LASER and Terahertz Test Team

Overview

Laser & terahertz Test Team is member of IMS Lab (nanoelectronics group). 

The activity of the team "Test laser beam of integrated circuits and electronic systems" is to create and use optical analysis techniques, laser and terahertz, for the diagnosis of microelectronic objects. Among the techniques we find three specific fields of application: Analysis of sensitivity to radiation effects, fault detection and fault injection.

The analysis of sensitivity to radiation effects is treated by simulating the effect of a direct ionizing particle (space heavy ions, protons atmospheric) or indirect (atmospheric neutrons) by replacing the particle by an ultrashort laser pulse. The advantage of laser is that you can precisely locate in the space (micrometer resolution) and time (picosecond resolution) the ionizing effect. It is therefore possible to identify sensitive areas to allow the hardening of components or systems to sensitive application (aerospace, ground transportation, ....). Each sensitive area can be defined by volume and over a time window of operation.

The detection of faults within the integrated circuit failure analysis. Optical techniques (photon emission) laser (OBIC, OBIRCH LVP, ltem) and terahertz (EOPTR) allow the use of different types of interaction with the system for accurate detection of a defect (crack , amorphization of the semiconductor, short-circuit, open circuit). This step is necessary for analysis of physical implementation to identify the nature of the defect.

The fault injection the evaluation of the robustness of the secure circuits. This injection can be done by sending a laser beam at different points of the chip or a terahertz wave broad spectrum of the component.

The different techniques used are types of 'pump' (disruption of the functioning of the circuit by creating free charges), "probe" (analysis of the laser beam after passing through the substrate and reflection on the different interfaces, without disturbing the operation of the circuit ) and "pump-probe" (induction of a disturbance laser and analyzing the consequences of this disturbance by laser or terahertz wave).

All the components and materials used in microelectronics and optoelectronics are addressed by this activity.

The team's activity is based on the experimental platform ATLAS (developed thanks to the support of the Aquitaine region) as well as means of electrical and TCAD simulations.

Due to its action research, the team has participated in the implementation of techniques laser in industry and the establishment of the company PULSCAN.

The main collaborations of the team are the following partners: CNES, ESA, ONERA, Airbus Group, TRAD, ST Microelectronic, SERMA technology, ATMEL, Naval Research Laboratory (USA), Vanderbilt University (USA), Centre for Integrated Circuit Failure Analysis and Reliability (Singapore).

 
Members
Dean LEWIS, PR, Frédéric DARRACQ, MCF Responsable de la plateforme ATLAS Jean-Paul GUILLET, MCF Frédéric FAUQUET, Ingénieur d'étude CNRS Pascal FOUILLAT, PR Patrick MOUNAIX, DR CNRS Responsable d'équipe
     
Joyce BOU SLEIMAN, Doctorante Amel ALIBADI, Doctorante Jean Baptiste PERRAUD, Doctorant      

Skills
2016

2016 01 28 111803

 

Publications

Total : 378

Articles in peer-reviewed journal → 125 Show

2019


Iterative Tree Algorithm to Evaluate Terahertz Signal Contribution of Specific Optical Paths within Multi-Layered Materials
Cassar, Quentin ; Chopard, Adrien ; Fauquet, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Pan, Mingming ; Perraud, Jean-Baptiste ; Mounaix, Patrick
Dans : IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335825

Terahertz Spectroscopy and Quantum Mechanical Simulations of Crystalline Copper-Containing Historical Pigments
Kleist, Elyse ; Koch Dandolo, Corinna ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Korter, Timothy
Dans : Journal of Physical Chemistry A
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02009689

Scanning laser terahertz near-field reflection imaging system
Okada, Kosuke ; Serita, Kazunori ; Zang, Zirui ; Murakami, Hironaru ; Kawayama, Iwao ; Cassar, Quentin ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Tonouchi, Masayoshi
Dans : Applied Physics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02347269

Shape-from-focus for real-time terahertz 3D imaging
Perraud, J.-B. ; Guillet, J.-P. ; Redon, O. ; Simoens, F. ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Letters
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02009683

Ex Vivo Breast Tumor Identification: Advances Toward a Silicon-Based Terahertz Near-Field Imaging Sensor
Pfeiffer, Ullrich ; Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Bucher, Thomas ; Cassar, Quentin ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Microwave Magazine
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335761

Multimodal Optical Diagnostics of Glycated Biological Tissues
Smolyanskaya, O. ; Lazareva, E. ; Nalegaev, S. ; Petrov, N. ; Zaytsev, K. ; Timoshina, P. ; Tuchina, D. ; Toropova, Ya. ; Kornyushin, O. ; Babenko, A. Yu. ; Guillet, J.-P. ; Tuchin, V.
Dans : Биохимия / Biochemistry
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02342804

2018


Pilot study of freshly excised breast tissue response in the 300 – 600 GHz range
Cassar, Quentin ; Al-Ibadi, Amel ; Mavarani, Laven ; Hillger, Philipp ; Grzyb, Janusz ; Macgrogan, Gaetan ; Zimmer, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : Biomedical optics express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923517

Terahertz frequency modulated continuous wave imaging advanced data processing for art painting analysis
Dandolo, Corinna ; Guillet, Jean-Paul ; Ma, Xue ; Fauquet, Frederic ; Roux, Marie ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Express
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01718044

Terahertz pulse time-domain holography method for phase imaging of breast tissue
Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Forster, Wolfgang ; Heinemann, Bernd ; Macgrogan, Gaetan ; Mounaix, Patrick ; Zimmer, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich
Dans : IEEE Journal of Solid-State Circuits
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335929

NearSense – Advances Towards a Silicon-Based Terahertz Near-Field Imaging Sensor for Ex Vivo Breast Tumour Identification
Mounaix, Patrick ; Mavarani, Laven ; Hillger, Philipp ; Bucher, Thomas ; Grzyb, Janusz ; Cassar, Quentin ; Al-Ibadi, Amel ; Zimmer, Thomas ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Pfeiffer, Ullrich
Dans : Frequenz
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01745775

Terahertz biophotonics as a tool for studies of dielectric and spectral properties of biological tissues and liquids
Smolyanskaya, O.A. ; Chernomyrdin, N.V. ; Konovko, A.A. ; Zaytsev, I. ; Ozheredov, I. ; Guillet, Jean-Paul ; Cherkasova, P. ; Nazarov, M.M. ; Kozlov, S.A. ; Kistenev, Yu. ; Coutaz, J.-L. ; Mounaix, P. ; Vaks, V.L. ; Son, H. ; Cheon, H. ; Wallace, V.P. ; Feldman, Yu. ; Popov, I. ; Yaroslavsky, A.N. ; Shkurinov, A.P. ; Tuchin, V.V.
Dans : Progress in Quantum Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923488

2017


Une « Mallette Scan Champ Proche » pour l’enseignement de la compatibilité électromagnétique
Dubois, Tristan ; Guillet, J-P. ; Duchamp, G. ; Tomas, J.
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01698515

Art Painting Diagnostic Before Restoration with Terahertz and Millimeter Waves
Guillet, Jean-Paul ; Roux, M. ; Wang, K. ; Ma, Xue ; Fauquet, F. ; Balacey, H. ; Recur, B. ; Darracq, F. ; Mounaix, P.
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01437051

TCAD simulation capabilities towards gate leakage current analysis of advanced AlGaN/GaN HEMT devices
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01625567

2D and 3D Terahertz Imaging and X-Rays CT for Sigillography Study
Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, F. ; Balacey, H. ; Recur, B. ; Darracq, F. ; Fabre, M. ; Bassel, L. ; Bou Sleiman, J. ; Perraud, J.-B.
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653623

Study of blood plasma optical properties in mice grafted with Ehrlich carcinoma in the frequencyrange 0.1–1.0 THz
Olga, Smolyanskaya ; Mikhail, Khodzitsky ; Cherkasova, A. V. ; Evgeniy, Odlyanitskiy ; Kravtsenyuk, O ; Guillet, J.P.
Dans : Quantum Electronics
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01660495

2016


Advanced Processing Sequence for 3-D THz Imaging
Balacey, Hugo ; Recur, Benoit ; Perraud, Jean-Baptiste ; Sleiman, Joyce ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390881

Automatic process for time-frequency scan of VLSI
Boscaro, Anthony ; Jacquir, Sabir ; Melendez, Kevin ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Binczak, Stéphane
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01465737

Splitting of magnetic dipole modes in anisotropic TiO2 micro-spheres
Khromova, Irina ; Kužel, Petr ; Brener, Igal ; Reno, John L. ; Chung Seu, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mounaix, Patrick ; Mitrofanov, Oleg
Dans : Laser and Photonics Reviews
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01370336

Intrinsic Properties of Anisotropic Dielectric Micro-Resonators Obtained through Near-Field Terahertz Spectroscopy
Mounaix, Patrick ; Khromova, Irina ; Kuzel, P. ; Brener, Igal ; Reno, John L. ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mitrofanov, Oleg
Dans : Conference on Lasers and Electro-OpticsConference on Lasers and Electro-Optics, OSA Technical Digest (online) (Optical Society of America, 2016)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390953

Liquid index matching for 2D and 3D terahertz imaging
Perraud, J. B. ; Bou Sleiman, J. ; Recur, B. ; Balacey, H. ; Simoens, F. ; Guillet, J. P. ; Mounaix, P.
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01394023

Terahertz imaging and tomography as efficient instruments for testing polymer additive manufacturing objects
Perraud, Jean Baptiste ; obaton, anne françoise ; Bou-Sleiman, Joyce ; Recur, Benoit ; Balacey, Hugo ; Darracq, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390875

Bulk magnetic terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
Sindler, Michal ; Kadlec, C. ; Dominec, Filip ; Kuzel, P. ; Elissalde, Catherine ; Kassas, Ahmad ; Lesseur, Julien ; Bernard, Dominique ; Mounaix, Patrick ; Nemec, H.
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390868

Bulk magnetic terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
Sindler, Michal ; Kadlec, Christelle ; Dominec, Filip ; Kužel, Petr ; Elissalde, Catherine ; Kassas, Ahmad ; Lesseur, Julien ; Bernard, Dominique ; Mounaix, Patrick ; Němec, Hynec
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01373166

2015


Room temperature Si–Ti thermopile THz sensor
Ben Mbarek, Sofiane ; Euphrasie, Sébastien ; Baron, Thomas ; Thiery, Laurent ; Vairac, Pascal ; Briand, Danick ; Guillet, Jean-Paul ; Chusseau, Laurent
Dans : Microsystem Technologies
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01634975

Quantitative Analysis of Hexahydro-1,3,5-trinitro-1,3,5, Triazine/Pentaerythritol Tetranitrate (RDX–PETN) Mixtures by Terahertz Time Domain Spectroscopy
Bou Sleiman, Joyce ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied Spectroscopy
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263720

Low-frequency noise effect on terahertz tomography using thermal detectors.
Guillet, Jean-Paul ; Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Darracq, F. ; Lewis, Dean ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263737

A way to implement the electro-optical technique to inertial MEMS
Melendez, K ; Desmoulin, A ; , ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264066

2014


A comprehensive study of the application of the EOP techniques on bipolar devices
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Elise, Bernou ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091179

Ordered subsets convex algorithm for 3D terahertz transmission tomography
Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, Jean-Baptiste ; Guillet, Jean-Paul ; Kingston, Andrew ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01066999

Heavy Ion SEU Cross Section Calculation Based on Proton Experimental Data, and Vice Versa
Wrobel, Frédéric ; Touboul, Antoine ; Pouget, Vincent ; Dilillo, Luigi ; Ecoffet, Robert ; Lorfèvre, Eric ; Bezerra, Francoise ; Brugger, Markus ; Saigné, Frédéric
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234461

Determining Realistic Parameters for the Double Exponential Law that Models Transient Current Pulses
Wrobel, Frédéric ; Dilillo, Luigi ; Touboul, Antoine ; Pouget, Vincent ; Saigné, Frédéric
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234429

2013


La cobotique. La robotique soumise.
Claverie, Bernard ; Le Blanc, Benoît ; Fouillat, Pascal
Dans : Communication & Organisation (GREC/O)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01014650

Negative Bias Temperature Instability Effect on the Single Event Transient Sensitivity of a 65 nm CMOS Technology
El Moukhtari, Issam ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Larue, Camille ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880480

Impact of negative bias temperature instability on the single-event upset threshold of a 65 nm SRAM cell
El Moukhtari, Issam ; Pouget, Vincent ; Larue, Camille ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880459

Variants at multiple loci implicated in both innate and adaptive immune responses are associated with Sjögren's syndrome.
Lessard, Christopher J ; Li, He ; Adrianto, Indra ; Ice, John A ; Rasmussen, Astrid ; Grundahl, Kiely M ; Kelly, Jennifer A ; Dozmorov, Mikhail G ; Miceli-Richard, Corinne ; Bowman, Simon ; Lester, Sue ; Eriksson, Per ; Eloranta, Maija-Leena ; Brun, Johan G ; Gøransson, Lasse G ; Harboe, Erna ; Guthridge, Joel M ; Kaufman, Kenneth M ; Kvarnström, Marika ; Jazebi, Helmi ; Graham, Deborah S Cunninghame ; Grandits, Martha E ; Nazmul-Hossain, Abu N M ; Patel, Ketan ; Adler, Adam J ; Maier-Moore, Jacen S ; Farris, A Darise ; Brennan, Michael T ; James, James ; James, Judith A ; Gopalakrishnan, Rajaram ; Hefner, Kimberly S ; Houston, Glen D ; Huang, Andrew J W ; Hughes, Pamela J ; Lewis, David M ; Radfar, Lida ; Rohrer, Michael D ; Stone, Donald U ; Wren, Jonathan D ; Vyse, Timothy J ; Gaffney, Patrick M ; Omdal, Roald ; Wahren-Herlenius, Marie ; Illei, Gabor G ; Witte, Torsten ; Jonsson, Roland ; Rischmueller, Maureen ; Rönnblom, Lars ; Nordmark, Gunnel ; Ng, Wan-Fai ; Mariette, Xavier ; Anaya, Juan-Manuel ; Rhodus, Nelson L ; Segal, Barbara M ; Scofield, R Hal ; Montgomery, Courtney G ; Harley, John B ; Sivils, Kathy L ; Lessard, He ; Cunninghame Graham, Deborah S
Dans : Nature Genetics
https://hal.univ-brest.fr/hal-01558145

Characterization and modeling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
Mbaye, Nogaye ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880471

2012


Building the electricalmodel of the PhotoelectricLaserStimulation of a PMOS transistor in 90 nm technology
Alexandre, Sarafianos ; Llido, R. ; Dutertre, Jean-Max ; Gagliano, Olivier ; Serradeil, Valérie ; Lisart, Mathieu ; Goubier, V. ; Tria, Assia ; Pouget, Vincent ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742622

Comparison of Single Event Transients Generated at Four Pulsed-Laser Test Facilities-NRL, IMS, EADS, JPL
Buchner, S. ; Roche, Nicolas Jean-Henri ; Warner, J. ; Mcmorrow, D. ; Miller, F. ; Morand, S. ; Pouget, V. ; Larue, C. ; Ferlet-Cavrois, V. ; El Mamouni, F. ; Kettunen, Heikki ; Adell, P. C. ; Allen, G. ; Aveline, David
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01633618

Investigation on the Single Event Burnout Sensitive Volume Using Two-Photon Absorption Laser Testing
Darracq, Frédéric ; Mbaye, Nogaye ; Azzopardi, Stephane ; Pouget, Vincent ; Lorfèvre, E. ; Bezerra, F. ; Lewis, Dean
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00772095

Coupling and propagation of Sommerfeld waves at 100 and 300 GHz
Guillet, Jean-Paul ; Chusseau, Laurent
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091187

Effects of 1064 nm laser on MOS capacitor
Llido, R. ; Masson, P. ; Regnier, V. ; Goubier, V. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988338

Building the electrical model of the Photoelectric Laser Stimulation of a PMOS transistor in 90nm technology
Sarafianos, A ; Llido, R ; Gagliano, O ; Serradeil, V ; Lisart, M ; Goubier, V ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, A ; Pouget, V ; Lewis, D
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01110360

2011


Time Resolved Imaging: From logical states to events, a new and efficient pattern matching method for VLSI analysis
Bascoul, G. ; Perdu, Philippe ; Benigni, A. ; Dudit, Sylvain ; Celi, Guillaume ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669825

LVI detection on passive structure in advance CMOS technology: New opportunities for device analysis
Celi, Guillaume ; Dudit, Sylvain ; Parassin, T. ; Perdu, Philippe ; Reverdy, Antoine ; Lewis, D. ; Vallet, M.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669760

L'évolution disciplinaire des sciences de l'information : des technologies à l'ingénierie des usages
Claverie, Bernard ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue Internationale de Projectique -­ International Journal of Projectics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669468

Investigation on the SEL Sensitive Depth of an SRAM Using Linear and Two-Photon Absorption Laser Testing
Faraud, Emeric ; Pouget, V. ; Shao, Kai ; Larue, Camille ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Samaras, A. ; Bezerra, F. ; Lorfèvre, E. ; Ecoffet, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667336

Magnetic field spatial Fourier analysis: A new opportunity for high resolution current localization
Infante, Fulvio ; Perdu, Philippe ; Kor, H.B ; Gan, C. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669757

Photoelectric Laser Stimulation applied to Latch-Up phenomenon and localization of parasitic transistors in an industrial failure analysis laboratory
Llido, R. ; Gomez, J. ; Goubier, V. ; Froidevaux, N. ; Dufayard, L. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669826

3D knife-edge characterization of two-photon absorption volume in silicon for integrated circuit testing
Shao, Kai ; Morisset, Adèle ; Pouget, V. ; Faraud, Emeric ; Larue, Camille ; Lewis, D. ; Mcmorrow, D.
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667432

2010


Facing the defect characterization and localization challenges of bridge defects on submicronic technology (45nm and below)
Celi, Guillaume ; Dudit, Sylvain ; Perdu, Philippe ; Reverdy, Antoine ; Parrassin, Thierry ; Bechet, Emmanuel ; Lewis, Dean ; Vallet, Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585642

CADless laser assisted methodologies for failure analysis and device reliability
Deyine, Amjad ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Battistella, F. ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988334

Magnetic microscopy for ground plane current detection: a fast and reliable technique for current leakage localization by means of magnetic simulation
Infante, F. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585644

Compact modeling of optically gated carbon nanotube field effect transistor
Liao, Si-Yu ; Maneux, Cristell ; Pouget, Vincent ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : physica status solidi (b)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00495144

2009


Pervasion, transparence et cognition augmentée
Claverie, Bernard ; Lespinet-Najib, Véronique ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue des Interactions Humaines Médiatisées (RIHM) = Journal of Human Mediated Interactions
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983269

A New Technique for SET Pulse Width Measurement in Chains of Inverters Using Pulsed Laser Irradiation
Ferlet-Cavrois, V. ; Mcmorrow, D. ; Kobayashi, D. ; Melinger, J. ; Schwank, J.R ; Gaillardin, M. ; Pouget, V. ; Essely, Fabien ; Baggio, J. ; Girard, Sébastien ; Flament, O. ; Paillet, Philippe ; Flores, R. ; Dodd, P.E. ; Shaneyfelt, M.R. ; Hirose, K. ; Saito, H.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669755

Electrical modeling of the effect of beam profile for pulsed laser fault injection
Godlewski, C. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Lisart, Mathieu
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669736

Net integrity checking by optical localization techniques
Haller, Gerald ; Machouat, A. ; Lewis, D. ; Pouget, V.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669741

A CMOS Resizing Methodology for Analog Circuits: linear and non-linear applications
Levi, Timothée ; Tomas, Jean ; Lewis, Noëlle ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Design & Test
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00359990

Accelerated Irradiation Method to Study Synergy Effects in Bipolar Integrated Circuits
Roche, Nicolas Jean-Henri ; Gonzalez Velo, Yago ; Dusseau, Laurent ; Boch, Jérôme ; Vaillé, Jean-Roch ; Saigné, Frédéric ; Azais, Bruno ; Auriel, GÉrard ; Lorfèvre, Eric ; Pouget, Vincent ; Buchner, Stephen P. ; David, Jean-Pierre ; Marec, Ronan ; Calvel, Philippe
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01631440

2008


Investigation of the Propagation Induced Pulse Broadening (PIPB) Effect on Single Event Transients in SOI and Bulk Inverter Chains
Cavrois, V.F ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Schwank, J.R ; Fel, N. ; Essely, Fabien ; Flores, R. ; Paillet, P. ; Gaillardin, M. ; Kobayashi, D. ; Melinger, J. ; Duhamel, O. ; Dodd, P.E. ; Shaneyfelt, M.R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397995

Investigation of Single-Event Transients in Linear Voltage Regulators
Irom, F. ; Miyahira, T.F ; Adell, P. ; Laird, J.S ; Conder, B. ; Pouget, Vincent ; Essely, Fabien
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397996

Study of Single Event Transients in High-Speed Operational Amplifiers
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397747

Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401309

Evaluation of Recent Technologies of Nonvolatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, V. ; Darracq, Frédéric ; David, J.P ; Soonckindt, S.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667419

Evaluation of Recent Technologies of Nonvolatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; David, J.P. ; Soonckindt, S.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327362

Laser-Induced Current Transients in Silicon-Germanium HBTs
Pellish, J.A ; Reed, R. ; Mcmorrow, D. ; Melinger, J. ; Jenkins, P. ; Sutton, A. ; Diestelhorst, R. ; Phillips, S. ; Cressler, J. ; Pouget, Vincent ; Pate, N. ; Kozub, J. ; Mendehall, M. ; Weller, R. ; Schrimpf, R.D. ; Marshall, P. ; Tipton, A. ; Niu, G.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397926

Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs
Sienkiewicz, Magdalena ; Perdu, Philippe ; Firiti, Abdellatif ; Sanchez, Kevin ; Crepel, Olivier ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401312

2007


Investigation of a new method for dopant characterization
Adrian, J. ; Rodriguez, N. ; Essely, F. ; Haller, G. ; Grosjean, C. ; Portavoce, A. ; Girardeaux, Christophe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02044994

Investigation of a new method for dopant characterization
Adrian, J. ; Rodriguez, N. ; Essely, F. ; Haller, G. ; Grosjean, C. ; Portavoce, A. ; Girardeaux, Christophe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02044987

Impact of VCO Topology on SET Induced Frequency Response
Chen, W. ; Varanasi, N. ; Pouget, V. ; Barnaby, H. ; Vermeire, B. ; Adell, P. ; Copani, T. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206290

Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Guitard, Nicolas ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00382949

Total Dose and Single Event Transients in Linear Voltage Regulators
Kelly, A.T. ; Adell, P.C. ; Witulski, A.F. ; Holman, W.T. ; Schrimpf, R.D. ; Pouget, Vincent
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397727

A Heavy-Ion Tolerant Clock and Data Recovery Circuit for Satellite Embedded High-Speed Data Links
Lapuyade, Hervé ; Mazouffre, Olivier ; Goumballa, Birama ; Pignol, Michel ; Malou, Florence ; Neveu, Claude ; Pouget, Vincent ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182248

IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : Design&Reuse Articles
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00522419

Configuration errors analysis in SRAM-based FPGAs: software tool and practical results
Maingot, V. ; Ferron, J. ; Leveugle, R. ; Pouget, V. ; Douin, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184528

In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
Wan, Dong Yun ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Jaulent, Patrice ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Semiconductors
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204572

2006


Single Event Induced Instability in Linear Voltage Regulators
Adell, P.C. ; Witulski, A.F. ; Schrimpf, R.D. ; Marec, R. ; Pouget, Vincent ; Calvel, P. ; Bezerra, F.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397721

Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13µm CMOS Technology
Chen, W. ; Pouget, Vincent ; Gentry, G.K. ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Bakkaloglu, B. ; Kiaei, K. ; Holbert, K.E. ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397725

Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13 μm CMOS Technology
Chen, W. ; Pouget, V. ; Gentry, G.K. ; Barnaby, H. ; Vermeire, B. ; Bakkaloglu, B. ; Kiaei, S. ; E. Holbert, K. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206532

Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Journal of Integrated Circuits and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00359396

A 4 Gsample/s 2 bits flash ADC with 2–4 GHz input bandwidth for radio astronomy application
Deschans, D. ; Bégueret, J.-B. ; Deval, Y. ; Scarabello, C. ; Fouillat, P. ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : Analog Integrated Circuits and Signal Processing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206668

Time resolved imaging using synchronous picosecond Photoelectric Laser Stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; De Matos, Magali ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204571

Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204547

Application of various optical techniques for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Remmach, Mustapha ; Beaudoin, Félix ; Guitard, Nicolas ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204570

A Radiation-Hardened Injection Locked Oscillator Devoted to Radio-Frequency Applications
Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Hellmuth, Patrick ; Taris, Thierry ; Mazouffre, Olivier ; Fouillat, Pascal ; Deval, Yann
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183155

Laser mapping of SRAM Sensitive Cells : a way to obtain input parameters for DASIE calculation code
Miller, F. ; Buard, N. ; Hubert, G. ; Alestra, S. ; Baudrillard, G. ; Carrière, T. ; Gaillard, R. ; Palau, J.-M. ; Saigné, Frédéric ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206425

2005


Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181926

Impact of semiconductors material on IR Laser Stimulation signal
Firiti, Abdellatif ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401285

Different Failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure
Guitard, Nicolas ; Essely, Fabien ; Trémouilles, David ; Bafleur, Marise ; Nolhier, Nicolas ; Perdu, Phillipe ; Touboul, Andre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397706

Implementing laser-based failure analysis methodologies using test vehicles
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Phillipe ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397918

Rate Predictions for Single Event Effects – Critique II
Petersen, E. ; Pouget, Vincent ; Massengill, L. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397715

Light Emission To time resolved emission for IC debug and failure analysis
Remmach, Mustapha ; Pigozzi, A. ; Desplats, Romain ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Noel, J. ; Dudit, Sylvain
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401289

NIR Laser stimulation for dynamic timing analysis
Sanchez, Kevin ; Desplats, Romain ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Roux, J.P. ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401294

2004


Investigation of millisecond-long analog single-event transients in the LM6144 op amp
Boulghassoul, Y. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D. ; Pouget, V. ; Massengill, L.W. ; Fouillat, P. ; Holman, W.T. ; Poivey, C. ; Howard, J.W. ; Savage, M. ; Maher, M.C.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887662

Evaluation of SRAMS reliability for space electronics using ultra short laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Electrochemical Society
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185395

INVESTIGATION OF SINGLE-EVENT TRANSIENTS IN FAST INTEGRATED CIRCUITS WITH A PULSED LASER
Fouillat, P. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D.
Dans : International Journal of High Speed Electronics and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887658

Time-Resolved Scanning of Integrated Circuits With a Pulsed Laser: Application to Transient Fault Injection in an ADC
Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887656

Dynamic Behavior of a Chemical Sensor for Real-Time Measurement of Humidity Variations in Human Breath
Tetelin, Angélique ; Pouget, Vincent ; Lachaud, Jean-Luc ; Pellet, Claude
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183110

2003


Application of picosecond ultrasonics to non-destructive analysis in VLSI circuits
Andriamonje, G. ; Pouget, V. ; Ousten, Y. ; Lewis, D. ; Danto, Y. ; Rampnoux, Jean-Michel ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, Stéphane ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01550917

Application of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Danto, Yves ; Rampnoux, J. M. ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181929

From Static Thermal and Photoelectric Laser Stimulation (TLS/PLS) to Dynamic Laser Testing
Beaudoin, F. ; Desplats, R. ; Perdu, P. ; Firiti, Abdellatif ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887652

Thermal laser stimulation and NB-OBIC techniques applied to ESD defect localization
Beauchêne, T. ; Lewis, D. ; Beaudoin, F. ; Pouget, V. ; Desplats, R. ; Fouillat, P. ; Perdu, P. ; Bafleur, Marise ; Trémouilles, David
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887647

A physical approach on SCOBIC investigation in VLSI
Beauchêne, T. ; Lewis, D. ; Beaudoin, F. ; Pouget, V. ; Perdu, P. ; Fouillat, P. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887645

Investigation of single-event transients in voltage-controlled oscillators
Chen, W. ; Pouget, V. ; Barnaby, H.J. ; Cressler, J. D. ; Niu, G. ; Fouillat, P. ; Deval, Y. ; Lewis, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887654

Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Fouillat, Pascal ; Dufayel, R. ; Carriere, T.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185396

2002


Heavy ion-induced charge collection mechanisms in CMOS active pixel sensor
Belredon, X. ; David, J. ; Lewis, D. ; Beauchene, T. ; Pouget, V. ; Barde, S. ; Magnan, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887641

Backside SEU laser testing for commercial off-the-shelf SRAMs
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Buard, Nadine ; Mounsi, Faresse ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204728

Single-Event Sensitivity of a Single SRAM Cell
Darracq, Frédéric ; Beauchene, Thomas ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185398

Backside SEU Laser Testing for Commercial-Off-The-Shelf SRAM
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Mounsi, F. ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185397

Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose-Rate-Hardened Linear Integrated Circuits
Deval, Yann ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J. ; Darracq, Frédéric ; Briand, Renaud ; Lewis, Dean ; Schrimpf, Rd
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184299

Study of the interaction between Heavy Ions and Integrated Circuits using a Pulsed Laser Beam
Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé
Dans : European Physical Journal: Applied Physics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185399

A VLSI CMOS Delay Oriented Waveform Converter for Polyphase Frequency Synthesizer
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Journal of Solid-State Circuits
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183165

2001


hiperLAN 5.4 GHz Low-Power CMOS Synchronous Oscillator
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Belot, D. ; Badets, Franck
Dans : IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183168

Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beauchene, Thomas ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185401

Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185400

Theoretical Investigation of an Equivalent Laser LET
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Buchner, S.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185402

2000


Application of laser testing in study of SEE mechanisms in 16-Mbit DRAMs
Duzellier, S. ; Falguere, D. ; Guibert, L. ; Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Ecoffet, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887628

Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Darracq, Frédéric ; Touboul, Andre
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185403

SPICE Modeling of the Transient Response of Irradiated MOSFETs
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184300

1999


Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis
Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L. ; Calvet, M. C.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185404

1997


Modélisation des effets des radiations sur les transistors bipolaires
Montagner, Xavier ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Lapuyade, Hervé ; Schrimpf, Rd ; Galloway, Kf
Dans : REVUE DE l'ELECTRICITE ET DE L'ELECTRONIQUE
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185405

1996


Numerical Modelling of Mechanisms involved in Latchup Triggering by a Laser Beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul ; Gaillard, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185407

Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Microelectronic Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185406

1994


Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing
Fouillat, Pascal ; Gervais-Ducouret, Stéphane ; Lapuyade, Hervé ; Dom, Jean-Paul
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185408
Articles in journals without review committee → 2 Show

2009


L'innovation comme moteur d'évolution des technologies de l'information ; vers un rapprochement des techniques et des usages
Claverie, Bernard ; Fouillat, Pascal
Dans : I-Revues - Edition Electronique de l'INIST - Information, innovation et interdisciplinarité
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983471

2007


IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, Noëlle ; Tomas, Jean ; Fouillat, Pascal
Dans : Einfochips Dashboard
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00522423
Conference with proceedings (national) → 46 Show

2007


IP-Based Library for Analog Design Reuse
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : GDR SoC-SIP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181424

IP-based design reuse for analogue systems: a case study
Levi, Timothée ; Tomas, J. ; Lewis, N. ; Fouillat, P.
Dans : Proceedings SPIE VLSI Circuits and Systems III, Maspalomas, Gran Canaria (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181417

2005


Intra-IC Inspection and Metrology with Picosecond Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Danto, Yves
Dans : 22nd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC) 2005, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182901

Formations à distance en EEA : Le projet de Master première année M1 e-EEA
Chambrelan, C. ; Gervais, N. ; Grisel, R. ; Horn, R. ; Danto, Yves ; Fouillat, Pascal ; Pellet, Claude ; Bonnaud, O. ; Thouroude, D. ; Despaux, G. ; Glaize, C. ; Nolhier, Nicolas ; Ablart, G. ; Graffeuil, Jacques ; Caignet, Fabrice ; Cazarré, Alain ; Barbier, D. ; Abouchi, N. ; Jourlin, M. ; Garda, Patrick
Dans : 5ème Colloque sur l'Enseignement des Technologies et des Sciences de l'Information et des Systèmes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183071

A Radiation-Hardened Injection Locked Oscillator Devoted to Radio-Frequency Applications
Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Hellmuth, Patrick ; Fouillat, Pascal ; Deval, Yann
Dans : 8th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS05), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183189

Water solubility and diffusivity in BCB resins used in microelectronics packaging and sensor applications
Tetelin, Angélique ; Achen, A. ; Pouget, Vincent ; Pellet, Claude ; Toepper, M. ; Lachaud, Jean-Luc
Dans : 22nd Instrumentation and Measurement Technology Conference, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183075

2004


Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182909

Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182908

Evaluation of SRAMs Reliability for Space Electronics Using Ultra Short Laser Pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : 19th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro 2004), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185409

Test chip for qualification of packaging assemblies
Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Puig, Olivier ; Pellet, Claude ; Fouillat, Pascal ; Danto, Yves
Dans : SBMicro 2004, (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183081

Réalisation d un convertisseur 3 bits à 4 Géchantillons/s pour radiotélescopes en bande millimétrique et submillimétrique
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183229

Applications de l acoustique picoseconde à l analyse non destructive de circuits intégrés
Rampnoux, J. M. ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B. ; Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182903

2003


A Non-Linear Model to Express Laser-induced SRAM Cross-sections versus an Effective Laser LET
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal
Dans : 7th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185410

Dynamic Behavior of a Chemical Sensor for Real-Time Measurement of Humidity Variations in Human Breath
Tetelin, Angélique ; Pouget, Vincent ; Lachaud, Jean-Luc ; Pellet, Claude
Dans : 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183123

2002


Caractérisation à distance de circuits radiofréquences
Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Devreese, Regis ; Faurens, Christian
Dans : Septièmes Journées Pédagogiques du CNFM, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179943

A SiGe 4-Gsps 2-Bits Digitizer with 2-4 GHz Input Bandwidth
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : 9th IEEE Proc. Of International Conf. On Electronics, Circuits and Systems (ICECS'2002), (Croatia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183238

A 4 Gsamples/S with 2-4 GHz Input Bandwidth SIGE Digitizer for Radio Astronomy Applications
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : EEE 15th Symposium on Integrated Circuits and System Design (SBCCI 2002), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183236

A SiGe 4-Gsps 2-Bits Digitizer with 2-4 GHz Input Bandwidth
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : 9th IEEE Proc. Of International Conf. On Electronics, Circuits and Systems (ICECS'2002), (Croatia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183222

A 4 Gsamples/S with 2-4 GHz Input Bandwidth SIGE Digitizer for Radio Astronomy Applications
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : EEE 15th Symposium on Integrated Circuits and System Design (SBCCI 2002), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183220

2001


Transit Time Parameter Extraction for the HICUM Bipolar Compact Model
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Berger, Dominique ; Celi, D. ; Mnif, Hassene ; Burdeau, T. ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203974

Direct Method for Bipolar Base-Emitter and Base-Collector Capacitance Splitting using High Frequency Measurements
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hassene ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203972

Bipolar Transistor's Intrinsic and Extrinsic Capacitance Determination
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hassene ; Fouillat, Pascal ; Berger, Dominique ; Celi, D.
Dans : SISPAD 2001, International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203971

Clock Generator Using Factorial DLL for Video Applications
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Mazouffre, Olivier ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Benoit, E. ; Mendoza, J.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183241

Clock Generator Using Factorial DLL for Video Applications
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Mazouffre, Olivier ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Benoit, E. ; Mendoza, J.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183225

Single-event Sensitivity of a single SRAM cell
Darracq, Frédéric ; Beauchene, Thomas ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : RADECS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185411

Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose Rate Hardened Linear Integrated Circuits
Deval, Yann ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J. ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Schrimpf, Rd
Dans : European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184303

Test de circuits intégrés par faisceau laser pulsé
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185412

A New Laser System for X-Rays Flashes Sensitivity Evaluation
Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Deval, Yann ; Maidon, Yvan ; Darracq, Frédéric ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal
Dans : Proc. of the 7th IEEE International On-Line Testing Workshop, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184302

A CMOS VLSI Delay Oriented Waveform Converter Dedicated to the Synthesizer of an UMTS Transceiver
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183239

A CMOS VLSI Delay Oriented Waveform Converter Dedicated to the Synthesizer of an UMTS Transceiver
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183223

A VLSI CMOS 2 GHz active load body effect mixer
Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Proceedings of the Design of Circuits and Integrated Systems Conf. (DCIS'2001), (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183240

A VLSI CMOS 2 GHz active load body effect mixer
Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Proceedings of the Design of Circuits and Integrated Systems Conf. (DCIS'2001), (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183224

Transistor model parameter determination with non-conventional optimisation algorithms
Zimmer, Thomas ; Ardouin, Bertrand ; Franze, Francesco ; Berger, Dominique ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Electron Devices Conference, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203973

2000


An Overview of the Applications of a Pulsed Laser System for SEU Testing
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Sarger, L. ; Roche, Fernand-Michel ; Ecoffet, R.
Dans : 6th IEEE International On Line Testing Workshop, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185413

1999


A New SPICE Model Dedicated to the Analysis of the Transient Response of Irradiated MOSFETS for On Line Testing
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : 5th IEEE International On Line Testing Workshop, (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185414

SPICE Modeling of the Transient Response of Irradiated MOSFETs
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : 5th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184305

Hierarchical Analogue Design and Behavioral Modelling
Zimmer, Thomas ; Lewis, Noëlle ; Fakhfakh, Ahmed ; Ardouin, Bertrand ; Levi, Herve ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronic Systems Education Conference, MSE99, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203979

1998


Evolution of base current in C-In doped GaInP/GaAs HBT under current induced stress
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : European Solid State Device Research Conference (Ed. Frontières), ESSDERC, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183480

New Capabilities for SEE Testing with a Femtosecond Pulsed Laser System
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185416

Elaboration of a New Pulsed Laser System for SEE Testing
Pouget, Vincent ; Calin, T. ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Velazco, R. ; Maidon, Yvan ; Sarger, L.
Dans : 4th IEEE International On Line Testing Workshop, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185415

1997


Simulation d upsets dans une mémoire SRAM CMOS utilisant des capteurs de courant intégrés
Calin, T. ; Lapuyade, Hervé ; Nicolaidis, Michael ; Velazco, R. ; Fouillat, Pascal
Dans : Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185417

1996


Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 5th European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Electronic Devices, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185418

Built-In Laser Sensitive Cells For a New Testing Technique
Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 2nd IEEE International On-Line Testing Workshop, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185419

1995


Numerical Modelling of Mechanisms involved in Latchup Triggering by a Laser Beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul ; Gaillard, R.
Dans : Proc. of the Third European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185422

A microcontroller failure analysis using a LASER beam latchup triggering technique
Fouillat, Pascal ; Le Calve, Jean-Edmond ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 6th European Symposium on Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185420

Design For Testability of Built-In Laser Sensitive Cells
Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Maidon, Yvan ; Tomas, Jean ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 6th European Symposium Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185421
Conference with proceedings (international) → 105 Show

2019


Study of a THz Hollow-core Fiber for Sample Reflectance Analysis
Pan, Mingming ; Cordeiro, Cristiano ; Fauquet, Frederic ; Mounaix, Patrick ; Rodrigues, Gildo ; Franco, Marcos ; Guillet, Jean-Paul
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350784

2018


A Solid-State 0.56 THz Near-Field Array for μM-Scale Surface Imaging
Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Mavarani, Laven ; Bucher, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich ; MacGrogan, Gaëtan ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Nagoya (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923726

Investigation of the trap-limited transient response of GaN HEMTs
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : 2018 Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-wave Circuits Workshop, Brives (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01851997

Investigation of Trapping Behaviour in GaN HEMTs through physical TCAD Simulation of Capacitance Voltage characteristics
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : EuroSimE 2018, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718857

Towards industrial applications of terahertz real-time imaging
Mounaix, Patrick ; Simoens, François ; Dussopt, Laurent ; Meilhan, Jérôme ; Nicolas, Nicolas ; Monnier, Nicolas ; Siligaris, Alexandre ; Hiberty, Bruno ; Perraud, Jean-Baptiste ; Lalanne-Dera, Jérémy ; Redon, Olivier ; Sadwick, Laurence ; Yang, Tianxin
Dans : Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI, San Francisco (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01734577

2017


Terahertz Biomedical Imaging: From Multivariate Analysis and Detection to Material Parameter Extraction
Amel, Al-Ibadi ; Bou-Sleiman, Joyce ; Quentin, Cassar ; Macgrogan, Gaëtan ; Balacey, Hugo ; Thomas, Zimmer ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS), Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546451

Phase uncertainty in different THz time-domain spectrometers
Bernier, Maxime ; Garet, Frédéric ; Coutaz, Jean-Louis ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : 2017 42nd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Cancun (Mexico)
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02009670

Agar and Silica Gel Based Biotissue-mimicking Phantoms in THz Frequency Range
Evgeniy, Odlyanitskiy ; Olga, Smolyanskaya ; Kravtsenyuk, O ; Guillet, Jean-Paul ; A, Popov ; Mikhail, Khodzitsky
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS), Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546453

HOBIT: Hybrid Optical Bench for Innovative Teaching
Furio, David ; Fleck, Stéphanie ; Bousquet, Bruno ; Guillet, Jean-Paul ; Canioni, Lionel ; Hachet, Martin
Dans : CHI'17 - Proceedings of the 2017 CHI Conference on Human Factors in Computing Systems, Denver (United States)
https://hal.inria.fr/hal-01455510

Art Painting Testing with Terahertz Pulse and Frequency Modulated Continuous Wave
Guillet, Jean-Paul ; Roux, Marie ; Wang, Kejian ; Ma, Xue ; Fauquet, Frederic ; Darracq, Frederic ; Mounaix, Patrick
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium, Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546450

THz Tomography and image processing: a new tool for polymer and ceramic additive manufacturing quality control
Mounaix, Patrick
Dans : 15th ASIA PACIFIC CONFERENCE FOR NON-DESTRUCTIVE TESTING (APCNDT) , singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653651

Terahertz Paint Thickness Measurements : from lab to automotive and aeronautics Industry
Mounaix, Patrick
Dans : 5th ASIA PACIFIC CONFERENCE FOR NON-DESTRUCTIVE TESTING (APCNDT), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653647

2016


Frequency modulated continuous wave terahertz imaging for art restoration
Guillet, Jean-Paul ; Wang, Kejian ; Roux, Marie ; Fauquet, Frederic ; Darracq, Frédéric ; Mounaix, Patrick
Dans : IRMMW 2016, Copenhagen (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01418837

Bulk rigid terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
Mounaix, Patrick ; Kadlec, C. ; Elissalde, Catherine ; Dominec, Filip ; Nemec, H. ; Kuzel, P.
Dans : TST 2016 , Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404436

Automated Data And Image Processing For Biomedical Sample Analysis
Mounaix, Patrick ; Balacey, Hugo ; Guillet, Jean-Paul ; Pickwell-MacPherson, Emma ; MacGrogan, Gaëtan ; alabadi, amel
Dans : IRRMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404429

Near-field THz Time-domain Spectroscopy Of Anisotropic Dielectric Micro-particles
Mounaix, Patrick ; Matheisen, Christopher ; Brener, Igal ; Khromova, Irina ; Reno, John L. ; Kuzel, P. ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404422

Frequency Modulated Continuous Wave Terahertz Imaging For Art Restoration
Mounaix, Patrick ; Darracq, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, Frederic ; Roux, Marie ; Wang, Kejian
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404415

Photoconductive Microprobe Based Near-field Scanning Of Terahertz Resonances Of A Single High-index TiO2 Microsphere
Mounaix, Patrick ; Elissalde, Catherine ; Nagel, Michael ; Sawallich, S. ; Matheisen, Christopher
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404349

Extending Terahertz Paint Thickness Measurements To Advanced Industry-Standard Automotive Paint Structures
Mounaix, Patrick ; Gregory, Ian ; Taday, Phil ; May, Robert M.
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404335

THz tomography and image processing : a new tool for polymer and ceramic additive manufacturing characrerization
Mounaix, Patrick ; obaton, anne françoise ; Balacey, Hugo ; Perraud, Jean Baptiste ; Guillet, Jean-Paul ; Bou-Sleiman, Joyce ; Recur, Benoit
Dans : Pharos event 2016, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404322

2015


Discrimination and identification of RDX/PETN explosives by chemometrics applied to terahertz time-domain spectral imaging
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Bousquet, Bruno ; Guillet, Jean-Paul ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : VIII Millimetre Wave and Terahertz Sensors and Technology conference, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263937

Chemical imaging and quantification of RDX/PETN mixtures by PLS applied on terahertz time-domain spectroscopy
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), 2015, Hong Kong (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263833

AMI : Augmented Michelson Interferometer
Furio, David ; Hachet, Martin ; Guillet, Jean-Paul ; Bousquet, Bruno ; Fleck, Stéphanie ; Reuter, Patrick ; Canioni, Lionel
Dans : ETOP 2015 - Education and Training in Optics & Photonics, Bordeaux (France)
https://hal.inria.fr/hal-01121917

Near-field spectroscopy of sub-wavelength (<λ/10) anisotropic dielectric resonators at terahertz frequencies
Mitrofanov, Oleg ; Khromova, Irina ; Dominec, F. ; Kuzel, P. ; Reno, JL ; Brener, Igal ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mounaix, Patrick
Dans : 2015 European Conference on Lasers and Electro-Optics, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264060

Magnetic dipole and electric dipole resonances in TiO2 microspheres at terahertz frequencies
Mitrofanov, Oleg ; Domenic, Filip ; Kuzel, P. ; Reno, John ; Brener, Igal ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mounaix, Patrick
Dans : Quantum Sensing and Nanophotonic Devices XII,, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263842

Metrological Evaluation of Tomography Methods Applied to Objects Fabricated by Additive Manufacturing
Obaton, Anne-Françoise ; Costin, Marius ; Mounaix, Patrick ; Geffrin, Jean Michel ; Eyraud, Christelle ; Souvignet, Christelle ; Moschetta, Jean-Marc
Dans : International symposium on Digital Industrial radiology and computed tomography, Ghent (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264659

Immersion in refractive index matching liquid for 2D and 3D terahertz imaging
Perraud, JB ; Bou Sleiman, Joyce ; Simoens, François ; Mounaix, Patrick
Dans : 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), Hong Kong (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263947

THz response of TiO2 microspheres embedded in a dielectric layer
Sindler, Michal ; Kadlec, C ; Nemec, H. ; Dominec, F. ; Kuzel, P. ; Elissalde, Catherine ; Chung, U-C ; Mounaix, Patrick
Dans : 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), Hong Kong (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264034

2014


Processing sequence for non-destructive inspection based on 3D terahertz images
Balacey, Hugo ; Jean-Baptiste, Perraud ; Bou Sleiman, Joyce ; Guillet, Jean-Paul ; Recur, Benoît ; Mounaix, Patrick
Dans : Infrared, Millimeter-Wave, and Terahertz Technologies III, Beijing (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091194

Improved integrated circuits qualification using dynamic laser stimulation technique
Deyine, Amjad ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Battistella, F. ; Lewis, D.
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, Montreal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988351

Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Lewis, Dean
Dans : 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091188

Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
Rebai, Mohamed ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kévin ; Lewis, D.
Dans : 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01020683

2013


A new processing sequence to assess airways using 3D CT-scan
Balacey, Hugo ; Dournes, Gaël ; Desbarats, Pascal ; Domenger, Jean-Philippe ; Laurent, François
Dans : 20th IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), Melbourne (Australia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01465173

Analysis of Short-Term NBTI Effect on the Single-Event Upset Sensitivity of a 65nm SRAM using Two-Photon Absorption
Issam, El Moukthari ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Larue, Camille ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe
Dans : 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091193

How to Interpret the Reflected Laser Probe Signal of Multiple Elementary Substructures in Very Deep Submicron Technologies
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kévin
Dans : 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2013), San José (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00903364

A physical prediction model issued from TCAD investigations for single event burnout in power MOSFETs
Sara, Siconolfi ; Guillaume, Hubert ; Laurent, Artola ; Darracq, Frédéric ; Jean Pierre, David
Dans : 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091195

2012


Building the electricalmodel of the PhotoelectricLaserStimulation of a NMOS transistor in 90 nm technology
Alexandre, Sarafianos ; Llido, R. ; Dutertre, Jean-Max ; Gagliano, Olivier ; Serradeil, Valérie ; Lisart, Mathieu ; Goubier, V. ; Tria, Assia ; Pouget, Vincent ; Lewis, D.
Dans : 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Phoenix (United States)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742629

Signal propagation analysis by digital lock-in time resolved imaging
Bascoul, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2012, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988346

Improving defect localization techniques with laser beam with specific analysis and set-up modules
Llido, R. ; Gomez, J. ; Goubier, V. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : 2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988382

Characterization and TCAD Simulation of 90nm Technology PMOS Transistor Under Continuous Photoelectric Laser Stimulation for Failure Analysis Improvement
Llido, R ; Sarafianos, A ; Gagliano, O ; Serradeil, V ; Goubier, V ; Lisart, M ; Haller, G ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, Assia
Dans : 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Phoenix (United States)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130626

Building the electrical model of the pulsed photoelectric laser stimulation of an NMOS transistor in 90nm technology
Sarafianos, A ; Llido, R ; Gagliano, O ; Serradeil, V ; Lisart, Mathieu ; Goubier, V. ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, Assia ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean
Dans : 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Phoenix (United States)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130636

Characterization and TCAD simulation of 90 nm technology transistors under continuous photoelectric laser stimulation for failure analysis improvement
Sarafianos, Alexandre ; Llido, R. ; Gagliano, Olivier ; Serradeil, Valérie ; Goubier, V. ; Lisart, M. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, Assia
Dans : 19th IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS, Singapore (Singapore)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742705

2011


Time resolved imaging at low power supply on 45nm technology
Bascoul, G. ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Lewis, D. ; Dudit, Sylvain ; Celi, Guillaume
Dans : International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2011, Incheon (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988376

Imaging the Single Event Burnout sensitive volume of vertical power MOSFETs using the laser Two-Photon Absorption technique
Darracq, Frédéric ; Mbaye, Nogaye ; Larue, Camille ; Pouget, V. ; Azzopardi, Stephane ; Lorfèvre, E. ; Bezerra, F. ; Lewis, D.
Dans : 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Seville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00772102

Sondes de champ proche THz sensibles à la polarisation
Guillet, J-P. ; Chusseau, L. ; Adam, R. ; Pénarier, A.
Dans : Journée ``Antenne de Champ Proche'' du GDR Ondes, Campus G. Mégie du CNRS, Paris (Unknown Region)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01904167

Transition from rectangular waveguide to Sommerfeld mode on a wire
Guillet, J-P. ; Chusseau, L.
Dans : 6e Journées Térahertz, La Grande Motte (Unknown Region)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01904163

Propagating and coupling Sommerfeld waves on wires
Guillet, J-P. ; Blin, S. ; Chusseau, L.
Dans : 6e Journées Térahertz, La Grande Motte (Unknown Region)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01904162

Millimetric near-field imaging experiment using a transition from rectangular waveguide to cylindrical surface wave guide
Guillet, J-P. ; Chusseau, L.
Dans : ICONIC 2011, 5th International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging, Rouen (Unknown Region)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01904160

3D current path in stacked devices: Metrics and challenges
Kor, H.B ; Infante, Fulvio ; Perdu, Philippe ; Gan, P. ; Lewis, D.
Dans : International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2011, Incheon (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988371

Comparison of classical and two-photon photoelectric laser stimulation capabilities for failure analysis
Shao, Kai ; Pouget, V. ; Faraud, Emeric ; Larue, C. ; Lewis, D.
Dans : 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Incheon (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669828

2010


Facing the defect characterization and localization challenges of bridge defects on submicronic technology (45nm and below)
Celi, Guillaume ; Dudit, Sylvain ; Perdu, Philippe ; Reverdy, A. ; Parrassin, T. ; Bechet, E. ; Lewis, Dean ; Vallet, M.
Dans : 20th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2010, Monteccassino (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585662

Dynamic power analysis under laser stimulation: a new Dynamic Laser Simulation approach
Deyine, Amjad ; Perdu, Philippe ; Sanchez, K. ; Courrège, J.C. ; Lewis, Dean
Dans : 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Addison (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585673

Magnetic Microscopy for 3D structures: use of the Simulation Approach for the
precise localization of deep buried weak currents
Infante, Fulvio ; Gomes, R. ; Perdu, Philippe ; Battistella, Fabien ; Annereau, Sébastien ; Lewis, D.
Dans : 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Addison (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988364

Magnetic microscopy for 3D structures: use of the Simulation Approach for the precise localization of deep buried weak currents
Infante, Fulvio ; Gomes, Rodolphe ; Perdu, Philippe ; Battistella, Fabien ; Annereau, Sébastien ; Lewis, Dean
Dans : 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Addison (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585670

Magnetic microscopy for ground plane current detection: a fast and reliable technique for current leakage localization by means of magnetic simulation
Infante, F. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : 20th European Symposium Reliabilty on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2010, Monteccassino (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585666

2009


Investigation of single event burnout sensitive depth in power MOSFETS
Darracq, Frédéric ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Lorfèvre, E. ; Ecoffet, R. ; Bezerra, F.
Dans : 2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS),, Bruges (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667364

Full Dynamic Laser simulation set up
Deyine, Amjad ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Battistella, F. ; Lewis, D. ; Deslandes, H.
Dans : 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2009. IPFA 2009., Suzhou (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988356

Net integrity checking by optical localization techniques
Haller, G. ; Machouat, A. ; Lewis, Dean ; Pouget, Vincent
Dans : 19th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2009, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585657

Magnetic Microscopy for 3D devices: defect localization with high resolution and long working distance on complex System in Package
Infante, F. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : 19th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2009, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585654

Short circuit localization on integrated circuits using magnetic microscopy techniques coupled to simulations
Infante, F. ; Perdu, Philippe ; Petremont, S. ; Lewis, Dean
Dans : 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Suzhou (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585648

Compact modeling of Optically-Gated Carbon NanoTube Field Effect Transistor
Liao, Si-Yu ; Maneux, Cristell ; Pouget, Vincent ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : Trends in NanoTechnologies 2009, Barcelonna (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00399897

Best test pattern failure analysis flow for functional logic failure localization by IR-OBIRCH technique
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe ; Pouget, V. ; Essely, Fabien
Dans : International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670058

Picosecond Single-Photon and Femtosecond Two-Photon Pulsed Laser Stimulation for IC Characterization and Failure Analysis
Pouget, V. ; Faraud, Emeric ; Shao, Kai ; Jonathas, S. ; Horain, D. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Picart, B. ; Forli, L. ; Lewis, D.
Dans : 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA), Sans José (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670060

2008


Dynamic Laser Stimulation Technique for device qualification process
Deyne-Barth, A. ; Perdu, Philippe ; Benetti, G. ; Sanchez, Kevin ; Battistella, F. ; Lewis, Dean
Dans : International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401698

Methodologies and Tools for the Evaluation of the Sensitivity to Radiation of SRAM-based FPGAs
Foucard, G. ; Perronnard, P. ; Velazco, R. ; Ferron, J. ; Douin, A. ; Pouget, V. ; Bocquillon, A. ; Miller, F. ; Berger, G. ; Charlier, F. ; Boldrin, F.
Dans : 23rd International Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS'08), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00347662

IP-based methodology for analog design flow: Application on neuromorphic engineering
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE NEWSCAS-TAISA 2008, Montréal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00514205

Effect of Physical defect on schmoos in CMOS DSM technologies
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Maastricht (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401696

Scan-based ATPG diagnostic and optical techniques combination: A new approach to improve accuracy of defect isolation in functional logic failure
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien ; Perdu, Philippe
Dans : 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398000

Remote SEE Testing Capabilities with Heavy Ions and Laser Beams at CYCLONE-HIF and ATLAS Facilities
Peronnard, P. ; Velazco, R. ; Foucard, G. ; Pouget, V. ; Berger, G. ; Charlier, F. ; Boldrin, F.
Dans : Radiation Effects Data Workshop, Tucson, AZ (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00374744

Dynamic Testing of an SRAM-Based FPGA by Time-Resolved Laser Fault Injection
Pouget, V. ; Douin, A. ; Foucard, G. ; Peronnard, P. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Velazco, R.
Dans : 14th IEEE International Symposium On-Line Testing (IOLT'08), Rhodes (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00347751

Failure Analysis enhancement by evaluating the photoelectric laser stimulation impact on mixed-mode ICs
Sienkiewicz, Magdalena ; Perdu, Philippe ; Firiti, Abdellatif ; Sanchez, Kevin ; Crepel, Olivier ; Lewis, Dean
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Maastricht (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401699

Failure analysis enhancement by evaluating the thermal laser stimulation impact on analog ICs
Sienkiewicz, Magdalena ; Perdu, Philippe ; Firiti, Abdellatif ; Crepel, Olivier ; Lewis, Dean
Dans : International Symposium on the Physical and Failure Analysis on Integrated Circuits (IPFA), Suzhou (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401695

2007


Highlights of Laser Testing Capabilities Regarding the Understanding of SEE in SRAM-based FPGA
Bocquillon, A. ; Foucard, G. ; Miller, F. ; Buard, Nadine ; Leveugle, R. ; Daniel, C. ; Rakers, S. ; Carriere, T. ; Pouget, Vincent ; Velazco, R.
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397854

Picosecond Timing Analysis in Integrated Circuits with Pulsed Laser Stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : 45th annual ieee International Reliability Physics Symposium (IRPS), Phoenix (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204584

Jitter Improvement of Time-Resolved Photoelectric Laser Stimulation for Dynamic Imaging of Integrated Circuits
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : Instrumentation and Measurement Technology Conference 2007, Varsovie (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204580

IC Debug and Defect Localization using Dynamic Laser Stimulation and Time-Resolved Emission
Ferrigno, Julie ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Lewis, Dean ; Vallet, Michel ; Dudit, Sylvain
Dans : 14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 2007, Bangalore (India)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204582

Study of Single Event Transients in High-Speed Operational Amplifiers
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397836

Scaling Guidelines for CMOS Linear Analog Design
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : International Conference on Ph.D. Research in Microelectronics & Electronics, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00414788

Resizing methodology for CMOS analog circuit
Levi, Timothée ; Tomas, J. ; Lewis, N. ; Fouillat, P.
Dans : Proceedings SPIE VLSI Circuits and Systems III, Maspalomas, Gran Canaria (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181420

Configuration errors analysis in SRAM-based FPGAs
Maingot, V. ; Ferron, J. ; Leveugle, R. ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401694

Evaluation of Recent Technologies of Non-Volatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; David, J.P. ; Soonckindt, S.
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397841

Tools and methodology development for pulsed laser fault injection in SRAM-based FPGAs
Pouget, V. ; Douin, A. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Foucard, G. ; Peronnard, P. ; Maingot, V. ; Ferron, J. ; Anghel, L. ; Leveugle, R. ; Velazco, R.
Dans : 8th Latin-American Test Workshop (LATW'07), Cuzco (Peru)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00156318

Failure Localization and design debug on mixed-mode ICs by using the dynamic laser stimulation techniques
Sienkiewicz, Magdalena ; Sanchez, Kevin ; Firiti, Abdellatif ; Crepel, Olivier ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA) 2007, San Jose (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204668

2006


Time resolved imaging using synchronous picosecond photoelectric laser stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; De Matos, Magali ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Fouillat, Pascal
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Wuppertal (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401692

Applications of various optical techniques for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Remmach, Mustapha ; Beaudoin, Félix ; Guitard, Nicolas ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), wuppertal (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401519

OBIC technique for ESD defect localization : Influence of the experimental procedure
Essely, F. ; Guitard, Nicolas ; Darracq, F. ; Pouget, V. ; Bafleur, Marise ; Touboul, A. ; Lewis, D.
Dans : 3th Workshop EOS/ESD/EMI, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327412

Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Guitard, Nicolas ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204574

Dynamic optical techniques for IC debug and failure analysis
Ferrigno, Julie ; Desplats, Romain ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Beaudoin, Félix ; Lewis, Dean
Dans : 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 2006, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204578

IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : IP-based SoC Design Conference 2006, IP-SoC 2006, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181401

Scaling Rules for MOS Analog Design Reuse
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2006, Gdynia (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181379

In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
Wan, Dong Yun ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Jaulent, Patrice ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Beam Injection Assessment of Microstructurs in Semiconductors (BIAMS), Saint Petersbourg (Russia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401693

2005


Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Phillipe
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2005, Cap d'Agde (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397942

Electrical Modeling for Laser Testing with Different Pulse Durations
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Phillipe
Dans : 11th IEEE International On Line Testing Symposium, Saint Raphael (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397739

Impact of semiconductors material on IR stimulation signal
Firiti, Abdellatif ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : European Symposium of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401389

Different failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure
Guitard, Nicolas ; Essely, Fabien ; Trémouilles, David ; Bafleur, Marise ; Nolhier, Nicolas ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401483

Total Dose and Single Event Transients in Linear Voltage Regulators
Kelly, A.T. ; Adell, P.C. ; Witulski, A.F. ; Holman, W.T. ; Schrimpf, R.D. ; Pouget, Vincent
Dans : 8th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and System (RADECS) 2005, Cap d 'Agde (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397998

A radiation-hardened injection locked oscillator devoted to radio-frequency applications
Lapuyade, H. ; Pouget, V. ; Bequeret, J.-B. ; Hellmuth, P. ; Taris, T. ; Mazouffre, O. ; Fouillat, P. ; Deval, Y.
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2005), Cap d'Agde (France)
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00101436

Identification of Some Key Parameters for Photoelectric Laser Simulation of IC: An Experimental Approach
Perdu, Phillipe ; Desplats, Romain ; Sanchez, Kevin ; Beaudoin, Félix ; Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Fouillat, Pascal
Dans : 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis Circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397736

Light Emission to time resolved emission for IC debug and failure analysis
Remmach, Mustapha ; Pigozzi, A. ; Desplats, Romain ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Noel, J. ; Dudit, Sylvain
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401497

NIR Laser stimulation for dynamic timing analysis
Sanchez, Kevin ; Desplats, Romain ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Roux, J.P. ; Lewis, Dean
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401503

Delay Variation Mapping Induced by Dynamic Laser Stimulation
Sanchez, Kevin ; Desplats, Romain ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Vedagarbha, P.
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Santa Clara (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401387

2001


Improving an SEU Hard Design using a Pulsed Laser
DUTERTRE, Jean-Max ; Roche, Fernand-Michel ; Fouillat, Patrice ; Lewis, Dean
Dans : Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2001. 6th European Conference on, Grenoble (France)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130950

2000


Use of Genetic Algorithm for Efficient Integrated Circuits Compact Modelling and Parameter Extraction
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Batiste Duluc, Jean ; Marc, Francois ; Fouillat, Pascal
Dans : ACIDCA'2000, Monastir (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00189377

Model parameter extraction with non-conventional optimisation algorithms
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Franzè, F. ; Fouillat, Pascal
Dans : JSFT, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187311

1998


Elaboration of a new pulsed laser system for SEE testing
Pouget, V. ; Calin, T. ; Lapuyade, H. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Velazco, R. ; Maidon, Y. ; Sarger, L.
Dans : IEEE International On-Line Testing Workshop (IOLTW'98), Capri (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01384704
Conference without proceedings → 49 Show

2019


The terahertz pulse time-domain holography method for phase imaging of breast tissue sample
Balbekin, Nikolay ; Cassar, Quentin ; Smolyanskaya, Olga ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Kravtsenyuk, Olga ; Kulya, Maksim ; Petrov, Nikolay
Dans : Digital Holography and Three-Dimensional Imaging, Bordeaux (France)
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335832

Iterative Tree Algorithm for the Assessment of Optical Path Contributions within Stratified Structures
Cassar, Q. ; Chopard, A. ; Fauquet, F. ; Guillet, J.P. ; Pan, M. ; Perraud, J.B. ; Mounaix, Patrick
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350806

Ancient Painting on Copper Substrate Inspected by Terahertz Spectroscopy-Imaging
Cassar, Q. ; Koch-Dandolo, C.L. ; Guillet, J.P. ; Roux, M. ; Fauquet, F. ; Mounaix, Patrick
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350792

Comparative study of millimeter wave III/V semiconductor and integrated silicon based FMCW radars
Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, Frederic ; Chopard, Adrien ; Perraud, Jean-Baptiste ; Roux, Marie ; Mounaix, Patrick
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350788

Scanning laser terahertz near-field reflection microscope for biological analysis
Okada, Kosuke ; Serita, Kazunori ; Zang, Zirui ; Murakami, Hironaru ; Kawayama, Iwao ; Cassar, Quentin ; Al-Ibadi, Amel ; Macgrogan, Gaetan ; Zimmer, Thomas ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Tonouchi, Masayoshi
Dans : Bio-Optics: Design and Application, Tucson (United States)
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335859

Reconstructed THz phase image of the two-component numerical model of breast cancer tissue
Smolyanskaya, Olga ; Kulya, Maksim ; Cassar, Quentin ; Kravtsenuk, Olga ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul ; Zaytsev, Kirill ; Petrov, Nikolay
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350797

Terahertz spectra of drug-laden magnetic nanoparticles
Smolyanskaya, Olga ; Trukhin, Valery ; Gavrilova, Polina ; Odlyanitskiy, Evgeniy ; Semenova, Anna ; Cassar, Quentin ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Gareev, Kamil ; Korolev, Dmitry
Dans : Colloidal Nanoparticles for Biomedical Applications XIV, San Francisco (United States)
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335873

2018


Terahertz frequency modulated continuous wave imaging for non-destructive evaluation of painting and multilayer parts
Guillet, Jean-Paul ; Ma, Xue ; Wang, Kejia ; Fauquet, Frederic ; Mounaix, Patrick ; Koch Dandolo, Corinna Ludovica ; Roux, Marie ; Sadwick, Laurence ; Yang, Tianxin
Dans : Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI, San Francisco (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923526

Shape from Focus Applied to Real- Time Terahertz Imaging
Jean-Baptiste, Perraud ; Guillet, Jean-Paul ; Hamdi, Maher ; Redon, Olivier ; Meilhan, Jérôme ; Simoens, François ; Mounaix, Patrick
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Nagoya (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923691

Comprehensive Study into Underlying Mechanisms of Anomalous Gate Leakage Degradation in GaN High Electron Mobility Transistors
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : IRPS 2018, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718850

2017


Performances and robustness of IR seed Laser diodes under large overcurrent and short-pulse conditions for fiber Laser applications
Galès, Germain Le ; Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : EMN Americas Meetings, Victoria (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719975

Contrôle non destructif terahertz et fabrication additive
Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : La photonique appliquée à l'aéronautique, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01456318

2016


1060nm seed laser diodes in pulsed operation: performances and safe operating area
Le Gales, Germain ; Giulia, Marcello ; Joly, Simon ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Darracq, Frederic ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS 2016, Otwock (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720731

Terahertz paint thickness measurements : from automotive to aeronautics industry
Mounaix, Patrick ; Balacey, Hugo ; Taday, Phil ; Gregory, Ian ; May, Robert M.
Dans : PHAROS, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404314

2015


Ordered subsets convex algorithm and automatic image processing sequences: the solid bases for 3D THz inspection
Balacey, Hugo ; Perraud, JB ; Bou Sleiman, Joyce ; Recur, Benoît ; Mounaix, Patrick
Dans : 8èmes Journées THz , Areches-Beaufort (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264807

Imagerie et spectroscopie Terahertz: applications aux problématiques de défense et de sécurité
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Recur, Benoît ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : JNRDM 2015, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264765

Terahertz detection of explosive materials and dangerous objects
Palka, Norbert ; Kowalski, M. ; Walczakowski, M ; Szustakowski, M ; Ciurapinski, W ; Wrobel, J. ; Jodlowski, L ; Rurka, E ; Bou Sleiman, Joyce ; Mounaix, Patrick ; Ellrich, F. ; Molter, D. ; Jonuscheit, J. ; von Freymann, G ; Beigang, R.
Dans : NATO ARW on THz Diagnostics of CBRN effects and Detection of Explosives & CBRN, Izmir (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264649

THz imaging versus X-Ray tomography: Applications to material inspection
Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Mounaix, Patrick
Dans : ICMTS, Quebec (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264760

2013


Characterization and modelling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
Mbaye, N. ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; Lewis, D.
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935694

Analysis of short-term NBTI effect on the Single-Event Upset sensitivity of a 65nm SRAM using two-photon absorption
Moukhtari, I. El ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; Larue, C. ; Perdu, P. ; Lewis, D.
Dans : IEEE RADECS, Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935693

Impact of Negative Bias Temperature Instability on the Single-Event Upset Threshold of a 65nm SRAM cell
Moukhtari, I. El ; Pouget, V. ; Larue, C. ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, P.
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935692

2008


SET sensitive volume imaging and measurement with two-photon absorption laser testing
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Bezerra, F. ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean
Dans : Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), Tucson (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401702

Accelerated Irradiation Method to Study Synergy Effects in Bipolar Integrated Circuits
Roche, N. ; Velo, Y. Gonzalez ; Dusseau, L. ; Boch, J. ; Vaillé, J.-R. ; Saigné, Frédéric ; Azais, B. ; Auriel, G. ; Lorfèvre, E. ; Pouget, V. ; Buchner, S. P. ; David, J.-P. ; Calvel, P. ; Marec, R.
Dans : 7th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems, Jyvaskyla (Finland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01822766

2007


Highlights of laser testing capabilities regarding the understanding of SEE in SRAM Based FPGAs
Bocquillon, A. ; Foucard, G. ; Miller, F. ; Buard, N. ; Leveugle, R. ; Daniel, C. ; Rakers, S. ; Carriere, T. ; Pouget, V. ; Velazco, R.
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS'07), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00288250

Impact of VCO Topology on SET Induced Frequency Response
Chen, W. ; Varanasi, N. ; Pouget, Vincent ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Adell, P.C. ; Copani, T. ; Fouillat, Pascal
Dans : Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) 2007, Honolulu (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398031

IP-Based Library for Analog Design Reuse
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : GDR SoC-SIP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00514216

Single Event Transient Mapping of a Voltage-Controlled Oscillator
Pouget, Vincent ; Chen, W. ; Lewis, Dean ; Barnaby, H. J. ; Fouillat, Pascal
Dans : 16th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398024

Linear Systems Analysis of Single Event Transients in Voltage Controlled Oscillators
Varanasi, N. ; Chen, W. ; Vermeire, B. ; Adell, P.C. ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J.
Dans : 16th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398028

2006


Recent developments for SEE testing at the ATLAS laser facility
Pouget, Vincent ; Wan, Dong Yun ; Jaulent, Patrice ; Douin, Alexandre ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : 15th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398021

Single Event Transients (SETs) in RF Circuits
Varanasi, N. ; Chen, W. ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Cressler, J. ; Lapuyade, Herve ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal
Dans : 15th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398023

2005


Laser Mapping of SRAM sensitive cells. A way to obtain input parameter for DASIE calculation code
Miller, F. ; Buard, N. ; Hubert, G. ; Alestra, S. ; Baudrillard, G. ; Carriere, T. ; Gaillard, R. ; Palau, J.-M. ; Saigné, Frédéric ; Fouillat, P.
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, Cap d'Agde (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01807197

Banc de génération et détection de faisceau THz par photo commutateur ultrarapide sur GaAs BT
Mounaix, Patrick ; Tondusson, M. ; Sarger, Laurent ; Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : 3ème journées Thz, Aussois (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398013

2004


A 1.8 V 4.3 GHz SiGe Tunable Synchronous Oscillator
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Taris, Thierry ; Hellmuth, Patrick ; Mazouffre, Olivier ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Asian Pacific Microwave Conference (APMC'2002), (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183014

Sorting Out of Analogue IC Architectures using the DOE Method : a New Tool for Quality Design
Deval, Yann ; Tomas, Jean ; Fouillat, Pascal ; Dom, Jean-Paul
Dans : proceeding ESREF 93, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184310

Implementing laser based failure analysis methodologies using test vehicles
Lewis, D. ; Pouget, V. ; Beaudoin, F. ; Beauchene, T. ; Haller, G. ; Desplat, R. ; Perdu, P. ; Fouillat, P.
Dans : 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures, Awaji Yumebutai (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887706

Radiation Hardness Assessment of an ADC for Space Application using a Laser Test Equipment
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Darracq, Frédéric
Dans : Proc. of XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS) 2004, ISBN 2-9522971-0-X, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887701

2003


Time-resolved scanning of integrated circuits with a pulsed laser: application to transient fault injection in an ADC
Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P.
Dans : 2003 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 2003), Vail (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887685

Performance impact of various SEE mechanisms in classical analog-to-digital converter architectures
Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Velazco, R. ; Lewis, D. ; Dallet, D.
Dans : IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC'03), Monterey, CA (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01376266

2002


The Synchronous Oscillator in Frequency Generation : an Overview
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Kerherve, Eric
Dans : 14th IEEE International Conference on Microelectronics (ICM'2002), (Lebanon)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183023

The Synchronous Oscillator in Frequency Generation : an Overview
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Kerherve, Eric
Dans : 14th IEEE International Conference on Microelectronics (ICM'2002), (Lebanon)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183003

Laser Utilization for Various Testing Purposes
Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent
Dans : 3rd IEEE Latin American Test Worksop LATW 02, (Uruguay)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185423

A Novel 1-Gbps Clock and Data Recovery Architecture using Synchronous Oscillator in CMOS VLSI technology
Scarabello, Christophe ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Deschans, David ; Fouillat, Pascal ; Pignol, Michel ; Le Gall, Jean-Yves
Dans : IEEE Proceedings of the 28th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC'2002), (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183022

A Novel 1-Gbps Clock and Data Recovery Architecture using Synchronous Oscillator in CMOS VLSI technology
Scarabello, Christophe ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Deschans, David ; Fouillat, Pascal ; Pignol, Michel ; Le Gall, Jean-Yves
Dans : IEEE Proceedings of the 28th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC'2002), (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183001

2001


Videoteaching for RF measurements of ICs in L - S - C bands
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Kerherve, Eric ; Fouillat, Pascal ; Devreese, Regis ; Faurens, Christian
Dans : 12th Conference of the European Association for Education in Electrical and Information Engineering (EAEEIE'2001), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180917

Télé-enseignement de la caractérisation de circuits radiofréquences
Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Devreese, Regis ; Faurens, Christian
Dans : CETSIS-EEA'01, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180916

Convertisseur de signaux orienté délai en technologie CMOS dédié à la réalisation d'un synthétiseur 2 GHz
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : Journées Nationales Micro-ondes (JNM'2001), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183024

1997


Influence des effets de dose cumulée sur les règles de conception des circuits intégrés bipolaires
Montagner, Xavier ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul
Dans : Colloque CAO des circuits intégrés et systèmes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184311

1996


Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations
Deval, Yann ; Briand, Renaud ; Montagner, Xavier ; Fouillat, Pascal ; Tomas, Jean ; Dom, Jean-Paul
Dans : Journées d'étude RADECS96, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184312

A new approach to determine active doping profiles of bipolar transistors using electrical measurements and a physical device simulator
Hachicha, I. ; Fouillat, P. ; Zimmer, T. ; Dom, J.P.
Dans : International Conference on Microelectronic Test Structures, Trento (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721688
Invited lectures → 22 Show

2017


Tomography and terahertz image processing : a new tool for polymer and ceramic additive manufacturing characterization
Mounaix, Patrick
Dans : 3D Print lyon, Lyon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653672

Data And Image Processing For Biomedical Sample Analysis with terahertz beam
Mounaix, Patrick
Dans : BIPSA 2017, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653668

Terahertz spectroscopy imaging for oncology studies
Mounaix, Patrick
Dans : Complementarity between Optics and Neutron spectroscopy in the THz domain – SON2017, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653664

Spectro terahertz imaging : from lab to industrial applications
Mounaix, Patrick
Dans : AG du GDR Ondes, sophia antipolis (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653658

Production , structural characterization of TiO2 spheres and characterization at THz frequencies
Mounaix, Patrick
Dans : ICAE 2017, JeJu (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653655

Advances on spectro thz imaging : From sources to applications
Mounaix, Patrick
Dans : RFIC 2017, Honolulu (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653639

2016


2D and 3D THz imaging: necessity of automated data processing tools
Mounaix, Patrick
Dans : SPIE Asia Beijing 2016, pekin (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393433

Tomography and image processing for polymer additive manufacturing objects
Mounaix, Patrick
Dans : 8th International Symposium on Ultrafast Phenomena and Terahertz Waves, Chongqing (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393428

Automated data and image processing tools for THz applications : Additive manufacturing and  Biomedical  cases
Mounaix, Patrick
Dans : 7 THz Bio conference , Seoul (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393425

Advanced processing sequence for 3D THz imaging
Mounaix, Patrick
Dans : 7th International Workshop on Terahertz Technology and Applications,, Kaiserslautern (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393422

2015


Chemical imaging of RDX/PETN explosives by chemometrics appliyed on terahertz time-domain spectroscopy
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : SPIE Security + Defence, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264631

2009


Failure mechanisms in deep sub-micron technologies
Pouget, Vincent
Dans : Latin America Test Workshop, Buzios (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398047

2008


Failure analysis of advanced CMOS technology: some trends, state of the art and future challenges
Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Pouget, V.
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices (ESREF), Maastricht (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401385

2007


CAD tools dedicated to the design and test of RFICs
Deval, Yann ; Taris, Thierry ; Shirakawa, Alexandre ; Mazouffre, Olivier ; Pouget, Vincent ; Kerherve, Eric ; Lewis, Deal ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : Design, Automation & Test in Europe (DATE) 2007, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178343

Using Pulsed laser for security purpose
Pouget, V.
Dans : USE-IT Workshop, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401384

Test et analyse par faisceau laser: plateforme et applications
Pouget, V.
Dans : Journée thématique du GDR SOC-SiP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401383

Fundamentals and recent developments on laser testing at the IMS laboratory
Pouget, V.
Dans : RALFDAY, Suresnes (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401382

2006


A Review and some Future Prospects on Laser-Based Techniques for Single-Event Effects Testing and Analysis
Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Darracq, Frédéric
Dans : International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications (RASEDA), Tokyo (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398038

Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event effects testing
Mcmorrow, D. ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Darracq, Frédéric ; Buchner, S. ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Séville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401321

Analog Single Event Transients in Linear and RF Devices
Pouget, Vincent
Dans : 2nd International School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications, Séville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398045

2005


Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event upset testing
Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Darracq, Frédéric ; Buchner, S. ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Manaus (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401314

Laser SEE Testing and Analysis Case Studies
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Manaus (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401316
Book chapters → 4 Show

2009


Pour un rapprochement des technologies et des usages : le futur du pôle TIC de Bordeaux
Fouillat, Pascal ; Claverie, Bernard
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983405

2007


Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing
Fouillat, P. ; Pouget, V. ; Mcmorrow, D. ; Darracq, F. ; Buchner, S. ; Lewis, D.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206315

Using the SEEM software for SET testing and analysis
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397867

Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis
Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Lewis, D.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206320
Directions of work or proceedings → 2 Show

2009


Proceedings of 20th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2009 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 49, Issues 9-11)
Labat, Nathalie ; Lewis, D.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670468

2007


Radiation Effects on Embedded Systems
Velazco, Raoul ; Fouillat, Pascal ; Da Luz Reis, Ricardo
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185087
Preprint, Working Paper, Document sans référence, etc. → 7 Show

2017


Des ondes térahertz pour sonder les tableaux et les peintures
Mounaix, Patrick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653682

2016


Franco-Chinese Workshop : Collaboration in Photonics between University of Bordeaux and Huazhong University of Science and Technology
Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Canioni, Lionel ; Prakasam, Mythili ; Jubera, Véronique ; Dousset, Vincent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01456327

Les ondes Térahertz, une alternative prometteuse aux méthodes classiques de CND
Mounaix, Patrick ; obaton, anne françoise
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404483

Photonics & Aeronautics: a wedding with a promising future
Mounaix, Patrick ; Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404480

CONTRÔLES ET MESURES UN NOUVEL ENJEU POUR LA FABRICATION ADDITIVE
Mounaix, Patrick ; obaton, anne françoise
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404478

De nouvelles ondes pour le CND
Mounaix, Patrick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404469

2015


De nouvelles ondes à la vue perçante
Mounaix, Patrick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404487
Patents → 3 Show

2017


Hybrid simulator and method for teaching optics or for training adjustment of an optical device
Canioni, Lionel ; Hachet, Martin ; Guillet, Jean-Paul ; Bousquet, Bruno ; Furio, David
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01536384

2002


Récupération d'Horloge et de Données à Base d'Oscillateur Synchrone
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Le Gall, Jean-Yves ; Pignol, Michel ; Scarabello, Christophe
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178602

2000


Circuits et Procédés de Génération de Signaux en Décalage de Phase
Begueret, Jean-Baptiste ; Belot, Didier ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Spataro, Anne
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178593
Doctoral thesis → 13 Show

2018


Terahertz imaging and spectroscopy of biomedical tissues : application to breast cancer detection
Al-Ibadi, Amel
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01834560

Characterization and simulation of defects induced by a continuous wave laser during electrical failure analysis on the 28FDSOI technology
Penzes, Maxime
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01783955

Fast 3D terahertz imaging
Perraud, Jean-Baptiste
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01949401

2016


Imagerie et spectroscopie térahertz : application aux problématiques de défense et de sécurité
Bou Sleiman, Joyce
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01343342

2014


Integrated circuit analysis by laser probing techniques
Rebaï, Mohamed Mehdi
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01150670

2013


Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below.
Celi, Guillaume
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00904697

Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology
Godlewski, Catherine
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00958998

Study of the atmospherical neutrons effect on electronic components embbeded for avionics application and search of hardening solutions
Renard, Sébastien
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01015741

2012


DEVELOPPEMENT ET APPLICATIONS DE TECHNIQUES LASER IMPULSIONNELLES POUR L'ANALYSE DE DEFAILLANCE DES CIRCUITS INTEGRES
Faraud, Emeric
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997458

NOUVELLES METHODES D'IMAGERIE HAUTE RESOLUTION POUR L'ANALYSE DES COMPOSANTS NANOELECTRONIQUES
Shao, Kai
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997436

2010


Terahertz-Nahfeldmikroskopie
Guillet, Jean-Paul
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01316243

METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUES
Sienkiewicz, Magdalena
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00998834

2009


Etude des effets singuliers transitoires dans les amplificateurs opérationnels linéaires par photogénération impulsionnelle non-linéaire
Jaulent, Patrice
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997385