Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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LASER and Terahertz Test Team

Overview

Laser & terahertz Test Team is member of IMS Lab (nanoelectronics group). 

The activity of the team "Test laser beam of integrated circuits and electronic systems" is to create and use optical analysis techniques, laser and terahertz, for the diagnosis of microelectronic objects. Among the techniques we find three specific fields of application: Analysis of sensitivity to radiation effects, fault detection and fault injection.

The analysis of sensitivity to radiation effects is treated by simulating the effect of a direct ionizing particle (space heavy ions, protons atmospheric) or indirect (atmospheric neutrons) by replacing the particle by an ultrashort laser pulse. The advantage of laser is that you can precisely locate in the space (micrometer resolution) and time (picosecond resolution) the ionizing effect. It is therefore possible to identify sensitive areas to allow the hardening of components or systems to sensitive application (aerospace, ground transportation, ....). Each sensitive area can be defined by volume and over a time window of operation.

The detection of faults within the integrated circuit failure analysis. Optical techniques (photon emission) laser (OBIC, OBIRCH LVP, ltem) and terahertz (EOPTR) allow the use of different types of interaction with the system for accurate detection of a defect (crack , amorphization of the semiconductor, short-circuit, open circuit). This step is necessary for analysis of physical implementation to identify the nature of the defect.

The fault injection the evaluation of the robustness of the secure circuits. This injection can be done by sending a laser beam at different points of the chip or a terahertz wave broad spectrum of the component.

The different techniques used are types of 'pump' (disruption of the functioning of the circuit by creating free charges), "probe" (analysis of the laser beam after passing through the substrate and reflection on the different interfaces, without disturbing the operation of the circuit ) and "pump-probe" (induction of a disturbance laser and analyzing the consequences of this disturbance by laser or terahertz wave).

All the components and materials used in microelectronics and optoelectronics are addressed by this activity.

The team's activity is based on the experimental platform ATLAS (developed thanks to the support of the Aquitaine region) as well as means of electrical and TCAD simulations.

Due to its action research, the team has participated in the implementation of techniques laser in industry and the establishment of the company PULSCAN.

The main collaborations of the team are the following partners: CNES, ESA, ONERA, Airbus Group, TRAD, ST Microelectronic, SERMA technology, ATMEL, Naval Research Laboratory (USA), Vanderbilt University (USA), Centre for Integrated Circuit Failure Analysis and Reliability (Singapore).

 
Members
Dean LEWIS, PR, Frédéric DARRACQ, MCF Responsable de la plateforme ATLAS Jean-Paul GUILLET, MCF Frédéric FAUQUET, Ingénieur d'étude CNRS Pascal FOUILLAT, PR Patrick MOUNAIX, DR CNRS Responsable d'équipe
     
Joyce BOU SLEIMAN, Doctorante Amel ALIBADI, Doctorante Jean Baptiste PERRAUD, Doctorant      

Skills
2016

2016 01 28 111803

 

Publications

Total : 224

Articles in peer-reviewed journal → 135 Show

2020


Using soy protein in the three-component phantom for breast cancer mimicking
Cassar, Q. ; Lykina, A.A. ; Lepeshkin, A.I. ; Baranenko, D.A. ; Kravtsenyuk, O.V. ; Mounaix, P. ; Guillet, J.-P. ; Smolyanskaya, O.A.
Dans : Journal of Physics: Conference Series
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02891061

Efficient compact modelling of UTC-photodiode towards terahertz communication system design
Mukherjee, Chhandak ; Natrella, Michele ; Seddon, James ; Graham, Chris ; Mounaix, Patrick ; Renaud, Cyril ; Maneux, Cristell
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02651295

Guided Reflectometry Imaging Unit using Millimeter Wave FMCW Radars
Pan, M ; Chopard, A. ; Fauquet, F. ; Mounaix, P. ; Guillet, J.-P
Dans : Terahertz Science and Technology IEEE TRANSACTIONS ON TERAHERTZ SCIENCE AND TECHNOLOGY
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02896005

Guided terahertz pulse reflectometry with double photoconductive antenna
Pan, Mingming ; Cassar, Quentin ; Fauquet, Frederic ; Humbert, Georges ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02476707

Terahertz Phase Retrieval Imaging in Reflection
Petrov, Nikolai ; Perraud, Jean-Baptiste ; Chopard, Adrien ; Guillet, Jean-Paul ; Smolyanskaya, Olga ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02891064

Modeling radiative-shocks created by laser- cluster interactions
Scott, R ; Booth, N ; Hawkes, S ; Symes, D ; Hooker, C ; Doyle, H. ; Olsson-Robbie, S ; Lowe, H ; Price, C ; Bigourd, D. ; Patankar, S ; Mecseki, K ; Gumbrell, E ; Smith, R
Dans : Phys.Plasmas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02523915

2019


Iterative Tree Algorithm to Evaluate Terahertz Signal Contribution of Specific Optical Paths within Multi-Layered Materials
Cassar, Quentin ; Chopard, Adrien ; Fauquet, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Pan, Mingming ; Perraud, Jean-Baptiste ; Mounaix, Patrick
Dans : IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335825

Terahertz Spectroscopy and Quantum Mechanical Simulations of Crystalline Copper-Containing Historical Pigments
Kleist, Elyse ; Koch Dandolo, Corinna ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Korter, Timothy
Dans : Journal of Physical Chemistry A
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02009689

Scanning laser terahertz near-field reflection imaging system
Okada, Kosuke ; Serita, Kazunori ; Zang, Zirui ; Murakami, Hironaru ; Kawayama, Iwao ; Cassar, Quentin ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Tonouchi, Masayoshi
Dans : Applied Physics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02347269

Shape-from-focus for real-time terahertz 3D imaging
Perraud, J.-B. ; Guillet, J.-P. ; Redon, O. ; Simoens, F. ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Letters
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02009683

Ex Vivo Breast Tumor Identification: Advances Toward a Silicon-Based Terahertz Near-Field Imaging Sensor
Pfeiffer, Ullrich ; Zimmer, Thomas ; Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Bucher, Thomas ; Cassar, Quentin ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : IEEE Microwave Magazine
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02890448

Ex Vivo Breast Tumor Identification: Advances Toward a Silicon-Based Terahertz Near-Field Imaging Sensor
Pfeiffer, Ullrich ; Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Bucher, Thomas ; Cassar, Quentin ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Microwave Magazine
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335761

Multimodal Optical Diagnostics of Glycated Biological Tissues
Smolyanskaya, O. ; Lazareva, E. ; Nalegaev, S. ; Petrov, N. ; Zaytsev, K. ; Timoshina, P. ; Tuchina, D. ; Toropova, Ya. ; Kornyushin, O. ; Babenko, A. Yu. ; Guillet, J.-P. ; Tuchin, V.
Dans : Биохимия / Biochemistry
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02342804

2018


Pilot study of freshly excised breast tissue response in the 300 – 600 GHz range
Cassar, Quentin ; Al-Ibadi, Amel ; Mavarani, Laven ; Hillger, Philipp ; Grzyb, Janusz ; Macgrogan, Gaetan ; Zimmer, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : Biomedical optics express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923517

Terahertz frequency modulated continuous wave imaging advanced data processing for art painting analysis
Dandolo, Corinna ; Guillet, Jean-Paul ; Ma, Xue ; Fauquet, Frederic ; Roux, Marie ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Express
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01718044

Terahertz pulse time-domain holography method for phase imaging of breast tissue
Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Forster, Wolfgang ; Heinemann, Bernd ; Macgrogan, Gaetan ; Mounaix, Patrick ; Zimmer, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich
Dans : IEEE Journal of Solid-State Circuits
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335929

NearSense – Advances Towards a Silicon-Based Terahertz Near-Field Imaging Sensor for Ex Vivo Breast Tumour Identification
Mounaix, Patrick ; Mavarani, Laven ; Hillger, Philipp ; Bucher, Thomas ; Grzyb, Janusz ; Cassar, Quentin ; Al-Ibadi, Amel ; Zimmer, Thomas ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Pfeiffer, Ullrich
Dans : Frequenz
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01745775

Terahertz biophotonics as a tool for studies of dielectric and spectral properties of biological tissues and liquids
Smolyanskaya, O.A. ; Chernomyrdin, N.V. ; Konovko, A.A. ; Zaytsev, I. ; Ozheredov, I. ; Guillet, Jean-Paul ; Cherkasova, P. ; Nazarov, M.M. ; Kozlov, S.A. ; Kistenev, Yu. ; Coutaz, J.-L. ; Mounaix, P. ; Vaks, V.L. ; Son, H. ; Cheon, H. ; Wallace, V.P. ; Feldman, Yu. ; Popov, I. ; Yaroslavsky, A.N. ; Shkurinov, A.P. ; Tuchin, V.V.
Dans : Progress in Quantum Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923488

2017


Une « Mallette Scan Champ Proche » pour l’enseignement de la compatibilité électromagnétique
Dubois, Tristan ; Guillet, J-P. ; Duchamp, G. ; Tomas, J.
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01698515

Art Painting Diagnostic Before Restoration with Terahertz and Millimeter Waves
Guillet, Jean-Paul ; Roux, M. ; Wang, K. ; Ma, Xue ; Fauquet, F. ; Balacey, H. ; Recur, B. ; Darracq, F. ; Mounaix, P.
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01437051

TCAD simulation capabilities towards gate leakage current analysis of advanced AlGaN/GaN HEMT devices
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01625567

2D and 3D Terahertz Imaging and X-Rays CT for Sigillography Study
Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, F. ; Balacey, H. ; Recur, B. ; Darracq, F. ; Fabre, M. ; Bassel, L. ; Bou Sleiman, J. ; Perraud, J.-B.
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653623

Study of blood plasma optical properties in mice grafted with Ehrlich carcinoma in the frequencyrange 0.1–1.0 THz
Smolyanskaya, Olga ; Kravtsenyuk, O ; Panchenko, A.V. ; Cherkasova, A. V. ; Guillet, J.P. ; Odlyanitskiy, Evgeniy ; Khodzitsky , Mikhail
Dans : Quantum Electronics
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01660495

2016


Advanced Processing Sequence for 3-D THz Imaging
Balacey, Hugo ; Recur, Benoit ; Perraud, Jean-Baptiste ; Sleiman, Joyce ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390881

Automatic process for time-frequency scan of VLSI
Boscaro, Anthony ; Jacquir, Sabir ; Melendez, Kevin ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Binczak, Stéphane
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01465737

Splitting of magnetic dipole modes in anisotropic TiO2 micro-spheres
Khromova, Irina ; Kužel, Petr ; Brener, Igal ; Reno, John L. ; Chung Seu, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mounaix, Patrick ; Mitrofanov, Oleg
Dans : Laser and Photonics Reviews
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01370336

Intrinsic Properties of Anisotropic Dielectric Micro-Resonators Obtained through Near-Field Terahertz Spectroscopy
Mounaix, Patrick ; Khromova, Irina ; Kuzel, P. ; Brener, Igal ; Reno, John L. ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mitrofanov, Oleg
Dans : Conference on Lasers and Electro-OpticsConference on Lasers and Electro-Optics, OSA Technical Digest (online) (Optical Society of America, 2016)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390953

Liquid index matching for 2D and 3D terahertz imaging
Perraud, J. B. ; Bou Sleiman, J. ; Recur, B. ; Balacey, H. ; Simoens, F. ; Guillet, J. P. ; Mounaix, P.
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01394023

Terahertz imaging and tomography as efficient instruments for testing polymer additive manufacturing objects
Perraud, Jean Baptiste ; obaton, anne françoise ; Bou-Sleiman, Joyce ; Recur, Benoit ; Balacey, Hugo ; Darracq, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390875

Bulk magnetic terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
Sindler, Michal ; Kadlec, Christelle ; Dominec, Filip ; Kužel, Petr ; Elissalde, Catherine ; Kassas, Ahmad ; Lesseur, Julien ; Bernard, Dominique ; Mounaix, Patrick ; Němec, Hynec
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01373166

2015


Room temperature Si–Ti thermopile THz sensor
Ben Mbarek, Sofiane ; Euphrasie, Sébastien ; Baron, Thomas ; Thiery, Laurent ; Vairac, Pascal ; Briand, Danick ; Guillet, Jean-Paul ; Chusseau, Laurent
Dans : Microsystem Technologies
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01634975

Quantitative Analysis of Hexahydro-1,3,5-trinitro-1,3,5, Triazine/Pentaerythritol Tetranitrate (RDX–PETN) Mixtures by Terahertz Time Domain Spectroscopy
Bou Sleiman, Joyce ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied Spectroscopy
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263720

Low-frequency noise effect on terahertz tomography using thermal detectors.
Guillet, Jean-Paul ; Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Darracq, F. ; Lewis, Dean ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263737

A way to implement the electro-optical technique to inertial MEMS
Melendez, K ; Desmoulin, A ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264066

2014


A comprehensive study of the application of the EOP techniques on bipolar devices
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Elise, Bernou ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091179

Ordered subsets convex algorithm for 3D terahertz transmission tomography
Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, Jean-Baptiste ; Guillet, Jean-Paul ; Kingston, Andrew ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01066999

Heavy Ion SEU Cross Section Calculation Based on Proton Experimental Data, and Vice Versa
Wrobel, Frédéric ; Touboul, Antoine ; Pouget, Vincent ; Dilillo, Luigi ; Ecoffet, Robert ; Lorfèvre, Eric ; Bezerra, Francoise ; Brugger, Markus ; Saigné, Frédéric
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234461

Determining Realistic Parameters for the Double Exponential Law that Models Transient Current Pulses
Wrobel, Frédéric ; Dilillo, Luigi ; Touboul, Antoine ; Pouget, Vincent ; Saigné, Frédéric
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234429

2013


La cobotique. La robotique soumise.
Claverie, Bernard ; Le Blanc, Benoît ; Fouillat, Pascal
Dans : Communication et Organisation
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01014650

Negative Bias Temperature Instability Effect on the Single Event Transient Sensitivity of a 65 nm CMOS Technology
El Moukhtari, Issam ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Larue, Camille ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880480

Impact of negative bias temperature instability on the single-event upset threshold of a 65 nm SRAM cell
El Moukhtari, Issam ; Pouget, Vincent ; Larue, Camille ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880459

Variants at multiple loci implicated in both innate and adaptive immune responses are associated with Sjögren's syndrome.
Lessard, Christopher J ; Li, He ; Adrianto, Indra ; Ice, John A ; Rasmussen, Astrid ; Grundahl, Kiely M ; Kelly, Jennifer A ; Dozmorov, Mikhail G ; Miceli-Richard, Corinne ; Bowman, Simon ; Lester, Sue ; Eriksson, Per ; Eloranta, Maija-Leena ; Brun, Johan G ; Gøransson, Lasse G ; Harboe, Erna ; Guthridge, Joel M ; Kaufman, Kenneth M ; Kvarnström, Marika ; Jazebi, Helmi ; Graham, Deborah S Cunninghame ; Grandits, Martha E ; Nazmul-Hossain, Abu N M ; Patel, Ketan ; Adler, Adam J ; Maier-Moore, Jacen S ; Farris, A Darise ; Brennan, Michael T ; James, James ; James, Judith A ; Gopalakrishnan, Rajaram ; Hefner, Kimberly S ; Houston, Glen D ; Huang, Andrew J W ; Hughes, Pamela J ; Lewis, David M ; Radfar, Lida ; Rohrer, Michael D ; Stone, Donald U ; Wren, Jonathan D ; Vyse, Timothy J ; Gaffney, Patrick M ; Omdal, Roald ; Wahren-Herlenius, Marie ; Illei, Gabor G ; Witte, Torsten ; Jonsson, Roland ; Rischmueller, Maureen ; Rönnblom, Lars ; Nordmark, Gunnel ; Ng, Wan-Fai ; Mariette, Xavier ; Anaya, Juan-Manuel ; Rhodus, Nelson L ; Segal, Barbara M ; Scofield, R Hal ; Montgomery, Courtney G ; Harley, John B ; Sivils, Kathy L ; Lessard, He ; Cunninghame Graham, Deborah S
Dans : Nature Genetics
https://hal.univ-brest.fr/hal-01558145

Characterization and modeling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
Mbaye, Nogaye ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880471

2012


Building the electricalmodel of the PhotoelectricLaserStimulation of a PMOS transistor in 90 nm technology
Alexandre, Sarafianos ; Llido, R. ; Dutertre, Jean-Max ; Gagliano, Olivier ; Serradeil, Valérie ; Lisart, Mathieu ; Goubier, V. ; Tria, Assia ; Pouget, Vincent ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742622

Comparison of Single Event Transients Generated at Four Pulsed-Laser Test Facilities-NRL, IMS, EADS, JPL
Buchner, S. ; Roche, Nicolas Jean-Henri ; Warner, J. ; Mcmorrow, D. ; Miller, F. ; Morand, S. ; Pouget, V. ; Larue, C. ; Ferlet-Cavrois, V. ; El Mamouni, F. ; Kettunen, Heikki ; Adell, P. C. ; Allen, G. ; Aveline, David
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01633618

Investigation on the Single Event Burnout Sensitive Volume Using Two-Photon Absorption Laser Testing
Darracq, Frédéric ; Mbaye, Nogaye ; Azzopardi, Stephane ; Pouget, Vincent ; Lorfèvre, E. ; Bezerra, F. ; Lewis, Dean
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00772095

Coupling and propagation of Sommerfeld waves at 100 and 300 GHz
Guillet, Jean-Paul ; Chusseau, Laurent
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091187

Effects of 1064 nm laser on MOS capacitor
Llido, R. ; Masson, P. ; Regnier, V. ; Goubier, V. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988338

Building the electrical model of the Photoelectric Laser Stimulation of a PMOS transistor in 90nm technology
Sarafianos, A ; Llido, R ; Gagliano, O ; Serradeil, V ; Lisart, M ; Goubier, V ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, A ; Pouget, V ; Lewis, D
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01110360

2011


Time Resolved Imaging: From logical states to events, a new and efficient pattern matching method for VLSI analysis
Bascoul, G. ; Perdu, Philippe ; Benigni, A. ; Dudit, Sylvain ; Celi, Guillaume ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669825

LVI detection on passive structure in advance CMOS technology: New opportunities for device analysis
Celi, Guillaume ; Dudit, Sylvain ; Parassin, T. ; Perdu, Philippe ; Reverdy, Antoine ; Lewis, D. ; Vallet, M.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669760

L'évolution disciplinaire des sciences de l'information : des technologies à l'ingénierie des usages
Claverie, Bernard ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue Internationale de Projectique -­ International Journal of Projectics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669468

Investigation on the SEL Sensitive Depth of an SRAM Using Linear and Two-Photon Absorption Laser Testing
Faraud, Emeric ; Pouget, V. ; Shao, Kai ; Larue, Camille ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Samaras, A. ; Bezerra, F. ; Lorfèvre, E. ; Ecoffet, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667336

Magnetic field spatial Fourier analysis: A new opportunity for high resolution current localization
Infante, Fulvio ; Perdu, Philippe ; Kor, H.B ; Gan, C. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669757

Photoelectric Laser Stimulation applied to Latch-Up phenomenon and localization of parasitic transistors in an industrial failure analysis laboratory
Llido, R. ; Gomez, J. ; Goubier, V. ; Froidevaux, N. ; Dufayard, L. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669826

3D knife-edge characterization of two-photon absorption volume in silicon for integrated circuit testing
Shao, Kai ; Morisset, Adèle ; Pouget, V. ; Faraud, Emeric ; Larue, Camille ; Lewis, D. ; Mcmorrow, D.
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667432

2010


Facing the defect characterization and localization challenges of bridge defects on submicronic technology (45nm and below)
Celi, Guillaume ; Dudit, Sylvain ; Perdu, Philippe ; Reverdy, Antoine ; Parrassin, Thierry ; Bechet, Emmanuel ; Lewis, Dean ; Vallet, Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585642

The disciplinary evolution of information science: from technology to usability engineering
Claverie, Bernard ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue Internationale de Projectique -­ International Journal of Projectics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01672713

CADless laser assisted methodologies for failure analysis and device reliability
Deyine, Amjad ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Battistella, F. ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988334

Magnetic microscopy for ground plane current detection: a fast and reliable technique for current leakage localization by means of magnetic simulation
Infante, F. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585644

Compact modeling of optically gated carbon nanotube field effect transistor
Liao, Si-Yu ; Maneux, Cristell ; Pouget, Vincent ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : physica status solidi (b)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00495144

2009


Pervasion, transparence et cognition augmentée
Claverie, Bernard ; Lespinet-Najib, Véronique ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue des Interactions Humaines Médiatisées (RIHM) = Journal of Human Mediated Interactions
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01672718

Pervasion, transparence et cognition augmentée
Claverie, Bernard ; Lespinet-Najib, Véronique ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue des Interactions Humaines Médiatisées (RIHM) = Journal of Human Mediated Interactions
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983269

A New Technique for SET Pulse Width Measurement in Chains of Inverters Using Pulsed Laser Irradiation
Ferlet-Cavrois, V. ; Mcmorrow, D. ; Kobayashi, D. ; Melinger, J. ; Schwank, J.R ; Gaillardin, M. ; Pouget, V. ; Essely, Fabien ; Baggio, J. ; Girard, Sébastien ; Flament, O. ; Paillet, Philippe ; Flores, R. ; Dodd, P.E. ; Shaneyfelt, M.R. ; Hirose, K. ; Saito, H.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669755

Electrical modeling of the effect of beam profile for pulsed laser fault injection
Godlewski, C. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Lisart, Mathieu
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669736

Net integrity checking by optical localization techniques
Haller, Gerald ; Machouat, A. ; Lewis, D. ; Pouget, V.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669741

A CMOS Resizing Methodology for Analog Circuits: linear and non-linear applications
Levi, Timothée ; Tomas, Jean ; Lewis, Noëlle ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Design & Test
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00359990

Accelerated Irradiation Method to Study Synergy Effects in Bipolar Integrated Circuits
Roche, Nicolas Jean-Henri ; Gonzalez Velo, Yago ; Dusseau, Laurent ; Boch, Jérôme ; Vaillé, Jean-Roch ; Saigné, Frédéric ; Azais, Bruno ; Auriel, GÉrard ; Lorfèvre, Eric ; Pouget, Vincent ; Buchner, Stephen P. ; David, Jean-Pierre ; Marec, Ronan ; Calvel, Philippe
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01631440

2008


Investigation of the Propagation Induced Pulse Broadening (PIPB) Effect on Single Event Transients in SOI and Bulk Inverter Chains
Cavrois, V.F ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Schwank, J.R ; Fel, N. ; Essely, Fabien ; Flores, R. ; Paillet, P. ; Gaillardin, M. ; Kobayashi, D. ; Melinger, J. ; Duhamel, O. ; Dodd, P.E. ; Shaneyfelt, M.R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397995

Investigation of Single-Event Transients in Linear Voltage Regulators
Irom, F. ; Miyahira, T.F ; Adell, P. ; Laird, J.S ; Conder, B. ; Pouget, Vincent ; Essely, Fabien
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397996

Study of Single Event Transients in High-Speed Operational Amplifiers
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397747

Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401309

Evaluation of Recent Technologies of Nonvolatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, V. ; Darracq, Frédéric ; David, J.P ; Soonckindt, S.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667419

Evaluation of Recent Technologies of Nonvolatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; David, J.P. ; Soonckindt, S.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327362

A Stochastic Model for Cancer Stem Cell Origin in Metastatic Colon Cancer
Odoux, C. ; Fohrer, H. ; Hoppo, T. ; Guzik, L. ; Stolz, D. ; Lewis, D. ; Gollin, S. ; Gamblin, T. ; Geller, D. ; Lagasse, E.
Dans : Cancer Research
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02541002

Laser-Induced Current Transients in Silicon-Germanium HBTs
Pellish, J.A ; Reed, R. ; Mcmorrow, D. ; Melinger, J. ; Jenkins, P. ; Sutton, A. ; Diestelhorst, R. ; Phillips, S. ; Cressler, J. ; Pouget, Vincent ; Pate, N. ; Kozub, J. ; Mendehall, M. ; Weller, R. ; Schrimpf, R.D. ; Marshall, P. ; Tipton, A. ; Niu, G.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397926

Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs
Sienkiewicz, Magdalena ; Perdu, Philippe ; Firiti, Abdellatif ; Sanchez, Kevin ; Crepel, Olivier ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401312

2007


Investigation of a new method for dopant characterization
Adrian, J. ; Rodriguez, N. ; Essely, F. ; Haller, G. ; Grosjean, C. ; Portavoce, A. ; Girardeaux, C.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02386183

Investigation of a new method for dopant characterization
Adrian, J. ; Rodriguez, N. ; Essely, F. ; Haller, G. ; Grosjean, C. ; Portavoce, A. ; Girardeaux, Christophe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02044994

Investigation of a new method for dopant characterization
Adrian, J. ; Rodriguez, N. ; Essely, F. ; Haller, G. ; Grosjean, C. ; Portavoce, A. ; Girardeaux, Christophe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02044987

Impact of VCO Topology on SET Induced Frequency Response
Chen, W. ; Varanasi, N. ; Pouget, V. ; Barnaby, H. ; Vermeire, B. ; Adell, P. ; Copani, T. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206290

Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Guitard, Nicolas ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00382949

Total Dose and Single Event Transients in Linear Voltage Regulators
Kelly, A.T. ; Adell, P.C. ; Witulski, A.F. ; Holman, W.T. ; Schrimpf, R.D. ; Pouget, Vincent
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397727

A Heavy-Ion Tolerant Clock and Data Recovery Circuit for Satellite Embedded High-Speed Data Links
Lapuyade, Hervé ; Mazouffre, Olivier ; Goumballa, Birama ; Pignol, Michel ; Malou, Florence ; Neveu, Claude ; Pouget, Vincent ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182248

IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : Design&Reuse Articles
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00522419

Configuration errors analysis in SRAM-based FPGAs: software tool and practical results
Maingot, V. ; Ferron, J. ; Leveugle, R. ; Pouget, V. ; Douin, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184528

In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
Wan, Dong Yun ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Jaulent, Patrice ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Semiconductors
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204572

2006


Single Event Induced Instability in Linear Voltage Regulators
Adell, P.C. ; Witulski, A.F. ; Schrimpf, R.D. ; Marec, R. ; Pouget, Vincent ; Calvel, P. ; Bezerra, F.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397721

Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13µm CMOS Technology
Chen, W. ; Pouget, Vincent ; Gentry, G.K. ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Bakkaloglu, B. ; Kiaei, K. ; Holbert, K.E. ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397725

Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13 μm CMOS Technology
Chen, W. ; Pouget, V. ; Gentry, G.K. ; Barnaby, H. ; Vermeire, B. ; Bakkaloglu, B. ; Kiaei, S. ; E. Holbert, K. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206532

Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Journal of Integrated Circuits and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00359396

A 4 Gsample/s 2 bits flash ADC with 2–4 GHz input bandwidth for radio astronomy application
Deschans, D. ; Bégueret, J.-B. ; Deval, Y. ; Scarabello, C. ; Fouillat, P. ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : Analog Integrated Circuits and Signal Processing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206668

Time resolved imaging using synchronous picosecond Photoelectric Laser Stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; De Matos, Magali ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204571

Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204547

Application of various optical techniques for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Remmach, Mustapha ; Beaudoin, Félix ; Guitard, Nicolas ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204570

A Radiation-Hardened Injection Locked Oscillator Devoted to Radio-Frequency Applications
Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Hellmuth, Patrick ; Taris, Thierry ; Mazouffre, Olivier ; Fouillat, Pascal ; Deval, Yann
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183155

Laser mapping of SRAM Sensitive Cells : a way to obtain input parameters for DASIE calculation code
Miller, F. ; Buard, N. ; Hubert, G. ; Alestra, S. ; Baudrillard, G. ; Carrière, T. ; Gaillard, R. ; Palau, J.-M. ; Saigné, Frédéric ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206425

2005


Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181926

Impact of semiconductors material on IR Laser Stimulation signal
Firiti, Abdellatif ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401285

Different Failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure
Guitard, Nicolas ; Essely, Fabien ; Trémouilles, David ; Bafleur, Marise ; Nolhier, Nicolas ; Perdu, Phillipe ; Touboul, Andre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397706

Implementing laser-based failure analysis methodologies using test vehicles
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Phillipe ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397918

Rate Predictions for Single Event Effects – Critique II
Petersen, E. ; Pouget, Vincent ; Massengill, L. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397715

Light Emission To time resolved emission for IC debug and failure analysis
Remmach, Mustapha ; Pigozzi, A. ; Desplats, Romain ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Noel, J. ; Dudit, Sylvain
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401289

NIR Laser stimulation for dynamic timing analysis
Sanchez, Kevin ; Desplats, Romain ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Roux, J.P. ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401294

2004


Investigation of millisecond-long analog single-event transients in the LM6144 op amp
Boulghassoul, Y. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D. ; Pouget, V. ; Massengill, L.W. ; Fouillat, P. ; Holman, W.T. ; Poivey, C. ; Howard, J.W. ; Savage, M. ; Maher, M.C.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887662

Evaluation of SRAMS reliability for space electronics using ultra short laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Electrochemical Society
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185395

INVESTIGATION OF SINGLE-EVENT TRANSIENTS IN FAST INTEGRATED CIRCUITS WITH A PULSED LASER
Fouillat, P. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D.
Dans : International Journal of High Speed Electronics and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887658

Time-Resolved Scanning of Integrated Circuits With a Pulsed Laser: Application to Transient Fault Injection in an ADC
Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887656

Dynamic Behavior of a Chemical Sensor for Real-Time Measurement of Humidity Variations in Human Breath
Tetelin, Angélique ; Pouget, Vincent ; Lachaud, Jean-Luc ; Pellet, Claude
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183110

2003


Application of picosecond ultrasonics to non-destructive analysis in VLSI circuits
Andriamonje, G. ; Pouget, V. ; Ousten, Y. ; Lewis, D. ; Danto, Y. ; Rampnoux, Jean-Michel ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, Stéphane ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01550917

Application of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Danto, Yves ; Rampnoux, J. M. ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181929

From Static Thermal and Photoelectric Laser Stimulation (TLS/PLS) to Dynamic Laser Testing
Beaudoin, F. ; Desplats, R. ; Perdu, P. ; Firiti, Abdellatif ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887652

Thermal laser stimulation and NB-OBIC techniques applied to ESD defect localization
Beauchêne, T. ; Lewis, D. ; Beaudoin, F. ; Pouget, V. ; Desplats, R. ; Fouillat, P. ; Perdu, P. ; Bafleur, Marise ; Trémouilles, David
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887647

A physical approach on SCOBIC investigation in VLSI
Beauchêne, T. ; Lewis, D. ; Beaudoin, F. ; Pouget, V. ; Perdu, P. ; Fouillat, P. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887645

Investigation of single-event transients in voltage-controlled oscillators
Chen, W. ; Pouget, V. ; Barnaby, H.J. ; Cressler, J. D. ; Niu, G. ; Fouillat, P. ; Deval, Y. ; Lewis, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887654

Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Fouillat, Pascal ; Dufayel, R. ; Carriere, T.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185396

2002


Heavy ion-induced charge collection mechanisms in CMOS active pixel sensor
Belredon, X. ; David, J. ; Lewis, D. ; Beauchene, T. ; Pouget, V. ; Barde, S. ; Magnan, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887641

Backside SEU laser testing for commercial off-the-shelf SRAMs
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Buard, Nadine ; Mounsi, Faresse ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204728

Single-Event Sensitivity of a Single SRAM Cell
Darracq, Frédéric ; Beauchene, Thomas ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185398

Backside SEU Laser Testing for Commercial-Off-The-Shelf SRAM
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Mounsi, F. ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185397

Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose-Rate-Hardened Linear Integrated Circuits
Deval, Yann ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J. ; Darracq, Frédéric ; Briand, Renaud ; Lewis, Dean ; Schrimpf, Rd
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184299

Study of the interaction between Heavy Ions and Integrated Circuits using a Pulsed Laser Beam
Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé
Dans : European Physical Journal: Applied Physics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185399

A VLSI CMOS Delay Oriented Waveform Converter for Polyphase Frequency Synthesizer
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Journal of Solid-State Circuits
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183165

2001


hiperLAN 5.4 GHz Low-Power CMOS Synchronous Oscillator
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Belot, D. ; Badets, Franck
Dans : IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183168

Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beauchene, Thomas ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185401

Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185400

Theoretical Investigation of an Equivalent Laser LET
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Buchner, S.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185402

2000


Application of laser testing in study of SEE mechanisms in 16-Mbit DRAMs
Duzellier, S. ; Falguere, D. ; Guibert, L. ; Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Ecoffet, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887628

Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Darracq, Frédéric ; Touboul, Andre
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185403

SPICE Modeling of the Transient Response of Irradiated MOSFETs
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184300

1999


Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis
Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L. ; Calvet, M. C.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185404

1997


Modélisation des effets des radiations sur les transistors bipolaires
Montagner, Xavier ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Lapuyade, Hervé ; Schrimpf, Rd ; Galloway, Kf
Dans : REVUE DE l'ELECTRICITE ET DE L'ELECTRONIQUE
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185405

1996


Numerical Modelling of Mechanisms involved in Latchup Triggering by a Laser Beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul ; Gaillard, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185407

Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Microelectronic Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185406

1994


Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing
Fouillat, Pascal ; Gervais-Ducouret, Stéphane ; Lapuyade, Hervé ; Dom, Jean-Paul
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185408
Articles in journals without review committee → 2 Show

2009


L'innovation comme moteur d'évolution des technologies de l'information ; vers un rapprochement des techniques et des usages
Claverie, Bernard ; Fouillat, Pascal
Dans : I-Revues - Edition Electronique de l'INIST - Information, innovation et interdisciplinarité
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983471

2007


IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, Noëlle ; Tomas, Jean ; Fouillat, Pascal
Dans : Einfochips Dashboard
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00522423
Conference with proceedings (national) → 87 Show

2019


Terahertz pulse time-domain holography method for phase imaging of breast tissue
Balbekin, Nikolay ; Cassar, Quentin ; Smolyanskaya, Olga ; Kulya, Maksim ; Petrov, Nikolay ; MacGrogan, Gaëtan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Tuchin, Valery
Dans : Quantitative Phase Imaging V, San Francisco (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02481331

The terahertz pulse time-domain holography method for phase imaging of breast tissue sample
Balbekin, Nikolay ; Cassar, Quentin ; Smolyanskaya, Olga ; Macgrogan, Gaëtan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Kravtsenyuk, Olga ; Kulya, Maksim ; Petrov, Nikolay
Dans : Digital Holography and Three-Dimensional Imaging, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02381146

Iterative Tree Algorithm for the Assessment of Optical Path Contributions within Stratified Structures
Cassar, Q. ; Chopard, A. ; Fauquet, F. ; Guillet, J.P. ; Pan, M. ; Perraud, J.B. ; Mounaix, Patrick
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350806

Ancient Painting on Copper Substrate Inspected by Terahertz Spectroscopy-Imaging
Cassar, Q. ; Koch-Dandolo, C.L. ; Guillet, J.P. ; Roux, M. ; Fauquet, F. ; Mounaix, Patrick
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350792

Compact Modeling of UTC Photodiodes Enabling Future Terahertz Communication System Design
Chhandak, Mukherjee ; Natrella, M. ; Seddon, J. ; Grahams, C. ; Mounaix, Patrick ; Renaud, C. C. ; Maneux, Cristell
Dans : XIIIème Colloque du GdR SOC2, Montpellier (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02511632

Millimeter waves Radar: A way to see through the airplane covering?
Chopard, Adrien ; Sleiman, Joyce ; Cassar, Q. ; Fauché, P. ; Guillet, J. ; Mounaix, Patrick ; Jean-Baptiste, Perraud ; Susset, A.
Dans : 11 symposium international : NDT in Aerospace, Saclay (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02877339

A fast and homogeneous lighting for full-field THz imaging
Chopard, Angèle ; Perraud, J-B. ; Guillet, J-P. ; Gellie, P. ; Fauquet, F. ; Mounaix, Patrick
Dans : Information Storage System and Technology, Wuhan (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02877264

Sensing with terahertz FMCW radars
Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, Frederic ; Mounaix, Patrick
Dans : Smart NanoMaterials 2019: Advances, Innovation and Applications, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02481272

Comparative study of millimeter wave III/V semiconductor and integrated silicon based FMCW radars
Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, Frederic ; Chopard, Adrien ; Perraud, Jean-Baptiste ; Roux, Marie ; Mounaix, Patrick
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350788

Using soy protein in the three-component phantom for breast cancer mimicking
Mounaix, Patrick ; Cassar, Q. ; Lykina, A.A. ; Lepeshkin, A.I. ; Baranenko, D.A. ; Kravtsenyuk, O.V. ; Mounaux, P. ; Guillet, J.-P. ; Smolyanskaya, O.A.
Dans : SNAIA 2019, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02883376

Near field and far field investigations on breast cancer tissus
Mounaix, Patrick ; Quentin, Cassar ; MacGrogan, Gaëtan ; Pfeiffer, Ullrich ; Zimmer, Thomas ; Guillet, Jean-Paul
Dans : Smart NanoMaterials 2019: Advances, Innovation and Applications, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02481268

First Uni-Traveling Carrier Photodiode Compact Model Enabling Future Terahertz Communication System Design
Mukherjee, C ; Mounaix, Patrick ; Maneux, C. ; Natrella, M. ; Seddon, J ; Graham, C. ; Renaud, C.
Dans : ESSDERC 2019, Cracow (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02379096

Scanning laser terahertz near-field reflection microscope for biological analysis
Okada, Kosuke ; Serita, Kazunori ; Zang, Zirui ; Murakami, Hironaru ; Kawayama, Iwao ; Cassar, Quentin ; Al-Ibadi, Amel ; Macgrogan, Gaëtan ; Zimmer, Thomas ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Tonouchi, Masayoshi
Dans : Bio-Optics: Design and Application, Tucson (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02381160

Pulse terahertz holographic reconstruction of optical parameters for blood plasma pellets
Olga, Smolyanskaya ; Trukhin, Valery ; Quentin, Cassar ; Evgeniy, Odlyanitskiy ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul
Dans : Smart NanoMaterials 2019: Advances, Innovation and Applications, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02481283

THz imaging with a hollow core waveguide
Pan, Mingming ; Guillet, Jean-Paul ; Humbert, Georges ; Fauquet, Frederic ; Lewis, Dean ; Mounaix, Patrick
Dans : French-German THz Conference, Kaiserslautern (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02523215

Study of a THz Hollow-core Fiber for Sample Reflectance Analysis
Pan, Mingming ; Cordeiro, Cristiano ; Fauquet, Frederic ; Mounaix, Patrick ; Rodrigues, Gildo ; Franco, Marcos ; Guillet, Jean-Paul
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350784

Interaction of Terahertz Radiation with Bio-Like Objects: Theoretical and Numerical Modelling, Real Objects and Phantom Experiments
Smolyanskaya, O. ; Cassar, Q. ; Kravtsenyuk, O ; Odlyanitskiy, E ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul ; Zaytsev, K. ; Petrov, N
Dans : Bright Far-Infrared Optoelectronic Sources Applied to Field-Matter Interaction Studies, Life Sciences and Environmental Monitoring International Workshop, Nizhny Novgorod (Russia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02482611

Reconstructed THz phase image of the two-component numerical model of breast cancer tissue
Smolyanskaya, Olga ; Kulya, Maksim ; Cassar, Quentin ; Kravtsenuk, Olga ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul ; Zaytsev, Kirill ; Petrov, Nikolay
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350797

Terahertz spectra of drug-laden magnetic nanoparticles
Smolyanskaya, Olga ; Trukhin, Valery ; Gavrilova, Polina ; Odlyanitskiy, Evgeniy ; Semenova, Anna ; Cassar, Quentin ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Gareev, Kamil ; Korolev, Dmitry
Dans : Colloidal Nanoparticles for Biomedical Applications XIV, San Francisco (United States)
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335873

2018


Studies on PCA for Breast Tissue Segmentation
Cassar, Q. ; Al-Ibadi, A. ; Mavarani, L. ; Hillger, P. ; GRZYB, J. ; MacGrogan, G. ; PFEIFFER, U.R. ; Zimmer, T. ; Guillet, J.P. ; Mounaix, Patrick
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2018), Nagoya (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02877404

Varnishes of painting material studied by terahertz spectroscopy
Cassar, Q. ; Koch-Dandolo, C.L. ; Guillet, J.P. ; Roux, M. ; Fauquet, F. ; Mounaix, Patrick
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2018), Nagoya (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02877398

Varnishes of painting material studied by terahertz spectroscopy
Cassar, Q. ; Koch-Dandolo, C.L. ; Guillet, J.P. ; Roux, M. ; Fauquet, F. ; Mounaix, Patrick
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2018), Nagoya (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02877395

3D-additive manufacturing non-destructive characterization with terahertz waves (Conference Presentation)
Guillet, Jean-Paul ; Obaton, Anne-Françoise ; Perraud, Jean Baptiste ; Balacey, Hugo ; Recur, Benoît ; Mounaix, Patrick
Dans : Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02877419

Terahertz frequency modulated continuous wave imaging for non-destructive evaluation of painting and multilayer parts
Guillet, Jean-Paul ; Ma, Xue ; Wang, Kejia ; Fauquet, Frederic ; Mounaix, Patrick ; Koch Dandolo, Corinna Ludovica ; Roux, Marie ; Sadwick, Laurence ; Yang, Tianxin
Dans : Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI, San Francisco (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923526

A 128-pixel 0.56THz sensing array for real-time near-field imaging in 0.13μm SiGe BiCMOS
Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Mavarani, Laven ; Heinemann, Bernd ; Grogan, Gaëtan Mac ; Mounaix, Patrick ; Zimmer, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich
Dans : 2018 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02877416

A Solid-State 0.56 THz Near-Field Array for μM-Scale Surface Imaging
Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Mavarani, Laven ; Bucher, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich ; MacGrogan, Gaëtan ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Nagoya (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923726

Shape from Focus Applied to Real- Time Terahertz Imaging
Jean-Baptiste, Perraud ; Guillet, Jean-Paul ; Hamdi, Maher ; Redon, Olivier ; Meilhan, Jérôme ; Simoens, François ; Mounaix, Patrick
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Nagoya (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923691

Investigation of the trap-limited transient response of GaN HEMTs
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : 2018 Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-wave Circuits Workshop, Brives (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01851997

Investigation of Trapping Behaviour in GaN HEMTs through physical TCAD Simulation of Capacitance Voltage characteristics
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : EuroSimE 2018, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718857

Comprehensive Study into Underlying Mechanisms of Anomalous Gate Leakage Degradation in GaN High Electron Mobility Transistors
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : IRPS 2018, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718850

Terahertz Spectroscopy and Quantum Mechanical Simulations of Crystalline Historical Pigments
Kleist, Elyse ; Dandolo, Corinna ; Korter, Timothy ; Mounaix, Patrick
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2018), Nagoya (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02877401

Towards industrial applications of terahertz real-time imaging
Mounaix, Patrick ; Simoens, François ; Dussopt, Laurent ; Meilhan, Jérôme ; Nicolas, Nicolas ; Monnier, Nicolas ; Siligaris, Alexandre ; Hiberty, Bruno ; Perraud, Jean-Baptiste ; Lalanne-Dera, Jérémy ; Redon, Olivier ; Sadwick, Laurence ; Yang, Tianxin
Dans : Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI, San Francisco (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01734577

Guided terahertz pulsed reflectometry: a remote probe for near-field imaging (Conference Presentation)
Pan, Mingming ; Fauquet, Frederic ; Lewis, Dean ; Darracq, Frédéric ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul
Dans : Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02877422

Comparative study of terahertz waveguide in reflective mode configuration
Pan, M. ; Guillet, J.P. ; Humbert, G. ; Fauquet, F. ; Lewis, D. ; Mounaix, P.
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2018), Nagoya (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02523226

Comparative study of terahertz waveguide in reflective mode configuration
Pan, M. ; Guillet, J.P. ; Humbert, G. ; Fauquet, F. ; Lewis, D. ; Mounaix, P.
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2018), Nagoya (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02522845

Interaction of terahertz radiation with tissue phantoms: numerical and experimental studies
Smolyanskaya, O.A. ; Cassar, Q. ; Kulya, M.S. ; Petrov, N.V. ; Zaytsev, K.I. ; Lepeshkin, A.I. ; Guillet, J.-P. ; Mounaix, P. ; Tuchin, V.
Dans : 3rd International Conference “Terahertz and Microwave Radiation: Generation, Detection and Applications” (TERA-2018), Nizhny Novgorod (Russia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02481311

2017


Terahertz Biomedical Imaging: From Multivariate Analysis and Detection to Material Parameter Extraction
Amel, Al-Ibadi ; Bou-Sleiman, Joyce ; Quentin, Cassar ; Macgrogan, Gaëtan ; Balacey, Hugo ; Thomas, Zimmer ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS), Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546451

Phase uncertainty in different THz time-domain spectrometers
Bernier, Maxime ; Garet, Frédéric ; Coutaz, Jean-Louis ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : 2017 42nd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Cancun (Mexico)
https://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02009670

Agar and Silica Gel Based Biotissue-mimicking Phantoms in THz Frequency Range
Evgeniy, Odlyanitskiy ; Olga, Smolyanskaya ; Kravtsenyuk, O ; Guillet, Jean-Paul ; A, Popov ; Mikhail, Khodzitsky
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS), Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546453

HOBIT: Hybrid Optical Bench for Innovative Teaching
Furio, David ; Fleck, Stéphanie ; Bousquet, Bruno ; Guillet, Jean-Paul ; Canioni, Lionel ; Hachet, Martin
Dans : CHI'17 - Proceedings of the 2017 CHI Conference on Human Factors in Computing Systems, Denver (United States)
https://hal.inria.fr/hal-01455510

Performances and robustness of IR seed Laser diodes under large overcurrent and short-pulse conditions for fiber Laser applications
Galès, Germain Le ; Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : EMN Americas Meetings, Victoria (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719975

Art Painting Testing with Terahertz Pulse and Frequency Modulated Continuous Wave
Guillet, Jean-Paul ; Roux, Marie ; Wang, Kejian ; Ma, Xue ; Fauquet, Frederic ; Darracq, Frederic ; Mounaix, Patrick
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium, Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546450

Contrôle non destructif terahertz et fabrication additive
Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : La photonique appliquée à l'aéronautique, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01456318

THz Tomography and image processing: a new tool for polymer and ceramic additive manufacturing quality control
Mounaix, Patrick
Dans : 15th ASIA PACIFIC CONFERENCE FOR NON-DESTRUCTIVE TESTING (APCNDT) , singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653651

Terahertz Paint Thickness Measurements : from lab to automotive and aeronautics Industry
Mounaix, Patrick
Dans : 5th ASIA PACIFIC CONFERENCE FOR NON-DESTRUCTIVE TESTING (APCNDT), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653647

Advantages of TCAD simulation towards inverstigation of reliability concerns in GaN HEMTs for RF power applications
Mukherjee, Kalparupa ; Darracq, Frederic ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : BEE Week at IEEE IM an MTT-S Day, IEEE student Branch, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02462765

TCAD simulation capabilities towards gate leakage current analysis of advanced AlGaN/GaN HEMT devices
Mukherjee, Kalparupa ; Darracq, Frederic ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : ESREF 2017, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02462694

Guided terahertz pulsed reflectometry simulation with near field probe
Pan, M. ; Guillet, J.P. ; Fauquet, F. ; Lewis, D. ; Mounaix, P.
Dans : 2017 42nd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Cancun (Mexico)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02478521

2016


Frequency modulated continuous wave terahertz imaging for art restoration
Guillet, Jean-Paul ; Wang, Kejian ; Roux, Marie ; Fauquet, Frederic ; Darracq, Frédéric ; Mounaix, Patrick
Dans : IRMMW 2016, Copenhagen (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01418837

1060nm seed laser diodes in pulsed operation: performances and safe operating area
Le Gales, Germain ; Giulia, Marcello ; Joly, Simon ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Darracq, Frederic ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS 2016, Otwock (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720731

Bulk rigid terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
Mounaix, Patrick ; Kadlec, C. ; Elissalde, Catherine ; Dominec, Filip ; Nemec, H. ; Kuzel, P.
Dans : TST 2016 , Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404436

Automated Data And Image Processing For Biomedical Sample Analysis
Mounaix, Patrick ; Balacey, Hugo ; Guillet, Jean-Paul ; Pickwell-MacPherson, Emma ; MacGrogan, Gaëtan ; alabadi, amel
Dans : IRRMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404429

Near-field THz Time-domain Spectroscopy Of Anisotropic Dielectric Micro-particles
Mounaix, Patrick ; Matheisen, Christopher ; Brener, Igal ; Khromova, Irina ; Reno, John L. ; Kuzel, P. ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404422

Frequency Modulated Continuous Wave Terahertz Imaging For Art Restoration
Mounaix, Patrick ; Darracq, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, Frederic ; Roux, Marie ; Wang, Kejian
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404415

Photoconductive Microprobe Based Near-field Scanning Of Terahertz Resonances Of A Single High-index TiO2 Microsphere
Mounaix, Patrick ; Elissalde, Catherine ; Nagel, Michael ; Sawallich, S. ; Matheisen, Christopher
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404349

Extending Terahertz Paint Thickness Measurements To Advanced Industry-Standard Automotive Paint Structures
Mounaix, Patrick ; Gregory, Ian ; Taday, Phil ; May, Robert M.
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404335

THz tomography and image processing : a new tool for polymer and ceramic additive manufacturing characrerization
Mounaix, Patrick ; obaton, anne françoise ; Balacey, Hugo ; Perraud, Jean Baptiste ; Guillet, Jean-Paul ; Bou-Sleiman, Joyce ; Recur, Benoit
Dans : Pharos event 2016, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404322

Terahertz paint thickness measurements : from automotive to aeronautics industry
Mounaix, Patrick ; Balacey, Hugo ; Taday, Phil ; Gregory, Ian ; May, Robert M.
Dans : PHAROS, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404314

2015


Ordered subsets convex algorithm and automatic image processing sequences: the solid bases for 3D THz inspection
Balacey, Hugo ; Perraud, JB ; Bou Sleiman, Joyce ; Recur, Benoît ; Mounaix, Patrick
Dans : 8èmes Journées THz , Areches-Beaufort (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264807

Imagerie et spectroscopie Terahertz: applications aux problématiques de défense et de sécurité
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Recur, Benoît ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : JNRDM 2015, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264765

Discrimination and identification of RDX/PETN explosives by chemometrics applied to terahertz time-domain spectral imaging
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Bousquet, Bruno ; Guillet, Jean-Paul ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : VIII Millimetre Wave and Terahertz Sensors and Technology conference, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263937

Chemical imaging and quantification of RDX/PETN mixtures by PLS applied on terahertz time-domain spectroscopy
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), 2015, Hong Kong (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263833

AMI : Augmented Michelson Interferometer
Furio, David ; Hachet, Martin ; Guillet, Jean-Paul ; Bousquet, Bruno ; Fleck, Stéphanie ; Reuter, Patrick ; Canioni, Lionel
Dans : ETOP 2015 - Education and Training in Optics & Photonics, Bordeaux (France)
https://hal.inria.fr/hal-01121917

Near-field spectroscopy of sub-wavelength (<λ/10) anisotropic dielectric resonators at terahertz frequencies
Mitrofanov, Oleg ; Khromova, Irina ; Dominec, F. ; Kuzel, P. ; Reno, JL ; Brener, Igal ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mounaix, Patrick
Dans : 2015 European Conference on Lasers and Electro-Optics, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264060

Magnetic dipole and electric dipole resonances in TiO2 microspheres at terahertz frequencies
Mitrofanov, Oleg ; Domenic, Filip ; Kuzel, P. ; Reno, John ; Brener, Igal ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mounaix, Patrick
Dans : Quantum Sensing and Nanophotonic Devices XII,, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263842

Metrological Evaluation of Tomography Methods Applied to Objects Fabricated by Additive Manufacturing
Obaton, Anne-Françoise ; Costin, Marius ; Mounaix, Patrick ; Geffrin, Jean Michel ; Eyraud, Christelle ; Souvignet, Christelle ; Moschetta, Jean-Marc
Dans : International symposium on Digital Industrial radiology and computed tomography, Ghent (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264659

Terahertz detection of explosive materials and dangerous objects
Palka, Norbert ; Kowalski, M. ; Walczakowski, M ; Szustakowski, M ; Ciurapinski, W ; Wrobel, J. ; Jodlowski, L ; Rurka, E ; Bou Sleiman, Joyce ; Mounaix, Patrick ; Ellrich, F. ; Molter, D. ; Jonuscheit, J. ; von Freymann, G ; Beigang, R.
Dans : NATO ARW on THz Diagnostics of CBRN effects and Detection of Explosives & CBRN, Izmir (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264649

Immersion in refractive index matching liquid for 2D and 3D terahertz imaging
Perraud, JB ; Bou Sleiman, Joyce ; Simoens, François ; Mounaix, Patrick
Dans : 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), Hong Kong (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263947

THz imaging versus X-Ray tomography: Applications to material inspection
Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Mounaix, Patrick
Dans : ICMTS, Quebec (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264760

THz response of TiO2 microspheres embedded in a dielectric layer
Sindler, Michal ; Kadlec, C ; Nemec, H. ; Dominec, F. ; Kuzel, P. ; Elissalde, Catherine ; Chung, U-C ; Mounaix, Patrick
Dans : 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), Hong Kong (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264034

2014


Processing sequence for non-destructive inspection based on 3D terahertz images
Balacey, Hugo ; Jean-Baptiste, Perraud ; Bou Sleiman, Joyce ; Guillet, Jean-Paul ; Recur, Benoît ; Mounaix, Patrick
Dans : Infrared, Millimeter-Wave, and Terahertz Technologies III, Beijing (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091194

Improved integrated circuits qualification using dynamic laser stimulation technique
Deyine, Amjad ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Battistella, F. ; Lewis, D.
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, Montreal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988351

Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Lewis, Dean
Dans : 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091188

Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
Rebai, Mohamed ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kévin ; Lewis, D.
Dans : 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01020683

2013


A new processing sequence to assess airways using 3D CT-scan
Balacey, Hugo ; Dournes, Gaël ; Desbarats, Pascal ; Domenger, Jean-Philippe ; Laurent, François
Dans : 20th IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), Melbourne (Australia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01465173

Analysis of Short-Term NBTI Effect on the Single-Event Upset Sensitivity of a 65nm SRAM using Two-Photon Absorption
Issam, El Moukthari ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Larue, Camille ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe
Dans : 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091193

Characterization and modelling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
Mbaye, N. ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; Lewis, D.
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935694

Analysis of short-term NBTI effect on the Single-Event Upset sensitivity of a 65nm SRAM using two-photon absorption
Moukhtari, I. El ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; Larue, C. ; Perdu, P. ; Lewis, D.
Dans : IEEE RADECS, Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935693

Impact of Negative Bias Temperature Instability on the Single-Event Upset Threshold of a 65nm SRAM cell
Moukhtari, I. El ; Pouget, V. ; Larue, C. ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, P.
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935692

How to Interpret the Reflected Laser Probe Signal of Multiple Elementary Substructures in Very Deep Submicron Technologies
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kévin
Dans : 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2013), San José (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00903364

A physical prediction model issued from TCAD investigations for single event burnout in power MOSFETs
Sara, Siconolfi ; Guillaume, Hubert ; Laurent, Artola ; Darracq, Frédéric ; Jean Pierre, David
Dans : 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091195

2012


Building the electricalmodel of the PhotoelectricLaserStimulation of a NMOS transistor in 90 nm technology
Alexandre, Sarafianos ; Llido, R. ; Dutertre, Jean-Max ; Gagliano, Olivier ; Serradeil, Valérie ; Lisart, Mathieu ; Goubier, V. ; Tria, Assia ; Pouget, Vincent ; Lewis, D.
Dans : 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Phoenix (United States)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742629

Signal propagation analysis by digital lock-in time resolved imaging
Bascoul, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2012, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988346

Improving defect localization techniques with laser beam with specific analysis and set-up modules
Llido, R. ; Gomez, J. ; Goubier, V. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : 2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988382

Characterization and TCAD Simulation of 90nm Technology PMOS Transistor Under Continuous Photoelectric Laser Stimulation for Failure Analysis Improvement
Llido, R ; Sarafianos, A ; Gagliano, O ; Serradeil, V ; Goubier, V ; Lisart, M ; Haller, G ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, Assia
Dans : 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Phoenix (United States)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130626

Building the electrical model of the pulsed photoelectric laser stimulation of an NMOS transistor in 90nm technology
Sarafianos, A ; Llido, R ; Gagliano, O ; Serradeil, V ; Lisart, Mathieu ; Goubier, V. ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, Assia ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean
Dans : 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Phoenix (United States)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130636

Characterization and TCAD simulation of 90 nm technology transistors under continuous photoelectric laser stimulation for failure analysis improvement
Sarafianos, Alexandre ; Llido, R. ; Gagliano, Olivier ; Serradeil, Valérie ; Goubier, V. ; Lisart, M. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, Assia
Dans : 19th IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS, Singapore (Singapore)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742705