gales, Germain ; Giulia, Marcello ; Joly, Simon ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : Optique Bordeaux, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721126

1060nm seed laser diodes in pulsed operation: performances and safe operating area
Le Gales, Germain ; Giulia, Marcello ; Joly, Simon ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Darracq, Frederic ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS 2016, Otwock (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720731

Analysis of optical responses of 1060nm seed laser diodes under overcurrent and short-pulse conditions for reliability investigations
Le Galès, G. ; Joly, S. ; Pedroza, G. ; Morisset, A. ; Laruelle, F. ; Bechou, L.
Dans : SPIE Photonics Europe, Brussels (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720697

Column-Grid-Array (CGA) Technology: Could Lead to a Highly Reliable Package Design ?
Suhir, Ephraim ; Ghaffarian, R. ; Bechou, Laurent ; Nicolics, Johann
Dans : 37th IEEE AEROSPACE AIAA CONFERENCE, Big Sky (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719903

Bow-Free Electronic Assembly: Predicted Stresses in Its Components and Embedded Devices
Suhir, Ephraim ; Nicolics, Johann ; Bechou, Laurent
Dans : 37th IEEE AEROSPACE AIAA CONFERENCE, Big Sky (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719899

Ba<inf>1−x</inf>Sr<inf>x</inf>TiO<inf>3</inf> (x =0.4) nanoparticles dispersion for 3D integration of decoupling capacitors on glass interposer
Tetsi, E. ; Philippot, G. ; Majek, I. Bord ; Aymonier, C. ; Audet, J. ; Bechou, L. ; Drouin, D.
Dans : 2016 6th Electronic System-Integration Technology Conference (ESTC), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02074288

An extended model for optical gain calculations in single-mode Laser diodes, International Symposium on Reliability of Optoelectronics for Systems
Vanzi, Massimo ; Giulia, Marcello ; Mura, Giovanna ; Le Gales, Germain ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS 2016, Otwok (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720721

2015


Hybrid materials for packaging
Bord-Majek, Isabelle ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Leti Days, D43D-C2MI, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01195940

Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : CLEO/EUROPE, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721054

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
Dans : Conférence Prix Nobel 2014, Pau (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01177128

Digital microfluidic system incorporating optical ring resonator for trace-level hexavalent chromium ions detection
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Conédéra, Véronique ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : Journée CMC2 « Intégration du Matériau au Système de détection chimique résonant », Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01312736

Scanning acoustic microscopy and shear wave imaging mode performances for failure detection in high-density microassembling technologies
Remili, Z. ; Ousten, Y. ; Levrier, B. ; Suhir, E. ; Bechou, L.
Dans : 2015 IEEE 65th Electronic Components and Technology Conference (ECTC), San Diego (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719760

2014


Accurate electro-optical characterization of high power density GaAs-based laser diodes for screening strategies improvement
Del Vecchio, Pamela ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : Colloque UMI-LN2, Allevard-Les-Bains (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721178

Les LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
Dans : Conférences sur le sujet du prix Nobel de physique 2014, Pessac (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01095556

Thermal and thermomechanical management of microassemblied high power thin-disk laser: a parametric study
Joly, Simon ; Lemesre, Marc Antoine ; Levrier, Bruno ; Lyszyk, Caroline ; Courjaud, Antoine ; Taira, Takunori ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721102

Novel metal ions sensor using uncoated polymer optical microring resonator for environmental applications
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : Symposium LAPHIA, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01312737

2012


Optoélectronique des fibres et télécoms
Bechou, Laurent
Dans : 9ème Rencontres Régionales du Réseau des Electroniciens et Instrumentalistes de la Délégation CNRS Aquitaine-Limousin/Poitou-Charentes, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019473

Intégration de la fiabilité dès la conception du composant : Application aux approches Top-down et Bottom-up
Bechou, L. ; Verdier, F. ; Ousten, Y.
Dans : Journée IMAPS, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786235

Modèle prédictif Simplifié de Propagation de Fissure dans les Puces en Silicium de Composants de Puissance
Calvez, Damien ; Roqueta, Fabrice ; Jacques, Sébastien ; Ducret, Samuel ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IMAPS Journée Puissance 2012, Tours (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00766157

Eclairage Automobile: Les conséquences de l'intégration de DEL blanches de puissance sur la stratégie des tests de fiabilité
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Bechou, L. ; Carreau, V. ; Deshayes, Y. ; Gasse, A.
Dans : Journée IMAPS, Tours (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786240

2011


OpERaS : un nouveau consortium pour l'évaluation de la fiabilité de dispositifs optoélectroniques et photoniques dédiés à l'environnement spatial
Bechou, L. ; How, L.S. ; Rosala, F. ; Guibaud, G. ; Gilard, O. ; Quadri, Gianandrea ; Ousten, Y.
Dans : Journées du Club Optique et Microonde, Rennes (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673559

BaTiO3/polymer hybrid nanoparticles for embedded capacitor applications
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Marie-Curie Symposium, Warsaw (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00714031

2010


Improvement of Stacked High Power Laser Diodes bars by Individual Emitter Characterization
Rehioui, O. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T.
Dans : HEC-DPSSL 6th Workshop, High Energy Class Diode Pumped Solid State Lasers (organized by LULI and IOGS), Versailles (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01022734

2007


Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deshayes, Y. ; Mendizabal, L. ; Verdier, F.
Dans : 7ème JNRDM 2004, Marseille-France, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162364

2006


Impact of radiation effects on AlGaAs/GaAs, InGaN/GaN and AlGaInP/GaP packaged light emitting diodes for space applications
Gilard, O. ; Bechou, L. ; Kurz, B. ; Rehioui, O. ; Bourqui, M.L. ; Campillo, D. ; Deshayes, Y. ; Quadri, Gianandrea
Dans : RADECS 2006 WORKSHOP, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162386

1999


Caractérisation d interfaces Cu/Al2O3 par un système d analyse ultrasonore
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Rachidi, Omar ; Lucat, Claude
Dans : Journée « Couches épaisses pour électrocéramiques », (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182873

1998


Time frequency methods for multilayer structures characterization
Bechou, Laurent ; Dallet, Dominique ; Berthoumieu, Yannick ; Ousten, Yves
Dans : International Workshop on Advanced Mathematical Methods in Electrical and Electronic Measurements, Milan (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182872
Conférences invitées → 9 Voir

2016


Resonant wave-based microsensors for environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier ; BAHOUMINA, Prince ; Diez, Miguel ; MEZIANE, Farida ; Nikolaou, Ioannis
Dans : 8ème Franco-Spanish Workshop IBERNAM-CMC2, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393043

2014


Overview on reliability investigation on LEDs devices
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Belin, Colette ; Buffeteau, Thierry ; Pianet, Isabelle ; Absalon, Christelle ; Deshayes, Yannick
Dans : Reliability of LED, Jongly (Taiwan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219888

2013


Performances and reliability predictions of optical data transmission links using a system simulator for aerospace applications
Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Guerin, Alexandre ; Tronche, Christian
Dans : Aerospace Conference, 2013 IEEE, à Big Sky (Montana) (United States)
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00917358

Overview of thermal studies on photonics devices for reliability, robustness and new design
Deshayes, Y. ; Royon, A. ; Baillot, R. ; Béchou, L. ; Canioni, L. ; Petit, Y. ; Cardinal, Th. ; Bord, I. ; Levrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : Winter conference Laphia - CREOL, Orlando (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019130

2011


Methodology of failure analysis applied to packaged LEDs
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Belin, Colette ; Buffeteau, Thierry ; Pianet, Isabelle ; Absalon, Christelle ; Ousten, Yves
Dans : ICMAT, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00600570

Reliability assessment of optoelectronic and photonic devices in severe environments: architecture and applications of the OpERaS consortium
Bechou, L. ; Spezzigu, P.
Dans : QCA Day ESTEC / ESA, (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673563

2009


OpERaS : A new consortium for reliability investigations of optoelectronic and photonic devices dedicated to space environments
Bechou, L. ; Rosala, F. ; Guibaud, G. ; Ousten, Y.
Dans : Colloque National "L'innovation à la croisée des savoirs : les enjeux interdisciplinaires à l'Université de Bordeaux", Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019413

Overview of light emitting diodes: Reliability estimation from the junction to the packaging
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : INTERCONEX 2009 - IMAPS FRANCE, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01223382

2006


Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier
Huyghe, S. ; Bechou, L. ; Zerounian, N. ; Deshayes, Y. ; Aniel, F. ; Denolle, A. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl ; Danto, Y.
Dans : IPFA 2006, Singapore, IEEE Catalog No: 06TH8872, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162384
Chapitres d'ouvrages scientifiques → 2 Voir

2008


Chapitre 7 : Modélisation - Fiabilité
Ousten, Y. ; Deshayes, Y. ; Bechou, L.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334737

2005


Three-Dimensional Techniques for FEM Simulations in Laser Modules and their Applications
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182867
Preprint, Working Paper, Document sans référence, etc. → 7 Voir

2017


IMS Bordeaux : Wave-based resonant microsensors for (bio)chemical detection, environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01516416

IMS Bordeaux : Wave-based resonant microsensors for (bio)chemical detection, environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01516415

2016


Photonics and Aeronautics: A wedding with a promising future – Physics of Failure and Reliability Assessment of Photonic Devices and Systems
Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719964

IMS Bordeaux: Wave-based resonant microsensors for chemical and biological detection, examples of environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393046

IMS Bordeaux: Wave-based resonant microsensors for chemical and biological detection, examples of environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393045

Achieving a 60% Efficient Laser Diode Design With Optimized Thermal Management
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Béchou, Laurent ; Lecomte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01402314

Photonics & Aeronautics: a wedding with a promising future
Mounaix, Patrick ; Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404480
Ouvrages scientifiques → 2 Voir

2017


Fiabilité des LED infrarouges : méthodologie d’évaluation par la physique des défaillances
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01711168

2016


Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01380736
Rapport de recherche → 11 Voir

2015


Spécification technique des besoins - Module LED
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Bord-Majek, Isabelle ; Consonni, Marianne ; Deshayes, Yannick ; Adrien, Gasse
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01222174

2014


Caractérisation de diode Laser de pompe 980 nm T1.1
Del Vecchio, Pamela ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096120

Caractérisation de diode Laser de pompe 14xx nm T1.2
Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096123

2013


Etude du comportement atypiques de diode lasers pour les télécoms
Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096100

2011


Resultats de vieillissements accélérés de diode électrolumnescentes pour applications spatiales (Projet COROT)
Baillot, Raphael ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096089

2007


Analyse du comportement sous radiations de photodiodes Si et InGaAs utilisées en environnement spatial
Bourqui, Marie-Lise ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096088

2006


Essais de fiabilité sur LEDs Hamamatsu (projet DECLIC)
Bechou, Laurent ; Rehioui, Othman ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096086

2004


Simulations génériques des étapes de fabrication et des phases de vieillissement par simulateur ANSYS® d'un système complet optoélectronique
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Danto, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096068

Analyse de la fiabilité de filières technologiques de diodes électroluminescentes pour des applications spatiales : synthèse bibliographique (technologies AlGaAs/GaAs, AlGaInP/GaP, InGaN/GaN)
Rehioui, Othman ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Danto, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096080

2002


Etude thermomécanique des têtes optiques LMI 1550 nm – Validations expérimentales des simulations
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096011

2001


Etude thermomécanique des têtes optiques LMI 1550 nm – Evaluation technologique
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096004