Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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Soutenance de thèse Laurine CUROS - 13 avril 2022

Laurine CUROS soutiendra sa thèse, le 13 avril 2022, à 10h, dans l'Amphi JP.DOM du Laboratoire IMS, sur le sujet : "Modélisation comportementale des effets de destruction d’alimentations d’équipements électroniques soumises à des impulsions électriques conduites de forts niveaux".

Résumé :

Les interférences ÉlectroMagnétiques (EM) intentionnelles intenses telles que les Impulsions ÉlectroMagnétiques d’origine Nucléaire à Haute Altitude (IEMN-HA) sont capables de générer des perturbations électriques transitoires, analogues à celles produites par la foudre, se propageant sur les réseaux de distribution en électricité jusqu’aux alimentations des équipements électroniques. Plusieurs études existent déjà et ont montré les effets destructeurs de ces impulsions de courant sur les équipements électroniques, mais très peu de ces études se sont intéressées à la compréhension fine des phénomènes à l’origine de ces destructions. Pourtant, la compréhension poussée des mécanismes de destruction des alimentations est la clef indispensable pour prédire les défaillances. Dans cette démarche, les travaux de recherche, aussi bien expérimentaux que théoriques, sont mis en oeuvre dans le but de prédire, en utilisant la simulation numérique, les effets des impulsions électromagnétiques intenses sur des alimentations électroniques. Les travaux réalisés ont permis d’élaborer un scénario complet de destruction d’une alimentation électronique ainsi que de déterminer les principaux modes conduisant à la défaillance de chacun des composants sensibles de l’alimentation. En associant les modèles de défaillance des différents composants, nous sommes capables, par la suite, de simuler le scénario proposé et donc de prévoir par la simulation les effets de destruction induits par l’injection d’une impulsion de courant de fort niveau sur des alimentations d’équipements électroniques.

Mots clés :

IEMN-HA, alimentation à découpage, destruction, défaillance de composant, modèle comportemental, VHDL-AMS, modélisation.

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