Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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NANOELECTRONICS

Overview
The  research fields of Nanoelectronics concern emerging components such as the carbon nanotube transistor, Graphene-FET, microwave transistors (SiGe and III-V) and circuits based on advanced technologies. Key themes are the electro-optical characterization, failure analysis and reliability, microwave characterization and compact modeling. The research methods are common to all actions: from a physical analysis, often supported by simulation tools based on finite elements, the observed phenomena are studied, deepened and explained. The team uses two highly advanced technological platforms (Atlas and Nanocom). Right balance between the fundamental and the applied nature of the research allows the team to address the challenges identified by the laboratory.

Skills
  •      Electrical characterization DC, AC and large signal transistors
  •      Compact modeling beyond CMOS components
  •      Characterization and electro-thermal modeling of transistors
  •      GaN transistors reliability analysis
  •      Opto-electrical characterization of components and circuits
  •      Test and terahertz laser beam for the detection of defects in components and materials
  •      Terahertz spectroscopy , Terahertz imaging (2D and 3D) and Tomography
  •      Analysis of the sensitivity of circuits and systems to the effects of radiation
  •      Fault injection laser and terahertz wave
Publications

Total : 954

Articles in peer-reviewed journal → 308 Show

2019


Validation of Thermal Resistance Extracted From Measurements on Stripe Geometry SiGe HBTs
Balanethiram, Suresh ; D'Esposito, Rosario ; Fregonese, Sebastien ; Chakravorty, Anjan ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02277502

Iterative Tree Algorithm to Evaluate Terahertz Signal Contribution of Specific Optical Paths within Multi-Layered Materials
Cassar, Quentin ; Chopard, Adrien ; Fauquet, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Pan, Mingming ; Perraud, Jean-Baptiste ; Mounaix, Patrick
Dans : IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335825

Comparison of on-wafer TRL calibration to ISS SOLT calibration with open-short de-embedding up to 500 GHz
Fregonese, Sebastien ; DENG, Marina ; De Matos, Magali ; Yadav, Chandan ; Raya, Christian ; Ardouin, Bertrand ; Joly, Simon ; Plano, Bernard ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01985495

Terahertz Spectroscopy and Quantum Mechanical Simulations of Crystalline Copper-Containing Historical Pigments
Kleist, Elyse ; Koch Dandolo, Corinna ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Korter, Timothy
Dans : Journal of Physical Chemistry A
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02009689

Scanning laser terahertz near-field reflection imaging system
Okada, Kosuke ; Serita, Kazunori ; Zang, Zirui ; Murakami, Hironaru ; Kawayama, Iwao ; Cassar, Quentin ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Tonouchi, Masayoshi
Dans : Applied Physics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02347269

Shape-from-focus for real-time terahertz 3D imaging
Perraud, J.-B. ; Guillet, J.-P. ; Redon, O. ; Simoens, F. ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Letters
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02009683

Ex Vivo Breast Tumor Identification: Advances Toward a Silicon-Based Terahertz Near-Field Imaging Sensor
Pfeiffer, Ullrich ; Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Bucher, Thomas ; Cassar, Quentin ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Microwave Magazine
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335761

Multimodal Optical Diagnostics of Glycated Biological Tissues
Smolyanskaya, O. ; Lazareva, E. ; Nalegaev, S. ; Petrov, N. ; Zaytsev, K. ; Timoshina, P. ; Tuchina, D. ; Toropova, Ya. ; Kornyushin, O. ; Babenko, A. Yu. ; Guillet, J.-P. ; Tuchin, V.
Dans : Биохимия / Biochemistry
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02342804

2018


All-sky search for long-duration gravitational wave transients in the first Advanced LIGO observing run
Abbott, B ; Abbott, R ; Abbott, T ; Abernathy, M ; Acernese, F ; Ackley, K ; Adams, C. ; Adams, T. ; Addesso, P ; Adhikari, R ; Adya, V ; Affeldt, C ; Agathos, M ; Agatsuma, K ; Aggarwal, N ; Aguiar, O ; Aiello, L ; Ain, A ; Ajith, P ; Allen, B. ; Allocca, A ; Altin, P ; Ananyeva, A ; Anderson, S ; Anderson, W ; Appert, S ; Arai, K ; Araya, M ; Areeda, J ; Arnaud, N. ; Arun, K. ; Ascenzi, S ; Ashton, G ; Ast, M ; Aston, S ; Astone, P ; Aufmuth, P ; Aulbert, C. ; Avila-Alvarez, A ; Babak, S. ; Bacon, P. ; Bader, M ; Baker, P ; Baldaccini, F ; Ballardin, G ; Ballmer, S ; Barayoga, J ; Barclay, S ; Barish, B ; Barker, D ; Barone, F ; Barr, B ; Barsotti, L ; Barsuglia, M. ; Barta, D ; Bartlett, J. ; Bartos, I ; Bassiri, R ; Basti, A ; Batch, J ; Baune, C ; Bavigadda, V ; Bazzan, M. ; BEER, C. ; Bejger, M. ; Belahcene, I. ; Belgin, M ; Bell, A. ; Berger, B ; Bergmann, G ; Berry, C ; Bersanetti, D ; Bertolini, A ; Betzwieser, J ; Bhagwat, S ; Bhandare, R ; Bilenko, I ; Billingsley, G ; Billman, C ; Birch, J ; Birney, R ; Birnholtz, O ; Biscans, S ; Bisht, A ; Bitossi, M ; Biwer, C ; Bizouard, M. ; Blackburn, J ; Blackman, J ; Blair, C ; Blair, D ; Blair, R ; Bloemen, S. ; Bock, O. ; Boër, M. ; Bogaert, G. ; Bohe, A. ; Bondu, F ; Bonnand, R. ; Boom, B ; Bork, R ; Boschi, V ; Bose, S ; Bouffanais, Y. ; Bozzi, A ; Bradaschia, C ; Brady, P ; Braginsky, V ; Branchesi, M ; Brau, J. ; Briant, T. ; Brillet, A. ; Brinkmann, M. ; Brisson, V. ; Brockill, P ; Broida, J ; Brooks, A ; Brown, D ; Brown, N ; Brunett, S ; Buchanan, C ; Buikema, A ; Bulik, T ; Bulten, H ; Buonanno, A. ; Buskulic, D. ; Buy, C. ; Byer, R ; Cabero, M ; Cadonati, L. ; Cagnoli, G. ; Cahillane, C ; Calderón Bustillo, J ; Callister, T ; Calloni, E ; Camp, J. ; Canepa, M ; Cannon, K ; Cao, H. ; Cao, J ; Capano, C ; Capocasa, E. ; Carbognani, F ; Caride, S ; Casanueva Diaz, J. ; Casentini, C ; Caudill, S ; Cavaglià, M ; Cavalier, F. ; Cavalieri, R ; Cella, G ; Cepeda, C ; Cerboni Baiardi, L ; Cerretani, G ; Cesarini, E ; Chamberlin, S ; Chan, M ; Chao, S ; Charlton, P ; Chassande-Mottin, E. ; Cheeseboro, B ; Chen, H ; Chen, Y. ; Cheng, H-P ; Chincarini, A ; Chiummo, A ; Chmiel, T ; Cho, H ; Cho, M ; Chow, J ; Christensen, N. ; Chu, Q ; Chua, A ; Chua, S. ; Chung, S ; Ciani, G ; Clara, F ; Clark, J ; Cleva, F. ; Cocchieri, C ; Coccia, E. ; Cohadon, P-F ; Colla, A ; Collette, C. ; Cominsky, L ; Constancio, M ; Conti, L. ; Cooper, S ; Corbitt, T ; Cornish, N ; Corsi, A. ; Cortese, S. ; Costa, C ; Coughlin, M ; Coughlin, S ; Coulon, J-P ; Countryman, S ; Couvares, P ; Covas, P ; Cowan, E ; Coward, D ; Cowart, M ; Coyne, D ; Coyne, R ; Creighton, J ; Creighton, T ; Cripe, J ; Crowder, S ; Cullen, T ; Cumming, A ; Cunningham, L ; Cuoco, E ; Dal Canton, T ; Danilishin, S ; D’Antonio, S ; Danzmann, K ; Dasgupta, A ; Da Silva Costa, C ; Dattilo, V ; Dave, I ; Davier, M. ; Davies, G ; Davis, D ; Daw, E ; Day, B ; Day, R. ; De, S ; DeBra, D ; Debreczeni, G ; Degallaix, J. ; De Laurentis, M. ; Deléglise, S. ; Del Pozzo, W ; Denker, T ; Dent, T. ; Dergachev, V ; De Rosa, R ; Derosa, R ; DeSalvo, R ; Devine, R ; Dhurandhar, S. ; Díaz, M ; Di Fiore, L ; Di Giovanni, M ; Di Girolamo, T ; Di Lieto, A ; Di Pace, S. ; Di Palma, I. ; Di Virgilio, A. ; Doctor, Z ; Dolique, V. ; Donovan, F ; Dooley, K ; Doravari, S ; Dorrington, I ; Douglas, R ; Dovale Álvarez, M ; Downes, T ; Drago, M ; Drever, R ; Driggers, J ; Du, Z ; Ducrot, M. ; Dwyer, S ; Edo, T ; Edwards, M ; Effler, A ; Eggenstein, H-B ; Ehrens, P ; Eichholz, J ; Eikenberry, S ; Eisenstein, R ; Essick, R ; Etienne, Z ; Etzel, T ; Evans, M ; Evans, T ; Everett, R ; Factourovich, M ; Fafone, V ; Fair, H ; Fairhurst, S ; Fan, X. ; Farinon, S. ; Farr, B ; Farr, W ; Fauchon-Jones, E ; Favata, M ; Fays, M ; Fehrmann, H. ; Fejer, M ; Fernández Galiana, A ; Ferrante, I ; Ferreira, E ; Ferrini, F ; Fidecaro, F ; Fiori, I ; Fiorucci, D. ; Fisher, R ; Flaminio, R. ; Fletcher, M ; Fong, H ; Forsyth, S ; Fournier, J-D ; Frasca, S ; Frasconi, F ; Frei, Z ; Freise, A ; Frey, R ; Frey, V ; Fries, E ; Fritschel, P. ; Frolov, V ; Fulda, P ; Fyffe, M ; Gabbard, H ; Gadre, B ; Gaebel, S ; Gair, J ; Gammaitoni, L ; Gaonkar, S ; Garufi, F ; Gaur, G ; Gayathri, V ; Gehrels, N. ; Gemme, G ; Genin, E. ; Gennai, A ; George, J ; Gergely, L. ; Germain, V. ; Ghonge, S ; Ghosh, Abhirup ; Ghosh, Archisman ; Ghosh, S. ; Giaime, J ; Giardina, K ; Giazotto, A ; Gill, K ; Glaefke, A ; Goetz, E ; Goetz, R ; Gondan, L ; Gonzalez, G. ; Gonzalez Castro, J ; Gopakumar, A ; Gorodetsky, M ; Gossan, S ; Gosselin, M. ; Gouaty, R. ; Grado, A ; Graef, C. ; Granata, M. ; Grant, A ; Gras, S ; Gray, C. ; Greco, G ; Green, A ; Groot, P ; Grote, H ; Grunewald, S. ; Guidi, G ; Guo, X. ; Gupta, A ; Gupta, M. ; Gushwa, K ; Gustafson, E ; Gustafson, R ; Hacker, J. ; Hall, B ; Hall, E ; Hammond, G ; Haney, M. ; Hanke, M ; Hanks, J ; Hanna, C ; Hanson, J ; Hardwick, T ; Harms, J. ; Harry, G ; Harry, I ; Hart, M ; Hartman, M ; Haster, C-J ; Haughian, K ; Healy, J. ; Heidmann, A. ; Heintze, M ; Heitmann, H. ; Hello, P. ; Hemming, G ; Hendry, M ; Heng, I ; Hennig, J ; Henry, J. ; Heptonstall, A ; Heurs, M ; Hild, S ; Hoak, D. ; Hofman, D ; Holt, K ; Holz, D ; Hopkins, P ; Hough, J. ; Houston, E ; Howell, E ; Hu, Y. ; Huerta, E ; Huet, D ; Hughey, B ; Husa, S. ; Huttner, S ; Huynh-Dinh, T ; Indik, N ; Ingram, D ; Inta, R ; Isa, H ; Isac, J-M ; Isi, M ; Isogai, T ; Iyer, B ; Izumi, K. ; Jacqmin, T. ; Jani, K ; Jaranowski, P ; Jawahar, S ; Jiménez-Forteza, F ; Johnson, W ; Jones, D ; jones, r ; Jonker, R ; Ju, L ; Junker, J ; Kalaghatgi, C ; Kalogera, V ; Kandhasamy, S. ; Kang, G ; Kanner, J ; Karki, S ; Karvinen, K ; Kasprzack, M. ; Katsavounidis, E ; Katzman, W ; Kaufer, S ; Kaur, T ; Kawabe, K. ; Kéfélian, F. ; Keitel, D ; Kelley, D ; Kennedy, R ; Key, J ; Khalili, F ; Khan, I ; Khan, S ; Khan, Z ; Khazanov, E ; Kijbunchoo, N ; Kim, Chunglee ; Kim, J ; Kim, Whansun ; Kim, Y-M ; Kimbrell, S ; King, E ; King, P. ; Kirchhoff, R ; Kissel, J ; Klein, B ; Kleybolte, L ; Klimenko, S ; Koch, P ; Koehlenbeck, S ; Koley, S ; Kondrashov, V ; Kontos, A ; Korobko, M ; Korth, W ; Kowalska, I ; Kozak, D ; Kramer, C. ; Kringel, V ; Krishnan, B ; Królak, A ; Kuehn, G ; Kumar, P. ; Kumar, R. ; Kuo, L ; Kutynia, A ; Lackey, B ; Landry, M. ; Lang, R. ; Lange, J ; Lantz, B ; Lanza, R ; Lartaux-Vollard, A. ; Lasky, P ; Laxen, M ; Lazzarini, A. ; Lazzaro, C ; Leaci, P ; Leavey, S ; Lebigot, E. ; Lee, C. ; Lee, H ; Lee, K ; Lehmann, J. ; Lenon, A ; Leonardi, M. ; Leong, J ; Leroy, N. ; Letendre, N. ; Levin, Y. ; Li, T ; Libson, A ; Littenberg, T ; Liu, J. ; Lockerbie, N ; Lombardi, A. ; London, L ; Lord, J ; Lorenzini, M. ; Loriette, V. ; Lormand, M ; Losurdo, G ; Lough, J ; Lovelace, G ; Lück, H ; Lundgren, A. ; Lynch, R. ; Ma, Y. ; Macfoy, S ; Machenschalk, B ; MacInnis, M ; Macleod, D ; Magaña-Sandoval, F ; Majorana, E. ; Maksimovic, I ; Malvezzi, V ; Man, N. ; Mandic, V ; Mangano, V. ; Mansell, G ; Manske, M ; Mantovani, M. ; Marchesoni, F. ; Marion, F. ; Márka, S. ; Márka, Z. ; Markosyan, A ; Maros, E ; Martelli, F. ; Martellini, L. ; Martin, I ; Martynov, D ; Mason, K ; Masserot, A. ; Massinger, T ; Masso-Reid, M ; Mastrogiovanni, S. ; Matichard, F ; Matone, L ; Mavalvala, N ; Mazumder, N ; McCarthy, R ; McClelland, D ; Mccormick, S. ; McGrath, C ; McGuire, S ; McIntyre, G ; McIver, J ; McManus, D ; McRae, T ; McWilliams, S ; Meacher, D. ; Meadors, G ; Meidam, J ; Melatos, A ; Mendell, G ; Mendoza-Gandara, D ; Mercer, R ; Merilh, E ; Merzougui, M. ; Meshkov, S ; Messenger, C ; Messick, C. ; Metzdorff, R. ; Meyers, P. ; Mezzani, F ; Miao, H ; Michel, C ; Middleton, H ; Mikhailov, E ; Milano, L ; Miller, A ; Miller, B ; Miller, J ; Millhouse, M ; Minenkov, Y ; Ming, J. ; Mirshekari, S ; Mishra, C ; Mitra, S ; Mitrofanov, V ; Mitselmakher, G ; Mittleman, R ; Moggi, A ; Mohan, M ; Mohapatra, S. ; Montani, M ; Moore, B ; Moore, C ; Moraru, D ; Moreno, G ; Morriss, S ; Mours, B. ; Mow-Lowry, C ; Mueller, G ; Muir, A. ; Mukherjee, Arunava ; Mukherjee, D ; Mukherjee, S ; Mukund, N ; Mullavey, A ; Munch, J ; Muniz, E. ; Murray, P. ; Mytidis, A ; Napier, K ; Nardecchia, I ; Naticchioni, L. ; Nelemans, G ; Nelson, T. ; Neri, M ; Nery, M ; Neunzert, A ; Newport, J ; Newton, G ; Nguyen, T. ; Nielsen, A ; Nissanke, S ; Nitz, A ; Noack, A ; Nocera, F ; Nolting, D ; Normandin, M. ; Nuttall, L ; Oberling, J ; Ochsner, E ; Oelker, E ; Ogin, G ; Oh, J ; Oh, S ; Ohme, F ; Oliver, M ; Oppermann, P ; Oram, Richard ; O’Reilly, B ; O’Shaughnessy, R ; Ottaway, D ; Overmier, H ; Owen, B ; Pace, A. ; Page, J. ; Pai, A. ; Pai, S ; Palamos, J ; Palashov, O ; Palomba, C ; Pal-Singh, A ; Pan, H ; Pankow, C ; Pannarale, F ; Pant, B ; Paoletti, F ; Paoli, A. ; Papa, M. ; Paris, H ; Parker, W ; Pascucci, D ; Pasqualetti, A ; Passaquieti, R ; Passuello, D ; Patricelli, B ; Pearlstone, B ; Pedraza, M ; Pedurand, R. ; Pekowsky, L ; Pele, A ; Penn, S ; Perez, C. ; Perreca, A ; Perri, L ; Pfeiffer, H ; Phelps, M. ; Piccinni, O ; Pichot, M. ; Piergiovanni, F ; Pierro, V. ; Pillant, G ; Pinard, L. ; Pinto, I ; Pitkin, M ; Poe, M ; Poggiani, R. ; Popolizio, P ; Post, A ; Powell, J ; Prasad, J ; Pratt, J ; Predoi, V ; Prestegard, T ; Prijatelj, M ; Principe, M ; Privitera, S ; Prix, R ; Prodi, G ; Prokhorov, L ; Puncken, O ; Punturo, M ; Puppo, P ; Pürrer, M ; Qi, H ; Qin, J ; Qiu, S. ; Quetschke, V ; Quintero, E ; Quitzow-James, R ; Raab, F ; Rabeling, D ; Radkins, H ; Raffai, P ; Raja, S ; Rajan, C ; Rakhmanov, M ; Rapagnani, P ; Raymond, V ; Razzano, M. ; Re, V ; Read, J ; Regimbau, T. ; Rei, L ; Reid, S ; Reitze, D. ; Rew, H ; Reyes, S ; Rhoades, E ; Ricci, F. ; Riles, K ; Rizzo, M ; Robertson, N ; Robie, R ; Robinet, F. ; Rocchi, A. ; Rolland, L. ; Rollins, J ; Roma, V ; Romano, J ; Romano, R ; Romie, J ; Rosińska, D ; Rowan, S. ; Rüdiger, A ; Ruggi, P ; Ryan, K ; Sachdev, S ; Sadecki, T ; Sadeghian, L ; Sakellariadou, M. ; Salconi, L ; Saleem, M ; Salemi, F ; Samajdar, A ; Sammut, L ; Sampson, L ; Sanchez, E. ; Sandberg, V. ; Sanders, J ; Sassolas, B. ; Saulson, P ; Sauter, O. ; Savage, R ; Sawadsky, A ; Schale, P ; Scheuer, J ; Schmidt, E ; Schmidt, J ; Schmidt, P ; Schnabel, R ; Schofield, R. ; Schönbeck, A ; Schreiber, E ; Schuette, D ; Schutz, B ; Schwalbe, S ; Scott, J ; Scott, S ; Sellers, D ; Sengupta, A ; Sentenac, D ; Sequino, V ; Sergeev, A ; Setyawati, Y ; Shaddock, D ; Shaffer, T ; Shahriar, M ; Shapiro, B ; Shawhan, P ; Sheperd, A ; Shoemaker, D ; Siellez, K. ; Siemens, X. ; Sieniawska, M ; Sigg, D ; Silva, A ; Singer, A. ; Singer, L ; Singh, A. ; Singh, R. ; Singhal, A ; Sintes, A ; Slagmolen, B ; Smith, B. ; Smith, J ; Smith, R ; Son, E ; Sorazu, B ; Sorrentino, F. ; Souradeep, T ; Spencer, A ; Srivastava, A. ; Staley, A ; Steinke, M ; Steinlechner, J ; Steinlechner, S ; Steinmeyer, D ; Stephens, B ; Stevenson, S. ; Stone, R ; Strain, K ; Straniero, N. ; Stratta, G. ; Strigin, S ; Sturani, R ; Stuver, A ; Summerscales, T ; Sun, L ; Sunil, S ; Sutton, P ; Swinkels, B ; Szczepańczyk, M ; Tacca, M. ; Talukder, D ; Tanner, D. ; Tápai, M ; Taracchini, A ; Taylor, R ; Theeg, T. ; Thomas, E ; Thomas, M ; Thomas, P ; Thorne, K ; Thrane, E. ; Tippens, T ; Tiwari, S. ; Tiwari, V. ; Tokmakov, K ; Toland, K ; Tomlinson, C. ; Tonelli, M. ; Tornasi, Z ; Torrie, C ; Töyrä, D ; Travasso, F ; Traylor, G ; Trifirò, D ; Trinastic, J ; Tringali, M ; Trozzo, L ; Tse, M ; Tso, R ; Turconi, M. ; Tuyenbayev, D ; Ugolini, D ; Unnikrishnan, C ; Urban, A ; Usman, S ; Vahlbruch, H ; Vajente, G ; Valdes, G ; van Bakel, N ; van Beuzekom, M ; Van Den Brand, J ; Van Den Broeck, C ; Vander-Hyde, D ; van der Schaaf, L ; van Heijningen, J ; van Veggel, A ; Vardaro, M ; Varma, V ; Vass, S ; Vasúth, M ; Vecchio, A. ; Vedovato, G ; Veitch, J ; Veitch, P ; Venkateswara, K. ; Venugopalan, G ; Verkindt, D. ; Vetrano, F ; Vicere, A. ; Viets, A ; Vinciguerra, S. ; Vine, D ; Vinet, J-Y ; Vitale, S ; Vo, T ; Vocca, H ; Vorvick, C ; Voss, D ; Vousden, W ; Vyatchanin, S ; Wade, A. ; Wade, L ; Wade, M. ; Walker, M ; Wallace, L ; Walsh, S ; Wang, G ; Wang, H ; Wang, M. ; Wang, Y. ; Ward, R ; Warner, J ; Was, M. ; Watchi, J ; Weaver, B ; Wei, L-W ; Weinert, M ; Weinstein, A ; Weiss, R ; Wen, L ; Weßels, P ; Westphal, T ; Wette, K ; Whelan, J ; Whiting, B ; Whittle, C ; Williams, D ; Williams, R. ; Williamson, A ; Willis, J ; Willke, B ; Wimmer, M ; Winkler, W ; Wipf, C ; Wittel, H ; Woan, G ; Woehler, J ; Worden, J. ; Wright, J ; Wu, D ; Wu, G ; Yam, W ; Yamamoto, H ; Yancey, C ; Yap, M. ; Yu, Hang ; Yu, Haocun ; Yvert, M. ; Zadrożny, A ; Zangrando, L. ; Zanolin, M ; Zendri, J-P ; Zevin, M ; Zhang, L ; Zhang, M. ; Zhang, T ; Zhang, Y. ; Zhao, C. ; Zhou, M ; Zhou, Z. ; Zhu, S ; Zhu, X ; Zucker, M ; Zweizig, J
Dans : Classical and Quantum Gravity
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02296318

Simulation and modelling of long term reliability of digital circuits implemented in FPGA
Aguirre Morales, J.D. ; Marc, F. ; Bensoussan, A. ; Durier, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01946442

Pilot study of freshly excised breast tissue response in the 300 – 600 GHz range
Cassar, Quentin ; Al-Ibadi, Amel ; Mavarani, Laven ; Hillger, Philipp ; Grzyb, Janusz ; Macgrogan, Gaetan ; Zimmer, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : Biomedical optics express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923517

Influence of temperature of storage, write and read operations on multiple level cells NAND flash memories
Coutet, Julien ; Marc, Francois ; Dozolme, Flavien ; Guétard, Romain ; Janvresse, Aurélien ; Lebossé, Pierre ; Pastre, Antonin ; Clément, Jean-claude
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01946449

Analysis of Electrothermal and Impact-Ionization Effects in Bipolar Cascode Amplifiers
d'Alessandro, Vincenzo ; D'Esposito, Rosario ; Metzger, Andre ; Kwok, Kai ; Aufinger, Klaus ; Zimmer, Thomas ; Rinaldi, Niccolo
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695662

Terahertz frequency modulated continuous wave imaging advanced data processing for art painting analysis
Dandolo, Corinna ; Guillet, Jean-Paul ; Ma, Xue ; Fauquet, Frederic ; Roux, Marie ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Express
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01718044

On-Wafer Characterization of Silicon Transistors Up To 500 GHz and Analysis of Measurement Discontinuities Between the Frequency Bands
Fregonese, Sebastien ; De Matos, Magali ; Deng, Marina ; Potéreau, Manuel ; Ayela, Cédric ; Aufinger, Klaus ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01818021

Terahertz pulse time-domain holography method for phase imaging of breast tissue
Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Forster, Wolfgang ; Heinemann, Bernd ; Macgrogan, Gaetan ; Mounaix, Patrick ; Zimmer, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich
Dans : IEEE Journal of Solid-State Circuits
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335929

NearSense – Advances Towards a Silicon-Based Terahertz Near-Field Imaging Sensor for Ex Vivo Breast Tumour Identification
Mounaix, Patrick ; Mavarani, Laven ; Hillger, Philipp ; Bucher, Thomas ; Grzyb, Janusz ; Cassar, Quentin ; Al-Ibadi, Amel ; Zimmer, Thomas ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Pfeiffer, Ullrich
Dans : Frequenz
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01745775

Scalable Compact Modeling of III–V DHBTs: Prospective Figures of Merit Toward Terahertz Operation
Mukherjee, Chhandak ; Raya, Christian ; Ardouin, Bertrand ; DENG, Marina ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Nodjiadjim, Virginie ; Riet, Muriel ; Dupuy, Jean-Yves ; Luisier, Mathieu ; Quan, Wei ; Arabhavi, Akshay ; Bolognesi, Colombo ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01985507

Terahertz biophotonics as a tool for studies of dielectric and spectral properties of biological tissues and liquids
Smolyanskaya, O.A. ; Chernomyrdin, N.V. ; Konovko, A.A. ; Zaytsev, I. ; Ozheredov, I. ; Guillet, Jean-Paul ; Cherkasova, P. ; Nazarov, M.M. ; Kozlov, S.A. ; Kistenev, Yu. ; Coutaz, J.-L. ; Mounaix, P. ; Vaks, V.L. ; Son, H. ; Cheon, H. ; Wallace, V.P. ; Feldman, Yu. ; Popov, I. ; Yaroslavsky, A.N. ; Shkurinov, A.P. ; Tuchin, V.V.
Dans : Progress in Quantum Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923488

2017


Search for continuous gravitational waves from neutron stars in globular cluster NGC 6544
Abbott, B. P. ; Abbott, R. ; Abbott, T. D. ; Abernathy, R. ; Acernese, F. ; Ackley, K. ; Adams, C. ; Adams, T. ; Addesso, P. ; Adhikari, R. ; Adya, V. B. ; Affeldt, C. ; Agathos, M. ; Agatsuma, K. ; Aggarwal, N. ; Aguiar, O. D. ; Aiello, L. ; Ain, A. ; Allen, B. ; Allocca, A. ; Altin, P. ; Anderson, B. ; Anderson, W. G. ; Arai, K. ; Araya, C. ; Arceneaux, C. ; Areeda, J. S. ; Arnaud, N. ; Arun, K. ; Ascenzi, S. ; Ashton, G. ; Ast, M. ; Ast, P. ; Aufmuth, P. ; Aulbert, C. ; Babak, S. ; Bacon, P. ; Bader, K. ; Baker, T. ; Baldaccini, F. ; Ballardin, G. ; Ballmer, S. ; Barayoga, C. ; Barclay, S. ; Barish, C. ; Barker, D. ; Barone, F. ; Barr, B. ; Barsotti, L. ; Barsuglia, M. ; Barta, D. ; Bartlett, J. ; Bartos, I. ; Bassiri, R. ; Basti, A. ; Batch, C. ; Baune, C. ; Bavigadda, V. ; Bazzan, M. ; Bejger, M. ; Bell, A. ; Berger, K. ; Bergmann, G. ; Berry, C. ; Bersanetti, D. ; Bertolini, A. ; Betzwieser, J. ; Bhagwat, S. ; Bhandare, R. ; Bilenko, A. ; Billingsley, G. ; Birch, J. ; Birney, R. ; Biscans, S. ; Bisht, A. ; Bitossi, M. ; Biwer, C. ; Bizouard, M. ; Blackburn, K. ; Blair, C. ; Blair, G. ; Blair, R. ; Bloemen, S. ; Bock, O. ; Boer, M. ; Bogaert, G. ; Bogan, C. ; Bohe, A. ; Bond, C. ; Bond, F. ; Bonnand, R. ; Boom, A. ; Bork, R. ; Boschi, V. ; Bose, S. ; Bouffanais, Y. ; Bozzi, A. ; Bradaschia, C. ; Brady, R. ; Braginsky, V. B. ; Branchesi, M. ; Brau, J. ; Briant, T. ; Brillet, A. ; Brinkmann, M. ; Brisson, V. ; Brockill, P. ; Broida, J. ; Brooks, F. ; Brown, A. ; Brown, D. ; Brown, M. ; Brunett, S. ; Buchanan, C. ; Buikema, A. ; Bulik, T. ; Bulten, J. ; Buonanno, A. ; Buskulic, D. ; Buy, C. ; Byer, R. ; Cabero, M. ; Cadonati, L. ; Cagnoli, G. ; Cahillane, C. ; Calderón Bustillo, J. ; Callister, T. ; Calloni, E. ; Camp, B. ; Cannon, K. ; Cao, J. ; Capano, C. ; Capocasa, E. ; Carbognani, F. ; Caride, S. ; Casanueva Diaz, J. ; Casentini, C. ; Caudill, S. ; Cavaglià, M. ; Cavalier, F. ; Cavalier, R. ; Cella, G. ; Cepeda, C. ; Cerboni Baiardi, L. ; Cerretani, G. ; Cesarini, E. ; Chamberlin, S. ; Chan, M. ; Chao, S. ; Charlton, P. ; Chassande-Mottin, E. ; Cheeseboro, B. ; Chen, Y. ; Chen, C. ; Chincarini, A. ; Chiummo, A. ; Cho, S. ; Cho, M. ; Cho, J. ; Christensen, N. ; Chu, Q. ; Chu, S. ; Ciani, G. ; Clara, F. ; Clark, A. ; Cleva, F. ; Coccia, E. ; Cohadon, F. ; Colla, A. ; Collette, C. ; Cominsky, L. ; Constancio, M. ; Conte, A. ; Conti, L. ; Cook, D. ; Corbitt, R. ; Cornish, N. ; Corsi, A. ; Cortese, S. ; Costa, C. ; Coughlin, M. ; Coughlin, B. ; Coulon, P. ; Countryman, T. ; Couvares, P. ; Cowan, E. ; Coward, M. ; Cowart, M. ; Coyne, C. ; Coyne, R. ; Craig, K. ; Creighton, D. ; Creighton, T. ; Cripe, J. ; Crowder, S. ; Cumming, A. ; Cunningham, L. ; Cuoco, E. ; Dal Canton, T. ; Danilishin, L. ; D’Antonio, S. ; Danzmann, K. ; Darman, N. ; Dasgupta, A. ; Costa, F. ; Dattilo, V. ; Dave, I. ; Davier, M. ; Davies, S. ; Daw, J. ; Day, R. ; De, D. ; De, G. ; De, M. ; De, S. ; De, W. ; De, T. ; De, V. ; De, R. ; Dhurandhar, S. ; Díaz, C. ; Di Fiore, L. ; Di Giovanni, M. ; 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Hu, M. ; Hu, A. ; Hu, D. ; Hu, B. ; Hu, S. ; Hu, T. ; Indik, N. ; Ingram, R. ; Inta, R. ; Isa, N. ; Isa, M. ; Isi, M. ; Isogai, T. ; Iyer, R. ; Izumi, K. ; Jacqmin, T. ; Jang, H. ; Jani, K. ; Jaranowski, P. ; Jawahar, S. ; Jian, L. ; Jiménez-Forteza, F. ; Johnson, W. ; Jones, D. ; Jones, R. ; Jonker, R. ; Ju, L. ; Kalaghatgi, C. ; Kalogera, V. ; Kandhasamy, S. ; Kang, G. ; Kanner, B. ; Kapadia, S. ; Karki, S. ; Kasprzack, M. ; Katsavounidis, E. ; Katzman, W. ; Kaufer, S. ; Kaur, T. ; Kefelian, F. ; Kehl, M. ; Keitel, D. ; Kelley, B. ; Kells, W. ; Kennedy, R. ; Key, J. S. ; Khalili, F. ; Khan, I. ; Khan, S. ; Khan, Z. ; Khazanov, A. ; Kijbunchoo, N. ; Kim, Chi-Woong ; Chu, Chunglee ; Kim, J. ; Kim, N. ; Kim, W. ; Kim, M. ; Kim, S. ; King, J. ; King, P. ; Kissel, J. S. ; Klein, B. ; Kleybolte, L. ; Klimenko, S. ; Koehlenbeck, M. ; Koley, S. ; Kondrashov, V. ; Kontos, A. ; Korobko, M. ; Korth, W. ; Kowalska, I. ; Kozak, B. ; Kringel, V. ; Krishnan, B. ; Królak, A. ; Krueger, C. ; Kuehn, G. ; Kumar, P. ; Kumar, R. ; Kuo, L. ; Kutynia, A. ; Lackey, B. ; Landry, M. ; Lange, J. ; Lantz, B. ; Lasky, P. ; Laxen, M. ; Lazzaro, C. ; Leaci, P. ; Leavey, S. ; Lebigot, O. ; Lee, C. ; Lee, M. ; Lenon, A. ; Leonardi, M. ; Leong, R. ; Leroy, N. ; Letendre, N. ; Levin, Y. ; Lewis, B. ; Li, F. ; Li, A. ; Li, T. ; Lockerbie, N. ; Lombardi, L. ; London, T. ; Lord, J. ; Lorenzini, M. ; Loriette, V. ; Lormand, M. ; Losurdo, G. ; Lough, D. ; Lück, H. ; Lundgren, P. ; Lynch, R. ; Ma, Y. ; Ma, B. ; Ma, R. ; Ma, V. ; Márka, S. ; Márka, Z. ; Ma, E. ; Ma, I. ; Ma, A. ; Ma, T. ; Ma, M. ; Ma, S. ; Ma, F. ; Ma, L. ; Ma, N. ; McCarthy, R. ; McClelland, D. ; Mccormick, S. ; McGuire, C. ; Mcintyre, G. ; Mciver, J. ; Ma, D. ; McRae, T. ; McWilliams, T. ; Meacher, D. ; Meadors, G. ; Meidam, J. ; Melatos, A. ; Mendell, G. ; Mercer, R. ; Merilh, L. ; Merzougui, M. ; Meshkov, S. ; Messenger, C. ; Messick, C. ; Metzdorff, R. ; Meyers, P. ; Mezzani, F. ; Miao, H. ; Michel, C. ; Middleton, H. ; Mikhailov, E. ; Milano, L. ; Miller, L. ; Miller, A. ; Miller, B. ; Miller, J. ; Millhouse, M. ; Minenkov, Y. ; Ming, J. ; Mirshekari, S. ; Mishra, C. ; Mitra, S. ; Mitrofanov, P. ; Mitselmakher, G. ; Mittleman, R. ; Moggi, A. ; Mohan, M. ; Mohapatra, R. ; Montani, M. ; Moore, C. ; Moraru, D. ; Moreno, G. ; Morriss, R. ; Mours, B. ; Mow-Lowry, C. ; Mueller, G. ; Muir, A. ; Arun, Arunava ; Mukherjee, D. ; Mukherjee, S. ; Mukund, N. ; Mullavey, A. ; Munch, J. ; Murphy, D. ; Murray, P. ; Mytidis, A. ; Nardecchia, I. ; Naticchioni, L. ; K., R. ; Nelemans, G. ; Nelson, T. ; Neri, M. ; Neunzert, A. ; Newton, G. ; Nguyen, T. ; Nielsen, A. ; Nissanke, S. ; Nitz, A. ; Nocera, F. ; Nolting, D. ; Normandin, M. ; Oberling, J. ; Ochsner, E. ; De, J. ; Oelker, E. ; Ogin, G. ; Oh, J. ; Oh, S. ; Oh, F. ; Oliver, M. ; Oppermann, P. ; Oram, J. ; O’Reilly, B. ; O’Shaughnessy, R. ; Ottaway, D. ; Overmier, H. ; Owen, B. ; Pai, A. ; Palamos, R. ; Palashov, O. ; Palomba, C. ; Pal-Singh, A. ; Pan, H. ; Pan, F. ; Pan, C. ; Paoletti, F. ; Paoli, A. ; Papa, M. ; Paris, R. ; Parker, W. ; Pascucci, D. ; Pasqualetti, A. ; Passaquieti, R. ; Passuello, D. ; Patel, P. ; Patricelli, B. ; Patrick, Z. ; Pearlstone, L. ; Pedraza, M. ; Pedurand, R. ; Pekowsky, L. ; Pele, A. ; Penn, S. ; Perreca, A. ; Perri, M. ; Phelps, M. ; Piccinni, J. ; Pichot, M. ; Piergiovanni, F. ; Pierro, V. ; Pillant, G. ; Pinard, L. ; Pinto, M. ; Pitkin, M. ; Poe, M. ; Poggiani, R. ; Popolizio, P. ; Post, A. ; Powell, J. ; Prasad, J. ; Predoi, V. ; Prestegard, T. ; Price, R. ; Prijatelj, M. ; Principe, M. ; Privitera, S. ; Prix, R. ; Prodi, A. ; Prokhorov, L. ; Puncken, O. ; Punturo, M. ; Puppo, P. ; Pürrer, M. ; Qi, H. ; Qi, J. ; Qi, S. ; Quetschke, V. ; Quintero, A. ; Quitzow-James, R. ; Raab, F. ; Rabeling, S. ; Radkins, H. ; Raffai, P. ; Raja, S. ; Raja, C. ; Rakhmanov, M. ; Rapagnani, P. ; Raymond, V. ; Razzano, M. ; Re, V. ; Re, J. ; Re, C. ; Re, T. ; Re, L. ; Re, D. ; Re, H. ; Re, S. ; Ricci, F. ; Rizzo, M. ; Robertson, N. ; Robie, R. ; Robinet, F. ; Rocchi, A. ; Rolland, L. ; Rollins, G. ; Roma, J. ; Roma, R. ; Roma, G. ; Romie, J. ; Rosińska, D. ; Rowan, S. ; Rüdiger, A. ; Ruggi, P. ; Sachdev, S. ; Sadecki, T. ; Sadeghian, L. ; Sakellariadou, M. ; Salconi, L. ; Saleem, M. ; Salemi, F. ; Samajdar, A. ; Sammut, L. ; Sanchez, J. ; Sandberg, V. ; Sandeen, B. ; Sanders, R. ; Sassolas, B. ; Saulson, R. ; Sauter, S. ; Savage, R. ; Sawadsky, A. ; Schale, P. ; Schilling, R. ; Schmidt, J. ; Schmidt, P. ; Schnabel, R. ; Schofield, R. ; Schönbeck, A. ; Schreiber, E. ; Schuette, D. ; Schutz, F. ; Scott, J. ; Scott, M. ; Sellers, D. ; Sengupta, A. ; Sentenac, D. ; Sequino, V. ; Sergeev, A. ; Setyawati, Y. ; Shaddock, A. ; Shaffer, T. ; Shahriar, M. ; Shaltev, M. ; Shapiro, B. ; Shawhan, P. ; Sheperd, A. ; Shoemaker, D. ; Shoemaker, M. ; Siemens, X. ; Sieniawska, M. ; Sigg, D. ; Silva, A. ; Singer, A. ; Singer, P. ; Singh, R. ; Singh, A. ; Sintes, M. ; Slagmolen, B. ; Smith, N. ; Smith, R. ; Son, J. ; Sorazu, B. ; Sorrentino, F. ; Souradeep, T. ; Staley, A. ; Steinke, M. ; Steinlechner, J. ; Steinlechner, S. ; Steinmeyer, D. ; Stephens, C. ; Stone, R. ; Straniero, N. ; Stratta, G. ; Strauss, N. ; Strigin, S. ; Sturani, R. ; Stuver, L. ; Summerscales, T. ; Sun, L. ; Sun, S. ; Sutton, P. ; Swinkels, L. ; Szczepańczyk, M. ; Tacca, M. ; Talukder, D. ; Tanner, B. ; Tápai, M. ; Tarabrin, P. ; Taracchini, A. ; Taylor, R. ; Theeg, T. ; Thirugnanasambandam, P. ; Thomas, G. ; Thomas, M. ; Thomas, P. ; Thrane, E. ; Tiwari, S. ; Tiwari, V. ; Tomlinson, C. ; Tonelli, M. ; Tornasi, Z. ; Torres, C. ; Torrie, C. ; Töyrä, D. ; Travasso, F. ; Traylor, G. ; Trifirò, D. ; Tringali, C. ; Trozzo, L. ; Tse, M. ; Turconi, M. ; Tuyenbayev, D. ; Ugolini, D. ; Unnikrishnan, C. ; Urban, L. ; Usman, A. ; Vahlbruch, H. ; Vajente, G. ; Valdes, G. ; Van Bakel, N. ; Van Beuzekom, M. ; van den Brand, F. ; De, C. ; Vander-Hyde, C. ; van der Schaaf, L. ; Van Heijningen, J. ; van Veggel, A. ; Vardaro, M. ; Vass, S. ; Vasúth, M. ; Vaulin, R. ; Vecchio, A. ; Vedovato, G. ; Veitch, J. ; Veitch, P. ; Verkindt, D. ; Vetrano, F. ; Viceré, A. ; Vinciguerra, S. ; Vine, D. ; Vine, J. ; Vitale, S. ; Vo, T. ; Vo, H. ; Vo, C. ; Vo, D. ; Vyatchanin, P. ; Wade, R. ; Wade, L. ; Wade, M. ; Walker, M. ; Wallace, L. ; Walsh, S. ; Wang, G. ; Wang, H. ; Wang, M. ; Wang, X. ; Wang, Y. ; Ward, R. ; Warner, J. ; Was, M. ; Weaver, B. ; Wei, L. ; Wei, M. ; Wei, A. ; Wei, R. ; Wen, L. ; Weßels, P. ; Westphal, T. ; K., K. ; Whelan, T. ; Whiting, F. ; Williams, R. ; Willis, L. ; Willke, B. ; Wimmer, M. ; Winkler, W. ; Wipf, C. ; Wittel, H. ; Woan, G. ; Woehler, J. ; Worden, J. ; Wright, L. ; Wu, S. ; Wu, G. ; Yablon, J. ; Yam, W. ; Yam, H. ; Yancey, C. ; Yu, H. ; Yvert, M. ; Zadrożny, A. ; Zangrando, L. ; Zanolin, M. ; Zendri, P. ; Zevin, M. ; Zhang, L. ; Zhang, M. ; Zhang, Y. ; Zhao, C. ; Zhou, M. ; Zhou, Z. ; Zhu, J. ; Zucker, M. ; Zuraw, S. ; Zweizig, J. ; Sigurdsson, S.
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Search for gravitational waves from Scorpius X-1 in the first Advanced LIGO observing run with a hidden Markov model
Abbott, B. P. ; Abbott, R. ; Abbott, T. D. ; Acernese, F. ; Ackley, K. ; Adams, C. ; Adams, T. ; Addesso, P. ; Adhikari, R. ; Adya, V. B. ; Affeldt, C. ; Afrough, M. ; Agarwal, B. ; Agatsuma, K. ; Aggarwal, N. ; Aguiar, O. D. ; Aiello, L. ; Ain, A. ; Ajith, P. ; Allen, B. ; Allen, G. ; Allocca, A. ; Almoubayyed, H. ; Altin, P. ; Amato, A. ; Ananyeva, A. ; Anderson, B. ; Anderson, G. ; Antier, S. ; Appert, S. ; Arai, K. ; Araya, C. ; Areeda, S. ; Arnaud, N. ; Arun, K. ; Ascenzi, S. ; Ashton, G. ; Ast, M. ; Ast, P. ; Aufmuth, P. ; Aulbert, C. ; AultONeal, K. ; Avila-Alvarez, A. ; Babak, S. ; Bacon, P. ; Bader, K. ; Bae, S. ; Baker, T. ; Baldaccini, F. ; Ballardin, G. ; Ballmer, S. ; Banagiri, S. ; Barayoga, C. ; Barclay, S. ; Barish, C. ; Barker, D. ; Barone, F. ; Barr, B. ; Barsotti, L. ; Barsuglia, M. ; Barta, D. ; Bartlett, J. ; Bartos, I. ; Bassiri, R. ; Basti, A. ; Batch, C. ; Baune, C. ; Bawaj, M. ; Bazzan, M. ; Bécsy, B. ; BEER, C. ; Bejger, M. ; Belahcene, I. ; Bell, A. ; Berger, K. ; Bergmann, G. ; Berry, C. ; Bersanetti, D. ; Bertolini, A. ; Etienne, B. ; Betzwieser, J. ; Bhagwat, S. ; Bhandare, R. ; Bilenko, A. ; Billingsley, G. ; Billman, R. ; Birch, J. ; Birney, R. ; Birnholtz, O. ; Biscans, S. ; Bisht, A. ; Bitossi, M. ; Biwer, C. ; Bizouard, M. ; Blackburn, K. ; Blackman, J. ; Blair, C. ; Blair, G. ; Blair, R. ; Bloemen, S. ; Bock, O. ; Bode, N. ; Boer, M. ; Bogaert, G. ; Bohe, A. ; Bondu, F. ; Bonnand, R. ; Boom, B. ; Bork, R. ; Boschi, V. ; Bose, S. ; Bouffanais, Y. ; Bozzi, A. ; Bradaschia, C. ; Brady, R. ; Braginsky, V. B. ; Branchesi, M. ; Brau, J. ; Briant, T. ; Brillet, A. ; Brinkmann, M. ; Brisson, V. ; Brockill, P. ; Broida, J. ; Brooks, F. ; Brown, A. ; Brown, D. ; Brown, M. ; Brunett, S. ; Buchanan, C. ; Buikema, A. ; Bulik, T. ; Bulten, H. ; Buonanno, A. ; Buskulic, D. ; Buy, C. ; Byer, R. ; Cabero, M. ; Cadonati, L. ; Cagnoli, G. ; Cahillane, C. ; Calderón Bustillo, J. ; Callister, T. ; Calloni, E. ; Camp, B. ; Canepa, M. ; Canizares, P. ; Cannon, K. ; Cao, H. ; Cao, J. ; Capano, C. ; Capocasa, E. ; Carbognani, F. ; Caride, S. ; Carney, F. ; Casanueva Diaz, J. ; Casentini, C. ; Caudill, S. ; Cavaglià, M. ; Cavalier, F. ; Cavalier, R. ; Cella, G. ; Cepeda, C. ; Cerboni Baiardi, L. ; Cerretani, G. ; Cesarini, E. ; Chamberlin, S. ; Chan, M. ; Chao, S. ; Charlton, P. ; Chassande-Mottin, E. ; Chatterjee, D. ; Cheeseboro, B. ; Chen, H. ; Chen, Y. ; Chen, P. ; Chincarini, A. ; Chiummo, A. ; Chmiel, T. ; Cho, M. ; Cho, H. ; Christensen, N. ; Chu, Q. ; Chu, K. ; Chu, S. ; Ciani, G. ; Ciolfi, R. ; Cirelli, C. ; Cirone, A. ; Clara, F. ; Clark, A. ; Cleva, F. ; Cocchieri, C. ; Coccia, E. ; Cohadon, F. ; Colla, A. ; Collette, C. ; Cominsky, R. ; Constancio, M. ; Conti, L. ; Cooper, S. ; Corban, P. ; Corbitt, R. ; Corley, R. ; Cornish, N. ; Corsi, A. ; Cortese, S. ; Costa, C. ; Coughlin, M. ; Coughlin, B. ; Coulon, P. ; Countryman, T. ; Couvares, P. ; Covas, P. ; Cowan, E. ; Coward, M. ; Cowart, M. ; Coyne, C. ; Coyne, R. ; Creighton, D. ; Creighton, T. D. ; Cripe, J. ; Crowder, G. ; Cullen, T. ; Cumming, A. ; Cunningham, L. ; Cuoco, E. ; Dal Canton, T. ; Danilishin, L. ; D’Antonio, S. ; Danzmann, K. ; Dasgupta, A. ; Costa, F. ; Dattilo, V. ; Dave, I. ; Davier, M. ; Davies, G. ; Davis, D. ; Daw, J. ; Day, B. ; De, D. ; De, E. ; De, M. ; De, S. ; De, W. ; De, T. ; De, V. ; De, J. ; De, R. ; Dhurandhar, S. ; Díaz, C. ; Di Fiore, L. ; Di Giovanni, M. ; Di Girolamo, T. ; Di Lieto, A. ; Di Pace, S. ; Di Palma, I. ; Di Renzo, F. ; Doctor, Z. ; Dolique, V. ; Donovan, F. ; Dooley, K. ; Doravari, S. ; Dorrington, I. ; Douglas, R. ; Dovale Álvarez, M. ; Downes, T. ; Drago, M. ; Drever, R. ; Driggers, C. ; Du, Z. ; Du, M. ; Du, J. ; Dwyer, S. ; Edo, T. ; Edwards, C. ; Effler, A. ; Eggenstein, B. ; Ehrens, P. ; Eichholz, J. ; Eikenberry, S. ; Essick, R. ; Etzel, T. ; Evans, M. ; Evans, T. ; Factourovich, M. ; Fafone, V. ; Fair, H. ; Fair, S. ; Fan, X. ; Farinon, S. ; Farr, B. ; Farr, M. ; Fauchon-Jones, J. ; Favata, M. ; Fays, M. ; Fehrmann, H. ; Feicht, J. ; Fejer, M. ; Fernandez-Galiana, A. ; Ferrante, I. ; Ferreira, C. ; Ferrini, F. ; Fidecaro, F. ; Fiori, I. ; Fiorucci, D. ; Fisher, R. ; Flaminio, R. ; Fletcher, M. ; Fong, H. ; Forsyth, F. ; Forsyth, S. ; Fournier, D. ; Frasca, S. ; Frasconi, F. ; Frei, Z. ; Frei, A. ; Frey, R. ; Frey, V. ; Fries, M. ; Fritschel, P. ; Frolov, V. ; Fulda, P. ; Fyffe, M. ; Gabbard, H. ; Gabel, M. ; Gadre, B. ; Gaebel, M. ; Gair, R. ; Gammaitoni, L. ; Ganija, R. ; Gaonkar, G. ; Garufi, F. ; Gaudio, S. ; Gaur, G. ; Gayathri, V. ; Gehrels, N. ; Gemme, G. ; Genin, E. ; Gennai, A. ; George, D. ; George, J. ; Gergely, L. ; Germain, V. ; Ghonge, S. ; Ghosh, Abhirup ; Ghosh, Archisman ; Ghosh, S. ; Giaime, A. ; Giardina, K. ; Giazotto, A. ; Gill, K. ; Glover, L. ; Goetz, E. ; Goetz, R. ; Gomes, S. ; Gonzalez, G. ; Gonzalez Castro, M. ; Gopakumar, A. ; Gorodetsky, M. ; Gossan, S. ; Gosselin, M. ; Gouaty, R. ; Grado, A. ; Graef, C. ; Granata, M. ; Grant, A. ; Gras, S. ; Gray, C. ; Greco, G. ; Green, C. ; Groot, P. ; Grote, H. ; Grunewald, S. ; Gruning, P. ; Guidi, M. ; Guo, X. ; Gupta, A. ; Gupta, K. ; Gushwa, K. ; Gustafson, K. ; Gustafson, R. ; Hall, R. ; Hall, D. ; Hammond, G. ; Haney, M. ; Hanke, M. ; Hanks, J. ; Hanna, C. ; Hannuksela, A. ; Hanson, J. ; Hardwick, T. ; Harms, J. ; Harry, M. ; Harry, I. ; Hart, M. ; Haster, C. ; Haughian, K. ; Healy, J. ; Heidmann, A. ; Heintze, C. ; Heitmann, H. ; Hello, P. ; Hemming, G. ; Hendry, M. ; Heng, S. ; Hennig, J. ; Henry, J. ; Heptonstall, A. ; Heurs, M. ; Hild, S. ; Hoak, D. ; Hofman, D. ; Holt, K. ; Holz, D. ; Hopkins, P. ; Horst, C. ; Hough, J. ; Houston, A. ; Howell, J. ; Hu, M. ; Hu, A. ; Hu, D. ; Hu, B. ; Hu, S. ; Hu, H. ; Hu, T. ; Indik, N. ; Ingram, R. ; Inta, R. ; Intini, G. ; Isa, N. ; Isa, M. ; Isi, M. ; Iyer, R. ; Izumi, K. ; Jacqmin, T. ; Jani, K. ; Jaranowski, P. ; Jawahar, S. ; Jiménez-Forteza, F. ; Johnson, W. ; Jones, D. ; Jones, R. ; Jonker, R. ; Ju, L. ; Ju, J. ; Kalaghatgi, C. ; Kalogera, V. ; Kandhasamy, S. ; Kang, G. ; Kanner, B. ; Karki, S. ; Karvinen, K. ; Kasprzack, M. ; Katolik, M. ; Katsavounidis, E. ; Katzman, W. ; Kaufer, S. ; Kawabe, K. ; Kefelian, F. ; Keitel, D. ; Kemball, A. ; Kennedy, R. ; Kent, C. ; Key, S. ; Khalili, F. ; Khan, I. ; Khan, S. ; Khan, Z. ; Khazanov, A. ; Kijbunchoo, N. ; Chu, Chunglee ; Kim, C. ; Kim, W. ; Kim, M. ; Kim, S. ; King, J. ; King, P. ; Kirchhoff, R. ; Kissel, S. ; Kleybolte, L. ; Klimenko, S. ; Koch, P. ; Koehlenbeck, M. ; Koley, S. ; Kondrashov, V. ; Kontos, A. ; Korobko, M. ; Korth, W. ; Kowalska, I. ; Kozak, B. ; Kramer, C. ; Kringel, V. ; Krishnan, B. ; Królak, A. ; Kuehn, G. ; Kumar, P. ; Kumar, R. ; Kumar, S. ; Kuo, L. ; Kutynia, A. ; Kwang, S. ; Lackey, B. ; Lai, K. ; Landry, M. ; Lang, R. ; Lang, J. ; Lantz, B. ; Lanza, R. ; Lartaux-Vollard, A. ; Lasky, P. ; Laxen, M. ; Lazzarini, A. ; Lazzaro, C. ; Leaci, P. ; Leavey, S. ; Lee, C. ; Lee, M. ; Lee, H. ; Lee, K. ; Lehmann, J. ; Lenon, A. ; Leonardi, M. ; Leroy, N. ; Letendre, N. ; Levin, Y. ; Li, F. ; Li, A. ; Li, T. ; Li, J. ; Lockerbie, N. ; London, T. ; Lord, J. ; Lorenzini, M. ; Loriette, V. ; Lormand, M. ; Losurdo, G. ; Lough, D. ; Lovelace, G. ; Lück, H. ; Lumaca, D. ; Lundgren, P. ; Lynch, R. ; Ma, Y. ; Ma, B. ; Ma, V. ; Márka, S. ; Márka, Z. ; Ma, C. ; Ma, E. ; Ma, I. ; Ma, K. ; Ma, T. ; Ma, M. ; Ma, S. ; Ma, A. ; Ma, F. ; Ma, L. ; Ma, R. ; Ma, N. ; McCarthy, R. ; McClelland, D. ; Mccormick, S. ; McCuller, L. ; McGuire, C. ; Mcintyre, G. ; Mciver, J. ; Ma, D. ; McRae, T. ; McWilliams, T. ; Meacher, D. ; Meadors, G. ; Meidam, J. ; Mejuto-Villa, E. ; Melatos, A. ; Mendell, G. ; Mercer, R. ; Merilh, L. ; Merzougui, M. ; Meshkov, S. ; Messenger, C. ; Messick, C. ; Metzdorff, R. ; Meyers, P. ; Mezzani, F. ; Miao, H. ; Michel, C. ; Middleton, H. ; Mikhailov, E. ; Milano, L. ; Miller, L. ; Miller, A. ; Miller, B. ; Miller, J. ; Millhouse, M. ; Minazzoli, O. ; Minenkov, Y. ; Ming, J. ; Mishra, C. ; Mitra, S. ; Mitrofanov, P. ; Mitselmakher, G. ; Mittleman, R. ; Moggi, A. ; Mohan, M. ; Mohapatra, R. ; 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Smith, B. ; Smith, R. ; Son, J. ; Son, A. ; Sorazu, B. ; Sorrentino, F. ; Souradeep, T. ; Spencer, P. ; Srivastava, K. ; Staley, A. ; Steinke, M. ; Steinlechner, J. ; Steinlechner, S. ; Steinmeyer, D. ; Stephens, C. ; Stone, R. ; Strain, K. ; Stratta, G. ; Strigin, S. ; Sturani, R. ; Stuver, L. ; Summerscales, T. ; Sun, L. ; Sun, S. ; Sutton, P. ; Swinkels, B. ; Szczepańczyk, M. ; Tacca, M. ; Talukder, D. ; Tanner, B. ; Tápai, M. ; Taracchini, A. ; Taylor, A. ; Taylor, R. ; Theeg, T. ; Thomas, G. ; Thomas, M. ; Thomas, P. ; Thorne, K. ; Thrane, E. ; Tiwari, S. ; Tiwari, V. ; Tokmakov, K. ; Toland, K. ; Tonelli, M. ; Tornasi, Z. ; Torrie, C. ; Töyrä, D. ; Travasso, F. ; Traylor, G. ; Trifirò, D. ; Trinastic, J. ; Tringali, C. ; Trozzo, L. ; Tsang, K. ; Tse, M. ; Tso, R. ; Tuyenbayev, D. ; Ueno, K. ; Ugolini, D. ; Unnikrishnan, C. ; Urban, L. ; Usman, A. ; Vahi, K. ; Vahlbruch, H. ; Vajente, G. ; Valdes, G. ; Van Bakel, N. ; Van Beuzekom, M. ; van den Brand, F. ; De, C. ; Vander-Hyde, C. ; van der Schaaf, L. ; Van Heijningen, J. ; van Veggel, A. ; Vardaro, M. ; Varma, V. ; Vass, S. ; Vasúth, M. ; Vecchio, A. ; Vedovato, G. ; Veitch, J. ; Veitch, P. ; Venkateswara, K. ; Venugopalan, G. ; Verkindt, D. ; Vetrano, F. ; Viceré, A. ; Viets, A. ; Vinciguerra, S. ; Vine, D. ; Vine, J. ; Vitale, S. ; Vo, T. ; Vo, H. ; Vo, C. ; Vo, D. ; Vyatchanin, P. ; Wade, R. ; Wade, L. ; Wade, M. ; Walet, R. ; Walker, M. ; Wallace, L. ; Walsh, S. ; Wang, G. ; Wang, H. ; Wang, J. ; Wang, M. ; Wang, F. ; Wang, Y. ; Ward, R. ; Warner, J. ; Was, M. ; Watchi, J. ; Weaver, B. ; Wei, L. ; Wei, M. ; Wei, A. ; Wei, R. ; Wen, L. ; Wessel, K. ; Weßels, P. ; Westphal, T. ; Wette, K. ; Whelan, T. ; Whiting, F. ; Whittle, C. ; Williams, D. ; Williams, R. ; Willis, L. ; Willke, B. ; Wimmer, M. ; Winkler, W. ; Wipf, C. ; Wittel, H. ; Woan, G. ; Woehler, J. ; Wofford, J. ; Wong, K. ; Worden, J. ; Wright, L. ; Wu, S. ; Wu, G. ; Yam, W. ; Yam, H. ; Yancey, C. ; Yap, M. ; Yu, Hang ; Yu, Haocun ; Yvert, M. ; Zadrożny, A. ; 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Search for intermediate mass black hole binaries in the first observing run of Advanced LIGO
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Berry, C. ; Bersanetti, D. ; Bertolini, A. ; Betzwieser, J. ; Bhagwat, S. ; Bhandare, R. ; Bilenko, A. ; Billingsley, G. ; Billman, R. ; Birch, J. ; Birney, R. ; Birnholtz, O. ; Biscans, S. ; Bisht, A. ; Bitossi, M. ; Biwer, C. ; Bizouard, M. ; Blackburn, K. ; Blackman, J. ; Blair, C. ; Blair, G. ; Blair, R. ; Bloemen, S. ; Bock, O. ; Bode, N. ; Boer, M. ; Bogaert, G. ; Bohe, A. ; Bondu, F. ; Bonnand, R. ; Boom, B. ; Bork, R. ; Boschi, V. ; Bose, S. ; Bouffanais, Y. ; Bozzi, A. ; Bradaschia, C. ; Brady, R. ; Braginsky, V. B. ; Branchesi, M. ; Brau, J. ; Briant, T. ; Brillet, A. ; Brinkmann, M. ; Brisson, V. ; Brockill, P. ; Broida, J. ; Brooks, F. ; Brown, A. ; Brown, D. ; Brown, M. ; Brunett, S. ; Buchanan, C. ; Buikema, A. ; Bulik, T. ; Bulten, H. ; Buonanno, A. ; Buskulic, D. ; Buy, C. ; Byer, R. ; Cabero, M. ; Cadonati, L. ; Cagnoli, G. ; Cahillane, C. ; Calderón Bustillo, J. ; Callister, T. ; Calloni, E. ; Camp, B. ; Canepa, M. ; Canizares, P. ; Cannon, K. ; Cao, H. ; Cao, J. ; Capano, C. ; Capocasa, E. ; Carbognani, F. ; Caride, S. ; Carney, F. ; Casanueva Diaz, J. ; Casentini, C. ; Caudill, S. ; Cavaglià, M. ; Cavalier, F. ; Cavalier, R. ; Cella, G. ; Cepeda, C. ; Cerboni Baiardi, L. ; Cerretani, G. ; Cesarini, E. ; Chamberlin, S. ; Chan, M. ; Chao, S. ; Charlton, P. ; Chassande-Mottin, E. ; Chatterjee, D. ; Cheeseboro, B. ; Chen, H. ; Chen, Y. ; Chen, P. ; Chincarini, A. ; Chiummo, A. ; Chmiel, T. ; Cho, M. ; Cho, H. ; Christensen, N. ; Chu, Q. ; Chu, K. ; Chu, S. ; Ciani, G. ; Ciolfi, R. ; Cirelli, C. ; Cirone, A. ; Clara, F. ; Clark, A. ; Cleva, F. ; Cocchieri, C. ; Coccia, E. ; Cohadon, F. ; Colla, A. ; Collette, C. ; Cominsky, R. ; Constancio, M. ; Conti, L. ; Cooper, S. ; Corban, P. ; Corbitt, R. ; Corley, R. ; Cornish, N. ; Corsi, A. ; Cortese, S. ; Costa, C. ; Coughlin, M. ; Coughlin, B. ; Coulon, P. ; Countryman, T. ; Couvares, P. ; Covas, P. ; Cowan, E. ; Coward, M. ; Cowart, M. ; Coyne, C. ; Coyne, R. ; Creighton, D. ; Creighton, T. D. ; Cripe, J. ; Crowder, G. ; Cullen, T. ; Cumming, A. ; Cunningham, L. ; Cuoco, E. ; Dal Canton, T. ; Danilishin, L. ; D’Antonio, S. ; Danzmann, K. ; Dasgupta, A. ; Costa, F. ; Dattilo, V. ; Dave, I. ; Davier, M. ; Davies, G. ; Davis, D. ; Daw, J. ; Day, B. ; De, D. ; De, E. ; De, M. ; De, S. ; De, W. ; De, T. ; De, V. ; De, J. ; De, R. ; Dhurandhar, S. ; Díaz, C. ; Di Fiore, L. ; Di Giovanni, M. ; Di Girolamo, T. ; Di Lieto, A. ; Di Pace, S. ; Di Palma, I. ; Di Renzo, F. ; Doctor, Z. ; Dolique, V. ; Donovan, F. ; Dooley, K. ; Doravari, S. ; Dorrington, I. ; Douglas, R. ; Dovale Álvarez, M. ; Downes, T. ; Drago, M. ; Drever, R. ; Driggers, C. ; Du, Z. ; Du, M. ; Du, J. ; Dwyer, S. ; Edo, T. ; Edwards, C. ; Effler, A. ; Eggenstein, B. ; Ehrens, P. ; Eichholz, J. ; Eikenberry, S. ; Eisenstein, R. ; Essick, R. ; Etienne, B. ; Etzel, T. ; Evans, M. ; Evans, T. ; Factourovich, M. ; Fafone, V. ; Fair, H. ; Fair, S. ; Fan, X. ; Farinon, S. ; Farr, B. ; Farr, M. ; Fauchon-Jones, J. ; Favata, M. ; Fays, M. ; Fehrmann, H. ; Feicht, J. ; Fejer, M. ; Fernandez-Galiana, A. ; Ferrante, I. ; Ferreira, C. ; Ferrini, F. ; Fidecaro, F. ; Fiori, I. ; Fiorucci, D. ; Fisher, R. ; Flaminio, R. ; Fletcher, M. ; Fong, H. ; Forsyth, F. ; Forsyth, S. ; Fournier, D. ; Frasca, S. ; Frasconi, F. ; Frei, Z. ; Frei, A. ; Frey, R. ; Frey, V. ; Fries, M. ; Fritschel, P. ; Frolov, V. ; Fulda, P. ; Fyffe, M. ; Gabbard, H. ; Gabel, M. ; Gadre, B. ; Gaebel, M. ; Gair, R. ; Gammaitoni, L. ; Ganija, R. ; Gaonkar, G. ; Garufi, F. ; Gaudio, S. ; Gaur, G. ; Gayathri, V. ; Gehrels, N. ; Gemme, G. ; Genin, E. ; Gennai, A. ; George, D. ; George, J. ; Gergely, L. ; Germain, V. ; Ghonge, S. ; Ghosh, Abhirup ; Ghosh, Archisman ; Ghosh, S. ; Giaime, A. ; Giardina, K. ; Giazotto, A. ; Gill, K. ; Glover, L. ; Goetz, E. ; Goetz, R. ; Gomes, S. ; Gonzalez, G. ; Gonzalez Castro, M. ; Gopakumar, A. ; Gorodetsky, M. ; Gossan, S. ; Gosselin, M. ; Gouaty, R. ; Grado, A. ; Graef, C. ; Granata, M. ; Grant, A. ; Gras, S. ; Gray, C. ; Greco, G. ; Green, C. ; Groot, P. ; Grote, H. ; Grunewald, S. ; Gruning, P. ; Guidi, M. ; Guo, X. ; Gupta, A. ; Gupta, K. ; Gushwa, K. ; Gustafson, K. ; Gustafson, R. ; Hall, R. ; Hall, D. ; Hammond, G. ; Haney, M. ; Hanke, M. ; Hanks, J. ; Hanna, C. ; Hanna, M. ; Hannuksela, A. ; Hanson, J. ; Hardwick, T. ; Harms, J. ; Harry, M. ; Harry, I. ; Hart, M. ; Haster, C. ; Haughian, K. ; Healy, J. ; Heidmann, A. ; Heintze, C. ; Heitmann, H. ; Hello, P. ; Hemming, G. ; Hendry, M. ; Heng, S. ; Hennig, J. ; Henry, J. ; Heptonstall, A. ; Heurs, M. ; Hild, S. ; Hoak, D. ; Hofman, D. ; Holt, K. ; Holz, D. ; Hopkins, P. ; Horst, C. ; Hough, J. ; Houston, A. ; Howell, J. ; Hu, M. ; Hu, A. ; Hu, D. ; Hu, B. ; Hu, S. ; Hu, H. ; Hu, T. ; Indik, N. ; Ingram, R. ; Inta, R. ; Intini, G. ; Isa, N. ; Isa, M. ; Isi, M. ; Iyer, R. ; Izumi, K. ; Jacqmin, T. ; Jani, K. ; Jaranowski, P. ; Jawahar, S. ; Jiménez-Forteza, F. ; Johnson, W. ; Jones, D. ; Jones, R. ; Jonker, R. ; Ju, L. ; Ju, J. ; Kalaghatgi, C. ; Kalogera, V. ; Kandhasamy, S. ; Kang, G. ; Kanner, B. ; Karki, S. ; Karvinen, K. ; Kasprzack, M. ; Katolik, M. ; Katsavounidis, E. ; Katzman, W. ; Kaufer, S. ; Kawabe, K. ; Kefelian, F. ; Keitel, D. ; Kemball, A. ; Kennedy, R. ; Kent, C. ; Key, S. ; Khalili, F. ; Khan, I. ; Khan, S. ; Khan, Z. ; Khazanov, A. ; Kijbunchoo, N. ; Chu, Chunglee ; Kim, C. ; Kim, W. ; Kim, M. ; Kim, S. ; King, J. ; King, P. ; Kirchhoff, R. ; Kissel, S. ; Kleybolte, L. ; Klimenko, S. ; Koch, P. ; Koehlenbeck, M. ; Koley, S. ; Kondrashov, V. ; Kontos, A. ; Korobko, M. ; Korth, W. ; Kowalska, I. ; Kozak, B. ; Kramer, C. ; Kringel, V. ; Krishnan, B. ; Królak, A. ; Kuehn, G. ; Kumar, P. ; Kumar, R. ; Kumar, S. ; Kuo, L. ; Kutynia, A. ; Kwang, S. ; Lackey, B. ; Lai, K. ; Landry, M. ; Lang, R. ; Lang, J. ; Lantz, B. ; Lanza, R. ; Lartaux-Vollard, A. ; Lasky, P. ; Laxen, M. ; Lazzarini, A. ; Lazzaro, C. ; Leaci, P. ; Leavey, S. ; Lee, C. ; Lee, M. ; Lee, H. ; Lee, K. ; Lehmann, J. ; Lenon, A. ; Leonardi, M. ; Leroy, N. ; Letendre, N. ; Levin, Y. ; Li, F. ; Li, A. ; Li, T. ; Li, J. ; Lockerbie, N. ; London, T. ; Lord, J. ; Lorenzini, M. ; Loriette, V. ; Lormand, M. ; Losurdo, G. ; Lough, D. ; Lousto, C. ; Lovelace, G. ; Lück, H. ; Lumaca, D. ; Lundgren, P. ; Lynch, R. ; Ma, Y. ; Ma, B. ; Ma, V. ; Márka, S. ; Márka, Z. ; Ma, C. ; Ma, E. ; Ma, I. ; Ma, K. ; Ma, T. ; Ma, M. ; Ma, S. ; Ma, A. ; Ma, F. ; Ma, L. ; Ma, R. ; Ma, N. ; McCarthy, R. ; McClelland, D. ; Mccormick, S. ; McCuller, L. ; McGuire, C. ; Mcintyre, G. ; Mciver, J. ; Ma, D. ; McRae, T. ; McWilliams, T. ; Meacher, D. ; Meadors, G. ; Meidam, J. ; Mejuto-Villa, E. ; Melatos, A. ; Mendell, G. ; Mercer, R. ; Merilh, L. ; Merzougui, M. ; Meshkov, S. ; Messenger, C. ; Messick, C. ; Metzdorff, R. ; Meyers, P. ; Mezzani, F. ; Miao, H. ; Michel, C. ; Middleton, H. ; Mikhailov, E. ; Milano, L. ; Miller, L. ; Miller, A. ; Miller, B. ; Miller, J. ; Millhouse, M. ; Minazzoli, O. ; Minenkov, Y. ; Ming, J. ; Mishra, C. ; Mitra, S. ; Mitrofanov, P. ; Mitselmakher, G. ; Mittleman, R. ; Moggi, A. ; Mohan, M. ; Mohapatra, R. ; Montani, M. ; Moore, C. ; Moraru, D. ; Moreno, G. ; Morriss, R. ; Mours, B. ; Mow-Lowry, C. ; Mueller, G. ; Muir, A. ; Arun, Arunava ; Mukherjee, D. ; Mukherjee, S. ; Mukund, N. ; Mullavey, A. ; Munch, J. ; Muniz, M. ; Murray, P. ; Napier, K. ; Nardecchia, I. ; Naticchioni, L. ; Nayak, R. ; Nelemans, G. ; Nelson, T. ; Neri, M. ; Nery, M. ; Neunzert, A. ; Newport, M. ; Newton, G. ; Ng, K. ; Ng, T. ; Nichols, D. ; Nielsen, B. ; Nissanke, S. ; Noack, A. ; Nocera, F. ; Nolting, D. ; Normandin, M. ; Nuttall, K. ; Oberling, J. ; Ochsner, E. ; Oelker, E. ; Ogin, G. ; Oh, J. ; Oh, H. ; Oh, F. ; Oliver, M. ; Oppermann, P. ; Oram, J. ; O’Reilly, B. ; Ormiston, R. ; Ortega, F. ; O’Shaughnessy, R. ; Ottaway, D. ; Overmier, H. ; Owen, B. ; Pace, A. ; Page, J. ; Page, M. ; Pai, A. ; Palamos, R. ; Palashov, O. ; Palomba, C. ; Pal-Singh, A. ; Pan, H. ; Pan, B. ; Pan, T. ; Pan, F. ; Pan, C. ; Paoletti, F. ; Paoli, A. ; Papa, M. ; Paris, R. ; Parker, W. ; Pascucci, D. ; Pasqualetti, A. ; Passaquieti, R. ; Passuello, D. ; Patricelli, B. ; Pearlstone, B. ; Pedraza, M. ; Pedurand, R. ; Pekowsky, L. ; Pele, A. ; Penn, S. ; Perez, C. ; Perreca, A. ; Perri, M. ; Pfeiffer, P. ; Phelps, M. ; Piccinni, J. ; Pichot, M. ; Piergiovanni, F. ; Pierro, V. ; Pillant, G. ; Pinard, L. ; Pinto, M. ; Pitkin, M. ; Poggiani, R. ; Popolizio, P. ; Porter, K. ; Post, A. ; Powell, J. ; Prasad, J. ; Pratt, J. ; Predoi, V. ; Prestegard, T. ; Prijatelj, M. ; Principe, M. ; Privitera, S. ; Prodi, A. ; Prokhorov, L. ; Puncken, O. ; Punturo, M. ; Puppo, P. ; Pürrer, M. ; Qi, H. ; Qi, J. ; Qi, S. ; Quetschke, V. ; Quintero, A. ; Quitzow-James, R. ; Raab, F. ; Rabeling, S. ; Radkins, H. ; Raffai, P. ; Raja, S. ; Raja, C. ; Rakhmanov, M. ; Ramirez, K. ; Rapagnani, P. ; Raymond, V. ; Razzano, M. ; Read, J. ; Regimbau, T. ; Rei, L. ; Rei, S. ; Rei, H. ; Rew, H. ; Reyes, S. ; Ricci, F. ; Ricker, P. ; Rieger, S. ; Riles, K. ; Rizzo, M. ; Robertson, N. ; Robie, R. ; Robinet, F. ; Rocchi, A. ; Rolland, L. ; Rollins, G. ; Roma, J. ; Roma, R. ; Romel, C. ; Romie, H. ; Rosińska, D. ; Ross, P. ; Rowan, S. ; Rüdiger, A. ; Ruggi, P. ; Ryan, K. ; Rynge, M. ; Sachdev, S. ; Sadecki, T. ; Sadeghian, L. ; Sakellariadou, M. ; Salconi, L. ; Saleem, M. ; Salemi, F. ; Samajdar, A. ; Sammut, L. ; Sampson, M. ; Sanchez, J. ; Sandberg, V. ; Sandeen, B. ; Sanders, R. ; Sassolas, B. ; Sathyaprakash, B. ; Saulson, R. ; Sauter, O. ; Savage, R. ; Sawadsky, A. ; Schale, P. ; Scheuer, J. ; Schmidt, E. ; Schmidt, J. ; Schmidt, P. ; Schnabel, R. ; Schofield, R. ; Schönbeck, A. ; Schreiber, E. ; Schuette, D. ; Schulte, B. ; Schutz, F. ; Schwalbe, G. ; Scott, J. ; Scott, M. ; Seidel, E. ; Sellers, D. ; Sengupta, A. ; Sentenac, D. ; Sequino, V. ; Sergeev, A. ; Shaddock, A. ; Shaffer, T. ; Shah, A. ; Shah, M. ; Shao, L. ; Shapiro, B. ; Shawhan, P. ; Sheperd, A. ; Shoemaker, H. ; Shoemaker, M. ; Siellez, K. ; Siemens, X. ; Sieniawska, M. ; Sigg, D. ; Silva, A. ; Singer, A. ; Singer, P. ; Singh, R. ; Singh, A. ; Sintes, M. ; Slagmolen, B. ; Smith, B. ; Smith, R. ; Son, J. ; Son, A. ; Sorazu, B. ; Sorrentino, F. ; Souradeep, T. ; Spencer, P. ; Srivastava, K. ; Staley, A. ; Steinke, M. ; Steinlechner, J. ; Steinlechner, S. ; Steinmeyer, D. ; Stephens, C. ; Stone, R. ; Strain, K. ; Stratta, G. ; Strigin, S. ; Sturani, R. ; Stuver, L. ; Summerscales, T. ; Sun, L. ; Sun, S. ; Sutton, P. ; Swinkels, B. ; Szczepańczyk, M. ; Tacca, M. ; Talukder, D. ; Tanner, B. ; Tápai, M. ; Taracchini, A. ; Taylor, A. ; Taylor, R. ; Theeg, T. ; Thomas, G. ; Thomas, M. ; Thomas, P. ; Thorne, K. ; Thrane, E. ; Tiwari, S. ; Tiwari, V. ; Tokmakov, K. ; Toland, K. ; Tonelli, M. ; Tornasi, Z. ; Torrie, C. ; Töyrä, D. ; Travasso, F. ; Traylor, G. ; Trifirò, D. ; Trinastic, J. ; Tringali, C. ; Trozzo, L. ; Tsang, K. ; Tse, M. ; Tso, R. ; Tuyenbayev, D. ; Ueno, K. ; Ugolini, D. ; Unnikrishnan, C. ; Urban, L. ; Usman, A. ; Vahi, K. ; Vahlbruch, H. ; Vajente, G. ; Valdes, G. ; Van Bakel, N. ; Van Beuzekom, M. ; van den Brand, F. ; De, C. ; Vander-Hyde, C. ; van der Schaaf, L. ; Van Heijningen, J. ; van Veggel, A. ; Vardaro, M. ; Varma, V. ; Vass, S. ; Vasúth, M. ; Vecchio, A. ; Vedovato, G. ; Veitch, J. ; Veitch, P. ; Venkateswara, K. ; Venugopalan, G. ; Verkindt, D. ; Vetrano, F. ; Viceré, A. ; Viets, A. ; Vinciguerra, S. ; Vine, D. ; Vine, J. ; Vitale, S. ; Vo, T. ; Vo, H. ; Vo, C. ; Vo, D. ; Vyatchanin, P. ; Wade, R. ; Wade, L. ; Wade, M. ; Walet, R. ; Walker, M. ; Wallace, L. ; Walsh, S. ; Wang, G. ; Wang, H. ; Wang, J. ; Wang, M. ; Wang, F. ; Wang, Y. ; Ward, R. ; Warner, J. ; Was, M. ; Watchi, J. ; Weaver, B. ; Wei, L. ; Wei, M. ; Wei, A. ; Wei, R. ; Wen, L. ; Wessel, K. ; Weßels, P. ; Westphal, T. ; Wette, K. ; Whelan, T. ; Whiting, F. ; Whittle, C. ; Williams, D. ; Williams, R. ; Willis, L. ; Willke, B. ; Wimmer, M. ; Winkler, W. ; Wipf, C. ; Wittel, H. ; Woan, G. ; Woehler, J. ; Wofford, J. ; Wong, K. ; Worden, J. ; Wright, L. ; Wu, S. ; Wu, G. ; Yam, W. ; Yam, H. ; Yancey, C. ; Yap, M. ; Yu, Hang ; Yu, Haocun ; Yvert, M. ; Zadrożny, A. ; Zanolin, M. ; Zelenova, T. ; Zendri, P. ; Zevin, M. ; Zhang, L. ; Zhang, M. ; Zhang, T. ; Zhang, H. ; Zhao, C. ; Zhou, M. ; Zhou, Z. ; Zhu, J. ; Zucker, M. ; Zweizig, J.
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Erratum: “First Search for Gravitational Waves from Known Pulsars with Advanced LIGO” (2017, ApJ, 839, 12)
Abbott, B. ; Abbott, R. ; Abbott, T. ; Abernathy, R. ; Acernese, F. ; Ackley, K. ; Adams, C. ; Adams, T. ; Addesso, P. ; Adhikari, R. ; Adya, B. ; Affeldt, C. ; Agathos, M. ; Agatsuma, K. ; Aggarwal, N. ; Aguiar, O. ; Aiello, L. ; Ain, A. ; Ajith, P. ; Allen, B. ; Allocca, A. ; Altin, P. ; Ananyeva, A. ; Anderson, B. ; Anderson, W. ; Appert, S. ; Arai, K. ; Araya, M. ; Areeda, S. ; Arnaud, N. ; Arun, K. ; Ascenzi, S. ; Ashton, G. ; Ast, M. ; Ast, P. ; Aufmuth, P. ; Aulbert, C. ; Avila-Alvarez, A. ; Babak, S. ; Bacon, P. ; Bader, M. ; Baker, T. ; Baldaccini, F. ; Ballardin, G. ; Ballmer, S. ; Barayoga, C. ; Barclay, S. ; Barish, B. ; Barker, D. ; Barone, F. ; Barr, B. ; Barsotti, L. ; Barsuglia, M. ; Barta, D. ; Bartlett, J. ; Bartos, I. ; Bassiri, R. ; Basti, A. ; Batch, C. ; Baune, C. ; Bavigadda, V. ; Bazzan, M. ; BEER, C. ; Bejger, M. ; Belahcene, I. ; Belgin, M. ; Bell, A. ; Berger, B. ; Bergmann, G. ; Berry, C. ; Bersanetti, D. ; Bertolini, A. ; Betzwieser, J. ; Bhagwat, S. ; Bhandare, R. ; Bilenko, A. ; Billingsley, G. ; Billman, R. ; Birch, J. ; Birney, R. ; Birnholtz, O. ; Biscans, S. ; Bisht, A. ; Bitossi, M. ; Biwer, C. ; Bizouard, M. ; Blackburn, K. ; Blackman, J. ; Blair, C. ; Blair, G. ; Blair, R. ; Bloemen, S. ; Bock, O. ; Boer, M. ; Bogaert, G. ; Bohe, A. ; Bondu, F. ; Bonnand, R. ; Boom, B. ; Bork, R. ; Boschi, V. ; Bose, S. ; Bouffanais, Y. ; Bozzi, A. ; Bradaschia, C. ; Brady, R. ; Braginsky, B. ; Branchesi, M. ; Brau, J. ; Briant, T. ; Brillet, A. ; Brinkmann, M. ; Brisson, V. ; Brockill, P. ; Broida, J. ; Brooks, F. ; Brown, A. ; Brown, D. ; Brown, M. ; Brunett, S. ; Buchanan, C. ; Buikema, A. ; Bulik, T. ; Bulten, J. ; Buonanno, A. ; Buskulic, D. ; Buy, C. ; Byer, R. ; Cabero, M. ; Cadonati, L. ; Cagnoli, G. ; Cahillane, C. ; Bustillo, J. ; Callister, T. ; Calloni, E. ; Camp, B. ; Canepa, M. ; Cannon, K. ; Cao, H. ; Cao, J. ; Capano, C. ; Capocasa, E. ; Carbognani, F. ; Caride, S. ; Díaz, J. ; Casentini, C. ; Caudill, S. ; Cavaglià, M. ; Cavalier, F. ; Cavalier, R. ; Cella, G. ; Cepeda, B. ; Baiardi, L. ; Cerretani, G. ; Cesarini, E. ; Chamberlin, S. ; Chan, M. ; Chao, S. ; Charlton, P. ; Chassande-Mottin, E. ; Cheeseboro, B. ; Chen, Y. ; Chen, P. ; Chincarini, A. ; Chiummo, A. ; Chmiel, T. ; Cho, S. ; Cho, M. ; Cho, J. ; Christensen, N. ; Chu, Q. ; Chu, K. ; Chu, S. ; Ciani, G. ; Clara, F. ; Clark, A. ; Cleva, F. ; Cocchieri, C. ; Coccia, E. ; Cohadon, F. ; Colla, A. ; Collette, C. ; Cominsky, L. ; M. Constancio Jr., M. ; Conti, L. ; Cooper, S. ; Corbitt, R. ; Cornish, N. ; Corsi, A. ; Cortese, S. ; Costa, C. ; Coughlin, M. ; Coughlin, B. ; Coulon, P. ; Countryman, T. ; Couvares, P. ; Covas, B. ; Cowan, E. ; Coward, M. ; Cowart, M. ; Coyne, C. ; Coyne, R. ; Creighton, J. ; Creighton, T. ; Cripe, J. ; Crowder, S. ; Cullen, T. ; Cumming, A. ; Cunningham, L. ; Cuoco, E. ; Canton, T. ; Danilishin, L. ; D’Antonio, S. ; Danzmann, K. ; Dasgupta, A. ; Costa, F. ; Dattilo, V. ; Dave, I. ; Davier, M. ; Davies, S. ; Davis, D. ; Daw, J. ; Day, B. ; Day, R. ; De, D. ; De, G. ; De, M. ; De, S. ; De, W. ; De, T. ; De, V. ; De, J. ; De, R. ; Dhurandhar, S. ; Díaz, M. ; Fiore, L. ; Giovanni, M. ; Girolamo, T. ; Lieto, A. ; Pace, S. ; Palma, I. ; Virgilio, A. ; Doctor, Z. ; Dolique, V. ; Donovan, F. ; Dooley, K. ; Doravari, S. ; Dorrington, I. ; Douglas, R. ; Alvarez, M. ; Downes, T. ; Drago, M. ; Drever, R. ; Driggers, C. ; Du, Z. ; Du, M. ; Dwyer, S. ; Edo, B. ; Edwards, M. ; Effler, A. ; Eggenstein, B. ; Ehrens, P. ; Eichholz, J. ; Eikenberry, S. ; Eisenstein, R. ; Essick, R. ; Etienne, Z. ; Etzel, T. ; Evans, M. ; Evans, T. ; Everett, R. ; Factourovich, M. ; Fafone, V. ; Fair, H. ; Fair, S. ; Fan, X. ; Farinon, S. ; Farr, B. ; Farr, M. ; Fauchon-Jones, J. ; Favata, M. ; Fays, M. ; Fehrmann, H. ; Fejer, M. ; Galiana, A. ; Ferrante, I. ; Ferreira, C. ; Ferrini, F. ; Fidecaro, F. ; Fiori, I. ; Fiorucci, D. ; Fisher, R. ; Flaminio, R. ; Fletcher, M. ; Fong, H. ; Forsyth, S. ; Fournier, J. ; Frasca, S. ; Frasconi, F. ; Frei, Z. ; Frei, A. ; Frey, R. ; Frey, V. ; Fries, M. ; Fritschel, P. ; Frolov, V. ; Fulda, P. ; Fyffe, M. ; Gabbard, H. ; Gadre, B. ; Gaebel, M. ; Gair, R. ; Gammaitoni, L. ; Gaonkar, S. ; Garufi, F. ; Gaur, G. ; Gayathri, V. ; Gehrels, N. ; Gemme, G. ; Genin, E. ; Gennai, A. ; George, J. ; Gergely, L. ; Germain, V. ; Ghonge, S. ; Ghosh, Abhirup ; Ghosh, Archisman ; Ghosh, S. ; Giaime, A. ; Giardina, K. ; Giazotto, A. ; Gill, K. ; Glaefke, A. ; Goetz, E. ; Goetz, R. ; Gondan, L. ; Gonzalez, G. ; Castro, M. ; Gopakumar, A. ; Gorodetsky, M. ; Gossan, S. ; Gosselin, M. ; Gouaty, R. ; Grado, A. ; Graef, C. ; Granata, M. ; Grant, A. ; Gras, S. ; Gray, C. ; Greco, G. ; Green, C. ; Groot, P. ; Grote, H. ; Grunewald, S. ; Guidi, M. ; Guo, X. ; Gupta, A. ; Gupta, M. ; Gushwa, K. ; Gustafson, K. ; Gustafson, R. ; Hacker, J. ; Hall, B. ; Hall, D. ; Hammond, G. ; Haney, M. ; Hanke, M. ; Hanks, J. ; Hanna, C. ; Hanson, J. ; Hardwick, T. ; Harms, J. ; Harry, M. ; Harry, W. ; Hart, M. ; Hart, T. ; Haster, C. ; Haughian, K. ; Healy, J. ; Heidmann, A. ; Heintze, M. ; Heitmann, H. ; Hello, P. ; Hemming, G. ; Hendry, M. ; Heng, S. ; Hennig, J. ; Henry, J. ; Heptonstall, A. ; Heurs, M. ; Hild, S. ; Hoak, D. ; Hofman, D. ; Holt, K. ; Holz, D. ; Hopkins, P. ; Hough, J. ; Houston, A. ; Howell, J. ; Hu, M. ; Hu, A. ; Hu, D. ; Hu, B. ; Hu, S. ; Hu, T. ; Indik, N. ; Ingram, R. ; Inta, R. ; Isa, N. ; Isa, M. ; Isi, M. ; Isogai, T. ; Iyer, B. ; Izumi, K. ; Jacqmin, T. ; Jani, K. ; Jaranowski, P. ; Jawahar, S. ; Jiménez-Forteza, F. ; Johnson, W. ; Jones, D. ; Jones, R. ; Jonker, R. ; Ju, L. ; Ju, J. ; Kalaghatgi, C. ; Kalogera, V. ; Kandhasamy, S. ; Kang, G. ; Kanner, B. ; Karki, S. ; Karvinen, K. ; Kasprzack, M. ; Katsavounidis, E. ; Katzman, W. ; Kaufer, S. ; Kaur, T. ; Kawabe, K. ; Kefelian, F. ; Keitel, D. ; Kelley, B. ; Kennedy, R. ; Key, S. ; Khalili, F. ; Khan, I. ; Khan, S. ; Khan, Z. ; Khazanov, A. ; Kijbunchoo, N. ; Chu, Chunglee ; Kim, C. ; Kim, Whansun ; Kim, M. ; Kim, S. ; King, J. ; King, P. ; Kirchhoff, R. ; Kissel, S. ; Klein, B. ; Kleybolte, L. ; Klimenko, S. ; Koch, P. ; Koehlenbeck, M. ; Koley, S. ; Kondrashov, V. ; Kontos, A. ; Korobko, M. ; Korth, W. ; Kowalska, I. ; Kozak, B. ; Kramer, C. ; Kringel, V. ; Krishnan, B. ; Królak, A. ; Kuehn, G. ; Kumar, P. ; Kumar, R. ; Kuo, L. ; Kutynia, A. ; Lackey, B. ; Landry, M. ; Lang, R. ; Lang, J. ; Lantz, B. ; Lanza, R. ; Lartaux-Vollard, A. ; Lasky, P. ; Laxen, M. ; Lazzarini, A. ; Lazzaro, C. ; Leaci, P. ; Leavey, S. ; Lebigot, O. ; Lee, C. ; Lee, M. ; Lee, K. ; Lehmann, J. ; Lenon, A. ; Leonardi, M. ; Leong, R. ; Leroy, N. ; Letendre, N. ; Levin, Y. ; Li, T. ; Li, A. ; Li, B. ; Li, J. ; Lockerbie, N. ; Lombardi, L. ; London, T. ; Lord, J. ; Lorenzini, M. ; Loriette, V. ; Lormand, M. ; Losurdo, G. ; Lough, J. ; Lousto, C. ; Lovelace, G. ; Lück, H. ; Lundgren, P. ; Lynch, R. ; Ma, Y. ; Ma, B. ; Ma, I. ; Márka, S. ; Marka, Z. ; Ma, E. ; Ma, W. ; Ma, V. ; Ma, K. ; Ma, A. ; Ma, T. ; Ma, M. ; Ma, S. ; Ma, F. ; Ma, L. ; Ma, N. ; McCarthy, R. ; McClelland, D. ; Mccormick, S. ; McGrath, C. ; McGuire, C. ; Mcintyre, G. ; Mciver, J. ; Ma, J. ; McRae, T. ; McWilliams, T. ; Meacher, D. ; Meadors, G. ; Meidam, J. ; Melatos, A. ; Mendell, G. ; Mendoza-Gandara, D. ; Mercer, R. ; Merilh, L. ; Merzougui, M. ; Meshkov, S. ; Messenger, C. ; Messick, C. ; Metzdorff, R. ; Meyers, M. ; Mezzani, F. ; Miao, H. ; Michel, C. ; Middleton, H. ; Mikhailov, E. ; Milano, L. ; Miller, L. ; Miller, A. ; Miller, B. ; Miller, J. ; Millhouse, M. ; Minenkov, Y. ; Ming, J. ; Mirshekari, S. ; Mishra, C. ; Mitra, S. ; Mitrofanov, P. ; Mitselmakher, G. ; Mittleman, R. ; Moggi, A. ; Mohan, M. ; Mohapatra, R. ; Montani, M. ; Moore, B. ; Moore, C. ; Moraru, D. ; Moreno, G. ; Morriss, R. ; Mours, B. ; Mow-Lowry, M. ; Mueller, G. ; Muir, A. ; Arun, Arunava ; Mukherjee, D. ; Mukherjee, S. ; Mukund, N. ; Mullavey, A. ; Munch, J. ; Muniz, M. ; Murray, P. ; Mytidis, A. ; Napier, K. ; Nardecchia, I. ; Naticchioni, L. ; Nelemans, G. ; Nelson, T. ; Neri, M. ; Nery, M. ; Neunzert, A. ; Newport, M. ; Newton, G. ; Nguyen, T. ; Nielsen, B. ; Nissanke, S. ; Nitz, A. ; Noack, A. ; Nocera, F. ; Nolting, D. ; Normandin, M. ; Nuttall, K. ; Oberling, J. ; Ochsner, E. ; Oelker, E. ; Ogin, G. ; Oh, J. ; Oh, S. ; Oh, F. ; Oliver, M. ; Oppermann, P. ; Oram, J. ; O’Reilly, B. ; O’Shaughnessy, R. ; Ottaway, J. ; Overmier, H. ; Owen, B. ; Pace, A. ; Page, J. ; Pai, A. ; Palamos, R. ; Palashov, O. ; Palomba, C. ; Pal-Singh, A. ; Pan, H. ; Pan, C. ; Pan, F. ; Pan, B. ; Paoletti, F. ; Paoli, A. ; Papa, M. ; Paris, R. ; Parker, W. ; Pascucci, D. ; Pasqualetti, A. ; Passaquieti, R. ; Passuello, D. ; Patricelli, B. ; Pearlstone, B. ; Pedraza, M. ; Pedurand, R. ; Pekowsky, L. ; Pele, A. ; Penn, S. ; Perez, C. ; Perreca, A. ; Perri, M. ; Pfeiffer, P. ; Phelps, M. ; Piccinni, O. ; Pichot, M. ; Piergiovanni, F. ; Pierro, V. ; Pillant, G. ; Pinard, L. ; Pinto, M. ; Pitkin, M. ; Poe, M. ; Poggiani, R. ; Popolizio, P. ; Post, A. ; Powell, J. ; Prasad, J. ; Pratt, W. ; Predoi, V. ; Prestegard, T. ; Prijatelj, M. ; Principe, M. ; Privitera, S. ; Prix, R. ; Prodi, A. ; Prokhorov, L. ; Puncken, O. ; Punturo, M. ; Puppo, P. ; Pürrer, M. ; Qi, H. ; Qi, J. ; Qi, S. ; Quetschke, V. ; Quintero, A. ; Quitzow-James, R. ; Raab, F. ; Rabeling, S. ; Radkins, H. ; Raffai, P. ; Raja, S. ; Raja, C. ; Rakhmanov, M. ; Rapagnani, P. ; Raymond, V. ; Razzano, M. ; Re, V. ; Re, J. ; Re, T. ; Re, L. ; Re, D. ; Re, H. ; Re, S. ; Rhoades, E. ; Ricci, F. ; Riles, K. ; Rizzo, M. ; Robertson, N. ; Robie, R. ; Robinet, F. ; Rocchi, A. ; Rolland, L. ; Rollins, J. ; Roma, V. ; Roma, R. ; Romie, J. ; Rosińska, D. ; Rowan, S. ; Rüdiger, A. ; Ruggi, P. ; Ryan, K. ; Sachdev, S. ; Sadecki, T. ; Sadeghian, L. ; Sakellariadou, M. ; Salconi, L. ; Saleem, M. ; Salemi, F. ; Samajdar, A. ; Sammut, L. ; Sampson, M. ; Sanchez, J. ; Sandberg, V. ; Sanders, R. ; Sassolas, B. ; Sathyaprakash, B. ; Saulson, R. ; Sauter, O. ; Savage, R. ; Sawadsky, A. ; Schale, P. ; Scheuer, J. ; Schmidt, E. ; Schmidt, J. ; Schmidt, P. ; Schnabel, R. ; Schofield, R. ; Schönbeck, A. ; Schreiber, E. ; Schuette, D. ; Schutz, B. ; Schwalbe, S. ; Scott, J. ; Scott, M. ; Sellers, D. ; Sengupta, A. ; Sentenac, D. ; Sequino, V. ; Sergeev, A. ; Setyawati, Y. ; Shaddock, A. ; Shaffer, T. ; Shahriar, M. ; Shapiro, B. ; Shawhan, P. ; Sheperd, A. ; Shoemaker, D. ; Shoemaker, M. ; Siellez, K. ; Siemens, X. ; Sieniawska, M. ; Sigg, D. ; Silva, A. ; Singer, A. ; Singer, P. ; Singh, R. ; Singh, A. ; Sintes, M. ; Slagmolen, B. ; Smith, B. ; Smith, R. ; Son, J. ; Sorazu, B. ; Sorrentino, F. ; Souradeep, T. ; Spencer, P. ; Srivastava, K. ; Staley, A. ; Steinke, M. ; Steinlechner, J. ; Steinlechner, S. ; Steinmeyer, D. ; Stephens, B. ; Stevenson, P. ; Stone, R. ; Strain, K. ; Straniero, N. ; Stratta, G. ; Strigin, S. ; Sturani, R. ; Stuver, L. ; Summerscales, T. ; Sun, L. ; Sun, S. ; Sutton, P. ; Swinkels, B. ; Szczepańczyk, M. ; Tacca, M. ; Talukder, D. ; Tanner, B. ; Tápai, M. ; Taracchini, A. ; Taylor, R. ; Theeg, T. ; Thomas, G. ; Thomas, M. ; Thomas, P. ; Thorne, K. ; Thrane, E. ; Tippens, T. ; Tiwari, S. ; Tiwari, V. ; Tokmakov, K. ; Toland, K. ; Tomlinson, C. ; Tonelli, M. ; Tornasi, Z. ; Torrie, C. ; Töyrä, D. ; Travasso, F. ; Traylor, G. ; Trifirò, D. ; Trinastic, J. ; Tringali, M. ; Trozzo, L. ; Tse, M. ; Tso, R. ; Turconi, M. ; Tuyenbayev, D. ; Ugolini, D. ; Unnikrishnan, C. ; Urban, L. ; Usman, A. ; Vahlbruch, H. ; Vajente, G. ; Valdes, G. ; Bakel, N. ; Beuzekom, M. ; Brand, F. ; De, C. ; Vander-Hyde, C. ; Schaaf, L. ; Heijningen, V. ; Veggel, A. ; Vardaro, M. ; Varma, V. ; Vass, S. ; Vasúth, M. ; Vecchio, A. ; Vedovato, G. ; Veitch, J. ; Veitch, P. ; Venkateswara, K. ; Venugopalan, G. ; Verkindt, D. ; Vetrano, F. ; Viceré, A. ; Viets, A. ; Vinciguerra, S. ; Vine, J. ; Vitale, S. ; Vo, T. ; Vo, H. ; Vo, C. ; Vo, V. ; Vo, W. ; Vyatchanin, P. ; Wade, R. ; Wade, L. ; Wade, M. ; Walker, M. ; Wallace, L. ; Walsh, S. ; Wang, G. ; Wang, H. ; Wang, M. ; Wang, Y. ; Ward, R. ; Warner, J. ; Was, M. ; Watchi, J. ; Weaver, B. ; Wei, L. ; Wei, M. ; Wei, A. ; Wei, R. ; Wen, L. ; Weßels, P. ; Westphal, T. ; Wette, K. ; Whelan, T. ; Whiting, B. ; Whittle, C. ; Williams, D. ; Williams, R. ; Willis, L. ; Willke, B. ; Wimmer, M. ; Winkler, W. ; Wipf, C. ; Wittel, H. ; Woan, G. ; Woehler, J. ; Worden, J. ; Wright, L. ; Wu, S. ; Wu, G. ; Yam, W. ; Yam, H. ; Yancey, C. ; Yap, M. ; Yu, Hang ; Yu, Haocun ; Yvert, M. ; Zadrożny, A. ; Zangrando, L. ; Zanolin, M. ; Zendri, P. ; Zevin, M. ; Zhang, L. ; Zhang, M. ; Zhang, T. ; Zhang, Y. ; Zhao, C. ; Zhou, M. ; Zhou, Z. ; Zhu, S. ; Zhu, J. ; Zucker, M. ; Zweizig, J. ; Buchner, S. ; Cognard, Ismaël ; Corongiu, A. ; Frei, C. ; Guillemot, Lucas ; Hobbs, B. ; Kerr, M. ; Lyne, A. ; Possenti, A. ; Ridolfi, A. ; Shannon, R. ; Stappers, B. ; Weltevrede, P.
Dans : The Astrophysical Journal
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02191238

A Large-Signal Monolayer Graphene Field-Effect Transistor Compact Model for RF-Circuit Applications
Aguirre-Morales, Jorge-Daniel ; Fregonese, Sébastien ; Mukherjee, Chhandak ; Wei, Wei ; Happy, Henri ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01639648

Accurate Modeling of Thermal Resistance for On-Wafer SiGe HBTs Using Average Thermal Conductivity
Balanethiram, Suresh ; Chakravorty, Anjan ; D'Esposito, Rosario ; Fregonese, Sebastien ; Céli, Didier ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01639642

Extraction of BEOL Contributions for Thermal Resistance in SiGe HBTs
Balanethiram, Suresh ; D'Esposito, Rosario ; Chakravorty, Anjan ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01477147

Multiscaled simulation methodology for neuro-inspired circuits demonstrated with an organic memristor
BENNETT, christopher ; Lorival, Jean-Etienne ; Marc, François ; Cabaret, Théo ; Jousselme, Bruno ; Derycke, Vincent ; Klein, Jacques-Olivier ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Multi-Scale Computing Systems
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-01656702

Si/SiGe:C and InP/GaAsSb Heterojunction Bipolar Transistors for THz Applications
Chevalier, Pascal ; Schroter, Michael ; Bolognesi, Colombo R. ; d'Alessandro, Vincenzo ; Alexandrova, Maria ; Bock, Josef ; Flickiger, Ralf ; Fregonese, Sébastien ; Heinemann, Bernd ; Jungemann, C. ; Lovblom, Rickard ; Maneux, Cristell ; Ostinelli, Olivier ; Pawlak, Andreas ; Rinaldi, Niccolo ; Rucker, Holger ; Wedel, Gerald ; Zimmer, Thomas
Dans : Proceedings of the IEEE
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01639677

Thermal Penetration Depth Analysis and Impact of the BEOL Metals on the Thermal Impedance of SiGe HBTs
D'Esposito, Rosario ; Balanethiram, Suresh ; Battaglia, Jean-Luc ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Electron Device Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01639596

Une « Mallette Scan Champ Proche » pour l’enseignement de la compatibilité électromagnétique
Dubois, Tristan ; Guillet, J-P. ; Duchamp, G. ; Tomas, J.
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01698515

Birth by cesarean section and schizophrenia: results from the multicenter FACE-SZ data-set
Fond, G. ; Bulzacka, E. ; Boyer, L. ; Llorca, P. ; Godin, O. ; Brunel, L. ; Andrianarisoa, G. ; Aouizerate, B. ; Berna, F. ; Capdevielle, D. ; Chereau, I. ; Denizot, H. ; Dorey, M. ; Dubertret, C. ; Dubreucq, J. ; Faget, C. ; Gabayet, F. ; Le Strat, Y. ; Micoulaud-Franchi, J. ; Misdrahi, D. ; Rey, R. ; Richieri, R. ; Roger, M. ; Passerieux, C. ; Schandrin, A. ; Urbach, M. ; Vidalhet, P. ; Schürhoff, F. ; Leboyer, M.
Dans : European Archives of Psychiatry and Clinical Neuroscience
https://hal.uca.fr/hal-02174753

Risk factors for increased duration of untreated psychosis. Results from the FACE-SZ dataset
Fond, G. ; Boyer, L. ; Andrianarisoa, M. ; Godin, O. ; Brunel, L. ; Bulzacka, E. ; Coulon, N. ; Llorca, P. ; Berna, F. ; Aouizerate, B. ; Capdevielle, D. ; d'Amato, T. ; Dubertret, C. ; Dubreucq, J. ; Faget, C. ; Gabayet, F. ; Mallet, J. ; Misdrahi, D. ; Rey, R. ; Richieri, R. ; Roux, P. ; Passerieux, C. ; Schandrin, A. ; Tronche, A. ; Vidailhet, P. ; Leboyer, M. ; Schürhoff, F. ; Blanc, O. ; Chereau-Boudet, I. ; Chesnoy-Servanin, G. ; Danion, M. ; Deloge, A. ; Delorme, C. ; Denizot, H. ; Dorey, M. ; Fluttaz, C. ; Fonteneau, S. ; Giraud-Baro, E. ; Hardy-Bayle, M. ; Lacelle, D. ; Lançon, C. ; Laouamri, H. ; Le Gloahec, T. ; Le Strat, Y. ; Metairie, E. ; Offerlin-Meyer, I. ; Peri, P. ; Pires, S. ; Portalier, C. ; Roman, C. ; Sebilleau, M. ; Schurhoff, F. ; Tessier, A. ; Urbach, M. ; Vaillant, F. ; Vehier, A. ; Vila, E. ; Yazbek, H. ; Zinetti-Bertschy, A.
Dans : Schizophrenia Research
https://hal.uca.fr/hal-01696808

Influence of Venus and Mars in the cognitive sky of schizophrenia. Results from the first-step national FACE-SZ cohort
Fond, G. ; Boyer, L. ; Leboyer, M. ; Godin, O. ; Llorca, P. ; Andrianarisoa, M. ; Berna, F. ; Brunel, L. ; Aouizerate, B. ; Capdevielle, D. ; Chereau, I. ; D'Amato, Am ; Dubertret, C. ; Dubreucq, J. ; Faget, C. ; Gabayet, F. ; Mallet, J. ; Misdrahi, D. ; Rey, R. ; Lancon, C. ; Passerieux, C. ; Roux, P. ; Vidailhet, P. ; Yazbek, H. ; Schürhoff, F. ; Bulzacka, E. ; Blanc, O. ; Chereau-Boudet, I. ; Chesnoy-Servanin, G. ; Danion, Jm ; Deloge, A. ; Delorme, C. ; Denizot, H. ; Dorey, M. ; Fluttaz, C. ; Fonteneau, S. ; Giraud-Baro, E. ; Hardy-Bayle, M. ; Lacelle, D. ; Lançon, C. ; Laouamri, H. ; Le Gloahec, T. ; Le Strat, Y. ; Metairie, E. ; Offerlin-Meyer, I. ; Peri, P. ; Pires, S. ; Portalier, C. ; Roman, C. ; Sebilleau, M. ; Schandrin, A. ; Schurhoff, F. ; Tessier, A. ; Tronche, Am ; Urbach, M. ; Vaillant, F. ; Vehier, A. ; Vila, E. ; Zinetti-Bertschy, A.
Dans : Schizophrenia Research
https://hal.uca.fr/hal-01696800

Art Painting Diagnostic Before Restoration with Terahertz and Millimeter Waves
Guillet, Jean-Paul ; Roux, M. ; Wang, K. ; Ma, Xue ; Fauquet, F. ; Balacey, H. ; Recur, B. ; Darracq, F. ; Mounaix, P.
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01437051

TCAD simulation capabilities towards gate leakage current analysis of advanced AlGaN/GaN HEMT devices
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01625567

Microscopic Hot-Carrier Degradation Modeling of SiGe HBTs Under Stress Conditions Close to the SOA Limit
Kamrani, Hamed ; Jabs, Dominic ; d'Alessandro, Vincenzo ; Rinaldi, Niccolo ; Jacquet, Thomas ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas ; Aufinger, Klaus ; Jungemann, Christoph
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695268

Vertical charge transfer and lateral transport in graphene/germanium heterostructures
Kazemi, Alireza ; Vaziri, Sam ; Aguirre morales, Jorge daniel ; Fregonese, Sebastien ; Cavallo, Francesca ; Zamiri, Marziyeh ; Dawson, Noel ; Artyushkova, Kateryna ; Jiang, Ying Bing ; Brueck, Steven R. J. ; Krishna, Sanjay
Dans : ACS Applied Materials & Interfaces
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01513606

Proceedings of the 28th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis
Labat, Nathalie ; Marc, François ; Frémont, Helene ; Bafleur, Marise
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01660958

Cigarette smoking and schizophrenia: a specific clinical and therapeutic profile? Results from the FACE-Schizophrenia cohort
Mallet, J. ; Le Strat, Y. ; Schürhoff, F. ; Mazer, N. ; Portalier, C. ; Andrianarisoa, M. ; Aouizerate, B. ; Berna, F. ; Brunel, L. ; Capdevielle, D. ; Chereau, I. ; d'Amato, T. ; Denizot, H. ; Dubreucq, J. ; Faget, C. ; Gabayet, F. ; Lançon, C. ; Llorca, P. ; Misdrahi, D. ; Rey, R. ; Roux, P. ; Schandrin, A. ; Urbach, M. ; Vidailhet, P. ; Fond, G. ; Dubertret, C. ; Bazin, N. ; Blanc, O. ; Bulzacka, E. ; Chereau-Boudet, I. ; Chesnoy-Servanin, G. ; Danion, M. ; Deloge, A. ; Delorme, C. ; Dorey, M. ; Fluttaz, C. ; Fonteneau, S. ; Giraud-Baro, E. ; Lacelle, D. ; Laouamri, H. ; Leboyer, M. ; Le Gloahec, T. ; Metairie, E. ; Offerlin-Meyer, I. ; Passerieux, C. ; Peri, P. ; Pires, S. ; Ramet, L. ; Roman, C. ; Tessier, A. ; Tronche, A. ; Vaillant, F. ; Vehier, A. ; Vila, E. ; Yazbek, H. ; Zinetti-Bertschy, A.
Dans : Progress in Neuro-Psychopharmacology and Biological Psychiatry
https://hal.uca.fr/hal-01696847

2D and 3D Terahertz Imaging and X-Rays CT for Sigillography Study
Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, F. ; Balacey, H. ; Recur, B. ; Darracq, F. ; Fabre, M. ; Bassel, L. ; Bou Sleiman, J. ; Perraud, J.-B.
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653623

Random telegraph noise in SiGe HBTs: Reliability analysis close to SOA limit
Mukherjee, C. ; Jacquet, T. ; Chakravorty, A. ; Zimmer, T. ; Boeck, J. ; AUFINGER, K. ; Maneux, C.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695265

Hot-Carrier Degradation in SiGe HBTs: A Physical and Versatile Aging Compact Model
Mukherjee, Chhandak ; Jacquet, Thomas ; Fischer, Gerhard ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695254

Reliability-Aware Circuit Design Methodology for Beyond-5G Communication Systems
Mukherjee, Chhandak ; Ardouin, Bertrand ; Dupuy, Jean-Yves ; Nodjiadjim, Virginie ; Riet, Muriel ; Zimmer, Thomas ; Marc, François ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01670929

Study of blood plasma optical properties in mice grafted with Ehrlich carcinoma in the frequencyrange 0.1–1.0 THz
Olga, Smolyanskaya ; Mikhail, Khodzitsky ; Cherkasova, A. V. ; Evgeniy, Odlyanitskiy ; Kravtsenyuk, O ; Guillet, J.P.
Dans : Quantum Electronics
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01660495

Enhanced Intrinsic Voltage Gain in Artificially Stacked Bilayer CVD Graphene Field Effect Transistors
Pandey, Himadri ; Aguirre-Morales, Jorge-Daniel ; Kataria, Satender ; Fregonese, Sébastien ; Passi, Vikram ; Iannazzo, Mario ; Zimmer, Thomas ; Alarcon, Eduard ; Lemme, Max C.
Dans : Annalen der Physik
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01639708

2016


Efficient Modeling of Distributed Dynamic Self-Heating and Thermal Coupling in Multifinger SiGe HBTs
Balanethiram, Suresh ; D'Esposito, Rosario ; Chakravorty, Anjan ; Fregonese, Sebastien ; Celi, Didier ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399074

Advanced Processing Sequence for 3-D THz Imaging
Balacey, Hugo ; Recur, Benoit ; Perraud, Jean-Baptiste ; Sleiman, Joyce ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390881

Automatic process for time-frequency scan of VLSI
Boscaro, Anthony ; Jacquir, Sabir ; Melendez, Kevin ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Binczak, Stéphane
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01465737

Analytic Estimation of Thermal Resistance in HBTs
Chakravorty, Anjan ; D'Esposito, Rosario ; Balanethiram, Suresh ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399079

On the development of a novel high VSWR programmable impedance tuner
Curutchet, Arnaud ; Ghiotto, Anthony ; Potéreau, Manuel ; De Matos, Magali ; Fregonese, Sebastien ; Kerhervé, Eric ; Zimmer, Thomas
Dans : International Journal of Microwave and Wireless Technologies
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01345690

Innovative SiGe HBT Topologies With Improved Electrothermal Behavior
D'Esposito, Rosario ; Fregonese, Sebastien ; Chakravorty, Anjan ; Chevalier, Pascal ; Celi, Didier ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399080

A Study on Self-Heating and Mutual Thermal Coupling in SiGe Multi-Finger HBTs
Dwivedi, A. D. D. ; D’Esposito, Rosario ; Sahoo, Amit Kumar ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : Journal of Electronic Materials
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399065

Comments on “Optimization of a Compact I–V Model for Graphene FETs: Extending Parameter Scalability for Circuit Design Exploration”
Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399083

2.5GHz integrated graphene RF power amplifier on SiC substrate
Hanna, T. ; Deltimple, N. ; Khenissa, S. ; Pallecchi, E. ; Happy, H. ; Frégonèse, S.
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399069

Splitting of magnetic dipole modes in anisotropic TiO2 micro-spheres
Khromova, Irina ; Kužel, Petr ; Brener, Igal ; Reno, John L. ; Chung Seu, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mounaix, Patrick ; Mitrofanov, Oleg
Dans : Laser and Photonics Reviews
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01370336

Reliability assessment of ultra-short gate length AlGaN/GaN HEMTs on Si substrate by on-state step stress
Lakhdar, Hadhemi ; Labat, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Defrance, Nicolas ; Lesecq, M. ; Dejaeger, J.C. ; Malbert, Nathalie
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718762

Long-Term Stable Organic Photodetectors with Ultra Low Dark Currents for High Detectivity Applications.
Marcin, Kielar ; Dhez, Olivier ; Pecastaings, Gilles ; Curutchet, Arnaud ; Hirsch, Lionel
Dans : Scientific Reports
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01431863

Intrinsic Properties of Anisotropic Dielectric Micro-Resonators Obtained through Near-Field Terahertz Spectroscopy
Mounaix, Patrick ; Khromova, Irina ; Kuzel, P. ; Brener, Igal ; Reno, John L. ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mitrofanov, Oleg
Dans : Conference on Lasers and Electro-OpticsConference on Lasers and Electro-Optics, OSA Technical Digest (online) (Optical Society of America, 2016)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390953

Low-Frequency Noise in Advanced SiGe:C HBTs—Part I: Analysis
Mukherjee, Chhandak ; Jacquet, Thomas ; Chakravorty, Anjan ; Zimmer, Thomas ; Bock, Josef ; Aufinger, Klaus ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399855

Low-Frequency Noise in Advanced SiGe:C HBTs—Part II: Correlation and Modeling
Mukherjee, Chhandak ; Jacquet, Thomas ; Chakravorty, Anjan ; Zimmer, Thomas ; Bock, Josef ; Aufinger, Klaus ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399852

FPGA LUT delay degradation due to HCI: Experiment and simulation results
Naouss, Mohammad ; Marc, F.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01661820

Liquid index matching for 2D and 3D terahertz imaging
Perraud, J. B. ; Bou Sleiman, J. ; Recur, B. ; Balacey, H. ; Simoens, F. ; Guillet, J. P. ; Mounaix, P.
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01394023

Terahertz imaging and tomography as efficient instruments for testing polymer additive manufacturing objects
Perraud, Jean Baptiste ; obaton, anne françoise ; Bou-Sleiman, Joyce ; Recur, Benoit ; Balacey, Hugo ; Darracq, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390875

Bulk magnetic terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
Sindler, Michal ; Kadlec, C. ; Dominec, Filip ; Kuzel, P. ; Elissalde, Catherine ; Kassas, Ahmad ; Lesseur, Julien ; Bernard, Dominique ; Mounaix, Patrick ; Nemec, H.
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01390868

Bulk magnetic terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
Sindler, Michal ; Kadlec, Christelle ; Dominec, Filip ; Kužel, Petr ; Elissalde, Catherine ; Kassas, Ahmad ; Lesseur, Julien ; Bernard, Dominique ; Mounaix, Patrick ; Němec, Hynec
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01373166

2015


An Accurate Physics-Based Compact Model for Dual-Gate Bilayer Graphene FETs
Aguirre-Morales, Jorge-Daniel ; Fregonese, Sebastien ; Mukherjee, Chhandak ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01235964

Editorial, Microelectronics Reliability, Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015
Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Marc, François ; Frémont, Hélène ; Nolhier, Nicolas
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01257965

Room temperature Si–Ti thermopile THz sensor
Ben Mbarek, Sofiane ; Euphrasie, Sébastien ; Baron, Thomas ; Thiery, Laurent ; Vairac, Pascal ; Briand, Danick ; Guillet, Jean-Paul ; Chusseau, Laurent
Dans : Microsystem Technologies
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01634975

Quantitative Analysis of Hexahydro-1,3,5-trinitro-1,3,5, Triazine/Pentaerythritol Tetranitrate (RDX–PETN) Mixtures by Terahertz Time Domain Spectroscopy
Bou Sleiman, Joyce ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied Spectroscopy
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263720

Correlation between forward-reverse low-frequency noise and atypical I–V signatures in 980 nm high-power laser diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Béchou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01214031

Effects of BEOL on self-heating and thermal coupling in SiGe multi-finger HBTs under real operating condition
Dwivedi, A.D.D. ; Chakravorty, Anjan ; D’Esposito, Rosario ; Sahoo, Amit Kumar ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01235941

Electrical Compact Modeling of Graphene Base Transistors
Frégonèse, Sébastien ; Venica, Stefano ; Driussi, Francesco ; Zimmer, Thomas
Dans : Advances in OptoElectronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01235945

Source-Pull and Load-Pull Characterization of Graphene FET
Fregonese, Sebastien ; De Matos, Magali ; MELE, David ; Maneux, Cristell ; Happy, Henri ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Journal of the Electron Devices Society
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01090826

The World Health Organization (WHO) dataset for guiding suicide prevention policies: A 3-decade French national survey
Godin, O. ; Gaman, A. ; Richieri, R. ; Vidalhet, P. ; Girerd, N. ; Aouizerate, B. ; Berna, F. ; Blanc, O. ; Bulzacka, E. ; Capdevielle, D. ; Chereau, I. ; Chesnoy-Servanin, G. ; Danion, M. ; d'Amato, T. ; Deloge, A. ; Delorme, C. ; Denizot, H. ; Depradier, M. ; Dorey, M. ; Dubertret, C. ; Dubreucq, J. ; Faget, C. ; Fluttaz, C. ; Fonteneau, S. ; Gabayet, F. ; Giraud-Baro, E. ; Hardy-Bayle, M. ; Lacelle, D. ; Lancon, C. ; Laouamri, H. ; Leboyer, M. ; Le Gloahec, T. ; Le Strat, Y. ; Metairie, E. ; Misdrahi, D. ; Offerlin-Meyer, I. ; Passerieux, C. ; Peri, P. ; Pires, S. ; Portalier, C. ; Rey, R. ; Roman, C. ; Sebilleau, M. ; Schandrin, A. ; Schürhoff, F. ; Tessier, A. ; Tronche, M. ; Urbach, M. ; Vaillant, F. ; Vehier, A. ; Vidailhet, P. ; Vila, E. ; Yazbek, H. ; Zinetti-Bertschy, A. ; de Chazeron, I. ; Pereira, B. ; Chéreau-Boudet, I. ; Durif, F. ; Lemaire, J. ; Brousse, B. ; Ulla, M. ; Derost, P. ; Debilly, B. ; Llorca, M. ; Fond, Guillaume ; Zendjidjian, Xavier ; Boucekine, Mohamed ; Brunel, Lore ; Llorca, Pierre-Michel ; Boyer, Laurent
Dans : Journal of Affective Disorders
https://hal.uca.fr/hal-02173670

Low-frequency noise effect on terahertz tomography using thermal detectors.
Guillet, Jean-Paul ; Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Darracq, F. ; Lewis, Dean ; Mounaix, Patrick
Dans : Applied optics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263737

Reliability of high-speed SiGe:C HBT under electrical stress close to the SOA limit
Jacquet, T. ; Sasso, G. ; Chakravorty, A. ; Rinaldi, N. ; AUFINGER, K. ; Zimmer, T. ; D'Alessandro, V. ; Maneux, C.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695288

A way to implement the electro-optical technique to inertial MEMS
Melendez, K ; Desmoulin, A ; , ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264066

Versatile Compact Model for Graphene FET Targeting Reliability-Aware Circuit Design
Mukherjee, Chhandak ; Aguirre-Morales, Jorge-Daniel ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01127979

Design and implementation of a low cost test bench to assess the reliability of FPGA
Naouss, Mohammad ; Marc, F.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01661808

Investigation of the dynamic on-state resistance of AlGaN/GaN HEMTs
Rzin, Mehdi ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Brunel, Laurent ; Lambert, Benoit ; Curutchet, Arnaud
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718753

Nonlinear modelling of dynamic self-heating in 28 nm bulk complementary metal–oxide semiconductor technology
Sahoo, A.K. ; Fregonese, S. ; Scheer, P. ; Celi, D. ; Juge, A. ; Zimmer, T.
Dans : Electronics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01162361

Obtaining DC and AC isothermal electrical characteristics for RF MOSFET
Sahoo, A.K. ; Fregonese, S. ; Scheer, P. ; Celi, D. ; Juge, A. ; Zimmer, T.
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01127985

Pulsed radio frequency characterisation on 28 nm complementary metal–oxide semiconductor technology
Sahoo, A.K. ; Fregonese, S. ; Scheer, P. ; Celi, D. ; Juge, A. ; Zimmer, T.
Dans : Electronics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01100656

A Geometry Scalable Model for Nonlinear Thermal Impedance of Trench Isolated HBTs
Sahoo, Amit Kumar ; Fregonese, Sebastien ; Desposito, Rosario ; Aufinger, Klaus ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Electron Device Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01090801

Isothermal Electrical Characteristic Extraction for mmWave HBTs
Sahoo, Amit Kumar ; Fregonese, Sebastien ; D'Esposito, Rosario ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01090791

Remote Lab Experiments in Electronics for Use and Reuse
Zimmer, Thomas ; Billaud, M. ; Pic, M. ; Geoffroy, D.
Dans : International Journal of Interactive Mobile Technologies (iJIM)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721447

Graphene Transistor-Based Active Balun Architectures
Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sebastien
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01235955

2014


Innovative Dual-Gate CNTFET Logic Cell: Investigation of Technological Dispersion Impact Through Compact Modeling
Maneux, Cristell ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Nanotechnology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01090852

A comprehensive study of the application of the EOP techniques on bipolar devices
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Elise, Bernou ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091179

Ordered subsets convex algorithm for 3D terahertz transmission tomography
Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, Jean-Baptiste ; Guillet, Jean-Paul ; Kingston, Andrew ; Mounaix, Patrick
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01066999

A Comprehensive Graphene FET Model for Circuit Design
Rodriguez, Saul ; Vaziri, Sam ; Smith, Anderson ; Frégonèse, Sébastien ; Ostling, Mikael ; Lemme, Max ; Rusu, Ana
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00978699

InP HBT Thermal Management by Transferring to High Thermal Conductivity Silicon Substrate
THIAM, Ndèye Arame ; Roelens, Yannick ; Coinon, Christophe ; Avramovic, Vanessa ; Grandchamp, Brice ; Ducateau, D. ; Wallart, Xavier ; Maneux, Cristell ; Zaknoune, Mohamed
Dans : IEEE Electron Device Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01090844

Evaluation Plan and Preliminary Evaluation of a Network of Remote Labs in the Maghrebian Countries
Tsiatsos, Thrasyvoulos ; Douka, Stella ; Mavridis, Apostolos ; Tegos, Stergios ; Naddami, Ahmed ; Zimmer, Thomas ; Geoffroy, Didier
Dans : International Journal of Online Engineering (iJOE)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721437

Heavy Ion SEU Cross Section Calculation Based on Proton Experimental Data, and Vice Versa
Wrobel, Frédéric ; Touboul, Antoine ; Pouget, Vincent ; Dilillo, Luigi ; Ecoffet, Robert ; Lorfèvre, Eric ; Bezerra, Francoise ; Brugger, Markus ; Saigné, Frédéric
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234461

Determining Realistic Parameters for the Double Exponential Law that Models Transient Current Pulses
Wrobel, Frédéric ; Dilillo, Luigi ; Touboul, Antoine ; Pouget, Vincent ; Saigné, Frédéric
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01234429

2013


Electrical characterization under mechanical stress at various temperatures of PiN power diodes in a health monitoring approach
Baccar, Fédia ; Azzopardi, Stéphane ; Théolier, Loïc ; El Boubkari, Kamal ; Deletage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00955719

Failure analysis of GaAs microwave devices with plastic encapsulation by electro-optical techniques
Ben Naceur, W. ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Frémont, H. ; Carisetti, D. ; C. Clément, J. ; Bonnet, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905892

Analysis of Schottky Gate degradation evolution in AlGaN/GaN HEMTs during HTRB stress
Brunel, Laurent ; Lambert, Benoit ; Mezengue, P. ; BATAILLE, J. ; Floriot, Didier ; Grunenputt, J. ; Blanck, Hans ; Carisetti, Dominique ; Gourdel, Y. ; Malbert, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Labat, Nathalie
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002643

La cobotique. La robotique soumise.
Claverie, Bernard ; Le Blanc, Benoît ; Fouillat, Pascal
Dans : Communication & Organisation (GREC/O)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01014650

Negative Bias Temperature Instability Effect on the Single Event Transient Sensitivity of a 65 nm CMOS Technology
El Moukhtari, Issam ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Larue, Camille ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880480

Impact of negative bias temperature instability on the single-event upset threshold of a 65 nm SRAM cell
El Moukhtari, Issam ; Pouget, Vincent ; Larue, Camille ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880459

Benchmarking of GFET devices for amplifier application using multiscale simulation approach
Fregonese, Sébastien ; Potereau, Manuel ; Deltimple, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : Journal of Computational Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00918225

Scalable Electrical Compact Modeling for Graphene FET Transistors
Fregonese, Sébastien ; Magallo, Maura ; Maneux, Cristell ; Happy, H. ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Nanotechnology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00906225

On the Simulation of HCI-Induced Variations of IC Timings at High Level
Héron, Olivier ; Bertolini, Clément ; Ventroux, Nicolas ; Sandionigi, Chiara ; Marc, François
Dans : Journal of Electronic Testing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950233

Influence of gate leakage current on AlGaN/GaN HEMTs evidenced by low frequency noise and pulsed electrical measurements Influence of gate leakage current on AlGaN/GaN HEMTs evidenced by pulsed I-V and low frequency noise measurements
Karboyan, Serge ; Tartarin, Jean-Guy ; Rzin, M ; Brunel, L ; Curutchet, A ; Malbert, N ; Labat, N ; Carisetti, D ; Lambert, B ; Mermoux, M ; Romain-Latu, E ; THOMAS, Florian ; Bouexière, C ; Moreau, C
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01343328

Influence of gate leakage current on AlGaN/GaN HEMTs evidenced by low frequency noise and pulsed electrical measurements
Karboyan, Serge ; Tartarin, Jean-Guy ; Rzin, Mehdi ; Brunel, Laurent ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Carisetti, Dominique ; Lambert, Benoit ; Mermoux, Michel ; Romain-Latu, Eddy ; Thomas, Frank ; Bouexiere, Chloé ; Moreau, Christian
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002658

A Robust Surface-Potential-Based Compact Model for GaN HEMT IC Design
Khandelwal, Sourabh ; Yadav, Chandan ; Agnihotri, Shantanu ; Chauhan, Yogesh Singh ; Curutchet, Arnaud ; Zimmer, Thomas ; De Jaeger, Jean-Claude ; Defrance, Nicolas ; Fjeldly, T.A.
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00909066

Submicrometer InP/InGaAs DHBT Architecture Enhancements Targeting Reliability Improvements
Koné, Gilles Amadou ; Grandchamp, Brice ; Hainaut, Cyril ; Marc, François ; Labat, Nathalie ; Zimmer, Thomas ; Nodjiadjim, Virginie ; Riet, Muriel ; Dupuy, Jean-Yves ; Godin, Jean ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00909053

Variants at multiple loci implicated in both innate and adaptive immune responses are associated with Sjögren's syndrome.
Lessard, Christopher J ; Li, He ; Adrianto, Indra ; Ice, John A ; Rasmussen, Astrid ; Grundahl, Kiely M ; Kelly, Jennifer A ; Dozmorov, Mikhail G ; Miceli-Richard, Corinne ; Bowman, Simon ; Lester, Sue ; Eriksson, Per ; Eloranta, Maija-Leena ; Brun, Johan G ; Gøransson, Lasse G ; Harboe, Erna ; Guthridge, Joel M ; Kaufman, Kenneth M ; Kvarnström, Marika ; Jazebi, Helmi ; Graham, Deborah S Cunninghame ; Grandits, Martha E ; Nazmul-Hossain, Abu N M ; Patel, Ketan ; Adler, Adam J ; Maier-Moore, Jacen S ; Farris, A Darise ; Brennan, Michael T ; James, James ; James, Judith A ; Gopalakrishnan, Rajaram ; Hefner, Kimberly S ; Houston, Glen D ; Huang, Andrew J W ; Hughes, Pamela J ; Lewis, David M ; Radfar, Lida ; Rohrer, Michael D ; Stone, Donald U ; Wren, Jonathan D ; Vyse, Timothy J ; Gaffney, Patrick M ; Omdal, Roald ; Wahren-Herlenius, Marie ; Illei, Gabor G ; Witte, Torsten ; Jonsson, Roland ; Rischmueller, Maureen ; Rönnblom, Lars ; Nordmark, Gunnel ; Ng, Wan-Fai ; Mariette, Xavier ; Anaya, Juan-Manuel ; Rhodus, Nelson L ; Segal, Barbara M ; Scofield, R Hal ; Montgomery, Courtney G ; Harley, John B ; Sivils, Kathy L ; Lessard, He ; Cunninghame Graham, Deborah S
Dans : Nature Genetics
https://hal.univ-brest.fr/hal-01558145

Multiscale simulation of carbon nanotube transistors
Maneux, Cristell ; Fregonese, Sébastien ; Zimmer, Thomas ; Retailleau, Sylvie ; Nguyen, Huu Nha ; Querlioz, Damien ; Bournel, Arnaud ; Dollfus, Philippe ; Triozon, François ; Niquet, Yann-Michel ; Roche, Stephan
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00906950

Characterization and modeling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
Mbaye, Nogaye ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00880471

Limitations of on-wafer calibration and de-embedding methods in the sub-THz range
Potereau, M. ; Raya, C. ; De Matos, M. ; Fregonese, S. ; Curutchet, A. ; Zhang, M. ; Ardouin, B. ; Zimmer, T.
Dans : Journal of Computer and Communications
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002098

Single-crystal equation of state of phase D to lower mantle pressures and the effect of hydration on the buoyancy of deep subducted slabs
Rosa, A. D. ; Mezouar, M. ; Garbarino, G. ; Bouvier, P. ; Ghosh, S. ; Rohrbach, A. ; Sanchez-Valle, C.
Dans : Journal of Geophysical Research : Solid Earth
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01067406

Fractional Behavior of Partial Differential Equations whose coefficients are exponential function of the space variable
Sabatier, Jocelyn ; Nguyen, Huy Cuong ; Moreau, Xavier ; Oustaloup, Alain
Dans : Mathematical and computer modelling of dynamical systems, MCMDS
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00939422

80 ns/45 GHz Pulsed measurement system for DC and RF characterization of high speed microwave devices
Weib, Mario ; Fregonese, Sébastien ; Santorelli, Marco ; Sahoo Amit, Kumar ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00909009

Optimized Ring Oscillator With 1.65-ps Gate Delay in a SiGe:C HBT Technology
Weib, Mario ; Majek, Cédric ; Sahoo Amit, Kumar ; Maneux, Cristell ; Mazouffre, Olivier ; Chevalier, Pascal ; Chantre, Alain ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Electron Device Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00906390

2012


Building the electricalmodel of the PhotoelectricLaserStimulation of a PMOS transistor in 90 nm technology
Alexandre, Sarafianos ; Llido, R. ; Dutertre, Jean-Max ; Gagliano, Olivier ; Serradeil, Valérie ; Lisart, Mathieu ; Goubier, V. ; Tria, Assia ; Pouget, Vincent ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742622

Modeling Non-Quasi-Static Effects in SiGe HBTs Using Improved Charge Partitioning Scheme
Augustine, Noel ; Kumar, Khamesh ; Bhattacharyya, Arkaprava ; Zimmer, Thomas ; Chakravorty, Anjan
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01412448

Modeling Non-Quasi-Static Effects in SiGe HBTs Using Improved Charge Partitioning Scheme
Augustine, N. ; Kumar, K. ; Bhattacharyya, A. ; Zimmer, T. ; Chakravorty, A.
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00987245

Comparison of Single Event Transients Generated at Four Pulsed-Laser Test Facilities-NRL, IMS, EADS, JPL
Buchner, S. ; Roche, Nicolas Jean-Henri ; Warner, J. ; Mcmorrow, D. ; Miller, F. ; Morand, S. ; Pouget, V. ; Larue, C. ; Ferlet-Cavrois, V. ; El Mamouni, F. ; Kettunen, Heikki ; Adell, P. C. ; Allen, G. ; Aveline, David
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01633618

Investigation on the Single Event Burnout Sensitive Volume Using Two-Photon Absorption Laser Testing
Darracq, Frédéric ; Mbaye, Nogaye ; Azzopardi, Stephane ; Pouget, Vincent ; Lorfèvre, E. ; Bezerra, F. ; Lewis, Dean
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00772095

Electrical compact modelling of graphene transistors
Fregonese, Sebastien ; Meng, N. ; Nguyen, H.-N. ; MAJEK, C. ; Maneux, C. ; Happy, H. ; Zimmer, T.
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002093

Characterization and Modeling of Graphene Transistor Low-Frequency Noise
Grandchamp, Brice ; Fregonese, Sebastien ; Majek, Cédric ; Hainaut, Cyril ; Maneux, Cristell ; Meng, Nan ; Happy, Henri ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669458

Coupling and propagation of Sommerfeld waves at 100 and 300 GHz
Guillet, Jean-Paul ; Chusseau, Laurent
Dans : Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091187

Transient electro-thermal characterization of Si-Ge heterojunction bipolar transistors
Kumar Sahoo, Amit ; Weiß, Mario ; Fregonese, Sébastien ; Malbert, Nathalie ; Zimmer, Thomas
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00978809

A scalable electrothermal model for transient self-heating effects in trench-isolated SiGe HBTs
Kumar Sahoo, Amit ; Fregonese, Sebastien ; Weis, Mario ; Malbert, Nathalie ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00978803

Characterization of self-heating in Si-Ge HBTs with pulse, DC and AC measurements
Kumar Sahoo, Amit ; Fregonese, Sébastien ; Weiß, Mario ; Grandchamp, Brice ; Malbert, Nathalie ; Zimmer, Thomas
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00978797

Evidence of relationship between mechanical stress and leakage current in AlGaN/GaN transistor after storage test
Lambert, B ; Labat, N ; Carisetti, D ; Karboyan, Serge ; Tartarin, Jean-Guy ; Thorpe, J ; Brunel, L ; Curutchet, A ; Malbert, N ; Romain-Latu, E ; Mermoux, M
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01343325

Evidence of relationship between mechanical stress and leakage current in AlGaN/GaN transistor after storage test
Lambert, Benoit ; Labat, Nathalie ; Carisetti, Dominique ; Karboyan, Serge ; Tartarin, Jean-Guy ; Thorpe, J. ; Brunel, Laurent ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Latu-Romain, Eddy ; Mermoux, Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002539

Effects of 1064 nm laser on MOS capacitor
Llido, R. ; Masson, P. ; Regnier, V. ; Goubier, V. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988338

Building the electrical model of the Photoelectric Laser Stimulation of a PMOS transistor in 90nm technology
Sarafianos, A ; Llido, R ; Gagliano, O ; Serradeil, V ; Lisart, M ; Goubier, V ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, A ; Pouget, V ; Lewis, D
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01110360

2011


Experimental power cycling on insulated TRIAC package: Reliability interpretation thanks to an innovative failure analysis flow
Aubert, A. ; Jacques, S. ; Pétremont, S. ; Labat, N. ; Frémont, H.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670531

Time Resolved Imaging: From logical states to events, a new and efficient pattern matching method for VLSI analysis
Bascoul, G. ; Perdu, Philippe ; Benigni, A. ; Dudit, Sylvain ; Celi, Guillaume ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669825

LVI detection on passive structure in advance CMOS technology: New opportunities for device analysis
Celi, Guillaume ; Dudit, Sylvain ; Parassin, T. ; Perdu, Philippe ; Reverdy, Antoine ; Lewis, D. ; Vallet, M.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669760

L'évolution disciplinaire des sciences de l'information : des technologies à l'ingénierie des usages
Claverie, Bernard ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue Internationale de Projectique -­ International Journal of Projectics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669468

Investigation on the SEL Sensitive Depth of an SRAM Using Linear and Two-Photon Absorption Laser Testing
Faraud, Emeric ; Pouget, V. ; Shao, Kai ; Larue, Camille ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Samaras, A. ; Bezerra, F. ; Lorfèvre, E. ; Ecoffet, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667336

A compact model for dual-gate one-dimensional FET: Application to carbon-nanotube FETs
Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584879

Investigation of the degradation mechanisms of InP/InGaAs DHBT under bias stress conditions to achieve electrical aging model for circuit design
Ghosh, S. ; Grandchamp, B. ; Koné, G.A ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Nodjiadjim, V. ; Riet, M. ; Dupuy, J.-Y. ; Godin, J.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00671676

Trends in submicrometer InP-based HBT architecture targeting thermal management
Grandchamp, Brice ; Nodjiadjim, Virginie ; Zaknoune, M. ; Koné, Gilles Amadou ; Hainaut, Cyril ; Godin, Jean ; Riet, M. ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00671675

Impact of Power Consumption and Temperature on Processor Lifetime Reliability
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : American Scientific Publishers in JOLPE
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674305

FPGA Design with Double-Gate Carbon Nanotube Transistors
H. Ben Jamaa, M. ; Gaillardon,  p.-E. ; Frégonèse, S. ; De Marchi, M. ; De Micheli, G. ; Zimmer, T. ; O'Connor, I. ; Clermidy, F.
Dans : The Electro-Chemical Society Transactions
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002089

Magnetic field spatial Fourier analysis: A new opportunity for high resolution current localization
Infante, Fulvio ; Perdu, Philippe ; Kor, H.B ; Gan, C. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669757

Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT under thermal and electrical stresses
Koné, G. A. ; Grandchamp, B. ; Hainaut, C. ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Labat, N. ; Zimmer, T. ; Nodjiadjim, V. ; Riet, M. ; Godin, J.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670550

Design and Modeling of a Neuro-Inspired Learning Circuit Using Nanotube-Based Memory Devices
Liao, Si-Yu ; Retrouvey, J.M. ; Agnus, G. ; Zhao, W. ; Maneux, Cristell ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Chabi, D. ; Filoramo, A. ; Derycke, Vincent ; Gamrat, C. ; Klein, J.O.
Dans : IEEE Transactions on Circuits and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584909

Photoelectric Laser Stimulation applied to Latch-Up phenomenon and localization of parasitic transistors in an industrial failure analysis laboratory
Llido, R. ; Gomez, J. ; Goubier, V. ; Froidevaux, N. ; Dufayard, L. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669826

Schottky barrier carbon nanotube transistor: Compact modeling, scaling study, and circuit design applications
Najari, Montassar ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Mnif, H. ; Masmoudi, N. ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584876

E-Learning in science and technology via a common learning platform in a lifelong learning project
Priem, F. ; De Craemer, R. ; Pedreschi, F. ; Zimmer, T. ; SaÏghi, S. ; Lilja, J.
Dans : European Journal of Open, Distance and e-Learning
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002087

Fractional Models for Thermal Modeling and Temperature Estimation of a Transistor Junction
Sabatier, Jocelyn ; Nguyen, H.C. ; Farges, Christophe ; Moreau, Xavier ; Guillemard, Franck ; Bavoux, Bernard
Dans : Advances in Difference Equations
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00668779

Thermal impedance modeling of SiGe HBTs from low-frequency small-signal measurements
Sahoo, A.K. ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Malbert, Nathalie
Dans : IEEE Electron Device Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584885

3D knife-edge characterization of two-photon absorption volume in silicon for integrated circuit testing
Shao, Kai ; Morisset, Adèle ; Pouget, V. ; Faraud, Emeric ; Larue, Camille ; Lewis, D. ; Mcmorrow, D.
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667432

2010


Failure analysis case study on a Cu/low-k technology in package: New front-side approach using laser and plasma de-processing
Aubert, A. ; Rebrassé, J.P. ; Dantas De Morais, L. ; Labat, N. ; Frémont, H.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00549513

Facing the defect characterization and localization challenges of bridge defects on submicronic technology (45nm and below)
Celi, Guillaume ; Dudit, Sylvain ; Perdu, Philippe ; Reverdy, Antoine ; Parrassin, Thierry ; Bechet, Emmanuel ; Lewis, Dean ; Vallet, Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585642

CADless laser assisted methodologies for failure analysis and device reliability
Deyine, Amjad ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Battistella, F. ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988334

Analysis of current collapse effect in AlGaN/GaN HEMT: Experiments and numerical simulations
Faqir, M. ; Bouya, Moshine ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Carisetti, D. ; Lambert, B. ; Verzellesi, G. ; Fantini, F.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585069

A versatile compact model for ballistic 1D transistor: GNRFET and CNTFET comparison
Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00512742

Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT
Gosh, S. ; Marc, François ; Maneux, Cristell ; Grandchamp, Brice ; Koné, Gilles Amadou ; Zimmer, Thomas
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674295

Magnetic microscopy for ground plane current detection: a fast and reliable technique for current leakage localization by means of magnetic simulation
Infante, F. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585644

Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/InGaAs DHBT
Koné, Gilles Amadou ; Grandchamp, Brice ; Hainaut, Cyril ; Marc, François ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Nodjiadjim, V. ; Godin, J.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585073

Compact modeling of optically gated carbon nanotube field effect transistor
Liao, Si-Yu ; Maneux, Cristell ; Pouget, Vincent ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : physica status solidi (b)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00495144

TCAD modeling of NPN-SI-BJT electrical performance improvement through SiGe extrinsic stress layer
Mahmoud, Al-Sadi ; Fregonese, Sébastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : Materials Science in Semiconductor Processing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00671678

Voltage Controlled Delay Line with Phase Quadrature Outputs for [0.9 4]GHz Factorial Delay Locked Loop Dedicated to Zero-IF Multi Standard Local Oscillator
Majek, Cédric ; Lucas De Peslouan, Pierre-Olivier ; Mariano, André ; Lapuyade, Herve ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : Journal of Integrated Circuits and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00539233

Efficient physics-based compact model for the Schottky barrier carbon nanotube FET
Najari, Montassar ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Mnif, H. ; Zimmer, Thomas ; Masmoudi, N.
Dans : physica status solidi (c)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584855

SiGe HBTs optimization for wireless power amplifier applications
Zimmer, Thomas ; Mans, Pierre-Marie ; Jouan, Sebastien ; Fregonese, Sebastien ; Vandelle, Benoit ; Pache, Denis ; Curutchet, Arnaud ; Maneux, Cristell
Dans : Active and Passive Electronic Components
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00671680

2009


Multiscale simulation of carbon nanotube devices
Adessi, C. ; Avriller, R. ; Bournel, A. ; Blase, Xavier ; Cazin D'Honincthun, H. ; Dollfus, P. ; Frégonèse, S. ; Galdin-Retailleau, S. ; López-Bezanilla, A. ; Maneux, C. ; Nha Nguyen, H. ; Querlioz, D. ; Roche, S. ; Triozon, F. ; Zimmer, T.
Dans : Comptes Rendus Physique
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00400169

Multilevel behavioural modelling for reliability analysis of ionizing dose effects on a n-MOS simple current mirror
Bestory, Corinne ; Marc, François ; Duzellier, Sophie ; Lévi, Hervé
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00499470

Pervasion, transparence et cognition augmentée
Claverie, Bernard ; Lespinet-Najib, Véronique ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue des Interactions Humaines Médiatisées (RIHM) = Journal of Human Mediated Interactions
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983269

A New Technique for SET Pulse Width Measurement in Chains of Inverters Using Pulsed Laser Irradiation
Ferlet-Cavrois, V. ; Mcmorrow, D. ; Kobayashi, D. ; Melinger, J. ; Schwank, J.R ; Gaillardin, M. ; Pouget, V. ; Essely, Fabien ; Baggio, J. ; Girard, Sébastien ; Flament, O. ; Paillet, Philippe ; Flores, R. ; Dodd, P.E. ; Shaneyfelt, M.R. ; Hirose, K. ; Saito, H.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669755

Implementation of tunneling phenomena in a CNTFET compact model
Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, T.
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00399797

Technological dispersion in CNTFET: Impact of the presence of metallic carbon nanotubes in logic circuits
Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, T.
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00399786

Implementation of Electron–Phonon Scattering in a CNTFET Compact Model
Fregonese, Sebastien ; Goguet, Johnny ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00388046

Electrical modeling of the effect of beam profile for pulsed laser fault injection
Godlewski, C. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Lisart, Mathieu
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669736

Net integrity checking by optical localization techniques
Haller, Gerald ; Machouat, A. ; Lewis, D. ; Pouget, V.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669741

A CMOS Resizing Methodology for Analog Circuits: linear and non-linear applications
Levi, Timothée ; Tomas, Jean ; Lewis, Noëlle ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Design & Test
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00359990

A distance measurement platform dedicated to Electrical Engineering
Lewis, N. ; Billaud, M. ; Geoffroy, D. ; Cazenave, P. ; Zimmer, T.
Dans : IEEE Transactions on Learning Technologies
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00450208

Characterisation and modelling of parasitic effects and failure mechanisms in AlGaN/GaN HEMTs
Malbert, N. ; Curutchet, A. ; Sury, C. ; Hoel, V. ; De Jaeger, J.C. ; Defrance, N. ; Douvry, Y. ; Dua, C. ; Oualli, M. ; Bru-Chevallier, C. ; Bluet, J.M. ; Chikhaoui, W.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401267

Effects of laser beam propagation and saturation on the spatial shape of sodium laser guide stars.
Marc, Fabien ; Guillet De Chatellus, Hugues ; Pique, Jean-Paul
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983664

Accelerated Irradiation Method to Study Synergy Effects in Bipolar Integrated Circuits
Roche, Nicolas Jean-Henri ; Gonzalez Velo, Yago ; Dusseau, Laurent ; Boch, Jérôme ; Vaillé, Jean-Roch ; Saigné, Frédéric ; Azais, Bruno ; Auriel, GÉrard ; Lorfèvre, Eric ; Pouget, Vincent ; Buchner, Stephen P. ; David, Jean-Pierre ; Marec, Ronan ; Calvel, Philippe
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01631440

2008


Behavior and optimizations of Si/SiGe HBT on thin-film SOI
Avenier, Gregory ; Fregonese, Sebastien ; Vandelle, Benoit ; Dutartre, D. ; Saguin, Fabienne ; Schwartzmann, Thierry ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas ; Chantre, Alain
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00197532

Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deletage, J.Y. ; Verdier, F. ; Deshayes, Y. ; Fregonese, S. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Laffitte, D.
Dans : Comptes rendus de l’Académie des sciences. Série IV, Physique, astrophysique
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00266387

A Nodal Model Dedicated to Self-Heating and Thermal Coupling Simulations
Beckrich-Ros, Hélène ; Ortolland, Sylvie ; Pache, Denis ; Céli, Didier ; Gloria, Daniel ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327444

Reliability investigations of 850 nm silicon photodiodes under proton irradiation for space applications
Bourqui, M.L. ; Bechou, L. ; Gilard, O. ; Deshayes, Y. ; Del Vecchio, P. ; How, L.S. ; Rosala, F. ; Ousten, Y. ; Touboul, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334728

Analysis of traps effect on AlGaN/GaN HEMT by luminescence techniques
Bouya, Moshine ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Carisetti, Dominique ; Perdu, Philippe ; Clement, Jean-Claude ; Lambert, Benoit ; Bonnet, Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00400906

Investigation of the Propagation Induced Pulse Broadening (PIPB) Effect on Single Event Transients in SOI and Bulk Inverter Chains
Cavrois, V.F ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Schwank, J.R ; Fel, N. ; Essely, Fabien ; Flores, R. ; Paillet, P. ; Gaillardin, M. ; Kobayashi, D. ; Melinger, J. ; Duhamel, O. ; Dodd, P.E. ; Shaneyfelt, M.R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397995

Nonlinear Characterization and Modeling of Carbon Nanotube Field-Effect Transistors
Curutchet, Arnaud ; Theron, Didier ; Gaquiere, Christophe ; Werquin, M. ; Ducatteau, D. ; Bethoux, J.M. ; Happy, Henri ; Dambrine, G. ; Derycke, Vincent
Dans : ieee mtt
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00315911

Computationally Efficient Physics-Based Compact CNTFET Model for Circuit Design
Fregonese, Sebastien ; Cazin D'Honincthun, Hughes ; Goguet, Johnny ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas ; Bourgoin, J.-P. ; Dollfus, P. ; Galdin-Retailleau, S.
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00287142

Modeling of Strained CMOS on Disposable SiGe Dots : shape impacts on electrical/thermal characteristics
Fregonese, Sebastien ; Zhuang, Y. ; N. Burghartz, J.
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00261552

Investigation of Single-Event Transients in Linear Voltage Regulators
Irom, F. ; Miyahira, T.F ; Adell, P. ; Laird, J.S ; Conder, B. ; Pouget, Vincent ; Essely, Fabien
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397996

Study of Single Event Transients in High-Speed Operational Amplifiers
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397747

Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401309

Evaluation of Recent Technologies of Nonvolatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, V. ; Darracq, Frédéric ; David, J.P ; Soonckindt, S.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667419

Evaluation of Recent Technologies of Nonvolatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; David, J.P. ; Soonckindt, S.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327362

Laser-Induced Current Transients in Silicon-Germanium HBTs
Pellish, J.A ; Reed, R. ; Mcmorrow, D. ; Melinger, J. ; Jenkins, P. ; Sutton, A. ; Diestelhorst, R. ; Phillips, S. ; Cressler, J. ; Pouget, Vincent ; Pate, N. ; Kozub, J. ; Mendehall, M. ; Weller, R. ; Schrimpf, R.D. ; Marshall, P. ; Tipton, A. ; Niu, G.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397926

Scalable Approach for HBT's Base Resistance Calculation
Raya, Christian ; Pourchon, Franck ; Zimmer, Thomas ; Céli, Didier ; Chevalier, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721433

Scalable Approach for Base Resistance Calculation
Raya, C. ; Pourchon, F. ; Celi, D. ; Chevalier, P. ; Zimmer, T.
Dans : IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327447

Failure Analysis enhancement by evaluating the Photoelectric Laser Stimulation impact on mixed-mode ICs
Sienkiewicz, Magdalena ; Perdu, Philippe ; Firiti, Abdellatif ; Sanchez, Kevin ; Crepel, Olivier ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401312

2007


Investigation of a new method for dopant characterization
Adrian, J. ; Rodriguez, N. ; Essely, F. ; Haller, G. ; Grosjean, C. ; Portavoce, A. ; Girardeaux, Christophe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02044994

Investigation of a new method for dopant characterization
Adrian, J. ; Rodriguez, N. ; Essely, F. ; Haller, G. ; Grosjean, C. ; Portavoce, A. ; Girardeaux, Christophe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal-amu.archives-ouvertes.fr/hal-02044987

Statistical analysis during the reliability simulation
Bestory, Corinne ; Marc, François ; Lévi, Hervé
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326542

Study of passivation defects by electroluminescence in AlGaN/GaN HEMTs on SiC
Bouya, Moshine ; Carisetti, Dominique ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Perdu, Philippe ; Clement, Jean-Claude ; Bonnet, Michel ; Pataut, Gerard
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00197479

Impact of VCO Topology on SET Induced Frequency Response
Chen, W. ; Varanasi, N. ; Pouget, V. ; Barnaby, H. ; Vermeire, B. ; Adell, P. ; Copani, T. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206290

Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Guitard, Nicolas ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00382949

Characterization and analysis of trap-related effects in AlGaAs-GaN HEMTs
Faqir, Mohamed ; Verzellesi F. Fantini F. Danesin F. Rampazzo G. Meneghesso E. Zanoni A. Cavallini A. Castaldini, G. ; Labat, Nathalie ; Dua, Christian ; Touboul, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00199736

Modeling of Strained CMOS on Disposable SiGe Dots: Strain Impacts on Devices' Electrical Characteristics
Fregonese, Sebastien ; Zhuang, Yan ; Burghartz, Joachim N.
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00169352

Total Dose and Single Event Transients in Linear Voltage Regulators
Kelly, A.T. ; Adell, P.C. ; Witulski, A.F. ; Holman, W.T. ; Schrimpf, R.D. ; Pouget, Vincent
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397727

Pedagogical evaluation of remote laboratories in eMerge project
Lang, D. ; Mengelkamp, C. ; S. Jäger, R. ; Geoffroy, D. ; Billaud, M. ; Zimmer, T.
Dans : European Journal of Engineering Education
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00211717

A Heavy-Ion Tolerant Clock and Data Recovery Circuit for Satellite Embedded High-Speed Data Links
Lapuyade, Hervé ; Mazouffre, Olivier ; Goumballa, Birama ; Pignol, Michel ; Malou, Florence ; Neveu, Claude ; Pouget, Vincent ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182248

IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : Design&Reuse Articles
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00522419

Configuration errors analysis in SRAM-based FPGAs: software tool and practical results
Maingot, V. ; Ferron, J. ; Leveugle, R. ; Pouget, V. ; Douin, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184528

CNTFET Modeling and Reconfigurable Logic-Circuit Design
O'Connor, Ian ; Liu, Junchen ; Gaffiot, Frederic ; Prégaldiny, Fabien ; Lallement, C. ; Maneux, Cristell ; Goguet, Johnny ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Anghel, L. ; Dang, T. ; Leveugle, R.
Dans : IEEE Transactions on Circuits and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187137

Self Heating modeling of Si Ge Heterojunction Bipolar Transistor
Sulima, Pierre Yvan ; Battaglia, Jean-Luc ; Zimmer, Thomas
Dans : International Communications in Heat and Mass Transfer
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187266

In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
Wan, Dong Yun ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Jaulent, Patrice ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Semiconductors
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204572

Integration of remote lab exercises into standard course packages
Zimmer, Thomas ; Billaud, M. ; Geoffroy, Didier
Dans : International Journal of Online Engineering (iJOE)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00211709

2006


Single Event Induced Instability in Linear Voltage Regulators
Adell, P.C. ; Witulski, A.F. ; Schrimpf, R.D. ; Marec, R. ; Pouget, Vincent ; Calvel, P. ; Bezerra, F.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397721

Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13µm CMOS Technology
Chen, W. ; Pouget, Vincent ; Gentry, G.K. ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Bakkaloglu, B. ; Kiaei, K. ; Holbert, K.E. ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397725

Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13 μm CMOS Technology
Chen, W. ; Pouget, V. ; Gentry, G.K. ; Barnaby, H. ; Vermeire, B. ; Bakkaloglu, B. ; Kiaei, S. ; E. Holbert, K. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206532

Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Journal of Integrated Circuits and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00359396

A 4 Gsample/s 2 bits flash ADC with 2–4 GHz input bandwidth for radio astronomy application
Deschans, D. ; Bégueret, J.-B. ; Deval, Y. ; Scarabello, C. ; Fouillat, P. ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : Analog Integrated Circuits and Signal Processing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206668

Time resolved imaging using synchronous picosecond Photoelectric Laser Stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; De Matos, Magali ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204571

Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204547

Application of various optical techniques for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Remmach, Mustapha ; Beaudoin, Félix ; Guitard, Nicolas ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204570

Thin film SOI HBT: A study of the effect of substrate bias on the electrical characteristics
Fregonese, Sébastien ; Avenier, Gregory ; Maneux, Cristell ; Chantre, A. ; Zimmer, Thomas
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181972

A computationally efficient physics-based compact bipolar transistor model for circuit design - Part II:Experimental results
Fregonese, Sébastien ; Lehmann, S. ; Zimmer, Thomas ; Schroter, M. ; Celi, D. ; Ardouin, Bertrand ; Beckrich, Helene ; Brenner, P. ; Kraus, W.
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181970

A compact model for SiGe HBT on thin film SOI
Fregonese, Sébastien ; Avenier, Gregory ; Maneux, Cristell ; Chantre, A. ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181969

Cyberchip pour l'étude à distance des circuits integrés
Geoffroy, Didier ; Zimmer, Thomas ; Billaud, Michel
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00211718

Off-state and on-state breakdown in GaAs MESFET, PHEMT and power PHEMT
Ismaïl, N. ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Touboul, A. ; Muraro, J.L.
Dans : physica status solidi (c)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185717

A Radiation-Hardened Injection Locked Oscillator Devoted to Radio-Frequency Applications
Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Hellmuth, Patrick ; Taris, Thierry ; Mazouffre, Olivier ; Fouillat, Pascal ; Deval, Yann
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183155

Improvement of Aging Simulation of Electronic Circuits Using Behavioral Modeling
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Bestory, Corinne ; Levi, Herve ; Danto, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181801

Laser mapping of SRAM Sensitive Cells : a way to obtain input parameters for DASIE calculation code
Miller, F. ; Buard, N. ; Hubert, G. ; Alestra, S. ; Baudrillard, G. ; Carrière, T. ; Gaillard, R. ; Palau, J.-M. ; Saigné, Frédéric ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206425

A computationally efficient physics-based compact bipolar transistor model for circuit design - Part I: model formulation
Schroter, M. ; Lehmann, S. ; Fregonese, Sébastien ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181971

AlGaN/GaN HEMT Reliability Assessment by means of Low Frequency Noise Measurements
Sozza, Alberto ; Curutchet, Arnaud ; Dua, Christian ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00196943

A remote laboratory for electrical engineering education
Zimmer, T. ; Billaud, M. ; Geoffroy, D.
Dans : International Journal of Online Engineering (iJOE)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327439

2005


Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181926

Impact of semiconductors material on IR Laser Stimulation signal
Firiti, Abdellatif ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401285

A Scalable Substrate Network for HBT Compact Modeling
Fregonese, Sébastien ; Celi, D. ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell ; Sulima, Pierre-Yvan
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181973

Different Failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure
Guitard, Nicolas ; Essely, Fabien ; Trémouilles, David ; Bafleur, Marise ; Nolhier, Nicolas ; Perdu, Phillipe ; Touboul, Andre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397706

Safe operating area of GaAs MESFET and PHEMT for amplification in overdrive operating conditions
Ismail, Naoufel ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Muraro, Jean-Luc ; Brasseau, Francis ; Langrez, Dominique
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183490

Implementing laser-based failure analysis methodologies using test vehicles
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Phillipe ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397918

An Analog Circuit Fault Characterization Methodology
Maidon, Yvan ; Zimmer, Thomas ; Ivanov, I.
Dans : Journal of Electronic Testing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203965

Two dimensional DC simulation methodology for InP/GaAs0.51Sb0.49/InP heterojunction bipolar transistor
Maneux, Cristell ; Belhaj, Mohamed ; Grandchamp, Brice ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183087

Rate Predictions for Single Event Effects – Critique II
Petersen, E. ; Pouget, Vincent ; Massengill, L. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397715

Light Emission To time resolved emission for IC debug and failure analysis
Remmach, Mustapha ; Pigozzi, A. ; Desplats, Romain ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Noel, J. ; Dudit, Sylvain
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401289

NIR Laser stimulation for dynamic timing analysis
Sanchez, Kevin ; Desplats, Romain ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Roux, J.P. ; Lewis, Dean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401294

2004


Investigation of millisecond-long analog single-event transients in the LM6144 op amp
Boulghassoul, Y. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D. ; Pouget, V. ; Massengill, L.W. ; Fouillat, P. ; Holman, W.T. ; Poivey, C. ; Howard, J.W. ; Savage, M. ; Maher, M.C.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887662

Analysis of Low Frequency Drain current Noise in AlGaN/GaN HEMTs on Si Substrate
Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Gaquiere, Christophe ; Minko, A.
Dans : Fluctuation and Noise Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183491

Evaluation of SRAMS reliability for space electronics using ultra short laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Electrochemical Society
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185395

Reliability of Low-Cost PCB Interconnections for Telecommunication Applications
Duchamp, Geneviève ; Verdier, Frédéric ; Deshayes, Yannick ; Marc, François ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181802

INVESTIGATION OF SINGLE-EVENT TRANSIENTS IN FAST INTEGRATED CIRCUITS WITH A PULSED LASER
Fouillat, P. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D.
Dans : International Journal of High Speed Electronics and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887658

Obtaining Isothermal Data for HBT
Fregonese, Sébastien ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hassene ; Baureis, P. ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181975

On-wafer low frequency noise measurements of SiGe HBTs: Impact of technological improvements on 1/f noise
Grandchamp, Brice ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Zimmer, Thomas
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183089

Low frequency noise as a reliability diagnostic tool in compound semiconductor transistors
Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Touboul, Andre
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183088

Representation of the SiGe HBT's Thermal Impedance by Linear and Recursive Networks
Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas ; Battaglia, Jean Luc ; Fregonese, Sébastien
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181976

Analysis and modeling of the self-heating effect in SiGe HBTs
Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas ; Battaglia, Jean Luc ; Fregonese, Sébastien
Dans : European Physical Journal: Applied Physics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181974

Time-Resolved Scanning of Integrated Circuits With a Pulsed Laser: Application to Transient Fault Injection in an ADC
Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887656

Dynamic Behavior of a Chemical Sensor for Real-Time Measurement of Humidity Variations in Human Breath
Tetelin, Angélique ; Pouget, Vincent ; Lachaud, Jean-Luc ; Pellet, Claude
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183110

2003


Application of picosecond ultrasonics to non-destructive analysis in VLSI circuits
Andriamonje, G. ; Pouget, V. ; Ousten, Y. ; Lewis, D. ; Danto, Y. ; Rampnoux, Jean-Michel ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, Stéphane ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01550917

Application of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Danto, Yves ; Rampnoux, J. M. ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181929

From Static Thermal and Photoelectric Laser Stimulation (TLS/PLS) to Dynamic Laser Testing
Beaudoin, F. ; Desplats, R. ; Perdu, P. ; Firiti, Abdellatif ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887652

Thermal laser stimulation and NB-OBIC techniques applied to ESD defect localization
Beauchêne, T. ; Lewis, D. ; Beaudoin, F. ; Pouget, V. ; Desplats, R. ; Fouillat, P. ; Perdu, P. ; Bafleur, Marise ; Trémouilles, David
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887647

A physical approach on SCOBIC investigation in VLSI
Beauchêne, T. ; Lewis, D. ; Beaudoin, F. ; Pouget, V. ; Perdu, P. ; Fouillat, P. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887645

High current effects in InP/GaAsSb/InP DHBT: Physical mechanisms and parasitic effects
Belhaj, Mohamed ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Bove, Philippe ; Lareche, H.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183091

Investigation of single-event transients in voltage-controlled oscillators
Chen, W. ; Pouget, V. ; Barnaby, H.J. ; Cressler, J. D. ; Niu, G. ; Fouillat, P. ; Deval, Y. ; Lewis, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887654

Low frequency drain noise comparison of AlGaN/GaN HEMT's grown on silicon, SiC and sapphire substrates
Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Gaquiere, Christophe ; Lareche, H. ; Minko, A. ; Uren, Michael
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183492

Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Fouillat, Pascal ; Dufayel, R. ; Carriere, T.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185396

1/f noise analysis of InP/InGaAs DHBTs submitted to bias and thermal stresses
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183090

Ageing simulation of MOSFET circuit using a VHDL-AMS behavioural modelling: An experimental case study
Mongellaz, Benoit ; Marc, François ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181803

2002


Heavy ion-induced charge collection mechanisms in CMOS active pixel sensor
Belredon, X. ; David, J. ; Lewis, D. ; Beauchene, T. ; Pouget, V. ; Barde, S. ; Magnan, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887641

Backside SEU laser testing for commercial off-the-shelf SRAMs
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Buard, Nadine ; Mounsi, Faresse ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204728

Single-Event Sensitivity of a Single SRAM Cell
Darracq, Frédéric ; Beauchene, Thomas ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185398

Backside SEU Laser Testing for Commercial-Off-The-Shelf SRAM
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Mounsi, F. ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185397

Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose-Rate-Hardened Linear Integrated Circuits
Deval, Yann ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J. ; Darracq, Frédéric ; Briand, Renaud ; Lewis, Dean ; Schrimpf, Rd
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184299

Instrumentation virtuelle sur le World Wide Web pour faire des mesures réelles
Kadionik, Patrice ; Zimmer, Thomas ; Danto, Yves
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183053

Degradation mechanisms induced by thermal and bias stresses in InP HEMTs
Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Lambert, Benoit ; Touboul, Andre ; Garat, François ; Proust, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183493

Study of the interaction between Heavy Ions and Integrated Circuits using a Pulsed Laser Beam
Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé
Dans : European Physical Journal: Applied Physics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185399

Contribution to ageing simulation of complex analogue circuit using VHDL-AMS behavioural modelling language
Mongellaz, Benoit ; Marc, François ; Lewis, Noëlle ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181804

A VLSI CMOS Delay Oriented Waveform Converter for Polyphase Frequency Synthesizer
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Journal of Solid-State Circuits
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183165

2001


hiperLAN 5.4 GHz Low-Power CMOS Synchronous Oscillator
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Belot, D. ; Badets, Franck
Dans : IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183168

Low Frequency Gate Noise in a Diode-Connected MESFET: Measurements and Modeling
Lambert, Benoit ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Verdier, Frédéric ; Touboul, Andre ; K.J. Vandamme, Lode
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183496

Evolution of LF noise in power PHEMTs submitted to RF and DC step Stresses
Lambert, Benoit ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Verdier, Frédéric ; Touboul, Andre ; Huguet, Pierre ; Bonnet, René ; Pataud, Gérard
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183495

Empirical modeling of LF gate noise in GaAs DCFET in impact ionization regime
Lambert, Benoit ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Verdier, Frédéric ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Electron Device Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183494

Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beauchene, Thomas ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185401

Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185400

Experimental procedure for the evaluation of GaAs-based HBT's reliability
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Dumas, Jean-Michel ; Benchimol, Jean-Louis ; Riet, Muriel
Dans : Microelectronics Journal
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183093

Theoretical Investigation of an Equivalent Laser LET
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Buchner, S.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185402

2000


Application of laser testing in study of SEE mechanisms in 16-Mbit DRAMs
Duzellier, S. ; Falguere, D. ; Guibert, L. ; Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Ecoffet, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887628

Comparison of RF and DC life-test effects on GaAs power MESFETs
Lambert, Benoit ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Verdier, Frédéric ; Touboul, Andre ; Huguet, Pierre ; Garat, François
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183497

Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Darracq, Frédéric ; Touboul, Andre
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185403

SPICE Modeling of the Transient Response of Irradiated MOSFETs
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184300

1999


Effects of RF life-test on LF electrical parameters of GaAs power MESFETs
Malbert, Nathalie ; Lambert, Benoit ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; K.J. Vandamme, Lode ; Huguet, Pierre ; Auxemery, P. ; Garat, François
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183094

Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis
Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L. ; Calvet, M. C.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185404

1998


Multiple fault diagnosis in analogue circuits using time domain response features and multilayer perceptrons
Ogg, S. ; Lesage, S. ; Jervis, B.W. ; Maidon, Y. ; Zimmer, T.
Dans : IEE Proceedings - Circuits, Devices and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721401

Method for BJT transit time evaluation
Zimmer, T. ; Duluc, J.B. ; Lewis, N.
Dans : Electronics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721403

1997


Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, L. ; Tregon, B. ; Ousten, Y. ; Marc, F. ; Danto, Y. ; Kertesz, Ph. ; Even, R.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164920

Analysis of hot electron degradations in pseudomorphic HEMTs by DCTS and LF noise characterization
Labat, Nathalie ; Saysset, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Cova, Paolo ; Fantini, Fausto
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183095

Experimental analysis and 2D simulation of AlGaAs/GaAs HBT base leakage current
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Saysset, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183096

Modélisation des effets des radiations sur les transistors bipolaires
Montagner, Xavier ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Lapuyade, Hervé ; Schrimpf, Rd ; Galloway, Kf
Dans : REVUE DE l'ELECTRICITE ET DE L'ELECTRONIQUE
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185405

1996


A wafer level reliability method for short-loop processing
Duluc, J.B. ; Zimmer, T. ; Milet, N. ; Dom, J.P.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721400

Numerical Modelling of Mechanisms involved in Latchup Triggering by a Laser Beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul ; Gaillard, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185407

Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Microelectronic Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185406

Analysis of the surface base current drift in GaAs HBT's
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Saysset, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Dangla, Jean ; Launay, P. ; Dumas, Jean-Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183097

Comparison of conventional and pseudomorphic HEMTs performances by drain current transient spectroscopy and L.F. channel noise
Saysset, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Dumas, Jean-Michel
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183498

1995


A general methodology using an electron beam tester applied to failure localization inside a logic integrated circuit
Marc, François ; Fremont, Hélène ; Jounet, Paul ; Barre, M. ; Danto, Yves
Dans : Microelectronic Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181885

LF excess noise analysis of AlGaAs/GaAs and AlGaAs/InGaAs/GaAs HEMTs
Saysset, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Dumas, Jean-Michel
Dans : Journal de Physique III
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183098

1994


Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing
Fouillat, Pascal ; Gervais-Ducouret, Stéphane ; Lapuyade, Hervé ; Dom, Jean-Paul
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185408

Functionnal localization in integrated circuits by Signal Selective Voltage Contrast in a scanning electron microscope
Marc, François ; Frémont, Hélène ; Jounet, Paul ; Danto, Yves ; Barré, Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326620

Quick and exhaustive descrambling methodology for high density static random access memories using voltage contrast
Marc, François ; Fremont, Hélène ; Jounet, Paul ; Danto, Yves
Dans : Microelectronic Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181886

1992


Kink effect in HEMT structures: A trap-related semi-quantitative model and an empirical approach for spice simulation
Zimmer, T. ; Ouro Bodi, D. ; Dumas, J.M. ; Labat, N. ; Touboul, A. ; Danto, Y.
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721397

1991


Simple determination of BJT extrinsic base resistance
Zimmer, T. ; Meresse, A. ; Cazenave, Ph. ; Dom, J.P.
Dans : Electronics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721394

1981


HOT CARRIERS IN REDUCED GEOMETRY SURFACE-CHANNEL CHARGE-COUPLED DEVICES
Touboul, André ; Lopez, J. ; Lecoy, G.
Dans : Journal de Physique Colloques
https://hal.archives-ouvertes.fr/jpa-00221658
Articles in journals without review committee → 2 Show

2009


L'innovation comme moteur d'évolution des technologies de l'information ; vers un rapprochement des techniques et des usages
Claverie, Bernard ; Fouillat, Pascal
Dans : I-Revues - Edition Electronique de l'INIST - Information, innovation et interdisciplinarité
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983471

2007


IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, Noëlle ; Tomas, Jean ; Fouillat, Pascal
Dans : Einfochips Dashboard
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00522423
Conference with proceedings (national) → 164 Show

2015


Monocristaux de semiconducteurs organiques : le premier transistor bipolaire organique et d’autres applications en MEMS organiques
Pereira, Marco ; Ayela, Cédric ; Fregonese, Sebastien ; Bachevillier, Stéphane ; Hirsch, Lionel ; Crosby, Alfred ; Briseno, Alejandro ; Wantz, Guillaume
Dans : SPIC 2015 : Science et Technologie des Systèmes pi-Conjugués, Angers (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01228631

Caractérisation et modélisation d’une nouvelle technologie de synthétiseur d’impédances automatiques coaxial 3,5mm à fort TOS
Potéreau, Manuel ; Curutchet, Arnaud ; Ghiotto, Anthony ; De Matos, Magali ; Fregonese, Sébastien ; Kerhervé, Eric ; Zimmer, Thomas
Dans : 19èmes Journées Nationales Microondes, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01158220

Etude du contact Schottky de HEMTs AlGaN/GaN sur substrat SiC après 7000h de test de vieillissement de type HTOL
Rzin, Mehdi ; Curutchet, Arnaud ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Brunel, Laurent ; Lambert, Benoit
Dans : XIXèmes Journées Nationales Micro-ondes (JNM2015), TALENCE (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163586

2011


Evaluation des solutions de packaging quasi-hermétique sur composants actifs hyperfréquences
Ben Naceur, Walim ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Fremont, Hélène ; Muraro, Jean-Luc ; Monfraix, Philippe
Dans : Journées Nationales Microondes, Brest (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585624

Détection et identification des pièges dans les HEMTS AlGaN/GaN
Brunel, L. ; Malbert, N. ; Curutchet, A. ; Labat, N. ; Lambert, Benoit
Dans : 17èmes Journées Nationales Microondes, Brest (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00672186

Détection et identification des pièges dans les HEMTs AlGaN/GaN
Brunel, Laurent ; Malbert, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Labat, Nathalie ; Lambert, Benoit
Dans : Journées Nationales Microondes, Brest (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585618

Dégradation du bruit en courant de drain de HEMTs AlGaN/GaN sur substrat SiC
Sury, Charlotte ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Dua, Christian ; Oualli, Mourad ; Diforte-Poisson, M.A. ; Aubry, Raphaël
Dans : Journées Nationales Microondes, Brest (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585621

2010


Conception et qualification d'un amplificateur de puissance radiofréquence à base de HEMT GaN.
Fonder, Jean Baptiste ; Temcamani, Farid ; Duperrier, Cédric ; Latry, Olivier ; Dherbecourt, Pascal ; Lacheze, Ludovic ; Stanislawiak, Michel ; Eudeline, Philippe
Dans : 13èmes Journées Nano Micro et Optoélectronique, Les Issambres (France), Les Issambres (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00735895

2009


Caractérisation et modélisation des sources de bruit aux basses fréquences dans la filière HEMT à base de nitrure de gallium
Curutchet, A. ; Sury, C. ; Malbert, N. ; Labat, N.
Dans : - XVIèmes Journées Nationales Microondes, France, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401250

Etude d'un synthétiseur de fréquence fractionnaire large bande à éléments à retard contrôlable
Lucas De Peslouan, Pierre-Olivier ; Majek, Cédric ; Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Lyon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00380888

Improved GeOI substrates for pMOSFET off-state leakage control
Romanjek, K. ; Augendre, E. ; Van Den Daele, W. ; Grandchamp, B. ; Sanchez, L. ; Le Royer, C. ; Hertmann, J.-M. ; Ghyselen, B. ; Guiot, E. ; Bourdelle, K. ; Cristoloveanu, S. ; Boulanger, F. ; Clavelier, L.
Dans : International Conference on Insulating Films on Semiconductors (INFOS),, Cambridge (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00603830

2007


Techniques de détection de défauts dans les transistors à haute mobilité électronique AlGaN/GaN à contact Schottky Pt/Ti/Au
Bouya, Moshine ; Carisetti, Dominique ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Perdu, Philippe ; Clement, Jean-Claude ; Pataut, Gerard ; Bonnet, Michel
Dans : XVIèmes Journées Nationales Microondes, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00197484

Electrical OverStress/ElectroStatic Discharges (EOS/ESD) specificities in MEMS: outline of a protection strategy
Caillard, Benjamin ; Pellet, Claude ; Touboul, Andre ; Mita, Yoshio ; Fujita, Hirohito
Dans : IEEE International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits (IPFA'07), Bangalore (India)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162196

Caractérisation et modélisation non linéaire de Transistors hyperfréquences à Effet de Champ à base de Nano tubes de Carbone (CNFETs) à l'aide d'un Analyseur de réseau Large Signal (LSNA)
Curutchet, Arnaud ; Bethoux M. Werquin H. Happy D. Theron D. Ducatteau G. Dambrine, J.-M. ; Gaquiere, Christophe ; Derycke, Vincent
Dans : XVIèmes Journées Nationales Microondes, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00197497

Influence of the Strain on Static I-V Characteristics of AlGaN/GaN HEMT Determined by Physical Simulation
Lacheze, Ludovic ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : International Workshop on Heterostructures HETECH, Frejus (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00197501

IP-Based Library for Analog Design Reuse
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : GDR SoC-SIP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181424

IP-based design reuse for analogue systems: a case study
Levi, Timothée ; Tomas, J. ; Lewis, N. ; Fouillat, P.
Dans : Proceedings SPIE VLSI Circuits and Systems III, Maspalomas, Gran Canaria (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181417

Synthétiseur de fréquence reconfigurable [900 MHz - 5,8 GHz] totalement intégrable en technologie CMOS SOI 130nm
Majek, Cédric ; Deval, Yann ; Lapuyade, Herve ; Taris, Thierry ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : Journées Nationales Micro-ondes 2007, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178334

2006


Multi-level Modeling of hot carrier injection for reliability simulation using VHDL-AMS
Bestory, Corinne ; Marc, François ; Levi, Herve ; Danto, Yves
Dans : Forum on Specification and Design Languages, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181895

La simulation de l'usure des circuits intégrés analogique : prise en compte de l'interaction fonction, profil de misssion, circuit
Marc, François ; Bestory, Corinne ; Levi, Herve ; Danto, Yves
Dans : ANADEF2006, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181894

2005


Intra-IC Inspection and Metrology with Picosecond Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Danto, Yves
Dans : 22nd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC) 2005, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182901

Investigation of fully- and partially-depleted self-aligned SiGeC HBTs on thin film SOI
Avenier, Gregory ; Chevalier, Pascal ; Vandelle, Benoit ; Lenoble, Damien ; Saguin, Fabienne ; Fregonese, Sébastien ; Zimmer, Thomas ; Chantre, A.
Dans : European Solid-State Device Research Conference - ESSDERC 2005, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181981

A self-aligned vertical HBT for thin SOI SiGeC BiCMOS
Avenier, Gregory ; Schwartzmann, Thierry ; Chevalier, Pascal ; Vandelle, Benoit ; Rubaldo, Laurent ; Dutartre, Didier ; Boissonnet, L. ; Saguin, Fabienne ; Pantel, Roland ; Fregonese, Sébastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas ; Chantre, A.
Dans : BCTM 2005, Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181977

Bipolar Transistor Temperature Modeling
Beckrich, Helene ; Celi, D. ; Berger, Dominique ; Sulima, Pierre-Yvan ; Zimmer, Thomas
Dans : MIXDES, Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203966

The Cyberchip for analogue integrated circuit design teaching
Billaud, M. ; Zimmer, Thomas ; Geoffroy, Didier
Dans : 16th EAEEIE Annual Conference on Innovation in Education for Electrical and Information Engineering, (Finland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203967

Formations à distance en EEA : Le projet de Master première année M1 e-EEA
Chambrelan, C. ; Gervais, N. ; Grisel, R. ; Horn, R. ; Danto, Yves ; Fouillat, Pascal ; Pellet, Claude ; Bonnaud, O. ; Thouroude, D. ; Despaux, G. ; Glaize, C. ; Nolhier, Nicolas ; Ablart, G. ; Graffeuil, Jacques ; Caignet, Fabrice ; Cazarré, Alain ; Barbier, D. ; Abouchi, N. ; Jourlin, M. ; Garda, Patrick
Dans : 5ème Colloque sur l'Enseignement des Technologies et des Sciences de l'Information et des Systèmes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183071

Study of Degradations in PCB Interconnections for High Frequency Applications
Duchamp, Geneviève ; Verdier, Frédéric ; Levrier, Bruno ; Marc, François ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : IPFA 2005, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181898

Base-collector junction charge investigation of Si/SiGe HBT on thin film SOI
Fregonese, Sébastien ; Avenier, Gregory ; Maneux, Cristell ; Chantre, A. ; Zimmer, Thomas
Dans : European Solid-State Device Research Conference - ESSDERC 2005, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181980

A transit time model for thin SOI Si/SiGe HBT
Fregonese, Sébastien ; Avenier, Gregory ; Maneux, Cristell ; Chantre, A. ; Zimmer, Thomas
Dans : BCTM 2005, Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181979

A GaAsSb/InP HBT circuit technology
Godin, Jean ; Riet, Muriel ; Konczykowska, A. ; Berdaguer, P. ; Kahn, M. ; Bove, Philippe ; Lareche, H. ; Langer, R. ; Lijadi, Mélania ; Pardo, F. ; Bardou, N. ; Pelouard, Jean-Luc ; Maneux, Cristell ; Belhaj, Mohamed ; Grandchamp, Brice ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Bru-Chevallier, Catherine ; Chouaib, H. ; Benyattou, T.
Dans : Conference GaAs 2005, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183099

On-state safe operating area of GaAs MESFET defined for non linear applications
Ismail, Naoufel ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Muraro, Jean-Luc ; Brasseau, Francis ; Langrez, Dominique
Dans : 13th GAAS Symposium, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183503

Off-state and on-state breakdown of GaAs MESFET, PHEMT, and PPHEMT
Ismail, Naoufel ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Muraro, Jean-Luc
Dans : 32nd International Symposium on Compound Semiconductors, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183502

Méthodologie pour la définition d'une Aire de sécurité de fonctionnement non linéaire des transistors FETs GaAs
Ismail, Naoufel ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Muraro, Jean-Luc
Dans : XVèmes Journées Nationales Microondes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183501

A methodology to delimit the on-state safe operating area of GaAs MESFET for nonlinear applications
Ismail, Naoufel ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Muraro, Jean-Luc
Dans : International Symposium on physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183499

A Radiation-Hardened Injection Locked Oscillator Devoted to Radio-Frequency Applications
Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Hellmuth, Patrick ; Fouillat, Pascal ; Deval, Yann
Dans : 8th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS05), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183189

Improvement of ageing simulation of electronic circuits based on behavioural modelling
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Bestory, Corinne ; Levi, Herve ; Danto, Yves
Dans : IPFA 2005, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181897

First steps toward ageing simulation of complex analogue circuits with behaioural modelling
Marc, François ; Danto, Yves
Dans : International Reliability Workshop 2005 (IRW2005), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181896

Traps characterization inSi-doped GaN/AlGaN/GaN HEMT on SiC by means of low frequency techniques
Sozza, Alberto ; Dua, Christian ; Sarazin, N. ; Morvan, E. ; Delage, Sylvain ; Rampazzo, F. ; Tazzoli, A. ; Danesin, F. ; Meneghesso, G. ; Zanoni, Enrico ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : Proceeding of International Workshop on Heterostructures HETECH, (Slovakia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183504

Evidence of traps creation in GaN/AlGaN/GaN HEMTs after a 3000 hour on-state and off-state hot electron stress
Sozza, Alberto ; Dua, Christian ; Morvan, E. ; Diforte-Poisson, Ma ; Delage, Sylvain ; Rampazzo, F. ; Tazzoli, A. ; Danesin, F. ; Meneghesso, G. ; Zanoni, Enrico ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Grimber, B. ; De Jaeger, Jean-Claude
Dans : Proceeding of IEDM, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183500

A Transient Measurement Setup for Electro-thermal Characterisation for SiGe HBTs
Sulima, Pierre-Yvan ; Zimmer, Thomas ; Beckrich, Helene ; Battaglia, Jean Luc ; Fregonese, Sébastien ; Celi, D.
Dans : MIXDES, Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181978

Water solubility and diffusivity in BCB resins used in microelectronics packaging and sensor applications
Tetelin, Angélique ; Achen, A. ; Pouget, Vincent ; Pellet, Claude ; Toepper, M. ; Lachaud, Jean-Luc
Dans : 22nd Instrumentation and Measurement Technology Conference, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183075

2004


Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182909

Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182908

An eLab platform for electrical engineers education
Billaud, M. ; Geoffroy, Didier ; Zimmer, Thomas
Dans : ICEE International Conference on Engineering Education, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203968

Evaluation of SRAMs Reliability for Space Electronics Using Ultra Short Laser Pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : 19th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro 2004), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185409

Test chip for qualification of packaging assemblies
Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Puig, Olivier ; Pellet, Claude ; Fouillat, Pascal ; Danto, Yves
Dans : SBMicro 2004, (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183081

Réalisation d un convertisseur 3 bits à 4 Géchantillons/s pour radiotélescopes en bande millimétrique et submillimétrique
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183229

Scalable Substrate Modeling based on 3D Physical Simulation Substrat
Fregonese, Sébastien ; Celi, D. ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell
Dans : XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems - DCIS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181985

Scalable Bipolar Transistor Modelling with HICUM
Fregonese, Sébastien ; Berger, Dominique ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell ; Sulima, Pierre-Yvan ; Celi, D.
Dans : IEEE Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181984

Barrier effects in SiGe HBT: Modeling of high-injection base current increase
Fregonese, Sébastien ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell ; Sulima, Pierre-Yvan
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181982

Simulation Physique des mécanismes de recombinaisons d'un TBH InP/GaAsSb/InP
Grandchamp, B. ; Maneux, C. ; Labat, N. ; Touboul, A.
Dans : Xème Journées Nationales Microélectronique Optoélectronique, La Grande Motte (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401365

Comparaison des lieux de claquage BV on-state des différentes technologies à substrat GaAs
Ismail, N. ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Touboul, A. ; Lambert, B. ; Muraro, J.-L.
Dans : Xème Journées Nationales Microélectronique Optoélectronique, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401360

Methodology to compare on-state breakdown loci of GaAs FETs
Ismail, Naoufel ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Muraro, Jean-Luc
Dans : ICM Conference, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183506

A 2-6 GHz CMOS Factorial Delay Locked Loop Dedicated to Multi-Standard Frequency Synthesis
Majek, Cédric ; Deltimple, Nathalie ; Lapuyade, Hervé ; Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann
Dans : Prooceedings of the IEEE International Symposium on Industrial Electronics ISIE2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183197

InP/GaAsSb/InP DHBT: Analysis of specific material parameters and high current effect by physical simulation
Maneux, Cristell ; Belhaj, Mohamed ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Kahn, M. ; Godin, Jean ; Bove, Philippe
Dans : Conference GAAS 2004, (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183102

InP based HBT reliability
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : Journées du GDR Nanoélectronique, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183101

Analysis of avalanche regime in InP HBT's using physical simulation - Implementation in a DC Model
Maneux, Cristell ; MARTIN, Jean-Christophe ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : International Conference on Industrial Technology, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183100

InP/InGaAs/InP DHBT submitted to bias and thermal stresses: LF base noise analysis
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : SPIE Fluctuation and Noise Conference, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183103

Representation of the SiGe HBT's Thermal Impedance by Linear and Recursive Networks
Mnif, Hassene ; Battaglia, Jean Luc ; Fregonese, Sébastien ; Zimmer, Thomas
Dans : IFAC - FDA04, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181983

CMOS transistor electrical ageing experiments to build VHDL-AMS behavioral models
Mongellaz, Benoit ; Marc, François ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2004, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181900

A CMOS Analogue Function VHDL-AMS Behavioral Ageing Model
Mongellaz, Benoit ; Marc, François ; Bestory, Corinne ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE) 2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181899

Applications de l acoustique picoseconde à l analyse non destructive de circuits intégrés
Rampnoux, J. M. ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B. ; Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182903

A 10 GHz dielectric resonator oscillator using GaN technology
Rice, P. ; Sloan, R. ; Moore, M. ; Barnes, Ar ; Uren, Michael ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : 2004 IEEE MTT-Symposium, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183505

2003


Limitations des performances du TBH InP/GaAsSb/InP à forts niveaux d'injection
Belhaj, Mohamed ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : Journées du GDR Nanoélectronique, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183471

Analyse de la dégradation des performances des TBH InP/GaAsSb/InP aux forts niveaux de courant
Belhaj, Mohamed ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Godin, Jean ; Bove, Philippe
Dans : Journées Nationales Microondes 2003, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183467

Analyse du bruit basses fréquences du courant de drain de HEMTs AlGaN/GaN sur substrats silicium et saphir
Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Gaquiere, Christophe ; Minko, A. ; Uren, Michael
Dans : XIIIèmes Journées Nationales Microondes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183507

A Non-Linear Model to Express Laser-induced SRAM Cross-sections versus an Effective Laser LET
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal
Dans : 7th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185410

The Factorial DLL : Application to a 5 GHz Frequency Synthesizer
Deltimple, Nathalie ; Majek, Cédric ; Lapuyade, Hervé ; Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann
Dans : IEEE Proceedings of Design of Ciruicts and Integrated Systems (DCIS2003), (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183235

Synthétiseur de Fréquence à base de DLL Factorisée pour application HiperLAN
Deltimple, Nathalie ; Majek, Cédric ; Lapuyade, Hervé ; Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann
Dans : Actes du colloque TELECOM 2003 & 3èmes JFMMA, (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183234

The Factorial DLL : Application to a 5 GHz Frequency Synthesizer
Deltimple, Nathalie ; Majek, Cédric ; Lapuyade, Hervé ; Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann
Dans : IEEE Proceedings of Design of Ciruicts and Integrated Systems (DCIS2003), (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183219

Synthétiseur de Fréquence à base de DLL Factorisée pour application HiperLAN
Deltimple, Nathalie ; Majek, Cédric ; Lapuyade, Hervé ; Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann
Dans : Actes du colloque TELECOM 2003 & 3èmes JFMMA, (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183218

Low frequency drain noise in AlGaN/GaN HEMTs on Si substrate
Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Touboul, Andre ; Gaquiere, Christophe ; Minko, A.
Dans : Fluctuation and Noise Conference, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183510

Evolution of LF noise in Power PHEMT's ubmitted to RF and DC step stresses
Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Lambert, Benoit ; Touboul, Andre
Dans : Journées Scientifiques Francophones Electronique, Télécoms et Informatique, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183509

Analysis of low frequency drain noise in AlGaN/GaN HEMTs on sapphire substrate
Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Touboul, Andre ; Uren, Michael
Dans : 17th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, (Czech Republic)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183508

Modèles de dégradation des TBH sur substrat InP
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : Journées électroniques du CLUB EEA et du RTP 31 : Fiabilité des Composants et Packaging, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183472

Reliability simulation of electronic circuits with VHDL- AMS
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
Dans : Forum on Specification and Design Languages - FDL'03, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181903

Modélisation comportementale et fiabilité des systèmes
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
Dans : Journées électroniques du Club EEA : La fiabilité de microélectronique et microtechnologies, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181902

Fiabilité du TBH sur InP - Analyse du Bruit aux Basses Fréquences
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : Journées Nationales Microondes - JNM, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183470

Extrinsic leakage current on InP/InGaAs DHBTs
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : 2003 IEEE Conference on Indium Phosphide and Related Materials, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183469

Analyse des courants de fuite extrinsèques des HBTs InP/InGaAs
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : Journées Scientifiques Francophones Electronique, Télécoms et Informatique, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183468

Modélisation thermique des TBH SiGe destinés à des applications radiofréquences
Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas ; Battaglia, Jean Luc ; Fregonese, Sébastien
Dans : Conférence Internationale Sciences Electroniques, Technologies de l'Information et des Télécommunications, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181988

Bipolar modeling and selfheating: An Equivalent Network representation For The Thermal Spreading Impedance In SiGe HBTs
Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas ; Battaglia, Jean Luc ; Fregonese, Sébastien
Dans : 10th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems, (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181987

Analytical model for the self-heating effect in SiGe HBTs and its network representationAnalytical model for the self-heating effect in SiGe HBTs and its network representation
Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas ; Battaglia, Jean Luc ; Fregonese, Sébastien
Dans : IEEE International Conference on Signals, Systems, Decision and Information Technology, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181986

Modèle Comportemental VHDL-AMS d'un Amplificateur CMOS à Transconductance: Application à la conception de filtres
Mongellaz, Benoit ; Schmitt, Anne ; Lewis, Noëlle ; Marc, François ; Danto, Yves
Dans : SETIT 2003, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181901

Dynamic Behavior of a Chemical Sensor for Real-Time Measurement of Humidity Variations in Human Breath
Tetelin, Angélique ; Pouget, Vincent ; Lachaud, Jean-Luc ; Pellet, Claude
Dans : 20th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183123

2002


Caractérisation à distance de circuits radiofréquences
Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Devreese, Regis ; Faurens, Christian
Dans : Septièmes Journées Pédagogiques du CNFM, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179943

A SiGe 4-Gsps 2-Bits Digitizer with 2-4 GHz Input Bandwidth
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : 9th IEEE Proc. Of International Conf. On Electronics, Circuits and Systems (ICECS'2002), (Croatia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183238

A 4 Gsamples/S with 2-4 GHz Input Bandwidth SIGE Digitizer for Radio Astronomy Applications
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : EEE 15th Symposium on Integrated Circuits and System Design (SBCCI 2002), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183236

A SiGe 4-Gsps 2-Bits Digitizer with 2-4 GHz Input Bandwidth
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : 9th IEEE Proc. Of International Conf. On Electronics, Circuits and Systems (ICECS'2002), (Croatia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183222

A 4 Gsamples/S with 2-4 GHz Input Bandwidth SIGE Digitizer for Radio Astronomy Applications
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : EEE 15th Symposium on Integrated Circuits and System Design (SBCCI 2002), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183220

Evidence of surface trap effects on pseudomorphic HEMT submitted to impact ionization stresses
Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Lambert, Benoit ; Touboul, Andre ; Pataud, Gérard
Dans : GAAS 2002, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183511

Fiabilité du TBH à double hétérojonction sur InP : Résultats préliminaires
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Kahn, M. ; Godin, Jean
Dans : Journées Nationales Microélectronique Optoélectronique 2002, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183473

Modeling the self-heating effect in SiGe HBTs
Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas ; Battaglia, Jean Luc ; Ardouin, Bertrand
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203970

A new approach for modelling the thermal behaviour of bipolar transistors
Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas ; Battaglia, Jean Luc ; Ardouin, Bertrand ; Berger, Dominique ; Celi, D.
Dans : IEEE International Caracas Conference on devices, circuits ans systems, (Venezuela)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203969

2001


Transit Time Parameter Extraction for the HICUM Bipolar Compact Model
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Berger, Dominique ; Celi, D. ; Mnif, Hassene ; Burdeau, T. ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203974

Direct Method for Bipolar Base-Emitter and Base-Collector Capacitance Splitting using High Frequency Measurements
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hassene ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203972

Bipolar Transistor's Intrinsic and Extrinsic Capacitance Determination
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hassene ; Fouillat, Pascal ; Berger, Dominique ; Celi, D.
Dans : SISPAD 2001, International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203971

Clock Generator Using Factorial DLL for Video Applications
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Mazouffre, Olivier ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Benoit, E. ; Mendoza, J.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183241

Clock Generator Using Factorial DLL for Video Applications
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Mazouffre, Olivier ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Benoit, E. ; Mendoza, J.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183225

VHDL-AMS for mixed technology and mixed signal, an overview
Charlot, Jean Jacques ; Lewis, Noëlle ; Zimmer, Thomas ; Levi, Herve
Dans : 9th Mediterranean Conference on Control and Automation, MED 01, (Croatia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203975

Single-event Sensitivity of a single SRAM cell
Darracq, Frédéric ; Beauchene, Thomas ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : RADECS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185411

Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose Rate Hardened Linear Integrated Circuits
Deval, Yann ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J. ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Schrimpf, Rd
Dans : European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184303

L'ionisation par impact dans un HEMT pseudomorphique sur GaAs
Lambert, Benoit ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : Journées Nationales de Microélectronique et Optoélectronique, JNMO, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183516

LF gate noise in P-HEMT in impact ionization regime
Lambert, Benoit ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : 16th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183515

Influence of thermal and impact ionization stresses on AlGaAs/InGaAs HEMT DC performances
Lambert, Benoit ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Huguet, Pierre
Dans : International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183514

Analysis of LF noise evolution in power HEMT after DC step lifetests
Lambert, Benoit ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Huguet, Pierre ; Pataud, Gérard
Dans : 16th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183513

Analyse du bruit de grille aux basses fréquences des transistors à effet de champ de puissance sur GaAs
Lambert, Benoit ; Verdier, Frédéric ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (Ed. Hermes), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183512

Test de circuits intégrés par faisceau laser pulsé
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185412

A New Laser System for X-Rays Flashes Sensitivity Evaluation
Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Deval, Yann ; Maidon, Yvan ; Darracq, Frédéric ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal
Dans : Proc. of the 7th IEEE International On-Line Testing Workshop, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184302

Experimental Evidence of Impact Ionisation in InP HBT's Designed for Rapid Digital Applications:Implementation in a DC Model
Maneux, Cristell ; MARTIN, Jean-Christophe ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Riet, Muriel ; Benchimol, Jean-Louis
Dans : ESSDERC, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183474

A CMOS VLSI Delay Oriented Waveform Converter Dedicated to the Synthesizer of an UMTS Transceiver
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183239

A CMOS VLSI Delay Oriented Waveform Converter Dedicated to the Synthesizer of an UMTS Transceiver
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183223

A VLSI CMOS 2 GHz active load body effect mixer
Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Proceedings of the Design of Circuits and Integrated Systems Conf. (DCIS'2001), (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183240

A VLSI CMOS 2 GHz active load body effect mixer
Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Proceedings of the Design of Circuits and Integrated Systems Conf. (DCIS'2001), (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183224

Transistor model parameter determination with non-conventional optimisation algorithms
Zimmer, Thomas ; Ardouin, Bertrand ; Franze, Francesco ; Berger, Dominique ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Electron Devices Conference, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203973

2000


Speaking VHDL-AMS, a Newly Standarized Description Language, for Teaching Mixed Technology and Mixed Signal Systems
Charlot, Jean Jacques ; Oudinot, Jean ; Lewis, Noëlle ; Zimmer, Thomas ; Levi, Herve
Dans : International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training, ITHET 2000, (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203977

A Systematic Approach for the Behavioural Modelling of Analogue Integrated Systems
Fakhfakh, Ahmed ; Lewis, Noëlle ; Levi, Herve ; Zimmer, Thomas
Dans : International Conference on Artificial and Computational Intelligence For Decision, Control and Automation In Engineering and Industrial Applications, ACIDCA 2000, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203976

RETWINE : A Experience in Teleinstrumentation by the web
Kadionik, Patrice ; Zimmer, Thomas ; Danto, Yves
Dans : COST254: Intelligent Terminals Workshop on friendly Exchanging through the Net, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183061

Breakdown voltage of AlGaAs/InGaAs HEMT submitted to life-tests in impact ionization regime
Lambert, Benoit ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Huguet, Pierre
Dans : IEEE GaAs Reliability Workshop, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183517

Genetic Algorithm Optimisation for Evanescent Mode Waveguide Filter Design
Lecouve, Marc ; Jarry, Pierre ; Kerherve, Eric ; Boutheiller, Nicolas ; Marc, François
Dans : 2000 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. Emerging Technologies for the 21st Century, (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181906

CAD of evanescent mode waveguide filter with genetic algorithm optimization
Lecouve, Marc ; Boutheiller, Nicolas ; Jarry, Pierre ; Kerherve, Eric ; Marc, François
Dans : IEEE Microwaves Symposium 2000, (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181905

Algorithme génétique adapté à la conception d'un filtre en guide d'ondes à modes évanescents
Lecouve, Marc ; Boutheiller, Nicolas ; Jarry, Pierre ; Kerherve, Eric ; Marc, François
Dans : NUMELEC'2000, Conférence Européenne sur les Méthodes Numériques en Electromagnétisme, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181904

An Overview of the Applications of a Pulsed Laser System for SEU Testing
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Sarger, L. ; Roche, Fernand-Michel ; Ecoffet, R.
Dans : 6th IEEE International On Line Testing Workshop, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185413

1999


Using VHDL-AMS to build a specific analogue behavioural model library
Lewis, Noëlle ; Charlot, Jean Jacques ; Levi, Herve ; Zimmer, Thomas ; Laflaquiere, Arnaud
Dans : International Forum on Design Languages, FDL 99, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203980

Comparing four analog HDL modelings and simulations of a complex system
Lewis, Noëlle ; Charlot, Jean Jacques ; Zimmer, Thomas ; Levi, Herve ; Laflaquiere, Arnaud
Dans : IEEE/ACM International Workshop on Behavioral Modeling And Simulation, BMAS 99, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203978

Investigation on GaAs power MESFETs submitted to RF life-test by LF noise and drain current transient analysis
Malbert, Nathalie ; Lambert, Benoit ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; K.J. Vandamme, Lode ; Huguet, Pierre ; Auxemery, P. ; Garat, François
Dans : IEEE GaAs Reliability Workshop, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183476

TBH GaInP/GaAs planar : Analyse de deux mécanismes de défaillances
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Riet, Muriel ; Scavennec, André
Dans : Journées Nationales Microélectroniques et optoélectroniques, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183479

Reliability evaluation of GaAs HBT technologies
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Dumas, Jean-Michel ; Riet, Muriel ; Scavennec, André
Dans : IEEE International Symposium on Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications, (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183478

Reliability evaluation of GaAs HBT technologies
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Dumas, Jean-Michel
Dans : Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183477

Analysis of Two Degradation Mechanisms in GaInP/GaAs Fully Planar HBT Technology
Maneux, Cristell ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Riet, Muriel ; Scavennec, André
Dans : State-Of-The-Art Program on compound Semiconductros XXX, Ed. Electrochem. Soc, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183475

A New SPICE Model Dedicated to the Analysis of the Transient Response of Irradiated MOSFETS for On Line Testing
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : 5th IEEE International On Line Testing Workshop, (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185414

SPICE Modeling of the Transient Response of Irradiated MOSFETs
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : 5th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184305

Hierarchical Analogue Design and Behavioral Modelling
Zimmer, Thomas ; Lewis, Noëlle ; Fakhfakh, Ahmed ; Ardouin, Bertrand ; Levi, Herve ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronic Systems Education Conference, MSE99, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203979

1998


Evolution of base current in C-In doped GaInP/GaAs HBT under current induced stress
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : European Solid State Device Research Conference (Ed. Frontières), ESSDERC, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183480

New Capabilities for SEE Testing with a Femtosecond Pulsed Laser System
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185416

Elaboration of a New Pulsed Laser System for SEE Testing
Pouget, Vincent ; Calin, T. ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Velazco, R. ; Maidon, Yvan ; Sarger, L.
Dans : 4th IEEE International On Line Testing Workshop, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185415

1997


Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Tregon, Bernard ; Marc, François ; Danto, Yves ; Kertesz, Philippe
Dans : ESREF 97, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181907

Simulation d upsets dans une mémoire SRAM CMOS utilisant des capteurs de courant intégrés
Calin, T. ; Lapuyade, Hervé ; Nicolaidis, Michael ; Velazco, R. ; Fouillat, Pascal
Dans : Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185417

Instrumentation virtuelle sur le World Wide Web pour faire des mesures réelles
Kadionik, Patrice ; Zimmer, Thomas ; Danto, Yves
Dans : CETSIS: Colloque sur l Enseignement des Technologies et des Sciences de l Information et des Systèmes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183007

Experimental analysis and 2D simulation of AlGaAs/GaAs HBT base leakage current
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Saysset, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : ESREF'97, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183483

Evaluation de la fiabilité du TBH GaAs : justification d'un protocole expérimental spécifique
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Saysset, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Dangla, Jean ; Launay, P. ; Dumas, Jean-Michel
Dans : Journée TBH dans le cadre des Journées Microélectronique et Optoélectronique III-V, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183482

Analysis of GaAs HBT failure mechanisms : impact on the life testing strategy
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Saysset, Nathalie ; Danto, Yves ; Dangla, Jean ; Launay, P. ; Dumas, Jean-Michel
Dans : International Symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183481

Evaluation of ÑH and N parameters of conventional and pseudomorphic HEMTs L.F. noise
Saysset, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f fluctuations ICNF¡¦97, (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183568

Efficiency of trap detection in HEMTs by DCTS combined with LF noise analysis
Saysset, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations ICNF'97, (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183519

Applications of trap characterization in III-V devices : modeling and/or technological improvement
Saysset, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : ESA Electronic Components Conference EECC'97, (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183518

1996


Low frequency noise and pulse response of GaAs PHEMTs submitted to hot electrons stress
Cova, Paolo ; Boselli, Gianlucca ; Menozzi, Roberto ; Fantini, Fausto ; Saysset, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : Worshop onHeterostructures Technology - HETECH, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183563

Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 5th European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Electronic Devices, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185418

Built-In Laser Sensitive Cells For a New Testing Technique
Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 2nd IEEE International On-Line Testing Workshop, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185419

Complementary of drain current transient spectroscopy (DCTS) and G.R. noise analysis to detect traps in HEMTs
Saysset, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : European Solid State Device Research Conference, ESSDERC'96, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183562

Caractérisation d'un dysfonctionnement du HEMT et impact sur une application système
Saysset, Nathalie ; Dumas, Jean-Michel ; Labat, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : 5ème atelier du cercle thématique 21.70/SEE, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183484

1995


Numerical Modelling of Mechanisms involved in Latchup Triggering by a Laser Beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul ; Gaillard, R.
Dans : Proc. of the Third European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185422

A microcontroller failure analysis using a LASER beam latchup triggering technique
Fouillat, Pascal ; Le Calve, Jean-Edmond ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 6th European Symposium on Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185420

Design For Testability of Built-In Laser Sensitive Cells
Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Maidon, Yvan ; Tomas, Jean ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 6th European Symposium Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185421

Analysis of drain current transients and L.F. channel noise to detect deep levels in HEMTs
Saysset, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : International Workshop on Noise and Reliability of Semiconductor Devices, (Czech Republic)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183564

Quality evaluation of S-HEMTs and PM-HEMTs by drain current transients and L.F. channel noise analysis
Saysset, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : ESREF'95, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183486

Comparison of 1/f noise sources in single-well and pseudomorphic HEMTs
Saysset, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations ICNF'95,, (Lithuania)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183485

1994


Electrical response of screen-printed varistors to transient overvoltages
Gouverneur, Sandrine ; Lucat, Claude ; Menil, Francis ; Verdier, Frédéric ; Touboul, Andre ; Aucouturier, Jean-Louis ; Pinel, J.
Dans : Lightnings and Mountains, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203780

Les besoins du test interne pour la localisation de défauts
Marc, François
Dans : S.E.E. Cercle thématique 21-70 - Localisation des défauts sur circuits intégrés, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181908

Quality evaluation of AlGaAs/GaAs and AlGaAs/InGaAs/GaAs HEMTs by LF excess noise analysis
Saysset, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : ESREF'94, (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183489

Comparaison de HEMTs AlGaAs/GaAs et AlGaAs/InGaAs par l'analyse du bruit basses fréquences
Saysset, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Touboul, Andre ; Danto, Yves ; Dumas, Jean-Michel
Dans : Journées Microélectronique et Optoélectronique III-V, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183488

Analyse technologique de composants GaAs : méthodologie - complémentarité avec la caractérisation électrique
Saysset, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Danto, Yves
Dans : 4ème atelier du cercle thématique 21.70/SEE, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183487

Evaluation of low voltage ZnO varistors quality by low frequency noise characteristics
Verdier, Frédéric ; Gouverneur, Sandrine ; Lucat, Claude ; Touboul, Andre
Dans : ESREF 94, (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203781

1993


Investigations on the origin of AlGaAs/GaAs HEMTs LF channel noise
Labat, Nathalie ; Saysset, Nathalie ; Ouro Bodi, Dissadama ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : Proc. of International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183565

approach of integrated circuits failure location by voltage contrast in a scanning electron microscope
Marc, François ; Fremont, Hélène ; Jounet, Paul ; Danto, Yves ; Barre, M. ; Nouet, C.
Dans : ESREF, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181909
Conference with proceedings (international) → 251 Show

2019


Physical, small-signal and pulsed thermal impedance characterization of multi-finger SiGe HBTs close to the SOA edges
Couret, Marine ; Fischer, Gerhard ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell
Dans : 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Kita-Kyushu City (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02276656

Study of a THz Hollow-core Fiber for Sample Reflectance Analysis
Pan, Mingming ; Cordeiro, Cristiano ; Fauquet, Frederic ; Mounaix, Patrick ; Rodrigues, Gildo ; Franco, Marcos ; Guillet, Jean-Paul
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350784

On the Variation in Short-Open De-embedded S-parameter Measurement of SiGe HBT upto 500 GHz
Yadav, Chandan ; Fregonese, Sebastien ; DENG, Marina ; Cabbia, Marco ; De Matos, Magali ; Zimmer, Thomas
Dans : 2019 12th German Microwave Conference (GeMiC), Stuttgart (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02305963

Analysis of Test Structure Design Induced Variation in on Si On-wafer TRL Calibration in sub-THz
Yadav, Chandan ; Fregonese, Sebastien ; DENG, Marina ; Cabbia, Marco ; De Matos, Magali ; Jaoul, Mathieu ; Zimmer, Thomas
Dans : 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Kita-Kyushu City (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02163807

2018


A Solid-State 0.56 THz Near-Field Array for μM-Scale Surface Imaging
Hillger, Philipp ; Jain, Ritesh ; Grzyb, Janusz ; Mavarani, Laven ; Bucher, Thomas ; Pfeiffer, Ullrich ; MacGrogan, Gaëtan ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Nagoya (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923726

Investigation of the trap-limited transient response of GaN HEMTs
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : 2018 Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-wave Circuits Workshop, Brives (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01851997

Comprehensive study into underlying mechanisms of anomalous gate leakage degradation in GaN HEMTs
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : 2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Burlingham (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01787593

Investigation of Trapping Behaviour in GaN HEMTs through physical TCAD Simulation of Capacitance Voltage characteristics
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : EuroSimE 2018, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718857

Towards industrial applications of terahertz real-time imaging
Mounaix, Patrick ; Simoens, François ; Dussopt, Laurent ; Meilhan, Jérôme ; Nicolas, Nicolas ; Monnier, Nicolas ; Siligaris, Alexandre ; Hiberty, Bruno ; Perraud, Jean-Baptiste ; Lalanne-Dera, Jérémy ; Redon, Olivier ; Sadwick, Laurence ; Yang, Tianxin
Dans : Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI, San Francisco (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01734577

Impact of on-Silicon De-Embedding Test Structures and RF Probes Design in the Sub-THz Range
Yadav, Chandan ; DENG, Marina ; Fregonese, Sebastien ; De Matos, Magali ; Plano, Bernard ; Zimmer, Thomas
Dans : 2018 48th European Microwave Conference (EuMC), Madrid (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01985501

Importance of complete characterization setup on on-wafer TRL calibration in sub-THz range
Yadav, Chandan ; DENG, Marina ; De Matos, Magali ; Fregonese, Sébastien ; Zimmer, Thomas
Dans : 2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Austin (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01838050

2017


Terahertz Biomedical Imaging: From Multivariate Analysis and Detection to Material Parameter Extraction
Amel, Al-Ibadi ; Bou-Sleiman, Joyce ; Quentin, Cassar ; Macgrogan, Gaëtan ; Balacey, Hugo ; Thomas, Zimmer ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS), Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546451

Extracting the temperature dependence of thermal resistance from temperature-controlled DC measurements of sige HBTs
Balanethiram, Suresh ; D'Esposito, Rosario ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Berkner, Jorg ; Céli, Didier
Dans : 2017 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), Miami (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695326

Phase uncertainty in different THz time-domain spectrometers
Bernier, Maxime ; Garet, Frédéric ; Coutaz, Jean-Louis ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : 2017 42nd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Cancun (Mexico)
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02009670

Design of Silicon On-Wafer Sub-THz Calibration Kit
DENG, Marina ; Fregonese, Sebastien ; Céli, Didier ; Chevalier, Pascal ; De Matos, Magali ; Zimmer, Thomas
Dans : 2017 Mediterranean Microwave Symposium (MMS), Marseille (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01985481

Agar and Silica Gel Based Biotissue-mimicking Phantoms in THz Frequency Range
Evgeniy, Odlyanitskiy ; Olga, Smolyanskaya ; Kravtsenyuk, O ; Guillet, Jean-Paul ; A, Popov ; Mikhail, Khodzitsky
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium - Spring (PIERS), Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546453

HOBIT: Hybrid Optical Bench for Innovative Teaching
Furio, David ; Fleck, Stéphanie ; Bousquet, Bruno ; Guillet, Jean-Paul ; Canioni, Lionel ; Hachet, Martin
Dans : CHI'17 - Proceedings of the 2017 CHI Conference on Human Factors in Computing Systems, Denver (United States)
https://hal.inria.fr/hal-01455510

Art Painting Testing with Terahertz Pulse and Frequency Modulated Continuous Wave
Guillet, Jean-Paul ; Roux, Marie ; Wang, Kejian ; Ma, Xue ; Fauquet, Frederic ; Darracq, Frederic ; Mounaix, Patrick
Dans : 2017 Progress In Electromagnetics Research Symposium, Saint Petersbourg (Russia)
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01546450

Class-J Power Amplifier for 5G Applications in 28nm CMOS FD-SOI Technology
Hanna, Tony ; Deltimple, Nathalie ; Fregonese, Sebastien
Dans : SBCCI 2017, Fortaleza (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01618189

Avalanche compact model featuring SiGe HBTs characteristics up to BVcbo
Jaoul, Mathieu ; Céli, Didier ; Maneux, Cristell ; Schroter, Michael ; Pawlak, Andreas
Dans : ESSDERC 2017 - 47th IEEE European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), Leuven (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695262

THz Tomography and image processing: a new tool for polymer and ceramic additive manufacturing quality control
Mounaix, Patrick
Dans : 15th ASIA PACIFIC CONFERENCE FOR NON-DESTRUCTIVE TESTING (APCNDT) , singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653651

Terahertz Paint Thickness Measurements : from lab to automotive and aeronautics Industry
Mounaix, Patrick
Dans : 5th ASIA PACIFIC CONFERENCE FOR NON-DESTRUCTIVE TESTING (APCNDT), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653647

1/f Noise in 3D vertical gate-all-around junction-less silicon nanowire transistors
Mukherjee, Chhandak ; Maneux, Cristell ; Pezard, Julien ; Larrieu, Guilhem
Dans : 47th IEEE ESSDERC, Leuven (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695259

2016


Physics-based electrical compact model for monolayer Graphene FETs
Aguirre-Morales, Jorge Daniel ; Fregonese, Sebastien ; Mukherjee, Chhandak ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas ; Wei, Wei ; Happy, Henri
Dans : Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2016 46th European, Lausanne (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399868

An improved scalable self-consistent iterative model for thermal resistance in SiGe HBTs
Balanethiram, Suresh ; Chakravorty, Anjan ; Esposito, Rosario ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), 2016 IEEE, New Brunswick (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399878

Dedicated test-structures for investigation of the thermal impact of the BEOL in advanced SiGe HBTs in time and frequency domain
D'Esposito, Rosario ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Chakravorty, Anjan
Dans : 2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Yokohama (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399905

Frequency modulated continuous wave terahertz imaging for art restoration
Guillet, Jean-Paul ; Wang, Kejian ; Roux, Marie ; Fauquet, Frederic ; Darracq, Frédéric ; Mounaix, Patrick
Dans : IRMMW 2016, Copenhagen (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01418837

Bulk rigid terahertz metamaterials based on dielectric microspheres
Mounaix, Patrick ; Kadlec, C. ; Elissalde, Catherine ; Dominec, Filip ; Nemec, H. ; Kuzel, P.
Dans : TST 2016 , Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404436

Automated Data And Image Processing For Biomedical Sample Analysis
Mounaix, Patrick ; Balacey, Hugo ; Guillet, Jean-Paul ; Pickwell-MacPherson, Emma ; MacGrogan, Gaëtan ; alabadi, amel
Dans : IRRMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404429

Near-field THz Time-domain Spectroscopy Of Anisotropic Dielectric Micro-particles
Mounaix, Patrick ; Matheisen, Christopher ; Brener, Igal ; Khromova, Irina ; Reno, John L. ; Kuzel, P. ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404422

Frequency Modulated Continuous Wave Terahertz Imaging For Art Restoration
Mounaix, Patrick ; Darracq, Frederic ; Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, Frederic ; Roux, Marie ; Wang, Kejian
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404415

Photoconductive Microprobe Based Near-field Scanning Of Terahertz Resonances Of A Single High-index TiO2 Microsphere
Mounaix, Patrick ; Elissalde, Catherine ; Nagel, Michael ; Sawallich, S. ; Matheisen, Christopher
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404349

Extending Terahertz Paint Thickness Measurements To Advanced Industry-Standard Automotive Paint Structures
Mounaix, Patrick ; Gregory, Ian ; Taday, Phil ; May, Robert M.
Dans : IRMMW 2016, copenague (Denmark)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404335

THz tomography and image processing : a new tool for polymer and ceramic additive manufacturing characrerization
Mounaix, Patrick ; obaton, anne françoise ; Balacey, Hugo ; Perraud, Jean Baptiste ; Guillet, Jean-Paul ; Bou-Sleiman, Joyce ; Recur, Benoit
Dans : Pharos event 2016, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404322

Comprehensive study of random telegraph noise in base and collector of advanced SiGe HBT: Bias, geometry and trap locations
Mukherjee, C. ; Jacquet, T. ; Zimmer, T. ; Maneux, C. ; Chakravorty, A. ; Boeck, J. ; AUFINGER, K.
Dans : ESSDERC 2016 - 46th European Solid-State Device Research Conference, Lausanne (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695274

Modelling delay degradation due to NBTI in FPGA Look-up tables
Naouss, Mohammad ; MARC, François
Dans : 26th International Conference on Field Programmable Logic and Applications (FPL 2016) , Lausanne (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01661828

A Test Structure Set for on-wafer 3D-TRL calibration
Potéreau, Manuel ; Curutchet, Arnaud ; D'Esposito, Rosario ; De Matos, Magali ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : 2016 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS), Yokohama (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399900

Meander type transmission line design for on-wafer TRL calibration
Potéreau, Manuel ; Deng, Marina ; Raya, C ; Ardouin, Bertrand ; Aufinger, Klaus ; Ayela, Cédric ; Dematos, Magalie ; Curutchet, Arnaud ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : EuMW 2016, Londres (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01301312

Advanced Si/SiGe HBT architecture for 28-nm FD-SOI BiCMOS
Vu, Tuan Van ; Celi, Didier ; Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sebastien ; Chevalier, Pascal
Dans : Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), 2016 IEEE, New Brunswick (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399885

TCAD Calibration of High-Speed Si/SiGe HBTs in 55-nm BiCMOS
VU, T. ; Celi, D. ; Zimmer, T. ; Fregonese, S. ; Chevalier, P.
Dans : PriMe 2016, Honolulu (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399104

2015


A new physics-based compact model for Bilayer Graphene Field-Effect Transistors
Aguirre-Morales, Jorgue Daniel ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : Proceeding of the Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2015 45th European, Gratz (Austria)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01235950

Towards amplifier design with a SiC graphene field-effect transistor
Aguirre-Morales, Jorgue Daniel ; Frégonèse, Sébastien ; Dwivedi, Arun Dev Dhar ; Zimmer, Thomas
Dans : Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on, Bologna (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01158691

Efficient modeling of static self-heating and thermal-coupling in multi-finger SiGe HBTs
Balanethiram, Suresh ; Chakravorty, Anjan ; D'Esposito, Rosario ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting-BCTM, 2015 IEEE, Boston (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399911

Discrimination and identification of RDX/PETN explosives by chemometrics applied to terahertz time-domain spectral imaging
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Bousquet, Bruno ; Guillet, Jean-Paul ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : VIII Millimetre Wave and Terahertz Sensors and Technology conference, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263937

Chemical imaging and quantification of RDX/PETN mixtures by PLS applied on terahertz time-domain spectroscopy
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), 2015, Hong Kong (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263833

Early Demonstration of a High VSWR Microwave Coaxial Programmable Impedance Tuner with Coaxial Slugs
Curutchet, Arnaud ; Ghiotto, Anthony ; Potereau, Manuel ; De Matos, Magali ; Fregonese, Sebastien ; Kerherve, Eric ; Thomas, Zimmer
Dans : EUMW2015, PARIS (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163596

Correlation between Forward-Reverse Low-Frequency Noise and atypical I-V signatures in 980nm High-Power Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Bechou, Laurent
Dans : ESREF, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219200

Original Screening Methodology based on Correlation betweenLow-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behaviorof GaAs-based Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : CLEO 2015 (Conference on Lasers and Electro-Optics), munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163620

AMI : Augmented Michelson Interferometer
Furio, David ; Hachet, Martin ; Guillet, Jean-Paul ; Bousquet, Bruno ; Fleck, Stéphanie ; Reuter, Patrick ; Canioni, Lionel
Dans : ETOP 2015 - Education and Training in Optics & Photonics, Bordeaux (France)
https://hal.inria.fr/hal-01121917

Etude de l’effet « belly shape » dans les HEMT GaN sur substrat SiC
Malbert, Nathalie ; Brunel, Laurent ; Carisetti, Dominique ; Curutchet, Arnaud ; Lambert, Benoit ; Labat, Nathalie
Dans : JFMMA 2015, meknes (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163624

Near-field spectroscopy of sub-wavelength (<λ/10) anisotropic dielectric resonators at terahertz frequencies
Mitrofanov, Oleg ; Khromova, Irina ; Dominec, F. ; Kuzel, P. ; Reno, JL ; Brener, Igal ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mounaix, Patrick
Dans : 2015 European Conference on Lasers and Electro-Optics, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264060

Magnetic dipole and electric dipole resonances in TiO2 microspheres at terahertz frequencies
Mitrofanov, Oleg ; Domenic, Filip ; Kuzel, P. ; Reno, John ; Brener, Igal ; Chung, U-Chan ; Elissalde, Catherine ; Maglione, Mario ; Mounaix, Patrick
Dans : Quantum Sensing and Nanophotonic Devices XII,, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263842

Characterization and modeling of low-frequency noise in CVD-grown graphene FETs
Mukherjee, Chhandak ; Aguirre-Morales, Jorgue-Daniel ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell ; Happy, Henri ; Wei, Wei
Dans : proceeding of the Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2015 45th European, Gratz (Austria)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01235951

Metrological Evaluation of Tomography Methods Applied to Objects Fabricated by Additive Manufacturing
Obaton, Anne-Françoise ; Costin, Marius ; Mounaix, Patrick ; Geffrin, Jean Michel ; Eyraud, Christelle ; Souvignet, Christelle ; Moschetta, Jean-Marc
Dans : International symposium on Digital Industrial radiology and computed tomography, Ghent (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264659

Immersion in refractive index matching liquid for 2D and 3D terahertz imaging
Perraud, JB ; Bou Sleiman, Joyce ; Simoens, François ; Mounaix, Patrick
Dans : 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), Hong Kong (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01263947

New 3D-TRL structures for on-wafer calibration for high frequency S-parameter measurement
Potereau, Manuel ; Fregonese, Sebastien ; Curutchet, Arnaud ; Baureis, Peter ; Zimmer, Thomas
Dans : EUMW2015, PARIS (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163593

Calibration of 1D doping profiles of SiGe HBTs
Rosenbaum, T. ; Saxod, O. ; Vu, V. ; Celi, D. ; Chevalier, P. ; Schroter, M. ; Maneux, C.
Dans : 2015 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting - BCTM, Boston (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695279

Schottky gate of AlGaN/GaN HEMTs: investigation with DC and low frequency noise measurements after 7000 hours HTOL test
Rzin, Mehdi ; Curutchet, Arnaud ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Brunel, Laurent ; Lambert, Benoit
Dans : 23rd International conference on noise and fluctuations (ICNF2015), Xi'AN (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163601

THz response of TiO2 microspheres embedded in a dielectric layer
Sindler, Michal ; Kadlec, C ; Nemec, H. ; Dominec, F. ; Kuzel, P. ; Elissalde, Catherine ; Chung, U-C ; Mounaix, Patrick
Dans : 40th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz), Hong Kong (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264034

Impact study of the process thermal budget of advanced CMOS nodes on SiGe HBT performance
Vu, Tuan Van ; Rosenbaum, Tommy ; Saxod, O. ; Céli, Didier ; Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sebastien ; Chevalier, Pascal
Dans : Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting-BCTM, 2015 IEEE, Boston (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399915

2014


Processing sequence for non-destructive inspection based on 3D terahertz images
Balacey, Hugo ; Jean-Baptiste, Perraud ; Bou Sleiman, Joyce ; Guillet, Jean-Paul ; Recur, Benoît ; Mounaix, Patrick
Dans : Infrared, Millimeter-Wave, and Terahertz Technologies III, Beijing (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091194

Qualitative Assessment of Epitaxial Graphene FETs on SiC Substrates via Pulsed Measurements and Temperature Variation
Chhandak, Mukherjee ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Happy, H. ; MELE, David ; Maneux, Cristell
Dans : Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2014, 44th European, Venise (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01090864

A study on transient intra-device thermal coupling in multifinger SiGe HBTs
D'Esposito, Rosario ; Weiß, Mario ; Kumar Sahoo, Amit ; Frégonèse, Sébastien ; T., Zimmer
Dans : Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), 2014 IEEE, Coronado, CA (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01158666

Improved integrated circuits qualification using dynamic laser stimulation technique
Deyine, Amjad ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Battistella, F. ; Lewis, D.
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, Montreal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988351

Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Lewis, Dean
Dans : 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091188

Temperature Effect on Reflected Laser Probing Signal of Multiple Elementary Substructures
Rebai, Mohamed ; Darracq, Frédéric ; Guillet, Jean-Paul ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kévin ; Lewis, D.
Dans : 21th International symposium on the Physical and Failure Analysis of integrated circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01020683

Evaluation and Modeling of Voltage Stress-Induced Hot Carrier Effects in High-Speed SiGe HBTs
Sasso, G. ; C., Maneux ; Boeck, J. ; D'Alessandro, V. ; AUFINGER, K. ; Rinaldi, N. ; Zimmer, T.
Dans : Compound Semiconductor Integrated Circuit Symposium (CSICs), 2014 IEEE, La Jolla (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01134190

Extraction Procedure for Emitter Series Resistance Contributions in SiGeC BiCMOS Technologies
Stein, F. ; Huszka, Z. ; Derrier, N. ; Maneux, C. ; Celi, D.
Dans : IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00987233

Evaluation Plan of a network of remote labs in the Maghrebian countries
Tsiatsos, T. ; Douka, S. ; Zimmer, T. ; Geoffroy, D.
Dans : Conference REV 2014, porto (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002476

2013


A new processing sequence to assess airways using 3D CT-scan
Balacey, Hugo ; Dournes, Gaël ; Desbarats, Pascal ; Domenger, Jean-Philippe ; Laurent, François
Dans : 20th IEEE International Conference on Image Processing (ICIP), Melbourne (Australia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01465173

Thermal Laser Stimulation technique for AlGaN/GaN HEMT technologies improvement
Carisetti, Dominique ; Sarazin, N. ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Lambert, Benoit ; Brunel, Laurent ; Rousseau, K. ; Romain Latu, Eddy ; Frank, Thomas
Dans : ISTFA 2013 ( International Symp. For Testing and Failure Analysis), San Jose (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00989606

A one week-lecture in the Euro-dots course program: Microelectronic assemblies: From packaging to reliability
Debéda, H. ; Favre, I. ; Guédon-Gracia, A. ; Labat, N. ; Plano, B. ; Frémont, H.
Dans : 24th EAEEIE Annual Conference, (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905901

Failure initiation of IGBT due to emitter contact degradation: a 2D finite elements electro-thermal multi-cell simulation approach under hard switching, short-circuit and avalanche operations
El Boubkari, Kamal ; Azzopardi, Stephane ; Théolier, Loïc ; Roder, Raphaël ; Woirgard, Eric ; Bontemps, Serge
Dans : IEEE Applied Power Electronics Conference (APEC), Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00955738

Analysis of Short-Term NBTI Effect on the Single-Event Upset Sensitivity of a 65nm SRAM using Two-Photon Absorption
Issam, El Moukthari ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Larue, Camille ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe
Dans : 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091193

Gate and drain low frequency noise of ALGaN/GaN HEMTs featuring high and low gate leakage currents
Karboyan, Serge ; Tartarin, Jean-Guy ; Labat, N ; Lambert, B.
Dans : 22nd International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF 2013), Montpellier (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01343429

Simultaneous gene selection and cancer classification using a hybrid Group Search Optimizer
Magatrao, D. ; Ghosh, S. ; Valadi, J. ; Siarry, P.
Dans : Genetic and Evolutionary Computation Conference GECCO 2013, Abstract (2 pages), Amsterdam, the (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01682060

High frequency noise characterisation of graphene FET Device
MELE, D. ; Fregonese, S. ; Lepilliet, S. ; Pichonat, E. ; Dambrine, G. ; Happy, H.
Dans : 61st IEEE MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2013, Seattle, WA (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00944030

Limitations of on-wafer calibration and de-embedding methods in the sub-THz range
Potereau, M. ; Raya, C. ; De Matos, Magali ; Fregonese, Sébastien ; Curutchet, Arnaud ; Zhang, M. ; Ardouin, B. ; Zimmer, Thomas
Dans : ECC 2013 conference, Sanya (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00909399

How to Interpret the Reflected Laser Probe Signal of Multiple Elementary Substructures in Very Deep Submicron Technologies
Rebai, Mohamed Mehdi ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kévin
Dans : 39th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2013), San José (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00903364

Investigation of gate and drain leakage currents of AlGaN/GaN HEMTs at subthreshold regime for temperature range 300K - 400K
Rzin, Mehdi ; Curutchet, Arnaud ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Brunel, Laurent ; Lambert, Benoit
Dans : European Microwave week (EuMIC 2013), Nüremberg (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00987798

Analyse électrique des courants de fuite de HEMTs AlGaN/GaN sur SiC
Rzin, Mehdi ; Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Brunel, Laurent ; Lambert, Benoit
Dans : Journées Nationales Microondes (JNM) 2013, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00987763

Impact of Back-end-of-line on Thermal Impedance in SiGe HBTs
Sahoo Amit, Kumar ; Fregonese, Sébastien ; Weib, Mario ; Santorelli, Marco ; Malbert, Nathalie ; Zimmer, Thomas
Dans : SISPAD 2013, Glasgow - Ecosse (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00906141

A Scalable Model for Temperature Dependent Thermal Resistance of SiGe HBTs
Sahoo Amit, Kumar ; Fregonese, Sebastien ; Weib, Mario ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Bipolar / BiCMOS Circuits and Technology Meeting, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905673

A physical prediction model issued from TCAD investigations for single event burnout in power MOSFETs
Sara, Siconolfi ; Guillaume, Hubert ; Laurent, Artola ; Darracq, Frédéric ; Jean Pierre, David
Dans : 14th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091195

Robustness of the Base Resistance Extraction Method for SiGe HBT Devices
Stein, F. ; Celi, Didier ; Maneux, Cristell ; Derrier, N. ; Chevalier, P.
Dans : ISCDG 2013, Dresden (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905789

Advanced Extraction Procedure for Parasitic Collector Series Resistance Contributions in High-Speed BiCMOS Technologies
Stein, F. ; Derrier, N. ; Maneux, Cristell ; Celi, Didier
Dans : IEEE Bipolar / BiCMOS Circuits and Technology Meeting, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905747

Investigation of the Base Resistance Contributions in SiGe HBT Devices
Stein, F. ; Celi, Didier ; Maneux, Cristell ; Derrier, N. ; Chevalier, P.
Dans : CAS 2013, Bucarest (Romania)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905654

Modeling of mutual thermal coupling in SiGe:C HBTs
Weib, Mario ; Sahoo Amit, Kumar ; Maneux, Cristell ; Fregonese, Sébastien ; Zimmer, Thomas
Dans : SBMicro 2013, Curitiba (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905817

Characterization of intra device mutual thermal coupling in multi finger SiGe:C HBTs
Weib, Mario ; Sahoo Amit, Kumar ; Raya, Cristian ; Santorelli, Marco ; Fregonese, Sébastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : EDSSC 2013, Hong Kong (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905765

Mutual thermal coupling in SiGe:C HBTs
Weiß, M. ; Sahoo, A.K. ; Maneux, C. ; Fregonese, S. ; Zimmer, T.
Dans : Chip in Curitiba 2013 - SBMicro 2013: 28th Symposium on Microelectronics Technology and Devices, Curitiba (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00978734

eSience: Setting up a network of remote labs in the Maghrebian countries
Zimmer, T. ; Geoffroy, D. ; Pester, A. ; Oros, R. ; Tsiatsos, T. ; Douka, S.
Dans : iCEER International Conference on Engineering Education and Research, (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002470

The potential of graphene for electronics
Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sébastien ; Maneux, Cristell
Dans : The International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices 2013, Hammamet (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00905774

2012


Analysis of InP/GaAsSb DHBT failure mechanisms under accelerated aging tests
A. Koné, G. ; Grandchamp, B. ; Maneux, C. ; Labat, N. ; Zimmer, T. ; Maher, H.
Dans : International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM), 2012, santa barbara (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002159

Building the electricalmodel of the PhotoelectricLaserStimulation of a NMOS transistor in 90 nm technology
Alexandre, Sarafianos ; Llido, R. ; Dutertre, Jean-Max ; Gagliano, Olivier ; Serradeil, Valérie ; Lisart, Mathieu ; Goubier, V. ; Tria, Assia ; Pouget, Vincent ; Lewis, D.
Dans : 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Phoenix (United States)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742629

Efficient Models for Non-Quasi-Static Effects and Correlated Noise in SiGe HBTs,
Augustine, N. ; Kumar, K. ; Chakravorty, A. ; Bhattacharyya, A. ; Zimmer, T.
Dans : Electron Devices and Solid State Circuit (EDSSC), bangkok (Thailand)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002184

Signal propagation analysis by digital lock-in time resolved imaging
Bascoul, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, D.
Dans : 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2012, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988346

Kink effect characterization in AlGaN/GaN HEMTs by DC and Drain Current Transient measurements
Brunel, Laurent ; Malbert, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Labat, Nathalie ; Lambert, Benoit
Dans : essderc 2012, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00987040

2D finite elements electro-thermal modeling for IGBT: uni and multicellular approach
El Boubkari, Kamal ; Azzopardi, Stephane ; Théolier, Loïc ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : EuroSimE, Lisbone (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00795341

Improving defect localization techniques with laser beam with specific analysis and set-up modules
Llido, R. ; Gomez, J. ; Goubier, V. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D.
Dans : 2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988382

Characterization and TCAD Simulation of 90nm Technology PMOS Transistor Under Continuous Photoelectric Laser Stimulation for Failure Analysis Improvement
Llido, R ; Sarafianos, A ; Gagliano, O ; Serradeil, V ; Goubier, V ; Lisart, M ; Haller, G ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, Assia
Dans : 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Phoenix (United States)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130626

Evaluation of Quasi-Hermetic Packaging Solutions for Active Microwave Devices and Space Applications
Naceur W., Ben ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Fremont, H. ; Muraro, J.L. ; Monfraix, P.
Dans : EuroSimE (2012), (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00799929

On partial differential equations that exhibit fractional behaviors
Sabatier, Jocelyn ; Nguyen, H.C. ; Moreau, Xavier ; Oustaloup, Alain
Dans : 7th Vienna International Conference on Mathematical Modelling, Vienne (Austria)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797594

Building the electrical model of the pulsed photoelectric laser stimulation of an NMOS transistor in 90nm technology
Sarafianos, A ; Llido, R ; Gagliano, O ; Serradeil, V ; Lisart, Mathieu ; Goubier, V. ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, Assia ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean
Dans : 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Phoenix (United States)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130636

Characterization and TCAD simulation of 90 nm technology transistors under continuous photoelectric laser stimulation for failure analysis improvement
Sarafianos, Alexandre ; Llido, R. ; Gagliano, Olivier ; Serradeil, Valérie ; Goubier, V. ; Lisart, M. ; Haller, G. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Dutertre, Jean-Max ; Tria, Assia
Dans : 19th IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS, Singapore (Singapore)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742705

Characterization of Mutual Heating inside a SiGe Ring Oscillator
Weiß, M. ; Ghosh, S. ; Santorelli, M. ; Chevalier, P. ; Chantre, A. ; Kumar Sahoo, A. ; Maneux, C. ; Zimmer, T.
Dans : Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), 2012 IEEE, Portland (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002179

Pulsed I(V) - Pulsed RF Measurement System for Microwave Device Characterization with 80ns/45GHz
Weiß, M. ; Fregonese, Sebastien ; Santorelli, M. ; Kumar Sahoo, A. ; Maneux, C. ; Zimmer, T.
Dans : European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2012, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002174

2011


Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT on Accelerated Aging Tests under Thermal and Electrical stresses
A. Koné, G. ; Grandchamp, B. ; Hainaut, C. ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Labat, N. ; Zimmer, T. ; Nodjiadjim, V. ; Riet, M. ; Godin, J.
Dans : 22th European Symposium on the RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002459

New front side access approach for low-k dielectric/Cu technologies in plastic package
Aubert, A. ; Dantas De Morais, L. ; Pétremont, S. ; Labat, N. ; Frémont, H.
Dans : ISTFA 2011, 37th International Symposium for Testing and Failure Analysis, San Jose (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670567

Time resolved imaging at low power supply on 45nm technology
Bascoul, G. ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Lewis, D. ; Dudit, Sylvain ; Celi, Guillaume
Dans : International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2011, Incheon (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988376

FPGA design with double-gate carbon nanotube transistors
Ben Jamma, Haykel ; Gaillardon, Pierre-Emmanuel ; Fregonese, Sebastien ; De Marchi, Michele ; De Micheli, Giovanni ; Zimmer, Thomas ; Clermidy, Fabien ; O'Connor, Ian
Dans : 10th China Semiconductor Technology International Conference 2011, CSTIC 2011, Shanghai (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669403

Modeling of SiGe spike mono emitter HBT with HICUM in static and dynamic operations
Bhattacharyya, Arkaprava ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : 2011 25th IEEE Bipolar/BiCMOS Technology and Circuits Meeting, BCTM 2011, Atlanta (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669452

Does power device sensitivity to mechanical stress can be used as sensor for power assembly health monitoring?
Capy, Florence ; Azzopardi, Stephane ; El Boubkari, Kama ; Belmehdi, Yassine ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : 3rd IEEE Energy Conversion Congress and Exposition, Phoénix (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00591063

Imaging the Single Event Burnout sensitive volume of vertical power MOSFETs using the laser Two-Photon Absorption technique
Darracq, Frédéric ; Mbaye, Nogaye ; Larue, Camille ; Pouget, V. ; Azzopardi, Stephane ; Lorfèvre, E. ; Bezerra, F. ; Lewis, D.
Dans : 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), Seville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00772102

Investigation of the degradation mechanisms of InP/InGaAs DHBT under bias stress conditions to achieve electrical aging model for circuit design
Ghosh, S. ; Grandchamp, B. ; A. Koné, G. ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Nodjiadjim, V. ; Riet, M. ; Y. Dupuy, J. ; Godin, J.
Dans : 22th European Symposium on the RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002192

Sondes de champ proche THz sensibles à la polarisation
Guillet, J-P. ; Chusseau, L. ; Adam, R. ; Pénarier, A.
Dans : Journée ``Antenne de Champ Proche'' du GDR Ondes, Campus G. Mégie du CNRS, Paris (Unknown Region)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01904167

Transition from rectangular waveguide to Sommerfeld mode on a wire
Guillet, J-P. ; Chusseau, L.
Dans : 6e Journées Térahertz, La Grande Motte (Unknown Region)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01904163

Propagating and coupling Sommerfeld waves on wires
Guillet, J-P. ; Blin, S. ; Chusseau, L.
Dans : 6e Journées Térahertz, La Grande Motte (Unknown Region)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01904162

Millimetric near-field imaging experiment using a transition from rectangular waveguide to cylindrical surface wave guide
Guillet, J-P. ; Chusseau, L.
Dans : ICONIC 2011, 5th International Conference on Electromagnetic Near-Field Characterization and Imaging, Rouen (Unknown Region)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01904160

System Level Analysis and Accurate Prediction of Electromigration
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : European Workshop on CMOS Variability (VARI), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674319

Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/GaAsSb DHBT
Kone, Gilles Amadou ; Ghosh, S. ; Grandchamp, Brice ; Maneux, Cristell ; Marc, François ; Labat, Nathalie ; Zimmer, Thomas ; Maher, H. ; Bourqui, M.L. ; Smith, D.
Dans : International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM 2011), Berlin (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585590

3D current path in stacked devices: Metrics and challenges
Kor, H.B ; Infante, Fulvio ; Perdu, Philippe ; Gan, P. ; Lewis, D.
Dans : International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2011, Incheon (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988371

A new frequency synthesizer stabilization method based on a mixed phase locked loop and delay locked loop
Lucas De Peslouan, Pierre-Olivier ; Majek, Cédric ; Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Belot, Didier
Dans : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Rio de Janeiro (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00583970

A 300 GHz InP/GaAsSb/InP HBT for high data rate applications
Maher, H. ; Delmouly, V. ; ROUCHY, U. ; Renvoise, M. ; Frijlink, P. ; Smith, D. ; Zaknoune, M. ; Ducatteau, D. ; Avramovic, V. ; Scavennec, A. ; Godin, J. ; Riet, M. ; Maneux, C. ; Ardouin, B.
Dans : Conference Proceedings - International Conference on Indium Phosphide and Related Materials, Berlin (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00671674

Carbon-based Schottky barrier transistor: From compact modeling to digital circuit applications
Najari, Montassar ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas ; Masmoudi, Nouri
Dans : 6th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, DTIS'11, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669416

Transistor thermal fractional modeling for junction temperature estimation
Sabatier, Jocelyn ; Farges, Christophe ; Nguyen, H.C. ; Moreau, Xavier ; Delétage, Jean-Yves
Dans : IFAC, Milan (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00668926

Electro-thermal dynamic simulation and thermal spreading impedance modeling of Si-Ge HBTs
Sahoo Amit, Kumar ; Fregonese, Sebastien ; Weib, Mario ; Malbert, Nathalie ; Zimmer, Thomas
Dans : 25th IEEE Bipolar/BiCMOS Technology and Circuits Meeting, BCTM 2011, ATLANTA (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669443

Electro-thermal characterization of Si-Ge HBTs with pulse measurement and transient simulation
Sahoo Amit, Kumar ; Fregonese, Sebastien ; Weib, Mario ; Malbert, Nathalie ; Zimmer, Thomas
Dans : 41st European Solid-State Device Research Conference, Helsinki (Finland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669428

Comparison of classical and two-photon photoelectric laser stimulation capabilities for failure analysis
Shao, Kai ; Pouget, V. ; Faraud, Emeric ; Larue, C. ; Lewis, D.
Dans : 18th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Incheon (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669828

2010


TCAD simulation and development within the European DOTFIVE project on 500GHz SiGe:C HBT's
Al-Sa'Di, Mahmoud ; D'Alessandro, V. ; Fregonese, Sebastien ; Hong, S.M. ; Jungemann, C. ; Maneux, Cristell ; Marano, I. ; Pakfar, A. ; Rinaldi, N. ; Sasso, G. ; Schröter, M. ; Sibaja-Hernandez, A. ; Tavernier, C. ; Wedel, G.
Dans : European Microwave Week 2010: Connecting the World, EuMIC 2010, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584869

Modeling of a novel NPN-SiGe-HBT device structure using strain engineering technology in the collector region for enhanced electrical performance
Al-Sa'Di, Mahmoud ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : 2010 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, Austin (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584860

Modeling of NPN-SiGe-HBT Electrical Performance Improvement through Employing Si3N4 Strain in the Collector Region
Al-Sa'Di, M. ; Fregonese, S. ; Maneux, C. ; Zimmer, T.
Dans : 218th ECS Meeting, Las Vegas (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00526042

TCAD Modeling of NPN-SiGe-HBT Electrical Performance Improvement Through Extrinsic Stress Layer
Al-Sa'Di, M. ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : International Conference on Microelectronics, Nis (Serbia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00488682

Nouvelle préparation d'échantillon pour l'analyse de défaillance de technologie Cu/low-k encapsulée en boitier plastique
Aubert, A. ; Dantas De Morais, L. ; Rebrassé, J.P. ; Fremont, Hélène ; Labat, Nathalie
Dans : Atelier de l'ANADEF, Port d'albret (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585609

Les techniques électro-optique pour l'analyse de défaillance des composants III-V
Bouya, Moshine ; Carisetti, D. ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Perdu, P. ; Clément, J.C.
Dans : Atelier de l'ANADEF, Port d'Albret (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585600

IR and Vis-NIR electroluminescence developments for FA in AlGaN/GaN HEMTs on SiC
Bouya, Moshine ; Carisetti, D. ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Perdu, Philippe ; Clement, J.C.
Dans : 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA), Dallas (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585192

Facing the defect characterization and localization challenges of bridge defects on submicronic technology (45nm and below)
Celi, Guillaume ; Dudit, Sylvain ; Perdu, Philippe ; Reverdy, A. ; Parrassin, T. ; Bechet, E. ; Lewis, Dean ; Vallet, M.
Dans : 20th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2010, Monteccassino (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585662

Dynamic power analysis under laser stimulation: a new Dynamic Laser Simulation approach
Deyine, Amjad ; Perdu, Philippe ; Sanchez, K. ; Courrège, J.C. ; Lewis, Dean
Dans : 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Addison (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585673

Degradations during pulsed measurements in temperature of AlGaN/GaN HEMTs
Douvry, Y. ; Hoel, V. ; De Jaeger, J.C. ; Defrance, N. ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Sury, Charlotte ; Dua, C. ; Oualli, M. ; Piazza, M. ; Bluet, J.M. ; Chikhaoui, W. ; Bru-Chevallier, C.
Dans : European Solid-State Device Research Conference 2010, Séville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585101

From nanoscale technology scenarios to compact device models for ambipolar devices
Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : 17th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (ICECS), Athènes (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00589113

A compact model for double gate carbon nanotube FET
Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : ESSDERC 2010, Séville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584874

Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT
Ghosh, S. ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Grandchamp, B. ; A. Koné, G. ; Zimmer, T.
Dans : Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, gaeta (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002465

Benchmarking of HBT Models for InP Based DHBT Modeling
Ghosh, S. ; Zimmer, T. ; Ardouin, B. ; Maneux, C. ; Frégonèse, S. ; Marc, F. ; Grandchamp, B. ; Koné, G.A.
Dans : International Conference on Microelectronics, Nis (Serbia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00488687

Predicting Lifetime using power consumption from 'Wattch'
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : 6th International Summer School on Adv. Computer Arch. and Compilation for Embedded Systems, ACACES, Terrassa (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674317

Reliability Aware ArchC based Processor Simulator
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : IEEE Int. Integrated Reliability Workshop Final Report (IRW), lake Tahoe (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674316

High Level Power and Energy Exploration Using ArchC
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : 22nd Int Computer Architecture and High Performance Computing (SBAC-PAD) Symp, Rio de Janeiro (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674311

Magnetic Microscopy for 3D structures: use of the Simulation Approach for the
precise localization of deep buried weak currents
Infante, Fulvio ; Gomes, R. ; Perdu, Philippe ; Battistella, Fabien ; Annereau, Sébastien ; Lewis, D.
Dans : 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Addison (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988364

Magnetic microscopy for 3D structures: use of the Simulation Approach for the precise localization of deep buried weak currents
Infante, Fulvio ; Gomes, Rodolphe ; Perdu, Philippe ; Battistella, Fabien ; Annereau, Sébastien ; Lewis, Dean
Dans : 36th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Addison (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585670

Magnetic microscopy for ground plane current detection: a fast and reliable technique for current leakage localization by means of magnetic simulation
Infante, F. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : 20th European Symposium Reliabilty on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2010, Monteccassino (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585666

Optically-Gated CNTFET compact model including source and drain Schottky barrier
Liao, Si-Yu ; Najari, Montassar ; Maneux, Cristell ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Mnif, H. ; Masmoudi, N.
Dans : 5th Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Hammamet (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584845

Low Power and High Gain Double-Balanced Mixer dedicated to 77 GHz Automotive Radar Applications
Mariano, André ; Taris, Thierry ; Leite, Bernardo ; Majek, Cédric ; Deval, Yann ; Kerherve, Eric ; Begueret, Jean-Baptiste ; Belot, Didier
Dans : ESSCIRC 2010, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00498733

A Low Power and High Gain Double-Balanced Active Mixer with Integrated Transformer-Based Baluns dedicated to 77 GHz Automotive Radar Applications
Mariano, André ; Leite, Bernardo ; Majek, Cédric ; Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Belot, Didier
Dans : newcas2010, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00476797

Accurate Multi-bit Feedback DAC Dedicated to High-speed Continuous-time DS Converters
Mariano, André ; Majek, Cédric ; Dallet, Dominique ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann
Dans : Latin American Symposium on Circuits and Systems, Iguaçu Falls (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00448816

On the Use of Body Biasing to Control Gain, Linearity, and Noise Figure of a mm-Wave CMOS LNA
Rashtian, Hooman ; Majek, Cédric ; Mirabbasi, Shahriar ; Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : NEWCASTAISA, MONTREAL (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00840675

Electrical simulation of learning stage in OG-CNTFET based neural crossbar
Retrouvey, J.M. ; Klein, Jacques-Olivier ; Liao, Si-Yu ; Maneux, Cristell
Dans : 5th Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00671681

2009


Investigation of High Frequency coupling between Probe tips and Wafer surface.
Bazzi, J. ; Raya, C. ; Curutchet, A. ; Zimmer, T.
Dans : IEEE BiCMOS Technology Meeting 2009, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00400373

UV emission microscopy development for high band gap components
Bouya, Moshine ; Carisetti, D. ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Perdu, Philippe ; Clement, J.C.
Dans : 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, San Jose (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585086

Investigation of single event burnout sensitive depth in power MOSFETS
Darracq, Frédéric ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Lorfèvre, E. ; Ecoffet, R. ; Bezerra, F.
Dans : 2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS),, Bruges (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667364

Full Dynamic Laser simulation set up
Deyine, Amjad ; Sanchez, Kevin ; Perdu, Philippe ; Battistella, F. ; Lewis, D. ; Deslandes, H.
Dans : 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2009. IPFA 2009., Suzhou (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00988356

A versatile compact model for ballistic 1D transistor: Applications to GNRFET and CNTFET
Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : Semiconductor Device Research Symposium, 2009. ISDRS '09. International, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00450128

Effects of various applications on relative lifetime of processor cores
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, T. ; Marc, F.
Dans : IRW, Lake Tahoe (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674313

Effects of various applications on relative lifetime of processor cores
Gupta, Tushar ; Héron, Olivier ; Zimmer, Thomas ; Ventroux, Nicolas ; Marc, François ; Bertolini, Clément
Dans : International Integrated Reliability Workshop, South Lake Tahoe (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00499480

Net integrity checking by optical localization techniques
Haller, G. ; Machouat, A. ; Lewis, Dean ; Pouget, Vincent
Dans : 19th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2009, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585657

Magnetic Microscopy for 3D devices: defect localization with high resolution and long working distance on complex System in Package
Infante, F. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : 19th European Symposium Reliability on Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2009, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585654

Short circuit localization on integrated circuits using magnetic microscopy techniques coupled to simulations
Infante, F. ; Perdu, Philippe ; Petremont, S. ; Lewis, Dean
Dans : 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Suzhou (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585648

RF doubling and rectification in Three-Terminal Junctions: experimental characterization and Monte Carlo analysis
Iñiguez-De-La-Torre, I. ; González, T. ; Pardo, D. ; Gardès, C. ; Roelens, Y. ; Bollaert, S. ; Curutchet, A. ; Gaquiere, C. ; Mateos, J.
Dans : EDISON 16, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401237

Compact modeling of Optically-Gated Carbon NanoTube Field Effect Transistor
Liao, Si-Yu ; Maneux, Cristell ; Pouget, Vincent ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : Trends in NanoTechnologies 2009, Barcelonna (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00399897

A Digitally Tuned Voltage Controlled Delay Element for 1-10GHz DLL-based Frequency Synthesis
Lucas De Peslouan, Pierre-Olivier ; Majek, Cédric ; Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Belot, Didier ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : NEWCAS – TAISA'09, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00380884

Best test pattern failure analysis flow for functional logic failure localization by IR-OBIRCH technique
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, D. ; Perdu, Philippe ; Pouget, V. ; Essely, Fabien
Dans : International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670058

60 GHz cascode LNA with interstage matching: performance comparison between 130nm BiCMOS and 65nm CMOS-SOI technologies
Majek, Cédric ; Severino, Raffaele ; Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Mariano, André ; Begueret, Jean-Baptiste ; Belot, Didier
Dans : Signals, Circuits & Systems, Jerba (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00418915

Voltage Controlled Delay Line with phase quadrature outputs for [0.9-4] GHz F-DLL dedicated to Zero-IF multi-standard LO
Majek, Cédric ; Lapuyade, Herve ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : 22nd Symposium on Integrated Circuits and Systems Design (SBCCI), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402264

Efficient Physics-Based Compact Schottky Barrier Carbon Nanotube FET
Najari, M. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Mnif, H. ; Masmoudi, N.
Dans : Trends in NanoTechnologies 2009, Barcelonna (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00399901

Picosecond Single-Photon and Femtosecond Two-Photon Pulsed Laser Stimulation for IC Characterization and Failure Analysis
Pouget, V. ; Faraud, Emeric ; Shao, Kai ; Jonathas, S. ; Horain, D. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Picart, B. ; Forli, L. ; Lewis, D.
Dans : 35th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA), Sans José (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670060

Low frequency Noise evolution of AlGaN/GaN HEMT after 2000 Hours of HTRB and HTO life test
Sury, Charlotte ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : 20 th International Conference on Noise and Fluctuations, Pise (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401286

2008


Backside failure analysis by electroluminescence on microwave devices
Bouya, Moshine ; Carisetti, Dominique ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Perdu, Philippe ; Delaqueze, P. ; Clement, Jean Claude
Dans : Int. Symp. for Testing and Failure Analysis ISTFA, Portland (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401293

Dynamic Laser Stimulation Technique for device qualification process
Deyne-Barth, A. ; Perdu, Philippe ; Benetti, G. ; Sanchez, Kevin ; Battistella, F. ; Lewis, Dean
Dans : International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401698

Effects of surface and buffer traps in passivated AlGaN-GaN HEMTs
Faqir, M. ; Verzellesi, G. ; Fantini, F. ; Danesin, F. ; Meneghesso, G. ; Zanoni, E. ; Labat, N. ; Touboul, A. ; Dua, C.
Dans : 32nd Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2008, Leuven (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00415763

Effects of surface and buffer traps in passivated AlGaN-GaN HEMTs
Faqir, Mustapha ; Verzellesi, F. Fantini, F. Danesin F. Rampazzo, G. Meneghesso, E. Zanoni, G. ; Labat, Nathalie ; Touboul, A. ; Dua, Christian
Dans : 32th workshop on Compound semiconductor Devices and Integrated Circuits WOCSDICE, Leuven (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401301

Methodologies and Tools for the Evaluation of the Sensitivity to Radiation of SRAM-based FPGAs
Foucard, G. ; Perronnard, P. ; Velazco, R. ; Ferron, J. ; Douin, A. ; Pouget, V. ; Bocquillon, A. ; Miller, F. ; Berger, G. ; Charlier, F. ; Boldrin, F.
Dans : 23rd International Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS'08), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00347662

Compact Model of a Dual Gate CNTFET: Description and Circuit Application
Goguet, Johnny ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : 8th IEEE Conference on Nanotechnology, Arlington, TEXAS, USA (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00319955

A Charge Approach for a Compact Model of Dual Gate CNTFET
Goguet, Johnny ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE 2008 International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Tozeur (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00288046

Analytical modelling of the Schottky gate current in AlGaN/GaN HEMT
Lacheze, Ludovic ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : 33nd Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits WOCSDICE 2009, Malaga (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401306

IP-based methodology for analog design flow: Application on neuromorphic engineering
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE NEWSCAS-TAISA 2008, Montréal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00514205

An E-Learning Experience in Practical Electronics: Technological and Pedagogical Aspects
Lewis, Noelle ; Zimmer, Thomas ; Billaud, Michel ; Geoffroy, Didier
Dans : 5th Congress of Scientific Research Outlook in the Arab World, Fez (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327562

Effect of Physical defect on schmoos in CMOS DSM technologies
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Maastricht (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401696

Scan-based ATPG diagnostic and optical techniques combination: A new approach to improve accuracy of defect isolation in functional logic failure
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien ; Perdu, Philippe
Dans : 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398000

Ge Base Profile Engineering in SiGe:C HBTs for Power Amplifier Applications : Influence on Current Gain and Input Impedance over a Wide Range of Temperature
Mans, P.M. ; Jouan, S. ; Brossard, F. ; Comte, Myriam ; Pache, D. ; Maneux, C. ; Zimmer, T.
Dans : 4th International SiGe Technology and Device Meeting, (Taiwan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327467

Germanium Base Profile Optimization to Improve fT Characteristics at High Injection in RF Power SiGe:C HBTs
Mans, P.M. ; Jouan, S. ; Pakfar, A. ; Fregonese, S. ; Brossard, F. ; Perrotin, A. ; Maneux, C. ; Zimmer, T.
Dans : 7th IEEE Topical Symposium on Power Amplifiers for Wireless Communications, Orlando (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327463

Electronic Practical Course via the Web in a Virtual Laboratory
Mnif, Hassene ; Sahnoun, Salwa ; Hdiji, Fatma ; Geoffroy, Didier ; Billaud, Michel ; Lewis, Noelle ; Zimmer, Thomas
Dans : Conference REV 2008, Düsseldorf (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327567

Towards Compact Modelling of Schottky Barrier CNTFET
Najari, Montassar ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hassene ; Masmoudi, N.
Dans : IEEE 2008 International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00288040

Remote SEE Testing Capabilities with Heavy Ions and Laser Beams at CYCLONE-HIF and ATLAS Facilities
Peronnard, P. ; Velazco, R. ; Foucard, G. ; Pouget, V. ; Berger, G. ; Charlier, F. ; Boldrin, F.
Dans : Radiation Effects Data Workshop, Tucson, AZ (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00374744

Dynamic Testing of an SRAM-Based FPGA by Time-Resolved Laser Fault Injection
Pouget, V. ; Douin, A. ; Foucard, G. ; Peronnard, P. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Velazco, R.
Dans : 14th IEEE International Symposium On-Line Testing (IOLT'08), Rhodes (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00347751

Failure Analysis enhancement by evaluating the photoelectric laser stimulation impact on mixed-mode ICs
Sienkiewicz, Magdalena ; Perdu, Philippe ; Firiti, Abdellatif ; Sanchez, Kevin ; Crepel, Olivier ; Lewis, Dean
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Maastricht (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401699

Failure analysis enhancement by evaluating the thermal laser stimulation impact on analog ICs
Sienkiewicz, Magdalena ; Perdu, Philippe ; Firiti, Abdellatif ; Crepel, Olivier ; Lewis, Dean
Dans : International Symposium on the Physical and Failure Analysis on Integrated Circuits (IPFA), Suzhou (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401695

2007


Integration of remote lab exercises into standard course packages
Billaud, M. ; Zimmer, T. ; Geoffroy, D.
Dans : Conference IMCL2007, Amman (Jordan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327559

Highlights of Laser Testing Capabilities Regarding the Understanding of SEE in SRAM-based FPGA
Bocquillon, A. ; Foucard, G. ; Miller, F. ; Buard, Nadine ; Leveugle, R. ; Daniel, C. ; Rakers, S. ; Carriere, T. ; Pouget, Vincent ; Velazco, R.
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397854

Picosecond Timing Analysis in Integrated Circuits with Pulsed Laser Stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : 45th annual ieee International Reliability Physics Symposium (IRPS), Phoenix (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204584

Jitter Improvement of Time-Resolved Photoelectric Laser Stimulation for Dynamic Imaging of Integrated Circuits
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : Instrumentation and Measurement Technology Conference 2007, Varsovie (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204580

IC Debug and Defect Localization using Dynamic Laser Stimulation and Time-Resolved Emission
Ferrigno, Julie ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Lewis, Dean ; Vallet, Michel ; Dudit, Sylvain
Dans : 14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 2007, Bangalore (India)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204582

Study of Single Event Transients in High-Speed Operational Amplifiers
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397836

Scaling Guidelines for CMOS Linear Analog Design
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : International Conference on Ph.D. Research in Microelectronics & Electronics, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00414788

Resizing methodology for CMOS analog circuit
Levi, Timothée ; Tomas, J. ; Lewis, N. ; Fouillat, P.
Dans : Proceedings SPIE VLSI Circuits and Systems III, Maspalomas, Gran Canaria (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181420

Configuration errors analysis in SRAM-based FPGAs
Maingot, V. ; Ferron, J. ; Leveugle, R. ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401694

The Factorial Delay Locked Loop: a solution to fulfill multistandard RF synthesizer requirements
Majek, Cédric ; Deval, Yann ; Lapuyade, Herve ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : PRIME'07 (PhD Research in Microelectronics and Electronics Conference), Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178327

LF noise analysis of InP/GaAsSb/InP and InP/InGaAs/InP HBTs
Maneux, C. ; Grandchamp, B. ; Labat, N. ; Touboul, A. ; Scavennec, A. ; Riet, M. ; Godin, J. ; Bove, Ph.
Dans : 19th IEEE Conference on Indium Phosphide and Related Materials, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401338

Evaluation of Recent Technologies of Non-Volatile RAM
Nuns, T. ; Duzellier, S. ; Bertrand, J. ; Hubert, G. ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; David, J.P. ; Soonckindt, S.
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397841

Tools and methodology development for pulsed laser fault injection in SRAM-based FPGAs
Pouget, V. ; Douin, A. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Foucard, G. ; Peronnard, P. ; Maingot, V. ; Ferron, J. ; Anghel, L. ; Leveugle, R. ; Velazco, R.
Dans : 8th Latin-American Test Workshop (LATW'07), Cuzco (Peru)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00156318

Scalable Approach for External Collector Resistance Calculation
Raya, Christian ; Kauffmann, Nicolas ; Pourchon, Franck ; Celi, Didier ; Zimmer, Thomas
Dans : ICMTS International Conference on Microelectronic Test Structures, Tokyo (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187269

New Method for Oxide Capacitance Extraction
Raya, Christian ; Schwartzmann, Thierry ; Chevalier, Pascal ; Pourchon, Franck ; Celi, Didier ; Zimmer, Thomas
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187268

Failure Localization and design debug on mixed-mode ICs by using the dynamic laser stimulation techniques
Sienkiewicz, Magdalena ; Sanchez, Kevin ; Firiti, Abdellatif ; Crepel, Olivier ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean
Dans : International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA) 2007, San Jose (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204668

2006


Power Transistor Electrical Behavior
Beckrich, Helene ; Ortolland, Sylvie ; Pache, D. ; Céli, Didier ; Gloria, D. ; Zimmer, Thomas
Dans : ICMTS International Conference on Microelectronic Test Structures, Austin (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187276

SiGe HBT design for CMOS compatible SOI
Chantre, Alain ; Avenier, Gregory ; Chevalier, Pascal ; Vandelle, Benoit ; Saguin, Fabienne. ; Maneux, Cristell ; Dutartre, Didier ; Zimmer, Thomas
Dans : International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187273

Prospects for Complementary SiGeC BiCMOS on Thin-Film SOI
Chantre, Alain ; Boissonnet, Laurence ; Avenier, Gregory ; Borot, Gael ; Bouillon, Pierre ; Brossard, Florence ; Chevalier, Pascal ; Deleglise, Florence ; Dutartre, Didier ; Duvernay, Julien ; Fregonese, Sebastien ; Judong, Fabienne ; Pantel, Roland ; Perrotin, Andre ; Rauber, Bruno ; Rubaldo, Laurent ; Saguin, Fabienne ; Schwartzmann, Thierry ; Vandelle, Benoit ; Zimmer, Thomas
Dans : ECS Transactions, Cancun (Mexico)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181206

Time resolved imaging using synchronous picosecond photoelectric laser stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; De Matos, Magali ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Fouillat, Pascal
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Wuppertal (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401692

Applications of various optical techniques for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Remmach, Mustapha ; Beaudoin, Félix ; Guitard, Nicolas ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), wuppertal (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401519

OBIC technique for ESD defect localization : Influence of the experimental procedure
Essely, F. ; Guitard, Nicolas ; Darracq, F. ; Pouget, V. ; Bafleur, Marise ; Touboul, A. ; Lewis, D.
Dans : 3th Workshop EOS/ESD/EMI, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327412

Optimizing pulsed OBIC technique for ESD defect localization
Essely, Fabien ; Guitard, Nicolas ; Darracq, Frédéric ; Pouget, Vincent ; Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Lewis, Dean
Dans : 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204574

Dynamic optical techniques for IC debug and failure analysis
Ferrigno, Julie ; Desplats, Romain ; Perdu, Philippe ; Sanchez, Kevin ; Beaudoin, Félix ; Lewis, Dean
Dans : 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 2006, Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204578

IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : IP-based SoC Design Conference 2006, IP-SoC 2006, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181401

Scaling Rules for MOS Analog Design Reuse
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2006, Gdynia (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181379

Analysis of CNTFET physical compact model
Maneux, Cristell ; Goguet, Johnny ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas ; Cazin D'Honincthun, Hughes ; Galdin-Retailleau, S.
Dans : IEEE Design and Test of integrated Systems In Nanoscale Technology, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181481

Sheet Resistance in BiCMOS Technology
Raya, Christian ; Pourchon, Franck ; Celi, Didier ; Laurens, M. ; Zimmer, Thomas
Dans : International Conference on Microelectronic Test Structures, Austin (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187305

In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
Wan, Dong Yun ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Jaulent, Patrice ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Beam Injection Assessment of Microstructurs in Semiconductors (BIAMS), Saint Petersbourg (Russia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401693

A remote laboratory for electrical engineering education
Zimmer, T. ; Billaud, M. ; Geoffroy, D.
Dans : Conference IMCL2006, Amman (Jordan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327558

2005


Cyberchip for analogue integrated circuit design teaching
Billaud, M. ; Zimmer, T. ; Geoffroy, D.
Dans : 16th EAEEIE Annual Conference on Innovation in Education for Electrical and Information Engineering (EIE), Lappeenranta (Finland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00415676

Disruptive design solutions for frequency generation in silicon RFIC
Deval, Yann ; Mazouffre, Olivier ; Majek, Cédric ; Lapuyade, Herve ; Taris, Thierry ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : IEEE International Workshop on Radio-Frequency Integration Technology: Integrated Circuits for Wideband Communication and Wireless Sensor Networks, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178633

Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Phillipe
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2005, Cap d'Agde (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397942

Electrical Modeling for Laser Testing with Different Pulse Durations
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Phillipe
Dans : 11th IEEE International On Line Testing Symposium, Saint Raphael (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397739

Impact of semiconductors material on IR stimulation signal
Firiti, Abdellatif ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : European Symposium of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401389

Evidence of RTS noise in emitter-base periphery of InP/GaAsSb/InP HBT
Grandchamp, B. ; Maneux, C. ; Labat, N. ; Touboul, A. ; Scavennec, A. ; Riet, M. ; Godin, J.
Dans : 20th IEEE Conference on Indium Phosphide and Related Materials, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401340

Different failure signatures of multiple TLP and HBM Stresses in an ESD robust protection structure
Guitard, Nicolas ; Essely, Fabien ; Trémouilles, David ; Bafleur, Marise ; Nolhier, Nicolas ; Perdu, Philippe ; Touboul, Andre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401483

Total Dose and Single Event Transients in Linear Voltage Regulators
Kelly, A.T. ; Adell, P.C. ; Witulski, A.F. ; Holman, W.T. ; Schrimpf, R.D. ; Pouget, Vincent
Dans : 8th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and System (RADECS) 2005, Cap d 'Agde (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397998

A radiation-hardened injection locked oscillator devoted to radio-frequency applications
Lapuyade, H. ; Pouget, V. ; Bequeret, J.-B. ; Hellmuth, P. ; Taris, T. ; Mazouffre, O. ; Fouillat, P. ; Deval, Y.
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2005), Cap d'Agde (France)
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00101436

Identification of Some Key Parameters for Photoelectric Laser Simulation of IC: An Experimental Approach
Perdu, Phillipe ; Desplats, Romain ; Sanchez, Kevin ; Beaudoin, Félix ; Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Fouillat, Pascal
Dans : 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis Circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397736

Light Emission to time resolved emission for IC debug and failure analysis
Remmach, Mustapha ; Pigozzi, A. ; Desplats, Romain ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Noel, J. ; Dudit, Sylvain
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401497

NIR Laser stimulation for dynamic timing analysis
Sanchez, Kevin ; Desplats, Romain ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Roux, J.P. ; Lewis, Dean
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401503

Delay Variation Mapping Induced by Dynamic Laser Stimulation
Sanchez, Kevin ; Desplats, Romain ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Vedagarbha, P.
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Santa Clara (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401387

2004


Analyse du bruit basses fréquences de HEMTs AlGaN/GaN sur substrat SiC et Saphir
Curutchet, A. ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Touboul, A. ; Uren, M.
Dans : Xème Journées Nationales Microélectronique Optoélectronique, La Grande Motte (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401361

A Programmable CMOS RF Frequency Synthesizer for Multi-standard Wireless Applications
Majek, Cédric ; Deltimple, Nathalie ; Lapuyade, Herve ; Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann
Dans : 2nd annual IEEE Northeast Workshop on Circuits and Systems (NEWCAS2004), Montréal, Québec (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180789

2002


HICUM Parameter Extraction Methodology for a Single Transistor Geometry
Berger, Dominique ; Céli, Didier ; Schröter, Michael ; Malorny, M. ; Zimmer, Thomas ; Ardouin, Bertrand
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, Monterey (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187309

2001


Improving an SEU Hard Design using a Pulsed Laser
DUTERTRE, Jean-Max ; Roche, Fernand-Michel ; Fouillat, Patrice ; Lewis, Dean
Dans : Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2001. 6th European Conference on, Grenoble (France)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130950

2000


Use of Genetic Algorithm for Efficient Integrated Circuits Compact Modelling and Parameter Extraction
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Batiste Duluc, Jean ; Marc, Francois ; Fouillat, Pascal
Dans : ACIDCA'2000, Monastir (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00189377

Model parameter extraction with non-conventional optimisation algorithms
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Franzè, F. ; Fouillat, Pascal
Dans : JSFT, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187311

1999


RETWINE : A new distributed Environment for Microelectronics Intrumentation Learning and Measurement
Kadionik, Patrice ; Zimmer, Thomas ; Danto, Yves
Dans : IMTC: IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, Venice (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183034

1998


A distributed environment in Microelectronics Instrumentation Learning
Kadionik, Patrice ; Zimmer, Thomas ; Danto, Yves
Dans : EAEEIE: European Association for Education in Electrical and Information Engineering Conference, Lisboa (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183035

Elaboration of a new pulsed laser system for SEE testing
Pouget, V. ; Calin, T. ; Lapuyade, H. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Velazco, R. ; Maidon, Y. ; Sarger, L.
Dans : IEEE International On-Line Testing Workshop (IOLTW'98), Capri (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01384704

BJT avalanche breakdown voltage improvement by introduction of a floating P-layer in the epitaxial collector region
Zimmer, Thomas ; N?doye, M. ; Lewis, Noelle ; Batiste Duluc, Jean ; Fremont, Helene ; Paul Dom, Jean
Dans : Symposium on Microelectronic Facturing, Santa Clara (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00189380

A new Approach of continuing Education for Engineer : advanced Instruments Training in a telematic Network
Zimmer, Thomas ; Kadionik, Patrice ; Danto, Yves ; Dulau, Laurent
Dans : WCCEE: World Conference on Continuing Engineering Education, Torino (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183039

A Network based training Tool for electrical Engineer's Education
Zimmer, Thomas ; Kadionik, Patrice ; Danto, Yves
Dans : CILT: Conference on broadband Communications in Education and Training, Cambridge (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183038

1997


Fault and Diagnosis on a Successive Approximation ADC
Marc, Francois ; Dallet, Dominique ; Danto, Yves
Dans : IMTC97, Ottawa (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01182421

A World Wide Web based Instrumentation Pool
Zimmer, Thomas ; Kadionik, Patrice ; Danto, Yves
Dans : MSE: IEEE Conference of Microelectronics Systems Education, Arlington (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183005

1992


A fast VLSI SRAM mapping methodology using voltage contrast techniques on SEM
Marc, François ; Fremont, Hélène ; Jounet, Paul ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : ESREF, Schwäbisch-Gmünd (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181911
Conference without proceedings → 119 Show

2019


The terahertz pulse time-domain holography method for phase imaging of breast tissue sample
Balbekin, Nikolay ; Cassar, Quentin ; Smolyanskaya, Olga ; Macgrogan, Gaetan ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Kravtsenyuk, Olga ; Kulya, Maksim ; Petrov, Nikolay
Dans : Digital Holography and Three-Dimensional Imaging, Bordeaux (France)
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335832

Iterative Tree Algorithm for the Assessment of Optical Path Contributions within Stratified Structures
Cassar, Q. ; Chopard, A. ; Fauquet, F. ; Guillet, J.P. ; Pan, M. ; Perraud, J.B. ; Mounaix, Patrick
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350806

Ancient Painting on Copper Substrate Inspected by Terahertz Spectroscopy-Imaging
Cassar, Q. ; Koch-Dandolo, C.L. ; Guillet, J.P. ; Roux, M. ; Fauquet, F. ; Mounaix, Patrick
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350792

Comparative study of millimeter wave III/V semiconductor and integrated silicon based FMCW radars
Guillet, Jean-Paul ; Fauquet, Frederic ; Chopard, Adrien ; Perraud, Jean-Baptiste ; Roux, Marie ; Mounaix, Patrick
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350788

Scanning laser terahertz near-field reflection microscope for biological analysis
Okada, Kosuke ; Serita, Kazunori ; Zang, Zirui ; Murakami, Hironaru ; Kawayama, Iwao ; Cassar, Quentin ; Al-Ibadi, Amel ; Macgrogan, Gaetan ; Zimmer, Thomas ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Tonouchi, Masayoshi
Dans : Bio-Optics: Design and Application, Tucson (United States)
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335859

Reconstructed THz phase image of the two-component numerical model of breast cancer tissue
Smolyanskaya, Olga ; Kulya, Maksim ; Cassar, Quentin ; Kravtsenuk, Olga ; Mounaix, Patrick ; Guillet, Jean-Paul ; Zaytsev, Kirill ; Petrov, Nikolay
Dans : 2019 44th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02350797

Terahertz spectra of drug-laden magnetic nanoparticles
Smolyanskaya, Olga ; Trukhin, Valery ; Gavrilova, Polina ; Odlyanitskiy, Evgeniy ; Semenova, Anna ; Cassar, Quentin ; Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Gareev, Kamil ; Korolev, Dmitry
Dans : Colloidal Nanoparticles for Biomedical Applications XIV, San Francisco (United States)
http://hal.univ-grenoble-alpes.fr/hal-02335873

2018


Terahertz frequency modulated continuous wave imaging for non-destructive evaluation of painting and multilayer parts
Guillet, Jean-Paul ; Ma, Xue ; Wang, Kejia ; Fauquet, Frederic ; Mounaix, Patrick ; Koch Dandolo, Corinna Ludovica ; Roux, Marie ; Sadwick, Laurence ; Yang, Tianxin
Dans : Terahertz, RF, Millimeter, and Submillimeter-Wave Technology and Applications XI, San Francisco (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923526

High Current Impact Ionization Model
Jaoul, Mathieu ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas ; Céli, Didier ; Schröter, Michael
Dans : HICUM WORKSHOP, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01820049

Shape from Focus Applied to Real- Time Terahertz Imaging
Jean-Baptiste, Perraud ; Guillet, Jean-Paul ; Hamdi, Maher ; Redon, Olivier ; Meilhan, Jérôme ; Simoens, François ; Mounaix, Patrick
Dans : 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), Nagoya (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01923691

Comprehensive Study into Underlying Mechanisms of Anomalous Gate Leakage Degradation in GaN High Electron Mobility Transistors
Kalparupa, Mukherjee ; Darracq, Frédéric ; Curutchet, Arnaud ; Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie
Dans : IRPS 2018, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718850

2017


Performances and robustness of IR seed Laser diodes under large overcurrent and short-pulse conditions for fiber Laser applications
Galès, Germain Le ; Joly, Simon ; Bolanos, Western ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : EMN Americas Meetings, Victoria (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01719975

Contrôle non destructif terahertz et fabrication additive
Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick
Dans : La photonique appliquée à l'aéronautique, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01456318

A Wideband Highly Efficient Class-J Integrated Power Amplifier for 5G Applications
Hanna, Tony ; Deltimple, Nathalie ; Fregonese, Sebastien
Dans : NEWCAS2017, Strasbourg (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01618182

Évaluation de la fiabilité des composants HEMTs AlGaN / GaN à grille nanométrique sur substrat de silicium par des essais de vieillissement accéléré on-state
Lakhdar, Hadhemi ; Labat, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Defrance, Nicolas ; Lesecq, Marie ; Dejaeger, J.C. ; Malbert, Nathalie
Dans : JNM 2017, St MALO (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718864

2016


BEOL-investigation on selfheating and SOA of SiGe HBT
D'Esposito, Rosario ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : 28th BipAK 2016, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399956

1060nm seed laser diodes in pulsed operation: performances and safe operating area
Le Gales, Germain ; Giulia, Marcello ; Joly, Simon ; Pedroza, Guillaume ; Morisset, Adèle ; Laruelle, François ; Darracq, Frederic ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS 2016, Otwock (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01720731

Terahertz paint thickness measurements : from automotive to aeronautics industry
Mounaix, Patrick ; Balacey, Hugo ; Taday, Phil ; Gregory, Ian ; May, Robert M.
Dans : PHAROS, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404314

2015


Ordered subsets convex algorithm and automatic image processing sequences: the solid bases for 3D THz inspection
Balacey, Hugo ; Perraud, JB ; Bou Sleiman, Joyce ; Recur, Benoît ; Mounaix, Patrick
Dans : 8èmes Journées THz , Areches-Beaufort (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264807

Imagerie et spectroscopie Terahertz: applications aux problématiques de défense et de sécurité
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Recur, Benoît ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : JNRDM 2015, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264765

Original Screening Methodology based on Correlation between Low-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behavior of GaAs-based Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : CLEO/EUROPE, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721054

Terahertz detection of explosive materials and dangerous objects
Palka, Norbert ; Kowalski, M. ; Walczakowski, M ; Szustakowski, M ; Ciurapinski, W ; Wrobel, J. ; Jodlowski, L ; Rurka, E ; Bou Sleiman, Joyce ; Mounaix, Patrick ; Ellrich, F. ; Molter, D. ; Jonuscheit, J. ; von Freymann, G ; Beigang, R.
Dans : NATO ARW on THz Diagnostics of CBRN effects and Detection of Explosives & CBRN, Izmir (Turkey)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264649

Nouvelles structures 3D pour calibrage TRL sur puces adaptées à la mesure de paramètres S très hautes fréquences
Potereau, Manuel ; Fregonese, Sebastien ; Curutchet, Arnaud ; Baureis, Peter ; Zimmer, Thomas
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM2015), Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163604

THz imaging versus X-Ray tomography: Applications to material inspection
Recur, Benoît ; Balacey, Hugo ; Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Mounaix, Patrick
Dans : ICMTS, Quebec (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264760

2014


Analytical Study of Performances of Bilayer and Monolayer Graphene FETs based on Physical Mechanisms
Aguirre-Morales, J.D. ; Mukherjee, C. ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, C. ; Zimmer, T.
Dans : Graphene week, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002504

Critical failure mechanism of 0.25 µm AlGaN/GaN HEMT under severe stress test conditions
Carisetti, Dominique ; Sarazin, Nicolas ; Brunel, Laurent ; Clement, J.C. ; Malbert, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Labat, Nathalie
Dans : 7th Wide band gap semiconductor and components workshop, pp. 309-315, septembre 2014, Frascati, Italy, Frascati (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01718823

Statistical Study on the Variation of Device Performance in CVD-grown Graphene FETs
Mukherjee, C. ; Morales, D.A. ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, C. ; Zimmer, T.
Dans : Graphene week 2014, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002511

2013


Characterization and modelling of laser-induced single-event burn-out in SiC power diodes
Mbaye, N. ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; Lewis, D.
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935694

Analysis of short-term NBTI effect on the Single-Event Upset sensitivity of a 65nm SRAM using two-photon absorption
Moukhtari, I. El ; Pouget, V. ; Darracq, F. ; Larue, C. ; Perdu, P. ; Lewis, D.
Dans : IEEE RADECS, Oxford (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935693

Impact of Negative Bias Temperature Instability on the Single-Event Upset Threshold of a 65nm SRAM cell
Moukhtari, I. El ; Pouget, V. ; Larue, C. ; Darracq, Frédéric ; Lewis, D. ; Perdu, P.
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01935692

2012


Intérêt de la simulation 2D multicellulaire par éléments-finis pour l'analyse d'un défaut lié un décollement de fil de câblage sur une puce de puissance IGBT
El Boubkari, Kamal ; Azzopardi, Stéphane ; Théolier, Loïc ; Delétage, Jean-Yves ; Woirgard, Eric
Dans : 14ème édition de la Conférence sur l'Electronique de Puissance du Futur, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00955758

Pulsed I(V) pulsed RF measurement system for microwave device characterization with 80ns/45GHz
Weis, Mario ; Fregonese, Sebastien ; Santorelli, Marco ; Kumar Sahoo, Amit ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2012 Proceedings of the European, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00978793

2011


On-Si calibration vs ISS calibration
Bazzi, Jad ; Curutchet, Arnaud ; Baureis, P. ; Zimmer, Thomas
Dans : 24th BipAk, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00590786

Investigation of de-embedding procedure up to 110GHz
Bazzi, Jad ; Raya, C. ; Curutchet, Arnaud ; Pourchon, F. ; Derrier, N. ; Celi, D. ; Zimmer, Thomas
Dans : MOS-AK/GSA Workshop, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00590781

NQS modelling with HiCuM: What works, what doesn't
Bhattacharyya, Arkaprava ; Maneux, Cristell ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : 24th BipAk, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00590790

NQS effect and implementation in compact transistor model
Bhattacharyya, Arkaprava ; Maneux, Cristell ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
Dans : MOS-AK/GSA Workshop, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00590784

Electrical compact modelling of graphene transistors
Fregonese, Sebastien ; Nguyen, Huu-Nha ; Majek, Cédric ; Maneux, Cristell ; Happy, Henri ; Meng, Nan ; Zimmer, Thomas
Dans : Conference Graphene 2011, Bilbao (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00588825

De la modélisation électrothermique des faisceaux aux MOS intelligents
Nguyen, H.C. ; Sabatier, Jocelyn ; Moreau, Xavier ; Guillemard, Franck ; Bavoux, Bernard
Dans : Groupe de Travail " Automatique et Automobile et Journées d'étude Automatique et Automobile - GTAA - JAA 2011, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797827

2010


A versatile compact model for ballistic 1D transistor: Applications to GNRFET and CNTFET
Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell
Dans : First EuroGRAPHENE Symposium, Strasbourg (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00588829

2009


Investigation of Electrical BJT Performance through Extrinsic Stress Layer Using TCAD Modeling
Al-Sa'Di, M. ; Fregonese, S. ; Maneux, C. ; Zimmer, T.
Dans : Semiconductor Conference Dresden 2009, Dresden (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00399917

Effects of Power consumption and Temperature on Lifetime Reliability of ArchC based Processor Architecture
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : Workshop on Design for Reliability and Variability, Austin (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00499484

Characterisation and modelling of parasitic effects and failure mechanisms in AlGaN/GaN HEMTs
Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Sury, Charlotte ; Hoel, Virginie ; De Jaeger, Jean-Claude ; Defrance, Nicolas ; Douvry, Yannick ; Dua, Christian ; Oualli, Mourad ; Bru-Chevallier, Catherine ; Bluet, Jean-Marie ; Chikhaoui, Walf
Dans : GaN microwave component technology workshop, Ulm (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401323

Modélisation compacte et transport balistique
Maneux, Cristell ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, T.
Dans : ATELIER DU GDR NANOELECTRONIQUE DE LA REALITE ET DE L'INTERET DU TRANSPORT BALISTIQUE DANS LES COMPOSANTS NANOELECTRONIQUES, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00399887

Conception fiabilisée pour les circuits à nanodispositifs
Marc, François
Dans : Atelier du GDR Nanoélectronique / SOP-SIC - De la modélisation des nanodispositifs aux circuits innovants, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00499488

Analytical modeling of the tunneling current in schottky barrier carbon nanotube field effect transistor using the verilog-a language
Najari, Montassar ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hassene ; Masmoudi, Nouri
Dans : ) 2009 6th International Multi-Conference on Systems, Signals and Devices, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674301

2008


SET sensitive volume imaging and measurement with two-photon absorption laser testing
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Bezerra, F. ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean
Dans : Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), Tucson (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401702

Méthodologie de calibration de simulation numérique TCAD de TLM AlGaN/GaN
Lacheze, L. ; Malbert, N. ; Labat, N.
Dans : JNRDM, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401349

MODELISATION DU COURANT DE GRILLE DES HEMTs AlGaN/GaN
Lacheze, L. ; Sury, C. ; Curutchet, A. ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Touboul, A.
Dans : XIVème Journées Nationales Microélectronique Optoélectronique, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401345

Toward compact model of Optical-Gated Carbon Nanotube Field Effect Transistor (OG-CNTFET)
Liao, Si-Yu ; Maneux, Cristell ; Fregonese, Sébastien ; Zimmer, Thomas
Dans : JNTE 08, French Symposium on Emerging Technologies for micro-nanofabrication, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00337487

Prévision du vieillissement des composants en utilisation et de l'effet sur l'évolution paramétrique des fonctions analogiques
Marc, François ; Bestory, Corinne ; Lévi, Hervé
Dans : GDR SoC-SiP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326618

Approche statistique de la fiabilité : application à la fiabilité des systèmes et aux mécanismes d'usure
Marc, François
Dans : Atelier ANADEF2008, Port d'Albret (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326601

COMPACT MODELING OF THE SCHOTTKY BARRIER JUNCTION IN THE CARBON NANOTUBE FIELD EFFECT TRANSISTOR
Najari, Montassar ; Frégonèse, Sébastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hasséne ; Masmoudi, Nouri
Dans : JNTE 08, French Symposium on Emerging Technologies for micro-nanofabrication, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00337489

Investigation of De-embedding Methods up to 110GHz
Raya, C. ; Celi, D. ; Zimmer, T.
Dans : 8th European HICUM Workshop, Dresden (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327490

Accelerated Irradiation Method to Study Synergy Effects in Bipolar Integrated Circuits
Roche, N. ; Velo, Y. Gonzalez ; Dusseau, L. ; Boch, J. ; Vaillé, J.-R. ; Saigné, Frédéric ; Azais, B. ; Auriel, G. ; Lorfèvre, E. ; Pouget, V. ; Buchner, S. P. ; David, J.-P. ; Calvel, P. ; Marec, R.
Dans : 7th European Workshop on Radiation and its Effects on Components and Systems, Jyvaskyla (Finland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01822766

Étude du bruit aux basses fréquences des contacts ohmiques des hétérostructures à base de Nitrure de Gallium
Sury, C. ; Curutchet, A. ; Malbert, N. ; Labat, N.
Dans : JNMO, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401350

Extraction et modélisation des sources de bruit aux basses fréquences des hétérostructures à base de Nitrure de Gallium
Sury, C. ; Curutchet, A. ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Touboul, A.
Dans : XIVème Journées Nationales Microélectronique Optoélectronique, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401347

2007


Highlights of laser testing capabilities regarding the understanding of SEE in SRAM Based FPGAs
Bocquillon, A. ; Foucard, G. ; Miller, F. ; Buard, N. ; Leveugle, R. ; Daniel, C. ; Rakers, S. ; Carriere, T. ; Pouget, V. ; Velazco, R.
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS'07), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00288250

Impact of VCO Topology on SET Induced Frequency Response
Chen, W. ; Varanasi, N. ; Pouget, Vincent ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Adell, P.C. ; Copani, T. ; Fouillat, Pascal
Dans : Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) 2007, Honolulu (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398031

Modèle compact du transistor double grille CNTFET
Goguet, Johnny ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : Journées thématiques sur la simulation multiphysique de composants et dispositifs nanométriques, Lille (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00197536

IP-Based Library for Analog Design Reuse
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : GDR SoC-SIP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00514216

Optimisation du transistor bipolaire à hétérojonction Si/SiGe:C pour les applications d'amplification de puissance
Mans, P.M. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Jouan, S.
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctorant en Microélectronique, Lille (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327470

Investigation of Ge content in the BC transition region with respect to transit frequency
Mans, Pierre-Marie ; Jouan, Sebastien ; Pakfar, A. ; Fregonese, Sebastien ; Brossard, F. ; Perrotin, A. ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : 20th BipAk, Munchen (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00189397

Single Event Transient Mapping of a Voltage-Controlled Oscillator
Pouget, Vincent ; Chen, W. ; Lewis, Dean ; Barnaby, H. J. ; Fouillat, Pascal
Dans : 16th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398024

A new transit time extraction algorithm based on matrix deembedding techniques
Raya, C. ; Kaufmann, N. ; Celi, D. ; Zimmer, T.
Dans : 7th European HICUM Workshop, Dresden (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327487

the Heat Equation with the Quadrupole Approach
Sulima, P.Y. ; Battaglia, J.L. ; Zimmer, T.
Dans : 7th European HICUM Workshop, Dresden (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00415624

Solving the Heat Equation with the Quadrupole Approach
Sulima, P.Y. ; Battaglia, J.L. ; Zimmer, T.
Dans : 7th European HICUM Workshop, Dresden (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327485

Linear Systems Analysis of Single Event Transients in Voltage Controlled Oscillators
Varanasi, N. ; Chen, W. ; Vermeire, B. ; Adell, P.C. ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J.
Dans : 16th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398028

2006


Caractérisation et modélisation non linéaire de Transistors à Effet de Champs à Nano tubes de Carbone (CNFETs) à l'aide d'un Analyseur de réseau non linéaire (LSNA)
Curutchet, Arnaud ; Bethoux M. Werquin H. Happy D. Theron D. Ducatteau, J.-M. ; Gaquiere, Christophe
Dans : GDR G2054 Nanoélectronique, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00197505

3D Simulation Study of Strained CMOS based on a disposable SiGe Dot Technology
Fregonese, Sebastien ; Zhuang, Yan ; Burghartz, Joachim Norbert
Dans : GDR Nanoélectronique, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181694

Modélisation compacte du transistor à nanotube de carbone
Maneux, Cristell ; Goguet, Johnny ; Zimmer, Thomas
Dans : Journées thématiques du Club EEA, Nanoélectronique, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181996

Recent developments for SEE testing at the ATLAS laser facility
Pouget, Vincent ; Wan, Dong Yun ; Jaulent, Patrice ; Douin, Alexandre ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : 15th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398021

Single Event Transients (SETs) in RF Circuits
Varanasi, N. ; Chen, W. ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Cressler, J. ; Lapuyade, Herve ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal
Dans : 15th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398023

HBT's thermal impedance measurement
Zimmer, Thomas ; Baureis, Peter ; Beckrich, Helene ; Yvan Sulima, Pierre
Dans : 19th BipAk, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00189401

2005


A thermal sub-circuit for modelling temperature distribution in multi-finger HBTs and in multi-HBTs structures
Beckrich, Helene ; Ortoland, Sylvie ; Schwartzmann, Thierry ; Celi, D. ; Zimmer, Thomas
Dans : 5th European HICUM Workshop, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203983

A SPICE model for predicting static thermal coupling between bipolar transistors
Beckrich, Helene ; Schwartzmann, Thierry ; Celi, D. ; Zimmer, Thomas
Dans : PRIME 2005, Ph.D. Research in Micro-Electronics & Electronics, (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203982

A Hicum SOI extension
Fregonese, Sébastien ; Avenier, Gregory ; Maneux, Cristell ; Chantre, A. ; Zimmer, Thomas
Dans : 5th European HICUM Workshop, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181989

Méthodologie pour la définition d'une Aire de sécurité de fonctionnement statique de la technologie MESFET à substrat GaAs
Ismail, N. ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Touboul, A. ; Muraro, J.-L.
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique et Microsystèmes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401367

Laser Mapping of SRAM sensitive cells. A way to obtain input parameter for DASIE calculation code
Miller, F. ; Buard, N. ; Hubert, G. ; Alestra, S. ; Baudrillard, G. ; Carriere, T. ; Gaillard, R. ; Palau, J.-M. ; Saigné, Frédéric ; Fouillat, P.
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, Cap d'Agde (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01807197

Banc de génération et détection de faisceau THz par photo commutateur ultrarapide sur GaAs BT
Mounaix, Patrick ; Tondusson, M. ; Sarger, Laurent ; Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : 3ème journées Thz, Aussois (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398013

Self-heating investigation of bulk and SOI transistors
Sulima, Pierre-Yvan ; Beckrich, Helene ; Battaglia, Jean Luc ; Zimmer, Thomas
Dans : MOS-AK Meeting, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203984

3D self Heating medelling for electrothermal characterisation of SiGe HBTs
Sulima, Pierre-Yvan ; Battaglia, Jean Luc ; Zimmer, Thomas ; Beckrich, Helene ; Celi, D.
Dans : 5th European HICUM Workshop, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203981

Study of a 3D thermal characterization of SiGe HBTS
Sulima, Pierre-Yvan ; Battaglia, Jean Luc ; Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sébastien ; Celi, D.
Dans : Microtherm 2005, VI Conference Thermal Problems in Electronics, (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181990

2004


A 1.8 V 4.3 GHz SiGe Tunable Synchronous Oscillator
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Taris, Thierry ; Hellmuth, Patrick ; Mazouffre, Olivier ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Asian Pacific Microwave Conference (APMC'2002), (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183014

Analyse du bruit basse fréquence de HEMTs AlGaN/GaN sur substrat SiC et saphir
Curutchet, A. ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Touboul, A. ; Uren, M.
Dans : GDR Semi-Conducteur Grand Gap, Freyjus (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401359

Sorting Out of Analogue IC Architectures using the DOE Method : a New Tool for Quality Design
Deval, Yann ; Tomas, Jean ; Fouillat, Pascal ; Dom, Jean-Paul
Dans : proceeding ESREF 93, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184310

Scalable bipolar transistor modelling with HICUM L0
Fregonese, Sébastien ; Berger, Dominique ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell ; Sulima, Pierre-Yvan ; Celi, D.
Dans : 4th European HICUM Workshop, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181991

Implementing laser based failure analysis methodologies using test vehicles
Lewis, D. ; Pouget, V. ; Beaudoin, F. ; Beauchene, T. ; Haller, G. ; Desplat, R. ; Perdu, P. ; Fouillat, P.
Dans : 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures, Awaji Yumebutai (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887706

Low frequency drain and gate noise in GaN FEMTs
Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Verdier, Frédéric ; Touboul, Andre
Dans : 2004 European Microwave Week, Workshop on Wide band gap Research for Microwave applications : Materials, devices and circuit Issues, (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183569

Modélisation comportementale de la fiabilité des circuits intégrés complexes
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
Dans : RTP Fiabilité, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181918

Radiation Hardness Assessment of an ADC for Space Application using a Laser Test Equipment
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Darracq, Frédéric
Dans : Proc. of XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS) 2004, ISBN 2-9522971-0-X, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887701

2003


Analyse du bruit BF du canal de la technologie HEMT sur nitrure de gallium (GaN)
Curutchet, A. ; Malbert, N. ; Labat, N. ; Touboul, A.
Dans : JNRDM, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401358

Simulation physique de TBH SiGe : Etude du temps de transit sur une structure 1D et 2D
Fregonese, Sébastien ; Maneux, Cristell ; Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas
Dans : Journées Nationales du GDR Nanoélectronique - 4èmes Journées, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181992

InP-based HBT Reliability
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre ; Godin, Jean ; Blayac, S. ; Kahn, M. ; Riet, Muriel
Dans : 2003 European Microwave Week, Workshop on Reliability of microwave devices, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183104

Prévision de l'impact du vieillissement des composants sur le comportement des circuits
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
Dans : Workshop MicroNanotechnologies, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181919

Fractional Order Model for the Thermal Behavior of Bipolar Transistors
Mnif, Hassene ; Zimmer, Thomas ; Luc Battaglia, Jean
Dans : Les journées de l'Action Thématique "Les systèmes à dérivées non entières, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00189393

Time-resolved scanning of integrated circuits with a pulsed laser: application to transient fault injection in an ADC
Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P.
Dans : 2003 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 2003), Vail (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887685

Performance impact of various SEE mechanisms in classical analog-to-digital converter architectures
Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Velazco, R. ; Lewis, D. ; Dallet, D.
Dans : IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC'03), Monterey, CA (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01376266

Obtaining isothermal data with standard measurement equipment
Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sebastien ; Mnif, Hassene ; Ardouin, Bertrand
Dans : 3th European HICUM Workshop, Dresden (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00189389

2002


An IC-CAP Toolkit for HICUM Model Parameter Extraction
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas
Dans : European ICCAP User meeting, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203985

The Synchronous Oscillator in Frequency Generation : an Overview
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Kerherve, Eric
Dans : 14th IEEE International Conference on Microelectronics (ICM'2002), (Lebanon)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183023

The Synchronous Oscillator in Frequency Generation : an Overview
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Kerherve, Eric
Dans : 14th IEEE International Conference on Microelectronics (ICM'2002), (Lebanon)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183003

Laser Utilization for Various Testing Purposes
Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent
Dans : 3rd IEEE Latin American Test Worksop LATW 02, (Uruguay)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185423

Caractérisation électrique et modélisation de l'ionisation par impact sur des Transistors Bipolaires à Hétérojonction sur InP
MARTIN, Jean-Christophe ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral Microélectronique 2002, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183105

A Novel 1-Gbps Clock and Data Recovery Architecture using Synchronous Oscillator in CMOS VLSI technology
Scarabello, Christophe ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Deschans, David ; Fouillat, Pascal ; Pignol, Michel ; Le Gall, Jean-Yves
Dans : IEEE Proceedings of the 28th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC'2002), (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183022

A Novel 1-Gbps Clock and Data Recovery Architecture using Synchronous Oscillator in CMOS VLSI technology
Scarabello, Christophe ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Deschans, David ; Fouillat, Pascal ; Pignol, Michel ; Le Gall, Jean-Yves
Dans : IEEE Proceedings of the 28th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC'2002), (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183001

2001


Videoteaching for RF measurements of ICs in L - S - C bands
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Kerherve, Eric ; Fouillat, Pascal ; Devreese, Regis ; Faurens, Christian
Dans : 12th Conference of the European Association for Education in Electrical and Information Engineering (EAEEIE'2001), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180917

Télé-enseignement de la caractérisation de circuits radiofréquences
Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Devreese, Regis ; Faurens, Christian
Dans : CETSIS-EEA'01, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180916

Convertisseur de signaux orienté délai en technologie CMOS dédié à la réalisation d'un synthétiseur 2 GHz
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : Journées Nationales Micro-ondes (JNM'2001), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183024

HICUM parameter extraction in ICCAP
Zimmer, Thomas ; Ardouin, Bertrand
Dans : HICUM Workshop / User s Meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203986

1999


Les travaux pratiques à distance
Zimmer, Thomas ; Kadionik, Patrice ; Danto, Yves
Dans : Journées d'études internationales. Les TIC au service des relations internationales des établissements d'enseignement supérieur et de recherche, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183062

1997


Influence des effets de dose cumulée sur les règles de conception des circuits intégrés bipolaires
Montagner, Xavier ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul
Dans : Colloque CAO des circuits intégrés et systèmes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184311

1996


Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations
Deval, Yann ; Briand, Renaud ; Montagner, Xavier ; Fouillat, Pascal ; Tomas, Jean ; Dom, Jean-Paul
Dans : Journées d'étude RADECS96, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184312

Determination of critical process steps for enhanced yield improvement
Duluc, J. ; Zimmer, Thomas ; Lewis, N. ; Dom, Jean
Dans : Microelectronic Manufacturing 1996, Austin (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721693

A new approach to determine active doping profiles of bipolar transistors using electrical measurements and a physical device simulator
Hachicha, I. ; Fouillat, P. ; Zimmer, T. ; Dom, J.P.
Dans : International Conference on Microelectronic Test Structures, Trento (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721688

Method for determining the effective base resistance of bipolar transistors
Zimmer, T. ; Berkner, J. ; Branciard, B. ; Lewis, N. ; Duluc, J.B. ; Dom, J.P.
Dans : 1996 BIPOLAR/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, Minneapolis (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721689

1995


SPICE data base for neutron (1 MeV) radiation hardening design: permanent damage effects simulation of bipolar transistors
Rinaudo, O. ; Zimmer, T. ; Limtouch, S. ; Bourgoin, G. ; Lalande, P.
Dans : Third European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721687

A new WLR method based on model parameter analysis
Zimmer, T. ; Duluc, J.B. ; Milet, N. ; Dom, J.P.
Dans : IEEE 1995 International Integrated Reliability Workshop. Final Report, Lake Tahoe (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721684

1994


Critères de choix des méthodes et des techniques
Barre, M. ; Marc, François
Dans : S.E.E. 4e atelier du cercle thématique 21-70 - Techniques d'analyse de défaillance des composants électroniques, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181920

1992


Méthodologie de test sans contact
Marc, François
Dans : S.E.E. 3e atelier du cercle thématique 21-70 -Techniques d'analyse de défaillance des composants électroniques, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181921
Invited lectures → 40 Show

2017


Noise parameters of SiGe HBTs in mmW range: towards a full in situ measurement extraction
Danneville, F. ; DENG, Marina ; Bouvot, S. ; Goncalves, J. Azevedo ; Lepilliet, S. ; Ducournau, G. ; Gaquiere, C. ; Dambrine, G. ; Bossuet, A. ; Quemerais, T. ; Lauga-Larroze, G. ; Fournier, J-M ; Chevalier, Pascal ; Gloria, D.
Dans : 2017 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), Vilnius (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695805

Tomography and terahertz image processing : a new tool for polymer and ceramic additive manufacturing characterization
Mounaix, Patrick
Dans : 3D Print lyon, Lyon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653672

Data And Image Processing For Biomedical Sample Analysis with terahertz beam
Mounaix, Patrick
Dans : BIPSA 2017, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653668

Terahertz spectroscopy imaging for oncology studies
Mounaix, Patrick
Dans : Complementarity between Optics and Neutron spectroscopy in the THz domain – SON2017, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653664

Spectro terahertz imaging : from lab to industrial applications
Mounaix, Patrick
Dans : AG du GDR Ondes, sophia antipolis (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653658

Production , structural characterization of TiO2 spheres and characterization at THz frequencies
Mounaix, Patrick
Dans : ICAE 2017, JeJu (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653655

Advances on spectro thz imaging : From sources to applications
Mounaix, Patrick
Dans : RFIC 2017, Honolulu (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653639

High frequency and noise performance of GFETs
Wei, W. ; Fadil, D. ; DENG, Marina ; Fregonese, S. ; Zimmer, T. ; Pallecchi, E. ; Dambrine, G. ; Happy, H.
Dans : 2017 International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF), Vilnius (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01695812

2016


2D and 3D THz imaging: necessity of automated data processing tools
Mounaix, Patrick
Dans : SPIE Asia Beijing 2016, pekin (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393433

Tomography and image processing for polymer additive manufacturing objects
Mounaix, Patrick
Dans : 8th International Symposium on Ultrafast Phenomena and Terahertz Waves, Chongqing (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393428

Automated data and image processing tools for THz applications : Additive manufacturing and  Biomedical  cases
Mounaix, Patrick
Dans : 7 THz Bio conference , Seoul (South Korea)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393425

Advanced processing sequence for 3D THz imaging
Mounaix, Patrick
Dans : 7th International Workshop on Terahertz Technology and Applications,, Kaiserslautern (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393422

2015


Compact Model Validation Strategies Based on Dedicated and Benchmark Circuit Blocks for the mm-Wave Frequency Range
Ardouin, Bertrand ; Schroter, Michael ; Zimmer, Thomas ; Aufinger, Klaus ; Pfeiffer, Ulrich ; Raya, Christian ; Mukherjee, A. ; Malz,, S. ; Fregonese, Sebastien ; D'Esposito, Rosario ; De Matos, Magali
Dans : proceeding of the Compound Semiconductor Integrated Circuit Symposium (CSICS), 2015 IEEE,, New Orleans, LA, USA (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01235946

Chemical imaging of RDX/PETN explosives by chemometrics appliyed on terahertz time-domain spectroscopy
Bou Sleiman, Joyce ; Perraud, JB ; Bousquet, Bruno ; Palka, Norbert ; Mounaix, Patrick
Dans : SPIE Security + Defence, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01264631

Graphene FET evaluation for RF and mmWave circuit applications
Fregonese, Sebastien ; Morales, Jorgue Daniel Aguirre ; De Matos, Magali ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : Circuits and Systems (ISCAS), 2015 IEEE International Symposium on, Lisbonne (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01235960

Substrate-coupling effect in BiCMOS technology for millimeter wave applications
Fregonese, Sebastien ; D'Esposito, Rosario ; De Matos, Magali ; Kohler, Andreas ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01235958

On the Use of Single-Crystals of Organic Semiconductors in Novel Electronic Devices
Wantz, Guillaume ; Bachevillier, Stéphane ; Reyes-Martinez, Marcos ; Ayela, Cédric ; Fregonese, Sebastien ; Hirsch, Lionel ; Briseno, Alejandro
Dans : MRS Spring Meeting 2015, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01228731

2014


Graphene electronics: how far from industrial applications
Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sebastien
Dans : ICTC Compact Modeling Workshop, Shangai (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002135

The potential of graphene for RF applications
Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sebastien ; Maneux, Cristell
Dans : BIT's 3rd World Congress of Advanced Materials, (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002132

Electro-Thermal Investigation and Modeling of Sige Hbt High-Speed Devices
Zimmer, Thomas ; Weiß, Mario ; Maneux, Cristell ; Fregonese, Sebastien
Dans : SiGe, Ge & Related Compounds: Materials, Processing and Devices, (Mexico)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00987211

2013


Electro-Thermal Device Characterization & Modelling
Fregonese, Sebastien ; Kumar Sahoo, Amit ; Weib, Mario ; Maneux, Cristell
Dans : OBip: Open Bipolar Workshop at BCTM in Bordeaux, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00987256

The potential of graphene for electronics
Zimmer, T. ; Fregonese, S. ; Maneux, Cristell
Dans : SDD, International Multi-Conference on Systems Signals & Devices, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002124

2011


Anything else beyond CMOS?
Fregonese, Sebastien ; Cristell, Maneux ; Thomas, Zimmer
Dans : Atelier CNRS : " Nouveaux paradigmes de traitement de l'information ", Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00987253

Link between low frequency noise and reliability of compound semiconductor HEMTs and HBTs
Labat, Nathalie ; Malbert, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Curutchet, Arnaud ; Grandchamp, Brice
Dans : INCF 2011, Toronto (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585593

2009


Failure mechanisms in deep sub-micron technologies
Pouget, Vincent
Dans : Latin America Test Workshop, Buzios (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398047

2008


Transistors hautes fréquences à base de nanotubes de carbone
Happy, H. ; Zimmer, T.
Dans : JOURNEES NANO, MICRO ET OTOELECTRONIQUE, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00327452

Failure analysis of advanced CMOS technology: some trends, state of the art and future challenges
Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Pouget, V.
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices (ESREF), Maastricht (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401385

2007


CAD tools dedicated to the design and test of RFICs
Deval, Yann ; Taris, Thierry ; Shirakawa, Alexandre ; Mazouffre, Olivier ; Pouget, Vincent ; Kerherve, Eric ; Lewis, Deal ; Begueret, Jean-Baptiste
Dans : Design, Automation & Test in Europe (DATE) 2007, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178343

Using Pulsed laser for security purpose
Pouget, V.
Dans : USE-IT Workshop, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401384

Test et analyse par faisceau laser: plateforme et applications
Pouget, V.
Dans : Journée thématique du GDR SOC-SiP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401383

Fundamentals and recent developments on laser testing at the IMS laboratory
Pouget, V.
Dans : RALFDAY, Suresnes (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401382

Current status of e-Learning in Europe
Zimmer, Thomas
Dans : Kumamoto University GP International Symposium 2007, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00211728

Best practice of on-line labs in electrical engineering education: A ten years experience at the University Bordeaux
Zimmer, T. ; Geoffroy, D. ; Billaud, M.
Dans : International Conference on Information Technology Based Higher Education and Training ITHET, Kumamoto (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00211727

2006


A Review and some Future Prospects on Laser-Based Techniques for Single-Event Effects Testing and Analysis
Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Darracq, Frédéric
Dans : International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications (RASEDA), Tokyo (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398038

Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event effects testing
Mcmorrow, D. ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Darracq, Frédéric ; Buchner, S. ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Séville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401321

Analog Single Event Transients in Linear and RF Devices
Pouget, Vincent
Dans : 2nd International School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Applications, Séville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398045

2005


Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event upset testing
Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Darracq, Frédéric ; Buchner, S. ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Manaus (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401314

Laser SEE Testing and Analysis Case Studies
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Manaus (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401316

2004


Bias dependence of LF drain and gate noise in GaN HEMT s
Malbert, Nathalie ; Labat, Nathalie ; Curutchet, Arnaud ; Verdier, Frédéric ; Touboul, Andre
Dans : Fluctuation and Noise Conference, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183566

2003


Low frequency noise as early indicator of degradation in compound semiconductor FETs and HBTs
Malbert, Nathalie ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
Dans : 17th International Conference on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations, (Czech Republic)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183106
Book chapters → 13 Show

2011


Chapter 9: Electronics Basics E-Learning: From Lectures to Lab
SaÏghi, S. ; Billaud, M. ; Geoffroy, D. ; Zimmer, T.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002610

2009


Pour un rapprochement des technologies et des usages : le futur du pôle TIC de Bordeaux
Fouillat, Pascal ; Claverie, Bernard
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983405

2007


Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing
Fouillat, P. ; Pouget, V. ; Mcmorrow, D. ; Darracq, F. ; Buchner, S. ; Lewis, D.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206315

Using the SEEM software for SET testing and analysis
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397867

Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis
Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Lewis, D.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206320

2005


Transistors bipolaires à hétérojonctions : dispositifs Si/SiGe
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Cazenave, Philippe
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203989

Modélisation bipolaires avancée
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203988

Running remote lab experiments through the eLab platform
Billaud, Michel ; Geoffroy, Didier ; Zimmer, Thomas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00211724

Network Analysis for SiGe HBT's Thermal Impedance Modelling
Mnif, Hassene ; Battaglia, Jean-Luc ; Sulima, Pierre Yvan ; Fregonese, Sebastien ; Zimmer, Thomas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181751

Extraction des paramètres des modèles électriques bipolaires
Zimmer, Thomas ; Ardouin, Bertrand
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203987

2004


EMERGE: A EUROPEAN EDUCATIONAL NETWORK FOR DISSEMINATION OF ONLINE LABORATORY EXPERIMENTS
Cabello, Ruben ; Gonzalez, Ivan ; Gomez-Arribas, Francisco ; Martinez, Xavier ; Billaud, Michel ; Zimmer, Thomas ; Geoffroy, Didier ; Effinger, Hans ; Seifert, Wilhelm ; Jaeger, Reinhold ; Fjeldly, T.A. ; Jeppson, Kjell ; Mann, Hermann ; Asimopoulos, Nikolaos ; German-Sallo, Zoltan
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00364931

Reliability simulation of electronic circuits with VHDL- AMS
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181922

2003


Instrumentation on the WEB
Zimmer, Thomas ; Geoffroy, Didier ; Billaud, M.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203990
Directions of work or proceedings → 7 Show

2015


Microelectronics Reliability Volume 55, Issues 9–10
Perdu, Philippe ; MARC, François ; Bafleur, Marise ; Fremont, Hélène ; Nolhier, Nicolas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01257945

2013


Proceedings of 24th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2013 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 53, Issues 9-11) (2013)
Labat, Nathalie ; Marc, François
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00995849

Foreword
Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sebastien
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00978707

2011


Proceedings of 22nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2011 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 51, Issues 9-11)
Labat, Nathalie ; Marc, François
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670461

2009


Proceedings of 20th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2009 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 49, Issues 9-11)
Labat, Nathalie ; Lewis, D.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670468

2007


Proceedings of 18th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2007 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 47, Issues 9-11)
Labat, Nathalie ; Touboul, Andre
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670469

Radiation Effects on Embedded Systems
Velazco, Raoul ; Fouillat, Pascal ; Da Luz Reis, Ricardo
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185087
Preprint, Working Paper, Document sans référence, etc. → 8 Show

2017


Des ondes térahertz pour sonder les tableaux et les peintures
Mounaix, Patrick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01653682

Frequency analysis of the penetration depth of the heat flow in SiGe HBTs
Rosario, D'Esposito ; Fregonese, Sébastien ; Suresh, Balanethiram ; Zimmer, Thomas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01649953

2016


Franco-Chinese Workshop : Collaboration in Photonics between University of Bordeaux and Huazhong University of Science and Technology
Guillet, Jean-Paul ; Mounaix, Patrick ; Canioni, Lionel ; Prakasam, Mythili ; Jubera, Véronique ; Dousset, Vincent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01456327

Les ondes Térahertz, une alternative prometteuse aux méthodes classiques de CND
Mounaix, Patrick ; obaton, anne françoise
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404483

Photonics & Aeronautics: a wedding with a promising future
Mounaix, Patrick ; Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404480

CONTRÔLES ET MESURES UN NOUVEL ENJEU POUR LA FABRICATION ADDITIVE
Mounaix, Patrick ; obaton, anne françoise
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404478

De nouvelles ondes pour le CND
Mounaix, Patrick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404469

2015


De nouvelles ondes à la vue perçante
Mounaix, Patrick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404487
Books → 2 Show

2011


From Lectures to Lab: Electronics of Devices and Circuits - Essentials
Zimmer, T. ; SaÏghi, S.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002608

2010


Contribution à la modélisation des TBH SiGe en température et en bruit
Mnif, H. ; Zimmer, T.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002607
Patents → 12 Show

2017


Hybrid simulator and method for teaching optics or for training adjustment of an optical device
Canioni, Lionel ; Hachet, Martin ; Guillet, Jean-Paul ; Bousquet, Bruno ; Furio, David
https://hal-univ-bourgogne.archives-ouvertes.fr/hal-01536384

2016


Balun device with GFET transistors
Zimmer, Thomas ; Fregonese, Sebastien ; Happy, Henri
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721670

2015


Dispositif de calibrage pour l'ajustement d'une mesure radiofréquence
Zimmer, Thomas ; Sebastien, Fregonese ; Curutchet, A. ; Potéreau, Manuel ; Raya, Christian
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721675

2014


MACHINE TOURNANTE A ROTOR FLUIDIQUE A PALES ORIENTABLES
Curutchet, Arnaud ; Gabriel, Cordé ; Grosmangin, Stephane ; Renaud, Fourton
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00993368

2013


ELECTRONIC DEVICE FOR PROTECTING AN ELECTRIC CONDUCTOR AND METHOD FOR CONTROLLING SUCH A DEVICE
Guillemard, Franck ; Bavoux, Bernard ; Nguyen, Huy Cuong ; Nocquet, C. ; Pavero, G. ; Cloup, J. P. ; Sabatier, Jocelyn ; Moreau, Xavier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983945

Dispositif électronique de protection d'un conducteur électrique
Guillemard, Franck ; Bavoux, Bernard ; Nguyen, Huy Cuong ; Nocquet, C. ; Pavero, G. ; Cloup, J. P. ; Sabatier, Jocelyn ; Moreau, Xavier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00949718

2012


Device And Method For Generating A Signal Of Parametrizable Frequency
Belot, Didier ; Lucas De Peslouan, Pierre-Olivier ; Majek, Cédric ; Deval, Yann ; Taris, Thierry ; Begueret, Jean-Baptiste
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01582204

Dispositif et procédé de génération d'un signal de fréquence paramétrable
Belot, Didier ; Lucas De Peslouan, Pierre-Olivier ; Majek, Cédric ; Deval, Yann ; Taris, Thierry ; Begueret, Jean-Baptiste
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00840498

SYNTHÉTISEUR D'IMPÉDANCE COAXIAL
Curutchet, Arnaud
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00986959

2010


ENSEMBLE D'ADAPTATION D'IMPÉDANCE, CIRCUIT ÉLECTRONIQUE ET PROCÉDÉS DE FABRICATION ASSOCIES
Curutchet, Arnaud
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00556588

2002


Récupération d'Horloge et de Données à Base d'Oscillateur Synchrone
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Le Gall, Jean-Yves ; Pignol, Michel ; Scarabello, Christophe
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178602

2000


Circuits et Procédés de Génération de Signaux en Décalage de Phase
Begueret, Jean-Baptiste ; Belot, Didier ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Spataro, Anne
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178593
Research report → 1 Show

2016


Modèle dans NANOHUB : Physics-Based Compact Model for Dual-Gate Bilayer Graphene FETs 1.0.0
Aguirre-Morales, Jorge-Daniel ; Fregonese, Sebastien ; Mukherjee, Chhandak ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01399947
Doctoral thesis → 27 Show

2018


Terahertz imaging and spectroscopy of biomedical tissues : application to breast cancer detection
Al-Ibadi, Amel
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01834560

Investigation into trapping mechanisms and impact on performances and reliability of GaN HEMTs through physical simulation and electro-optical characterization
Mukherjee, Kalparupa
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-02115969

Characterization and simulation of defects induced by a continuous wave laser during electrical failure analysis on the 28FDSOI technology
Penzes, Maxime
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01783955

Fast 3D terahertz imaging
Perraud, Jean-Baptiste
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01949401

2017


Reliability assessment of GaN HEMTs on Si substrate with ultra-short gate dedicated to power applications at frequency above 40 GHz
Lakhdhar, Hadhemi
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01763431

2016


Characterization and modeling of graphene-based transistors towards high frequency circuit applications
Aguirre morales, Jorge daniel
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01455081

Imagerie et spectroscopie térahertz : application aux problématiques de défense et de sécurité
Bou Sleiman, Joyce
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01343342

Reliability of SiGe, C HBTs operating at 500 GHz : characterization and modeling
Jacquet, Thomas
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01476084

Design and operation of an auto-characterization test bench for predicting the reliability of programmable digital circuits.
Naouss, Mohammad
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01412351

2014


Contribution in reliability insurance of GaN HEMT on SiC substrate : electrical characterization and modeling of parasitic effects
Brunel, Laurent
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01133679

Integrated circuit analysis by laser probing techniques
Rebaï, Mohamed Mehdi
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01150670

SPICE Modeling of TeraHertz Heterojunction bipolar transistors
Stein, Félix
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01200490

2013


Evaluation of non-hermetic packaging solutions for active microwave devices and space applications
Ben Naceur, Walim
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00991023

Study, applications and improvements of the LVI technique on the advanced CMOS technologies 45nm and below.
Celi, Guillaume
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00904697

Impact of bidimensional physical modeling multicellular of power semiconductor device on the evaluation of the reliability package applied to automotive
El Boubkari, Kamal
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00926599

Prediction tool development of an Integrated Circuit behavior under laser impact in CMOS technology
Godlewski, Catherine
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00958998

Study of the atmospherical neutrons effect on electronic components embbeded for avionics application and search of hardening solutions
Renard, Sébastien
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01015741

Electrothermal device-to-circuit interactions for half THz SiGe∶C HBT technologies
Weisz, Mario
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01249529

2012


DEVELOPPEMENT ET APPLICATIONS DE TECHNIQUES LASER IMPULSIONNELLES POUR L'ANALYSE DE DEFAILLANCE DES CIRCUITS INTEGRES
Faraud, Emeric
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997458

NOUVELLES METHODES D'IMAGERIE HAUTE RESOLUTION POUR L'ANALYSE DES COMPOSANTS NANOELECTRONIQUES
Shao, Kai
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997436

2011


Electrical and electro-optic characterisation of carbon nanotube transistor for the compact modeling
Liao, Si-Yu
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00592479

2010


Terahertz-Nahfeldmikroskopie
Guillet, Jean-Paul
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01316243

Compact modeling of the Schottky carbon nanotube transistor and its application to digital circuit design
Najari, Montassar
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00560346

METHODOLOGIE DE LOCALISATION DES DEFAUTS SOFT DANS LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ET ANALOGIQUES PAR STIMULATION PAR FAISCEAU LASER : ANALYSE DE RESULTATS DES TECHNIQUES DYNAMIQUES PARAMETRIQUES
Sienkiewicz, Magdalena
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00998834

2009


Contribution à la modélisation physique et électrique compacte du transistor à nanotube
Goguet, Johnny
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00585836

Etude des effets singuliers transitoires dans les amplificateurs opérationnels linéaires par photogénération impulsionnelle non-linéaire
Jaulent, Patrice
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00997385

2006


Contribution to the study of a frequency synthesizer dedicated to multistandard communicating objects in SOI CMOS technology
Majek, Cédric
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00188659