Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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EDMINA

Overview

Backed-up by a large academic and industrial partnership as well as a leading plateform of characterization equipments, research carried out by this team is part of scientific priorities of the "Waves" group, by developing methodologies able to assess the effect on the functionality of micro and nano-assembled electronic and photonic devices :

  • due to the use of innovative materials,
  • due to their packaging and interconnection to the operating environment,
  • under severe environmental stresses.

The activities mainly address the following topics :

  • Topic 1 : Electronic devices
    • New dielectric materials for capacitors (decoupling, filtering, energy storage) – Forming and functionalization process - Thin film deposition – Electrical and physical characterization
    • Assessment of electrical performances - Reliability of passive devices and embedded technologies
    • Advanced interconnections for packaging : FEM modeling et non-destructive imaging (scanning acoustic microscopy)
  • Topic 2 : Optoelectronic and photonic devices
    • LEDs, Laser diodes and photodetectors : Electro-optical characterizations – Physics of early failure – Packaging impact on performances (thermal and thermomechanical)
    • Polymer-based integrated optics for optical sensing (optimized packaging using source/sensing zone/photodetector co-integration) - NEW
Members

Permanent staff

 

Laurent BECHOU, Full Professor - Head of the team

Adjunct Professor at the Joint French-Canadian Nanotechnologies & Nanosystems Lab (LN2) CNRS UMI 3463  – Université de Sherbrooke, Canada from 01/09/2016 to 31/08/2018

Yves OUSTEN, Full Professor Yannick DESHAYES, Associate Professor - HDR Isabelle BORD-MAJEK, Associate Professor Simon JOLY, Associate Professor  

Postgraduates

Mickaël BALMONT, PhD student  "EDDEMA" European Project Zaineb JEBRI, PhD student in collaboration with EXXELIA-TEMEX Charles DUMORTIER, PhD student in collaboration with COUACH Roberto MOSTALLINO, PhD student in collaboration with III-V Lab/THALES R&T Emmanuel TETSI, PhD student in collaboration with Univ. de Sherbrooke/  CRSNG-IBM Canada Chair Pierre ALBERT, PhD student in collaboration with Univ. de Sherbrooke
         
Regis ROBLES, PhD student in collaboration with Univ. de Sherbrooke  Nedal AL TARADEH, PhD student in collaboration with Univ. de Sherbrooke Alexandre BORDET, PhD student in collaboration with THALES/CNES      

Post-doc

     
Western BOLANOS-RODRIGUEZ, "IDE²aL" Project funded by Nouvelle-Aquitaine Region Mikel BRAVO-ACHA, in collaboration with Univ. de Sherbrooke funded by MITACS Acceleration Zakaryae EZZOUINE, in collaboration with Univ. de Sherbrooke funded by MITACS Acceleration      

Skills
  • Electrical spectroscopy, impedancemetry and frequency analysis of passive components
  • Forming, characterization, aging and durability of new materials for packaging and interconnection
  • Temperature-based instrumentation - Low-levels and high resolution electrical and optical measurements, non-destructive imaging by scanning acoustic microscopy for optoelectronic and photonic devices.
  • Polymer-based integrated optics
  • Finite Element Modeling for multiphysics simulation
  • Physics of failure modeling and statistics-based methodologies for lifetime predictions

 

Characterization and analysis facilities :

  • High-resolution electrical spectroscopy of passive components, leakage current, dielectric strength
  • Photonic devices characterization (Chip on Submount and pigtailed module) :
  • 4-wires probe testing (He, 5K-350K) and cryostats (LN2, 77K-400K)
    • Sub-fA I-V, C-V
    • LIV (CW < 3A, pulse regime 5A/500ns), DOP-EL (TE/TM from 0,01Ith to 10Ith), near and far-field (CCD goniometer) - OSA 600-1750nm (30pm minimum resolution bandwidth)
    • Spectrometers (300-1800nm, pm resolution) – Photometric and radiometric measurements in the visible range with two spectrometers (W/nm) 
    • Linewidth measurement by Mach-Zenhder interferometry, RIN measurement, Lambdameter (1100-1600nm)
  • Overcurrent and pulse conditions characterizations (1A-15A, 10ns-1s) and aging tests monitoring
  • Photodetectors characterizations (dark current, absolute responsivity, CTR, Gummel-plot...)
  • Optical coupling in sub-micron waveguides (visible-IR)
  • Multi-spectral cameras : APD MWIR, SWIR and visible range (thermal imaging, defects luminescence)
  • Spatially-resolved thermoreflectance Laser imaging under air and vacuum (Collaboration with LOMA from the University of Bordeaux)
  • Transient and steady-state thermal characterization of microassembled devices with T3STER tool (Rth, Cth, Tjonction, thermal path)
  • FEM Modeling tools (ANSYS, COMSOL, SILVACO)
  • Technological analysis : microsection, SEM, EDX, AFM
  • Reflected and transmitted of materials, MEB-FEG, TEM, Spectrally-resolved cathodoluminescence at Tambiante (collaboration with Engineering Physics of INSA-Toulouse)
Collaborations

Academics : ICMCB, LOMA, INSA-Toulouse, LAAS, Université de Sherbrooke (Ca), Université de Cagliari (It), Université de Valladolid (Sp), Université McMaster (Ca), Max-Born Institute (G), University Politehnica of Bucharest (R), Budapest University of Technology (H), Institute for Molecular Science (J)

Industry : CNES, CEA-LETI, ALPHANOV, 3SP Technologies, III-V Lab, THALES, Renault, VALEO, ILED, POLYRISE, NOVAPACK, SUNNA Design, AMPLITUDE Systèmes, INNOPTICS, AdvEOTec, TECNALIA

Key figures and outstanding publications (2010-2017)
  • Member of LAPHIA (Laser and Photonics in Aquitaine) and "Route des Lasers" Clusters of Excellence
  • Scientific output : > 35 papers, > 60 national and international conferences, 15 invited talks
  • SAFRAN Innovation Award in 2011 (topic 1), 3 patents (IMS Japan, CNES & AdvEOTec, RENAULT & CEA) et EU LaserLab Grant with Max-Born Institute in 2016 (topic 2)
  • 19 PhDs (12 defended, 7 in progress and 3 in cotutelle with Univ. Sherbrooke), 4 post-docs (and 2 with Univ. Sherbrooke)
  • Members : IEEE CPMT (Vice-Pdt Chapter France), IMAPS, SFO, ISROS, GIS, GDRs CNRS
  • Technical Program Committees : > 10
  • Strong industrial partnership : > 30 projects (> 4M€)

 

"Thermal Management Characterization of Microassemblied High Power Distributed-Feedback Broad Area Lasers Emitting at 975nm", Mostallino R., Garcia M., Deshayes Y., Larrue A., Robert Y., Vinet E., Lecomte M., Parillaud O., Krakowski M., Bechou L., 66h IEEE ECTC Conference, Session Optoelectronics, Lake Buena Vista, USA, 2017

"Seed Laser Diodes In Pulsed Operation : Limitations and Reliability Investigations", Le Gales G., Joly S., Marcello G., Pedroza G., Morisset A., Laruelle F., Bechou L., SPIE Photonics West Conference, Physics and Simulation of Optoelectronic Devices XXV, San Francisco-CA, USA, 2017

"Extended Modal Gain Measurement in DFB Laser Diodes", Vanzi M., Marcello G., Mura G., Le Gales G., Joly S., Deshayes Y., Bechou L., IEEE Photonics Technology Letters, Vol. 29, n°2, 2017

"Thermal behavior of high power GaAs-based laser diodes in vacuum environment", Michaud J., Bechou L., Veyrie D., Laruelle F., Dilhaire S., Grauby S., IEEE Photonics Technology Letters, Vol. 28, n°6, 2016

"Inorganic/Organic Nanocomposites: Reaching a High Filler Content without Increasing Viscosity using Core-Shell Structured Nanoparticles", Benhadjala W., Gravoueille M., Bord-Majek I., Bechou L., Suhir E., Buet M., Louarn M., Weiss M., Rouge F., Gaud V., Ousten Y., Applied Physics Letters, Vol. 107, p. 211903, 2015

"Overview on sustainability, robustness and reliability of GaN single chip LED devices", Deshayes Y., Baillot R., Joly S., Ousten Y., Bechou L., IEEE Devices and Materials Reliability, Vol. 15, Issue 4, pp. 621-625, 2015

Precise Facet Temperature Distribution of High Power Laser Diodes: Unpumped Window Effect, Michaud J., Del Vecchio P., Bechou L., Veyrié D., Bettiati M., Laruelle F., Grauby S., IEEE Photonics Technology Letters, Vol. 27, n°9, pp. 1002-1005, 2015

Study of a polymer optical microring resonator for hexavalent chromium sensing, Meziane F., Raimbault V., Hallil H., Joly S., Bechou L., Rebière D., Dejous C., SENSORS AND ACTUATORS B : CHEMICAL, Sensors and Actuators B: Chemical, Volume 209, pp. 1049–1056, 2015

Crack propagation Modeling in Silicon : A Comprehensive Thermomechanical Finite Element Model Approach for Power Devices, Calvez D., Roqueta F., Jacques S., Bechou L., Ousten Y., Ducret S., IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, 4 360-366, 2014

Examination of femtosecond laser matter interaction in multipulse regime for surface nanopatterning of vitreous substrates, Varkentina N., Cardinal T., Moroté F., Mounaix P., André P., Deshayes Y., Canioni L., Optics Express, 21 29090-29100, 2013

High-power diode laser bars and shear strain, Cassidy D.T., Rehioui O., K. Hall C., Bechou L., Deshayes Y., Kohl A., Fillardet T., Ousten Y., Optics Letters, 38 1633-1635, 2013

Durability study of a fluorescent optical memory in glass studied by luminescence spectroscopy, Royon A., Bourhis K., Bechou L., Cardinal T., Canioni L., Deshayes Y., Microelectronics Reliability, 53 1514-1518, 2013

Predicted Thermal Stresses in a Photovoltaic Module (PVM), Suhir E., Shangguan D., Bechou L., Photovoltaics International (UK), 16th edition, Second Quarter, 118-129, 2012, Technical Diagnostics in Electronics: Application of Bayes Formula and Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov (BAZ) Model, Suhir E., Bechou L., Bensoussan A., Printed Circuit Design& Fab/Circuits Assembly, 29 25-28, 2012

Hardening Principles and Characterization of an Optocoupler Including a Vertical Cavity Surface Emitting Laser, Gilard O., Del Vecchio P., Moglia R., Bechou L., Quadri G., IEEE Transactions on Nuclear Science, 59 1717-1721, 2012

Improved performances of polymer-based dielectric by using inorganic/organic core-shell nanoparticles, Benhadjala W., Bord-Majek I., Bechou L., Suhir E., Buet M., Rougé F., Gaud V., Plano B., Ousten Y., Applied Physics Letters, 101 142901, 2012

France : Le projet Archive & Forget pour l'archivage longue durée sur disque optique, Deshayes Y., MOS Magazine, 17-19, 2012

Failure Mechanisms in Packaged Light-Emitting Diodes Under Gamma Radiations: Piezoelectric Model Based on Stark Effect, Deshayes Y., Baillot R., Rehioui O., Bechou L., Gilard O., Ousten Y., IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 11 303-311, 2011

Operational performances demonstration of polymer-ceramic embedded capacitors for MMIC applications, Bord-Majek I., Kertesz P., Mazeau J., Caban-Chastas D., Levrier B., Bechou L., Ousten Y., IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing technology, 1 1473-1479, 2011

An original DoE-based tool for silicon photodetectors EoL estimation in space environments, Spezzigu P., Bechou L., Quadri G., Gilard O., Ousten Y., Vanzi M., Microelectronics Reliability, 51 1999-2003, 2011

Effects of silicon coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses, Baillot R., Deshayes Y., Bechou L., Buffeteau T., Pianet I., Armand C., Voillot F., Sorieul S., Ousten Y., Microelectronics Reliability, 50 1568-1573, 2010

Silver Clusters Embedded in Glass as a Perennial High Capacity Optical Recording Medium, Royon A., Bourhis K., Bellec M., Papon G., Bousquet B., Deshayes Y., Cardinal T., Canioni L., Advanced Materials, 22 5282-5286, 2010

Stark effects model used to highlight selective activation of failure mechanisms in MQW InGaN/GaN light emitting diodes, Deshayes Y., Bechou L., Ousten Y., IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 10 164-170, 2010

Publications

Total : 294

Articles in peer-reviewed journal → 75 Show

2016


Thermal Behavior of High Power GaAs-Based Laser Diodes in Vacuum Environment
Michaud, J ; Béchou, L ; Veyrié, D ; Laruelle, F ; Dilhaire, S ; Grauby, S
Dans : IEEE Photonics Technology Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01343339

2015


Photothermal activated failure mechanism in polymer-based packaging of low power InGaN/GaN MQW LED under active storage
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Béchou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01213954

Inorganic/organic nanocomposites: Reaching a high filler content without increasing viscosity using core-shell structured nanoparticles
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Bechou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Buet, Matthieu ; Louarn, Mélanie ; weiss, M ; Rougé, Fabien ; Gaud, Vincent ; Ousten, Yves
Dans : Applied Physics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01240791

Liquid Crystal Polymer for QFN packaging: Predicted thermo-mechanical fatigue and Design for Reliability
Chenniki, W. ; Bord-Majek, I. ; Louarn, M. ; Gaud, V. ; Diot, Jl. ; Wongtimnoi, K. ; Ousten, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01255459

Correlation between forward-reverse low-frequency noise and atypical I–V signatures in 980 nm high-power laser diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Béchou, Laurent
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01214031

Overview on sustainability, robustness and reliability of GaN single chip LED devices
Deshayes, Yannick ; Baillot, Raphael ; Joly, Simon ; Ousten, Yves ; Béchou, Laurent
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01221533

Study of a polymer optical microring resonator for hexavalent chromium sensing
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Conédéra, Véronique ; LACHAUD, Jean-Luc ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01112028

Investigations on electro-optical and thermal performances degradation of high power density GaAs-based laser diode in vacuum environment
Michaud, J. ; Pedroza, G. ; Béchou, L. ; How, L.S. ; Gilard, O. ; Veyrié, D. ; Laruelle, F. ; Grauby, S.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01256856

Precise Facet Temperature Distribution of High- Power Laser Diodes: Unpumped Window Effect
Michaud, Jérémy ; Del Vecchio, Pamela ; Béchou, Laurent ; Veyrié, David ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Grauby, Stéphane
Dans : IEEE Photonics Technology Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01155505

2014


Crack Propagation Modeling in Silicon: A Comprehensive Thermomechanical Finite-Element Model Approach for Power Devices
Calvez, D. ; Roqueta, F. ; Jacques, S. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; Ducret, S.
Dans : IEEE Transactions on Components Packaging and Manufacturing Technology Part B
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01061431

Qualification procedure for moisture in embedded capacitors
Frémont, Hélène ; Kludt, Jörg ; Wade, Massar ; Duchamp, Geneviève ; Weide-Zaage, Kirsten ; Bord-Majek, Isabelle
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01091487

2013


Durability study of a fluorescent optical memory in glass studied by luminescence spectroscopy
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Béchou, Laurent ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00932228

Power MOSFET active power cycling for medical system reliability assessment
Sow, Amadou ; Somaya, Sinivassane ; Ousten, Yves ; Vinassa, Jean-Michel ; Patoureaux, Fanny
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950594

Saint-Venant's principle and the minimum length of a dual-coated optical fiber specimen in reliability (proof) testing
Suhir, E. ; Bechou, L.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00937728

High-power diode laser bars and shear strain
T. Cassidy, Daniel ; Rehioui, O. ; K. Hall, Chadwick ; Bechou, L. ; Deshayes, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T. ; Ousten, Y.
Dans : Optics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979994

Examination of femtosecond laser matter interaction in multipulse regime for surface nanopatterning of vitreous substrates
Varkentina, Nadezda ; Cardinal, Thierry ; Moroté, Fabien ; Mounaix, Patrick ; André, Pascal ; Deshayes, Yannick ; Canioni, Lionel
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00909676

2012


Improved performances of polymer-based dielectric by using inorganic/organic core-shell nanoparticles
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Gaud, Vincent ; Plano, Bernard ; Ousten, Yves
Dans : Applied Physics Letters
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00765215

France : Le projet Archive & Forget pour l'archivage longue durée sur disque optique
Deshayes, Yannick
Dans : MOS Magazine
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979982

Hardening Principles and Characterization of an Optocoupler Including a Vertical Cavity Surface Emitting Laser
Gilard, O. ; Del Vecchio, P. ; Moglia, R. ; Bechou, L. ; Quadri, Gianandrea
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786227

Technical Diagnostics in Electronics: Application of Bayes Formula and Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov (BAZ) Model
Suhir, E. ; Bechou, L. ; Bensoussan, A.
Dans : Printed Circuit Design& Fab/Circuits Assembly
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797400

Predicted Thermal Stresses in a Photovoltaic Module (PVM)
Suhir, Ephraim ; Shangguan, Dongai ; Bechou, Laurent
Dans : Photovoltaics International (UK), 16th edition
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797395

2011


OPERATIONAL PERFORMANCES DEMONSTRATION OF POLYMER-CERAMIC EMBEDDED CAPACITORS FOR MMIC APPLICATIONS
Bord-Majek, Isabelle ; Kertesz, Philippe ; Mazeau, Julie ; Caban-Chastas, Daniel ; Levrier, Bruno ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing technology
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00641070

Failure Mechanisms in Packaged Light-Emitting Diodes Under Gamma Radiations: Piezoelectric Model Based on Stark Effect
Deshayes, Y. ; Baillot, R. ; Rehioui, O. ; Béchou, L. ; Gilard, O. ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673553

An original DoE-based tool for silicon photodetectors EoL estimation in space environments
Spezzigu, P. ; Bechou, L. ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, O. ; Ousten, Y. ; Vanzi, M.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673537

2010


Effects of silicon coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Armand, C. ; Voillot, F. ; Sorieul, S. ; Ousten, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979970

Strain Estimation in III-V Materials by Analysis of the Degree of Polarization of Luminescence
Cassidy, Dt ; Hall, Ck. ; Rehioui, O. ; Bechou, L.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01061416

Starck effects model used to highlight selective activation of failure mechanisms in MQW InGaN/GaN light emitting diodes
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979617

Silver Clusters Embedded in Glass as a Perennial High Capacity Optical Recording Medium
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Bellec, Matthieu ; Papon, Gautier ; Bousquet, Bruno ; Deshayes, Yannick ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel
Dans : Advanced Materials
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00672097

2009


Proton effects on low noise and high responsivity silicon-based photodiodes for space applications
Pedroza, Guillaume ; Gilard, Olivier ; Bourqui, Marie-Lise ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Sun How, Lip ; Rosala, François
Dans : Journal of Applied Physics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402156

Implementation of a Design of Experiments Methodology for the Prediction of Phototransistor Degradation in a Space Environment"
Spezzigu, Piero ; Caddeo, C. ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, O. ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Vanzi, M.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584333

2008


Challenges and potential of new approaches for reliability assessment of nanotechnologies
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deletage, J.Y. ; Verdier, F. ; Deshayes, Y. ; Fregonese, S. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Laffitte, D.
Dans : Comptes rendus de l’Académie des sciences. Série IV, Physique, astrophysique
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00266387

Thermal characteristics measurement of packaged double-heterostructure light emitting diodes for space applications using spontaneous optical spectrum properties
Bechou, L. ; Rehioui, O. ; Deshayes, Y. ; Gilard, O. ; Quadri, Gianandrea ; Ousten, Y.
Dans : JOURNAL OF OPTICS AND LASER TECHNOLOGY
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00266383

Reliability assessment: New tools for the next generation of packages
Bord, Isabelle ; Lévrier, Bruno ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Journal of Microelectronics and Electronic Packaging
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00313790

Reliability investigations of 850 nm silicon photodiodes under proton irradiation for space applications
Bourqui, M.L. ; Bechou, L. ; Gilard, O. ; Deshayes, Y. ; Del Vecchio, P. ; How, L.S. ; Rosala, F. ; Ousten, Y. ; Touboul, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334728

Thermomechanical Stresses and Optical Misalignment in 1550 nm Emissive Optoelectronic Modules Using FEM and Process Dispersions
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frederic ; Ousten, Yves ; Laffitte, Dominique ; Goudard, Jean-Luc
Dans : IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402624

Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation
Deshayes, Yannick ; Bord, Isabelle ; Barreau, Gérard ; Aiche, Mourad ; Moretto, Philippe ; Béchou, Laurent ; Roherig, A.C. ; Ousten, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326851

Reversible photomagnetic properties of the molecular compound [{CuII(bipy)2}2{MoIV(CN)8}]·9H2O·CH3OH
Mathonière, Corine ; Kobayashi, Hirokazu ; Le Bris, Rémy ; Kaiba, Abdellah ; Bord, Isabelle
Dans : Comptes Rendus Chimie
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00319954

2007


Temperature influence on a differential capacitive rain sensor performances
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182399

2006


Use of signal processing imaging for the study of a 3D package in harsh environment
Augereau, J. ; Ousten, Y. ; Levrier, B. ; Bechou, L.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334732

Influence of the electrodes configuration on a differential capacitive rain sensor performances
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182401

Defect detection in multilayer ceramic capacitors
Krieger, V. ; Wondrak, W. ; Dehbi, A. ; Bartel, W. ; Ousten, Y. ; Levrier, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334736

2005


Scanning laser ultrasonics experiments for in-situ non-destructive analysis of integrated circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Material Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181926

Vibration lifetime modelling of PCB assemblies using steinberg model
Dehbi, A. ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Wondrak, W.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181927

Long-term reliability prediction of 935 nm InGaAs/GaAs Light Emitting Diodes using degradation laws and ageing tests with low acceleration factor
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183945

Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier
Huyghe, S. ; Bechou, L. ; Zerounian, N. ; Deshayes, Y. ; Aniel, F. ; Denolle, A. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162343

Failure mechanisms and qualification testing of passive components
Post, Ha ; Letullier, P. ; Briolat, T. ; Humke, R. ; Schuhmann, R. ; Saarinen, K. ; Werner, W. ; Ousten, Yves ; Lekens, G. ; Dehbi, A. ; Wondrak, W.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181925

2004


Reliability of Low-Cost PCB Interconnections for Telecommunication Applications
Duchamp, Geneviève ; Verdier, Frédéric ; Deshayes, Yannick ; Marc, François ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181802

Study of influence of failure modes on lifetime distribution prediction of 1.55 µm DFB laser diodes using weak drift of monitored parameters during ageing tests
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183946

2003


Application of Picosecond Ultrasonics to Non-Destructive Defect Analysis in VLSI Circuits
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Danto, Yves ; Rampnoux, J. M. ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181929

An improved method for automatic detection and location of defects in electronics components using scanning ultrasonic microscopy
Bechou, Laurent ; Dallet, Dominique ; Danto, Yves ; Daponte, Pasquale ; Ousten, Yves ; Rapuano, Sergio
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180554

FFT et applications : choix d'une fenêtre de pondération, caractérisation d'un CAN et réponse en fréquence d'un système linéaire
Couturier, Gérard ; Bechou, Laurent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Pellet, Claude
Dans : Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183112

Reliability estimation of BGA and CSP assemblies using degradation law model and technological parameters deviations
Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Plano, Bernard ; Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183949

Three-dimensional FEM simulations of thermomechanical stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Deletage, Jean-Yves ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183950

Early failure signatures after thermal cycles of 1310 nm Laser modules using electrical, optical and spectral measurements
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Mendizabal, Laurent ; Danto, Yves
Dans : MEASUREMENT JOURNAL
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183947

Three-dimensional FEM simulations of thermomechanical stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, L. ; Deletage, Jy. ; Verdier, F. ; Danto, Y. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162350

Impact of 1.55 µm laser diode degradation laws on fibre optic system performances using a system simulator
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Dumas, Jean-Michel ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183948

Moisture Diffusion in BCB Resins used for MEMS Packaging
Tetelin, Angélique ; Pellet, Claude ; Deletage, Jean-Yves ; Carbonne, Bertrand ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183113

2002


Detection and location of defects in electronic devices by means of scanning ultrasonic microscopy and the wavelet Transform
Angrisani, Léopoldo ; Bechou, Laurent ; Dallet, Dominique ; Daponte, Pasquale ; Ousten, Yves
Dans : Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180545

Acoustic analysis of an assembly : Structural identification by signal processing (wavelets)
Augereau, Jean ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181930

Evaluation of a micropackaging analysis technique by highfrequency microwaves
Duchamp, Geneviève ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181934

Behavioral studyof passive components and coating materials under isostatic pressure and temperature stress conditions
Tregon, Bernard ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Bechou, Laurent ; Parmentier, B.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181931

1999


Localization of defects in die-attach assembly by continuous wavelet transform using scanning acoustic microscopy
Bechou, Laurent ; Angrisani, Léopoldo ; Ousten, Yves ; Dallet, Dominique ; Levi, Hervé ; Danto, Yves ; Daponte, Pasquale
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180223

Study of Ca1-xPrxF2+x solid solution thin films grown on silicon substrates.
Tardy, Pascal ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Barriere, Albert-Serge ; Desbat, B. ; Elfajri, A.
Dans : Thin Solid Films
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183554

Spatial distribution of Pr3+ and ions in Ca1-xPrxF2+x luminescent thin films
Tardy, Pascal ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Barriere, Albert-Serge ; Elfajri, A. ; Desbat, B.
Dans : Mat. Sci. Forum
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183553

1998


Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for multilayer ceramic capacitors type II crack detection
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181936

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for crack detection in type II multilayer ceramic capacitors
Ousten, Yves ; Mejdi, Said ; Bechou, Laurent ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181935

The Use Impedance Spectroscopy, SEM and SAM Imaging for Early Detection of Failure in SMT Assemblies
Ousten, Y. ; Medji, S. ; Fenech, A. ; Y. Deletage, J. ; Bechou, L. ; Perichaud, M.G. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164931

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for MLCC crack detection
Ousten, Y. ; Mejdi, S. ; Bechou, L. ; Tregon, B. ; Danto, Y.
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164925

1997


Ultrasonic characterisation improvement of microassembling technologies using Time-Frequency analysis
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181937

Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, L. ; Tregon, B. ; Ousten, Y. ; Marc, F. ; Danto, Y. ; Kertesz, Ph. ; Even, R.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164920

1996


NON-DESTRUCTIVE DETECTION AND LOCALIZATION OF DEFECTS IN MULTILAYER CERAMIC CHIP CAPACITORS USING ELECTROMECHANICAL RESONANCES
Bechou, Laurent ; Mejdi, Said ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181938

Nondestructive detection and localization of defects in multilayer ceramic chip capacitors using electromechanical resonances
Bechou, L. ; Mejdi, S. ; Ousten, Y. ; Danto, Y.
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164916

Nondestructive defect detection in multilayer ceramic chip capacitors using piezoelectric analysis and acoustic microscopy
Bechou, L. ; Mejdi, S. ; Ousten, Y. ; Danto, Y.
Dans : EXACT INTERNATIONAL PUBLICATIONS FOR PASSIVE MANUFACTURERS
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164912

1993


Simulation of assembly generated constraints during SMT processing and size optimisation of the capacitors by design of experiments
Ousten, Y. ; Bechou, L. ; Xiong, N.
Dans : HYBRID CIRCUITS
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164908

1992


Influence of the nature of the screen-printed electrode metal on the transport and detection properties of thick film semiconductor gas sensors
Dutronc, P. ; Carbonne, Bertrand ; Menil, Francis ; Lucat, Claude
Dans : Sensors and Actuators B: Chemical
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00196232
Conference with proceedings (national) → 45 Show

2016


Auto-assemblage de nanoparticules de Ba0.6Sr0.4TiO3 pour la réalisation de condensateurs de découplage intégrés sur interposeur pour l’électronique 3D
Tetsi, E. ; Philippot, G. ; Bord Majek, I. ; Aymonier, C. ; Audet, J. ; Béchou, L. ; Drouin, D.
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01349015

2015


Digital microfluidic system incorporating optical ring resonator for trace-level hexavalent chromium ions Cr(VI) detection
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Joly, Simon ; Hallil, Hamida ; Conédéra, Véronique ; Lachaud, Jean-Luc ; Bechou, Laurent ; Dejous, Corinne
Dans : 18 èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro - nanoélectronique, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01308538

Developpement et caractérisation de laser de pompe monomode, forte puissance et rendement élevé emettant a 975nm
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Y., Robert ; Vinet, Eric ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel ; Béchou, Laurent
Dans : JNOG 35, Rennes (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219229

2013


Boîtier QFN en LCP : simulation thermo-mécanique 3D
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Ousten, Yves
Dans : XVIèmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00859289

Conception, simulation et réalisation de condensateurs enterrés à base de nanocomposites pour des circuits hautes fréquences
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Geneviève
Dans : XVIèmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique (JNRDM), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00859249

2009


Méthodologie d'analyse physique pour l'évaluation de la fiabilité de Diodes Electroluminescentes InGaN/GaN
Baillot, Raphaël ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent
Dans : JNRDM, Lyon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402734

OpERaS : "OptoElectronic Reliability applied to Space environment" Un nouveau consortium pour l'évaluation de la fiabilité de dispositifs optoélectroniques et photoniques dédiés à l'environnement spatial
Bechou, Laurent ; Rosala, F. ; Guibaud, Gérald ; Ousten, Yves
Dans : Symposium " L'innovation à la croisée des savoirs " organisé par le Pôle Aquitaine de l'Institut de Communication du CNRS, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584317

Etude en basse fréquence de condensateurs à base de matériaux organiques enterrés dans les circuits imprimés
Blot, Cyril ; Bord, Isabelle ; Ousten, Yves
Dans : JNRDM, Lyon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402727

2005


Intra-IC Inspection and Metrology with Picosecond Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Danto, Yves
Dans : 22nd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC) 2005, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182901

Study of Degradations in PCB Interconnections for High Frequency Applications
Duchamp, Geneviève ; Verdier, Frédéric ; Levrier, Bruno ; Marc, François ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : IPFA 2005, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181898

Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique
Mendizabal, Laurent ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : 7ème JNRDM 2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183951

Characterization and reliability of quartz resonators submitted to high temperature
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Andriamonje, Grégory
Dans : CARTS Europe 2005: 19th Annual Passive Components Conference, (Czech Republic)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182900

Projet Européen VIGOR: Indusrialisation et dissipation thermique de modules 3D
Val, A. ; Golot, F. ; Couderc, P. ; Ousten, Yves ; Levrier, Bruno
Dans : IMAPS, INTERCONNEX 2005, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182902

2004


Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182909

Structural Analysis of Integrated Circuits Using Scanning Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Plano, Bernard ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182908

La Licence Professionnelle Microélectronique Microsystèmes: Une nouvelle approche dans le pôle CNFM bordelais (PCB)
Begueret, Jean-Baptiste ; Rebiere, Dominique ; Bechou, Laurent ; Pellet, Claude ; Maidon, Yvan ; Salaun, Ac ; Lhermite, H.
Dans : 8èmes journées Pédagogiques du CNFM, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183078

Capteur de pluie de type capacitif différentiel
Bord, Isabelle
Dans : Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique JNRDM, Marseille (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182409

Simulations of thermomechanical stresses and optical misalignment in 1.55 µm emissive optoelectronic modules using FEM and process dispersions
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Danto, Yves
Dans : 2èmes Journées du RTP 31, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183953

Estimation of lifetime distributions on 1550 nm DFB laser diodes using Monte-Carlo statistic computations
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric ; Tregon, Bernard ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl ; Hernandez, Y. ; Danto, Yves
Dans : SPIE PHOTONICS EUROPE CONFERENCE, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183952

Embedded Passive Design for High Speed Circuits
Duchamp, Geneviève ; Levrier, Bruno ; Ousten, Yves ; Kertesz, Philippe ; Heytens, Steven
Dans : XIX Conference on Design of Circuits and Integrated systems - DCIS 2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182905

Caractérisation des condensateurs enterrés pour des applications hyperfréquences
Duchamp, Geneviève ; Ousten, Yves ; Kertesz, Philippe ; Heytens, Steven
Dans : JCMM 2004 - 8ème Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182904

Reliability analysis of ceramic capacitors under 200C
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Verdier, Frédéric
Dans : CARTS Europe 2004: 18th Annual Passive Components Conference, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182907

Eurelnet (EUropean RE Liability NETwork)
Ousten, Yves ; Deletage, Jean-Yves
Dans : Commercialisation of Military and Space Electronics Conference and Exhibition, (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182906

Applications de l acoustique picoseconde à l analyse non destructive de circuits intégrés
Rampnoux, J. M. ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B. ; Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182903

2003


Impedance spectroscopy on aluminium and tantalum capacitors after more than 10 years in uses at EDF
Guffroy, Gilles ; Simon, G. ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : CARTS Europe 2003: 17th Annual Passive Components Conference, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182911

Extraction of the MLCC Matrix of Compliance Used for Reliability
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Augereau, Jean ; Bechou, Laurent
Dans : CARTS Europe 2003: 17th Annual Passive Components Conference, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182910

2002


Acoustic analysis of an assembly : Structural identification by signal processing (wavelets)
Augereau, Jean ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : ESREF 2002, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182912

Reliability Analysis of Tantalum Capacitors for High Temperature Application
Dehbi, A. ; Wondrak, W. ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : CARTS Europe 2003: 17th Annual Passive Components Conference, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182913

Three-Dimensional FEM Simulations of Thermomechanical Stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl
Dans : IPFA 2002, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183954

2001


New Methods for Scanning Ultrasonic Microscopy - Applications for Failure Analysis of Microassembling Technologies
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : IPFA 2001, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182915

Dissipation thermique dans les dispositifs à fortes densités de puissance. Cas des TBHs sur GaAs et évaluation de deux techniques de report
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : 8èmes Journées Nationales de Microélectronique et Optoélectronique (JNMO'2001), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182914

FFT et applications : caractérisation d un CAN, choix d une fenêtre d analyse et réponse en fréquence d un système
Couturier, Gérard ; Bechou, Laurent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Pellet, Claude
Dans : CETSIS 2001, 3ème Colloque sur l Enseignement des Technologies et des Sciences de l Information, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183133

FFT et applications : caractérisation d'un CAN, choix d'une fenêtre d'analyse et réponse en fréquence d'un système
Couturier, Gérard ; Bechou, Laurent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Pellet, Claude
Dans : CETSIS-EEA, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183132

2000


Life prediction of BGA and CSP assemblies using an experimental degradation law and fem simulations
Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Louis, Patrick ; Danto, Yves ; Plano, Bernard ; Carbonne, Bertrand
Dans : IEMT, (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183968

Etude de la fiabilité de composants et modules optoélectroniques
Deshayes, Yannick
Dans : IIIème Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183955

1998


Analyse nondestructive par microscopie ultrasonore et laminographie X d assemblages CBGA soumis à des cyclages thermiques
Bechou, Laurent ; Navarro, Dominique ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Zardini, Christian ; Aucouturier, Jean-Louis ; Salagoity, Michel
Dans : IMAPS 98, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182916

MLCC Type II tested by resonant sound
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves
Dans : CARTS EUROPE 98, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182917

1997


Improvement of ultrasonic images on Microassemblies using adapted signal processing techniques
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves ; Allano, Sylvain ; Salagoity, Michel
Dans : IEMT 97, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182919

Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Tregon, Bernard ; Marc, François ; Danto, Yves ; Kertesz, Philippe
Dans : ESREF 97, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181907

Study of Time-Frequency methods for multilayer structures characterization
Dallet, Dominique ; Bechou, Laurent ; Berthoumieu, Yannick ; Ousten, Yves
Dans : IEEE Acoustic Field, San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182922

The use of impedance spectroscopy, SEM and SAM imaging for early detection of failure in SMT assemblies
Ousten, Yves ; Mejdi, Said ; Fenech, Alain ; Deletage, Jean-Yves ; Bechou, Laurent ; Perichaud, Marie-Genevieve ; Danto, Yves
Dans : 6th International Symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits, (IPFA 97), (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182923

Improving Reliability Evaluation of Electronic Assemblies Using Early Physical and Electrical Indicators
Ousten, Yves ; Ponomarenko, S. ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Mejdi, Said ; Hijazi, A.
Dans : Third ESA Electronic Components Conference, (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182920

Comparison between piezoelectric method and ultrasonic signal analysis for multilayer ceramic capacitors type II crack detection
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Tregon, Bernard ; Danto, Yves
Dans : CARTS 97, (Czech Republic)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182918

Report des composants CMS à l'aide d'une colle conductrice
Perichaud, Marie-Genevieve ; Deletage, Jean-Yves ; Tregon, Bernard ; Ousten, Yves ; Fremont, Hélène ; Danto, Yves
Dans : Brasage soldering, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182921

1991


Influence of the nature of the screen-printed electrode metal on the transport and detection propeties of thick film semiconductor gas sensors
Dutronc, P. ; Carbonne, Bertrand ; Menil, Francis ; Lucat, Claude
Dans : Eurosensors V, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203825
Conference with proceedings (international) → 63 Show

2017


Enabling patterning of polymer optical devices working at visible wavelength using thermal nano-imprint lithography
Diez, Miguel ; Raimbault, Vincent ; Joly, Simon ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Nguyen, Chi Thanh ; Ledoux-Rak, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : 19th IEEE Conference Symposium on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS and MOEMS (DTIP 2017), Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01521571

2016


Design and fabrication of polymer-on-glass optical sensors for environmental pollutants detection
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Nguyen, Chi Thanh ; Ledoux-Rak, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : 8ème Franco-Spanish Workshop IBERNAM-CMC2, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393059

Thermal investigation on high power dfb broad area lasers at 975 nm, with 60% efficiency
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Lecomte, Michel ; Krakowski, Michel ; Bechou, Laurent
Dans : Photonics West, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01380760

Ba1-xSrxTiO3 (x=0.4) nanoparticles dispersion for 3D integration of decoupling capacitors on glass interposer
Tetsi, Emmanuel ; Philippot, Gilles ; Bord-Majek, Isabelle ; Aymonier, Cyril ; Audet, Jean ; Bechou, Laurent ; Drouin, Dominique
Dans : 6th Electronics System-Integration Technology Conference (ESTC 2016), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01566969

High frequency characterization of nanocomposite materials based on simulation and measurement of buried capacitors
Wade, M. ; Duchamp, G. ; Dubois, T. ; Bord-Majek, I.
Dans : 17th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE 2016), Montpellier (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01349069

2015


Photothermal activated pellicular failure mechanism in polymer-based packaging of low power InGaN/GaN MQW LED under active storage
Baillot, Raphael ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : ESREF, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219195

Monte-carlo computations for predicted degradation of photonic devices in space environment
Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Gilard, Olivier ; Quadri, Gianandrea ; How, L.S.
Dans : 2015 IEEE Aerospace Conference, AERO 2015, Yellowstone (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219189

Correlation between Forward-Reverse Low-Frequency Noise and atypical I-V signatures in 980nm High-Power Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Labat, Nathalie ; Bechou, Laurent
Dans : ESREF, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219200

Original Screening Methodology based on Correlation betweenLow-Frequency Noise Measurements and Reverse Bias Behaviorof GaAs-based Laser Diodes
Del Vecchio, Pamela ; Curutchet, Arnaud ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : CLEO 2015 (Conference on Lasers and Electro-Optics), munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01163620

Leakage current measurements of core/shell hyperbranched polyester /BaTi03 composites for embedded capacitors
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Levrier, Bruno ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Geneviève
Dans : HYMA 2015, Barcellona (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01180995

2014


A novel approach on accelerated ageing towards reliability optimization of high concentration photovoltaic cells
A. Tsanakas, John ; Jaffre, Damien ; Sicre, Mathieu ; Elouamari, Rachid ; Vossier, Alexis ; De Salins, Jean-Edouard ; Bechou, Laurent ; Levrier, Bruno ; Perona, Arnaud ; Dollet, Alain
Dans : CPV-10 10th International Conference on Concentrator Photovoltaic Systems, Albuquerque (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01070179

Predictive reliability using FEA simulations of power stacked ceramic capacitors for aeronautical applications
Benhadjala, Warda ; Levrier, Bruno ; Bord-Majek, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Ousten, Yves
Dans : EuroSimE 2014: IEEE International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems, Ghent (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979156

FEM simulations for built-in reliability of innovative Liquid Crystal Polymer-based QFN packaging and Sn96.5Ag3Cu0.5 solder joint
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Levrier, Bruno ; Wongtimnoi, Komkrisd ; Diot, Jean-Luc ; Ousten, Yves
Dans : EuroSimE 2014: IEEE International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems, Ghent (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979149

Accurate electro-optical characterization of high power density GaAs-based laser diodes for screening strategies improvement
Del Vecchio, Pamela ; Deshayes, Yannick ; Joly, Simon ; Bettiati, Mauro ; Laruelle, François ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Photonics Europe 2014: Photonics, Optics, Lasers, Micro- and Nanotechnologies, Brussels (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00991556

Prediction of Remaining Useful Life (RUL) of Ball-Grid-Array (BGA) Interconnections during Testing on the Board Level
Gucik-Derigny, David ; Zolghadri, Ali ; Suhir, E. ; Bechou, Laurent
Dans : IEEE Aerospace Conference, Big Sky (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00984636

A model-based prognosis strategy for prediction of Remaining Useful Life of Ball-Grid-Array Interconnections
Gucik-Derigny, David ; Zolghadri, Ali ; Suhir, E. ; Bechou, Laurent
Dans : IFAC World Congress 2014, Cap Town (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00984629

Polymer photonic sensor for integration in a digital microfluidic system
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : MADICA 2014 (9èmes Journées Maghreb-Europe, Les Matériaux et leurs Applications aux Dispositifs et Capteurs), Sousse (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01121483

Long term in-vacuum reliability testing of 980nm Laser Diode Pump Modules for Space Applications
Pedroza, G. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; How, Ls. ; Gilard, O. ; Goudard, Jl ; Laruelle, F.
Dans : IEEE Aerospace Conference, Big Sky (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01022862

Thermomechanical stress analysis of copper/silicon interface in Through Silicon Vias using FEM simulations and experimental analysis
Remili, Z. ; Ousten, Y. ; Levrier, B. ; Mercier, D. ; Suhir, E. ; Bechou, L.
Dans : ESTC 2014 5th Electronics System-Integration Technology Conference, Helsinki (Finland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01067621

Methodology Based on Experiments and 3-D EM Simulations for Frequency Characterization of Buried Capacitors
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Genevieve
Dans : ESTC 2014, Helsinki (Finland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01109473

Methodology Based on Experiments and 3-D EM Simulations for Frequency Characterization of Buried Capacitors
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Genevieve
Dans : ESTC 2014 5th Electronics System-Integration Technology Conference, Helsinki (Finland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01067613

2013


OPTIMIST - Optimisation et caractérisations de composants sous agressions environnantes
Amellal, Mohamed ; Amor, Sarrah ; Duchamp, Geneviève ; Ahaitouf, Ali ; Salvestrini, J.P. ; Béchou, Laurent ; Ramdani, Mohamed ; Perdriau, Richard
Dans : TELECOM2013 & 8eme JFMMA, Marrakech (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00844431

Effect of Processing Factors on Dielectric Properties of BaTiO3/Hyperbranched Polyester Core-Shell Nanoparticles
Benhadjala, Warda ; Bord, Isabelle ; Béchou, Laurent ; Suhir, Ephraim ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Gaud, Vincent ; Ousten, Yves
Dans : The 63rd IEEE Electronic Component and Technology Conference (ECTC), Las Vegas (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00858671

Electro-optical characterizations for robustness assessment of automotive qualified white LEDs multichip modules: failure analysis and packaging influence
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Bechou, L. ; Gasse, A. ; Deshayes, Y. ; Carreau, V.
Dans : ISAL Conference, Darmstadt (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01022723

Electro-optical characterizations for robustness assessment of automotive qualified white LEDs multichip modules: failure analysis and packaging influence
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Gasse, A. ; Bechou, L. ; Deshayes, Y. ; Carreau, V.
Dans : EMPC 2013, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019770

Dispersion of functionalized SiO2 particles into a Liquid Crystal Polymer matrix for a reliable HF package
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Louarn, Mélanie ; Gaud, Vincent ; Diot, Jean-Luc ; Levrier, Bruno ; Verriere, Virginie ; Frank, Thomas ; Wongtimnoi, Komkrisd ; Ousten, Yves
Dans : EMPC 2013 European Microelectronics Packaging Conference, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00934255

Reflection 2D real time THz camera to image and identify sugar pellets
Meilhan, Jérôme ; Lalanne-Dera, Jérémy ; Joly, Simon ; Gidon, Serge ; Lasfargues, Gilles ; Pocas, Stéphane ; Ouvrier-Buffet, Jean-Louis ; Rabaud, Wilfried ; Garet, Frédéric ; Simoens, François
Dans : 38th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), 2013, Mainz (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979376

Durability study of a fluorescent optical memory in glass studied by luminescence spectroscopy
Royon, Arnaud ; Bourhis, Kevin ; Béchou, Laurent ; Cardinal, Thierry ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
Dans : ESREF 2013, Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219687

Embedded capacitor design rules in multilayer organic-based substrate for HF circuits
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Genevieve
Dans : EMPC 2013 European Microelectronics Packaging Conference, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00934187

2012


Novel Core-Shell Nanocomposite for RF Embedded Capacitors: Processing and Characterization
Benhadjala, Warda ; Bord, Isabelle ; Bechou, Laurent ; Suhir, Ephraïm ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Ousten, Yves
Dans : The 62th Electronic Components ad Technology Conference (ECTC), San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00713850

A simplified and meaningful crack propagation model in silicon for microelectronic power devices
Calvez, Damien ; Roqueta, Fabrice ; Jacques, Sébastien ; Ducret, Samuel ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : 13th IEEE EUROSimE 2012, Lisbon (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00766150

Thermo-mechanical simulation of cavity QFN package based on Liquid Cristal Polymer for reliability study
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Diot, Jean-Luc ; Levrier, Bruno ; Ousten, Yves ; Romain-Latu, Eddy ; Verriere, Virginie ; Vittu, Julien
Dans : Micro and Nano Electronics Packaging and Design Forum (MINAPAD), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00714005

Overview of thermal studies on photonics devices for reliability, robustness and new design
Deshayes, Y. ; Royon, A. ; Baillot, R. ; Bechou, L. ; Canioni, L. ; Petit, Y. ; Cardinal, Th. ; Bord, I. ; Levrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : 18th International Workshop on Thermal investigations of ICs and Systems (THERMINIC), Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786204

Proton irradiation effects on InGaAs/InP Photodiodes for Space Applications
Pedroza, G. ; Boutillier, M. ; How, L.S. ; Bechou, L. ; Nuns, T. ; Arnolda, P. ; Ousten, Y.
Dans : RADECS, Biarritz (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00798135

Long term reliability prediction of fluorescent silver nanoclusters embedded in glass for perennial optical recording
Royon, A. ; Papon, G. ; Bourhis, K. ; Petit, Y. ; Cardinal, T. ; Deshayes, Y. ; Canioni, L.
Dans : SPIE Photonics West, Conference 8247 : Frontiers in Ultrafast Optics: Biomedical, Scientific, and Industrial Applications XII, San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00798436

Probabilistic Design for Reliability (PDfR) and a Novel Approach to Qualification Testing (QT)
Suhir, Ephraim ; Mahajan, Ravi ; Lucero, Alan ; Bechou, Laurent
Dans : IEEE/AIAA Aerospace Conf., Big Sky, Montana (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797407

Thermal stresses in a pre-framed silicon-based photovoltaic module (PVM): How thick should the backsheet be?
Suhir, Ephraim ; Shangguan, Dongai ; Bechou, Laurent
Dans : SPIE Optics+Photonics, Conference 8472 : Reliability of Photovoltaic Cells, Modules, Components and Systems V, San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00797387

2011


Optical performances degradation of InGaN/GaN MQW LEDs related to fluorescence shift of copolymer-based silicone coating
Baillot, R. ; Béchou, L. ; Belin, C. ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Absalon, C. ; Babot, O. ; Deshayes, Y. ; Ousten, Y.
Dans : Conférence SPIE Optics & Photonics, San Diego (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673972

Dielectric properties of core-shell hyperbranched polyester/barium titanate nanocomposites for embedded capacitor applications
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Ousten, Yves
Dans : Hybrid Materials 2011, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00600614

Novel method for pulse control in Nd:YVO4/Cr4+:YAG passively Q-switched microchip laser
Joly, Simon ; Taira, Takunori
Dans : The European Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO/Europe EQEC 2011, Munich (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979342

New step towards the future perennial high capacity optical recording medium
Royon, A. ; Bourhis, K. ; Papon, G. ; Bellec, M. ; Bousquet, B. ; Deshayes, Y. ; Cardinal, T. ; Canioni, L.
Dans : Frontiers in Ultrafast Optics: Biomedical, Scientific, and Industrial Applications XI, San Fransisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01017294

2010


Effects of silicone coating degradation on GaN MQW LEDs performances using physical and chemical analyses
Baillot, R. ; Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Buffeteau, T. ; Pianet, I. ; Armand, C. ; Voillot, F. ; Sorieul, S. ; Ousten, Y.
Dans : ESREF 2010 - 21st European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Gaeta (Italy)
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00532869

Environmental conditions influence on embedded capacitors - Comparison with discrete capacitors
Ousten, Yves ; Bord, Isabelle ; Blot, Cyril ; Levrier, Bruno ; Bechou, Laurent ; Kertesz, Philippe
Dans : CARTS USA 2010, New Orleans (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00600734

Degradation analysis of individual emitters in 808nm QCW Laser diode array for space applications
Rehioui, O. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T. ; Volluet, G.
Dans : SPIE Photonics West Conference, Conference LASE, San Francisco (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019447

2009


Customized and highly reliable 8-channel phototransistor array for aerospace optical encoder
Bregoli, Matteo ; Maglione, Alfredo ; Franchesci, M. ; Collini, Amos ; Bellutti, Pierluigi ; Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402242

Lifetime distribution estimation of Light emitting diode
Deshayes, Yannick ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frédéric
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402233

Active pedagogy: A practical experiment at the Institut Universitaire de Technologie Bordeaux
Fremont, H. ; Couturier, G. ; Pellet, C. ; Bechou, L.
Dans : 20th EAEEIE conference, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00577603

Electro-optical Characterizations at the Emitter Level in Stacked Laser Diodes Bars for Space Applications
Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent ; Fillardet, Thierry ; Kohl, Andreas ; Ousten, Yves ; Brousse, E. ; Volluet, Gérard
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402236

Trapped mobile charges effects on electro-optical performances in silicon phototransistors for space applications
Spezzigu, Piero ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, Olivier ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Vanzi, Massimo
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00403233

Strain Estimation in III-V Materials by Analysis of the Degree of Polarization of Luminescence
T. Cassidy, Daniel ; K. Hall, Chadwick ; Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent
Dans : ISROS, Cagliari (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402230

2008


Different Approaches to Packaging Reliability
Ousten, Yves ; Bechou, Laurent ; Verdier, Frederic ; Deshayes, Yannick ; Levrier, Bruno ; Bord, Isabelle ; Carbonne, Bertrand
Dans : European Electronics Assembly Reliability Summit, TALLINN (Estonia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00335551

Evaluation of static and dynamic performances of silicon-based bipolar phototransistors under radiation
Quadri, Gianandrea ; Gilard, O. ; L. Roux, J. ; Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent ; Vanzi, M. ; Ousten, Yves ; Gibard, D.
Dans : IEEE RADIATION EFFECTS DATA WORKSHOP, Tucson - Arizona (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402614

Benefits of individual emitter electro-optical characterizations in packaged high power Laser diode bars for space applications
Rehioui, Othman ; Bechou, Laurent ; Fillardet, Thierry ; Kohl, Andreas ; T. Cassidy, Daniel ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Volluet, Gérard
Dans : ICSO CONFERENCE, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402617

Silicon phototransistor reliability assessment and new selection strategies for space applications
Spezzigu, Piero ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Quadri, Gianandrea ; Gilard, Olivier ; Vanzi, Massimo
Dans : SPIE EUROPHOTONICS CONFERENCE, Strasbourg (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00402616

2006


Performance and reliability predictions of 1550 nm WDM optical transmission links using a system simulator
Bechou, L. ; Mendizabal, L. ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Deshayes, Y. ; Dumas, Jean-Michel ; Laffitte, D. ; Goudard, J.L. ; Danto, Y.
Dans : SPIE PHOTONICS EUROPE CONFERENCE, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162382

Embedded passive components to increase the reliability of high frequency electronic circuits
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Duchamp, Geneviève ; Kertesz, Philippe
Dans : CARTS Europe 2006, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00400482

2005


Temperature influence on a differential capacitive rain sensor
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : Eurosensors XIX, Barcelone (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182404

2004


Dimensioning anf first tests of a differential capacitive humidity sensor
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : Eurosensors XVIII, Rome (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182405

Estimation of lifetime distributions on 1550 nm DFB laser diodes using Monte-Carlo statistic computations
Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Verdier, F. ; Tregon, B. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl. ; Hernandez, Y. ; Danto, Y.
Dans : , ()
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162359

2003


Application of picosecond ultrasonics to non-destructive analysis in VLSI circuits
Andriamonje, G. ; Pouget, V. ; Ousten, Y. ; Lewis, D. ; Danto, Y. ; Rampnoux, Jean-Michel ; Ezzahri, Y. ; Dilhaire, S. ; Grauby, S. ; Claeys, W. ; Rossignol, C. ; Audoin, B.
Dans : 14th European Symposium on Raliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Unknown (Unknown Region)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01550917

2002


Three-Dimensional FEM Simulations of Thermomechanical Stresses in 1.55 µm Laser modules
Deshayes, Y. ; Bechou, L. ; Danto, Y. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl.
Dans : IPFA 2002, Singapore (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162362

2001


An improved method for automatic detection and location of defects in electronic components using scanning ultrasonic microscopy
Dallet, Dominique ; Bechou, Laurent ; Danto, Yves ; Daponte, Pasquale ; Ousten, Yves ; Rapuano, Sergio
Dans : IMTC 2001, Budapest (Hungary)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00568039

1996


Thermomechanical behaviour of ceramic ball grid array based on FEM simulations and experimentations
Delétage, Jean-Yves ; Fenech, Alain ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Salagoity, Michel ; Faure, Christiane ; Rao, S.
Dans : Electronics Manufacturing Technology Symposium, 1996., Nineteenth IEEE/CPMT, Austin (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00385312
Conference without proceedings → 50 Show

2017


Comparative FEM thermo-mechanical simulations for built-in reliability: surface mounted technology versus embedded technology for silicon dies
Balmont, Mickaël ; Bord Majek, Isabelle ; Ousten, Yves
Dans : 21st European Microelectronics ans Packaging Conference (EMPC 2017), Warsaw (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01593354

2016


Design and fabrication of polymer-on-glass grating couplers for biosensing application
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : Optique Bordeaux 2016, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393057

Design and fabrication of polymer-on-glass grating couplers for biosensing application
Diez, Miguel ; Joly, Simon ; Raimbault, Vincent ; Oyhenart, Laurent ; Bilbao, Leire ; Béchou, Laurent ; Obieta, Isabel ; Dejous, Corinne
Dans : Euroregional Campus of International Excellence Euskampus – Bordeaux, 2nd workshop « Laser & Photonics », Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393056

2015


Hybrid materials for packaging
Bord-Majek, Isabelle ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Leti Days, D43D-C2MI, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01195940

Reduction of mechanical anisotropy in liquid crystal polymer based composite by functionalized silica nano-particles
Chenniki, Walide ; Bord-Majek, Isabelle ; Louarn, Mélanie ; Gaud, Vincent ; Diot, Jean-Luc ; Wongtimnoi, Komkrisd ; Brunel, R ; Ousten, Yves
Dans : Fourth International Conference on Multifunctional, Hybrid and Nanomaterials (Hybrid Materials 2015), Sitges (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01188923

Les LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Conférence Prix Nobel 2014, Aglet (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01221520

Les LEDs, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Café des Sciences, PAu (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01221516

Les LEDS, un défi technologique permanen
Deshayes, Yannick
Dans : Fête de la science : l'éclairage du futur, Combo les Bains (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219935

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Colloque des Masters, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01177135

LES LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : DES TECHNOLOGIES DE L'ÉCLAIRAGE À L'ARCHITECTURE, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01177133

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick
Dans : Les sciences au collège, Pontacq (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01177131

Les LEDS, un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
Dans : Conférence Prix Nobel 2014, Pau (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01177128

Les LEDs : Un défi technologique permanent
Deshayes, Y.
Dans : Café des Sciences, Anglet (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01140920

Digital microfluidic system incorporating optical ring resonator for trace-level hexavalent chromium ions detection
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Conédéra, Véronique ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : Journée CMC2 « Intégration du Matériau au Système de détection chimique résonant », Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01312736

Leakage current measurements of core/shell hyperbranched polyester/BaTiO3 composites for embedded capacitors
Wade, Massar ; Bord-Majek, Isabelle ; Levrier, Bruno ; Dubois, Tristan ; Duchamp, Geneviève
Dans : Fourth International Conference on Multifunctional, 
Hybrid and Nanomaterials (Hybrid Materials 2015), Sitges (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01188929

2014


FEM simulations for built-in reliability of innovative Liquid Crystal Polymer-based QFN packaging and Sn96.5Ag3Cu0.5 solder joint
Chenniki, W. ; Bord-Majek, I. ; Levrier, B. ; Wongtimnoi, K. ; Diot, Jl. ; Ousten, Y.
Dans : Micro/Nano Electronics Packaging and Assembly, Design and Manufacturing Forum (MINAPAD), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01020090

Les LEDs : un défi technologique permanent
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
Dans : Conférences sur le sujet du prix Nobel de physique 2014, Pessac (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01095556

Qualification procedure for moisture in embedded capacitors
Frémont, H. ; Kludt, J. ; Wade, M. ; Weide-Zaage, K. ; Bord-Majek, I. ; Duchamp, G.
Dans : 25th European Symposium On Reliability of Electron Devices, Failure Physics an Analysis (ESREF 2014), Berlin (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01349082

Novel metal ions sensor using uncoated polymer optical microring resonator for environmental applications
MEZIANE, Farida ; Raimbault, Vincent ; Hallil, Hamida ; Joly, Simon ; Béchou, Laurent ; Rebière, Dominique ; Dejous, Corinne
Dans : Symposium LAPHIA, Talence (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01312737

Evolution de la Technologie des Condensateurs Enterrés pour des Applications Hautes Fréquences
Wade, M. ; Bord-Majek, I. ; Dubois, T. ; Duchamp, G.
Dans : 14ème atelier analyse et mécanismes de défaillance des composants pour l'électronique : ANADEF 2014, Seignosse-Hossegor (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01022751

2013


Résultats du projet Archive & Forget
Deshayes, Y. ; André, P. ; Canioni, L.
Dans : Workshop GIS SPADON & GDR Verres, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01020068

Characterization of scattering materials in the terahertz domain
Garet, Frédéric ; Hérault, Emilie ; Joly, Simon ; Ketchazo, Christian ; Simoens, François ; Coutaz, Jean-Louis
Dans : International Workshop on Optical TeraHertz Science and Technologies (OTST 2013), Kyoto (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979378

Femtosecond Laser and chemical etching for surface patterning of glass for long-term data storage
Varkentina, N. ; Royon, A. ; Cardinal, T. ; Canioni, L. ; Deshayes, Y.
Dans : EMRS conference, Strasbourg (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019861

2012


Optoélectronique des fibres et télécoms
Bechou, Laurent
Dans : 9ème Rencontres Régionales du Réseau des Electroniciens et Instrumentalistes de la Délégation CNRS Aquitaine-Limousin/Poitou-Charentes, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019473

Intégration de la fiabilité dès la conception du composant : Application aux approches Top-down et Bottom-up
Bechou, L. ; Verdier, F. ; Ousten, Y.
Dans : Journée IMAPS, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786235

Precise determination of the complex refrative index of samples showing low-transmission bands by THz time-domain spectroscopy
Bernier, Maxime ; Garet, Frédéric ; Coutaz, Jean-Louis ; Joly, Simon
Dans : EOS Topical meeting on TeraHertz Science and Technology, Prague (Czech Republic)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979352

Modèle prédictif Simplifié de Propagation de Fissure dans les Puces en Silicium de Composants de Puissance
Calvez, Damien ; Roqueta, Fabrice ; Jacques, Sébastien ; Ducret, Samuel ; Bechou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : IMAPS Journée Puissance 2012, Tours (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00766157

Eclairage Automobile: Les conséquences de l'intégration de DEL blanches de puissance sur la stratégie des tests de fiabilité
Chambion, B. ; Mendizabal, L. ; Bechou, L. ; Carreau, V. ; Deshayes, Y. ; Gasse, A.
Dans : Journée IMAPS, Tours (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00786240

Accurate determination of the complex refractive index of scattering materials by THz time-domain spectroscopy
Joly, Simon ; Garet, Frédéric ; Coutaz, Jean-Louis ; Bernier, Maxime
Dans : EOS Topical meeting on TeraHertz Science and Technology, Prague (Czech Republic)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00979347

Direct Laser-writing in photosensitive glasses: Correlative microscopy of fluorescent silver aggregates and the associated space charge separation
Papon, G. ; Royon, A. ; Bourhis, K. ; Marquestaut, N. ; Petit, Y. ; Deshayes, Y. ; Dussauze, M. ; Rodriguez, V. ; Cardinal, T. ; Canioni, L.
Dans : International Workshop on Laser-Matter Interaction, Porquerolles (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019283

2011


OpERaS : un nouveau consortium pour l'évaluation de la fiabilité de dispositifs optoélectroniques et photoniques dédiés à l'environnement spatial
Bechou, L. ; How, L.S. ; Rosala, F. ; Guibaud, G. ; Gilard, O. ; Quadri, Gianandrea ; Ousten, Y.
Dans : Journées du Club Optique et Microonde, Rennes (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673559

BaTiO3/polymer hybrid nanoparticles for embedded capacitor applications
Benhadjala, Warda ; Bord-Majek, Isabelle ; Buet, Matthieu ; Rougé, Fabien ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : Marie-Curie Symposium, Warsaw (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00714031

Quelques solutions alternatives et leur évaluation
Deshayes, Yannick
Dans : Conférence de presse GIS DON, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219908

2010


Improvement of Stacked High Power Laser Diodes bars by Individual Emitter Characterization
Rehioui, O. ; Bechou, L. ; Ousten, Y. ; Kohl, A. ; Fillardet, T.
Dans : HEC-DPSSL 6th Workshop, High Energy Class Diode Pumped Solid State Lasers (organized by LULI and IOGS), Versailles (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01022734

2007


Prédiction de distributions de durées de vie de composants optoélectroniques émissifs 1.55 µm : Lois expérimentales et méthodologie statistique
Bechou, L. ; Danto, Y. ; Deshayes, Y. ; Mendizabal, L. ; Verdier, F.
Dans : 7ème JNRDM 2004, Marseille-France, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162364

EURELNET (European Reliability Network)
Ousten, Y. ; Chapeleau, Xavier
Dans : Workshop EURELNET, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334749

TEAD : Time Environment Analysis Device
Ousten, Yves ; Bord, Isabelle
Dans : Forum EURIPIDES, Versailles (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00305677

2006


Impact of radiation effects on AlGaAs/GaAs, InGaN/GaN and AlGaInP/GaP packaged light emitting diodes for space applications
Gilard, O. ; Bechou, L. ; Kurz, B. ; Rehioui, O. ; Bourqui, M.L. ; Campillo, D. ; Deshayes, Y. ; Quadri, Gianandrea
Dans : RADECS 2006 WORKSHOP, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162386

Analyse de quartz soumis à une forte température
Lévrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : 10ème Atelier ANADEF, Port d'Albret (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334751

MEMS Reliability Challenges in EURELNET
Ousten, Y. ; Chapeleau, Xavier
Dans : NEXUS Methodology Working group - Reliability and Test in conjunction with CANEUS and MEMUNITY, Milan (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334753

Condensateurs enterrés dans les PCB
Ousten, Y. ; Lévrier, B.
Dans : 10ème Atelier ANADEF, Port d'Albret (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334750

2004


Dimensioning and first tests of a differential capacitive rain sensor
Bord, Isabelle ; Tardy, Pascal ; Ménil, Francis
Dans : 2èmes Journées Franco-Espagnoles CMC2 - IBERNAM Microsystèmes, Bidart (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00305676

VIGOR European Project New industrial applications in 3D interconnection
Val, A. ; Delmas, J. ; Lignier, O. ; Ousten, Yves ; Chandler, N. ; Pizzato, A. ; Deshayes, Yannick
Dans : IMAPS, INTERCONNEX 2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182864

VIGOR European Project New industrial applications in 3D interconnection
Val, A. ; Delmas, J. ; Lignier, O. ; Ousten, Y. ; Chandler, N. ; Pizzato, A. ; Deshayes, Y.
Dans : APEX 2004, Santa Barbara (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162374

2003


Photomagnétisme dans le système Cu2+/MoIV(CN)84-
Rombaut, G. ; Bord, Isabelle ; Kalisz, M. ; Mathonière, C. ; Herrera, J.-M. ; Marvaud, V. ; Verdaguer, M.
Dans : GDR Commutation Molécualire à l'Etat Solide COMES-POM3, Collonges la Rouge (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00305672

New industrial application in 3D interconnection
Val, C. ; Lignier, O. ; Chandler, N. ; Pizzato, A. ; Deletage, Jean-Yves ; Ousten, Yves ; Val, A.
Dans : 14th European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182865

2002


Electron transfer and photomagnetism in the Cu2+/MoIV(CN)84- system
Bord, Isabelle ; Rombaut, G. ; Mathonière, C.
Dans : Cost D14 Working Group Meeting, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00305651

1999


Caractérisation d interfaces Cu/Al2O3 par un système d analyse ultrasonore
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Danto, Yves ; Rachidi, Omar ; Lucat, Claude
Dans : Journée « Couches épaisses pour électrocéramiques », (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182873

1998


Time frequency methods for multilayer structures characterization
Bechou, Laurent ; Dallet, Dominique ; Berthoumieu, Yannick ; Ousten, Yves
Dans : International Workshop on Advanced Mathematical Methods in Electrical and Electronic Measurements, Milan (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182872

1994


Analyse de défaillances dans les condensateurs céramique par signature piézoélectrique
Ousten, Yves ; Mejdi, Said ; Danto, Yves
Dans : 4ème atelier du cercle thématique 21.70 - Techniques d analyse de défaillances des composants., (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182874
Invited lectures → 15 Show

2016


Resonant wave-based microsensors for environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier ; BAHOUMINA, Prince ; Diez, Miguel ; MEZIANE, Farida ; Nikolaou, Ioannis
Dans : 8ème Franco-Spanish Workshop IBERNAM-CMC2, Toulouse (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393043

2014


Overview on reliability investigation on LEDs devices
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Belin, Colette ; Buffeteau, Thierry ; Pianet, Isabelle ; Absalon, Christelle ; Deshayes, Yannick
Dans : Reliability of LED, Jongly (Taiwan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219888

2013


Processing Functional Polymers for the Fabrication of Low-Cost Biomedical MEMS Sensors in an All-Organic Approach
Ayela, Cédric ; Thuau, Damien ; Dubourg, Georges ; Bord-Majek, Isabelle ; Pellet, Claude ; Poulin, Philippe ; Dufour, Isabelle ; Haupt, Karsten
Dans : 2013 MRS Fall Meeting, Boston (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00861592

Performances and reliability predictions of optical data transmission links using a system simulator for aerospace applications
Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Aupetit-Berthelemot, Christelle ; Guerin, Alexandre ; Tronche, Christian
Dans : Aerospace Conference, 2013 IEEE, à Big Sky (Montana) (United States)
https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-00917358

Overview of thermal studies on photonics devices for reliability, robustness and new design
Deshayes, Y. ; Royon, A. ; Baillot, R. ; Béchou, L. ; Canioni, L. ; Petit, Y. ; Cardinal, Th. ; Bord, I. ; Levrier, B. ; Ousten, Y.
Dans : Winter conference Laphia - CREOL, Orlando (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019130

2011


Methodology of failure analysis applied to packaged LEDs
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Belin, Colette ; Buffeteau, Thierry ; Pianet, Isabelle ; Absalon, Christelle ; Ousten, Yves
Dans : ICMAT, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00600570

Reliability assessment of optoelectronic and photonic devices in severe environments: architecture and applications of the OpERaS consortium
Bechou, L. ; Spezzigu, P.
Dans : QCA Day ESTEC / ESA, (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00673563

2009


OpERaS : A new consortium for reliability investigations of optoelectronic and photonic devices dedicated to space environments
Bechou, L. ; Rosala, F. ; Guibaud, G. ; Ousten, Y.
Dans : Colloque National "L'innovation à la croisée des savoirs : les enjeux interdisciplinaires à l'Université de Bordeaux", Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01019413

Overview of light emitting diodes: Reliability estimation from the junction to the packaging
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Ousten, Yves
Dans : INTERCONEX 2009 - IMAPS FRANCE, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01223382

Radiation effects on photoreceivers - radiation hardness and EOL degradations evaluation methods
Spezzigu, Piero ; Bourqui, Marie-Lise
Dans : RADIATION EFFECTS ON OPTOELECTRONICS (TUTORIAL OPTORAD), Cagliari, Sardinia (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00584363

2006


Electroluminescence spectroscopy for reliability investigations of 1.55µm Bulk Semiconductor Optical Amplifier
Huyghe, S. ; Bechou, L. ; Zerounian, N. ; Deshayes, Y. ; Aniel, F. ; Denolle, A. ; Laffitte, D. ; Goudard, Jl ; Danto, Y.
Dans : IPFA 2006, Singapore, IEEE Catalog No: 06TH8872, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00162384

2003


Electron transfer and photomagnetism in the Cu2+/[MoIV(CN)8]4-
Bord, Isabelle ; Rombaut, G. ; Mathonière, C. ; Herrera, J.-M. ; Marvaud, V.
Dans : European Materials Research Society Spring Meeting (EMRS), Strasbourg (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00305665

Photomagnetism in the M2+ / MoIV(CN)84- system with M = Mn and Cu
Mathonière, C. ; Bord, Isabelle ; Rombaut, G. ; Herrera, J.-M. ; Marvaud, V.
Dans : Jagielonian University Meeting, Cracovie (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00305668

1995


Mission Electronique en Chine 94-95
Ousten, Yves
Dans : L'électronique en Chine, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182875

1994


L Electronique en Aquitaine
Ousten, Yves
Dans : First electronics "CHINA'94, (China)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182876
Book chapters → 6 Show

2012


Chapter 8 : Reliability estimation from the junction to packaging of LEDs : Light-Emitting Diodes and Optoelectronics: New Research
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00989418

2010


Chapter 7 : Laser Welding : characteristics and FEM simulations
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00989417

2008


APerture Synthesis in the MID-Infrared with the VLTI
Lopez, B. ; Wolf, S. ; Duguée, M. ; Graser, U. ; Mathias, Ph. ; Antonelli, P. ; Augereau, J.-C. ; Dutrey, Anne ; Coauthors, And
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00320183

Chapitre 7 : Modélisation - Fiabilité
Ousten, Y. ; Deshayes, Y. ; Bechou, L.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00334737

2005


Three-Dimensional Techniques for FEM Simulations in Laser Modules and their Applications
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves ; Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182867

2003


Processing of piezoelectric ceramics and new applications of the piezoelectric resonance
Ousten, Yves ; Maglione, Mario ; Von Der Muhll, R.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182869
Preprint, Working Paper, Document sans référence, etc. → 9 Show

2017


IMS Bordeaux : Wave-based resonant microsensors for (bio)chemical detection, environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01516416

IMS Bordeaux : Wave-based resonant microsensors for (bio)chemical detection, environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01516415

2016


IMS Bordeaux: Wave-based resonant microsensors for chemical and biological detection, examples of environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393046

IMS Bordeaux: Wave-based resonant microsensors for chemical and biological detection, examples of environmental and health related applications
Dejous, Corinne ; Bechou, Laurent ; Hallil, Hamida ; Hemour, Simon ; Joly, Simon ; Lachaud, Jean-Luc ; Oyhenart, Laurent ; Raimbault, Vincent ; Rebière, Dominique ; Tamarin, Ollivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01393045

Achieving a 60% Efficient Laser Diode Design With Optimized Thermal Management
Mostallino, Roberto ; Garcia, Michel ; Deshayes, Yannick ; Alexandre, Larrue ; Robert, Yannick ; Vinet, Eric ; Béchou, Laurent ; Lecomte, Michel ; Parillaud, Olivier ; Krakowski, Michel
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01402314

Photonics & Aeronautics: a wedding with a promising future
Mounaix, Patrick ; Bechou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01404480

2013


Archivage numérique pérenne - Les nouvelles solutions de stockage sur disques en verre
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219923

2012


Archivage numérique pérenne - Projet archive & Forget
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219920

Le projet Archive & Forget
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01219912
Books → 3 Show

2016


Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01380736

2014


Optoélectronique appliquée : mesures, instrumentation et modèles électro-optiques : diodes électroluminescentes
Deshayes, Y.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01095719

2010


DIAGNOSTIC DE DEFAILLANCES DE SYSTEMES OPTOELECTRONIQUES
Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00980005
Research report → 21 Show

2015


Spécification technique des besoins - Module LED
Baillot, Raphael ; Bechou, Laurent ; Bord-Majek, Isabelle ; Consonni, Marianne ; Deshayes, Yannick ; Adrien, Gasse
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01222174

2014


Etude de la faisabilité de protection de disque optique polymère avec sol-gel
André, Pascal ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096118

Caractérisation de diode Laser de pompe 980 nm T1.1
Del Vecchio, Pamela ; Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096120

Caractérisation de diode Laser de pompe 14xx nm T1.2
Joly, Simon ; Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096123

2013


Etude de la mise en place d’un Laser beam recorder avec Laser femtoseconde
André, Pascal ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096115

Etude de la faisabilité d’inscription de donnée numérique en surface par Laser femtoseconde
André, Pascal ; Varkentina, Nadezda ; Canioni, Lionel ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096105

Etude du comportement atypiques de diode lasers pour les télécoms
Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096100

2011


Resultats de vieillissements accélérés de diode électrolumnescentes pour applications spatiales (Projet COROT)
Baillot, Raphael ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096089

Caractérisation des imageurs OLEDs pour des applications aéronautiques
Marie, Lannegrand ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096092

Fiabilité des LEDs rouges pour applications avioniques
Yee Kin Choi, Elsa ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096096

2007


Analyse du comportement sous radiations de photodiodes Si et InGaAs utilisées en environnement spatial
Bourqui, Marie-Lise ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096088

2006


Essais de fiabilité sur LEDs Hamamatsu (projet DECLIC)
Bechou, Laurent ; Rehioui, Othman ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096086

2005


Results on the characterisation tests T4.1
Ousten, Yves ; Levrier, Bruno ; Deletage, Jean-Yves ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096084

2004


Simulations génériques des étapes de fabrication et des phases de vieillissement par simulateur ANSYS® d'un système complet optoélectronique
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent ; Danto, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096068

Work package 3 : Thermal Test Vehicle of 3 D Module
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096044

Thermal management Program VIGOR MIL 8
Ousten, Yves ; Deshayes, Yannick ; Levrier, Bruno
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096060

Simulation and results on thermal management T4.2
Ousten, Yves ; Deletage, Jean-Yves ; Levrier, Bruno ; Deshayes, Yannick
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096050

Analyse de la fiabilité de filières technologiques de diodes électroluminescentes pour des applications spatiales : synthèse bibliographique (technologies AlGaAs/GaAs, AlGaInP/GaP, InGaN/GaN)
Rehioui, Othman ; Béchou, Laurent ; Deshayes, Yannick ; Hirsch, Lionel ; Danto, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096080

2003


Work package 3 : Thermal management of 3 D Module
Deshayes, Yannick ; Ousten, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096036

2002


Etude thermomécanique des têtes optiques LMI 1550 nm – Validations expérimentales des simulations
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096011

2001


Etude thermomécanique des têtes optiques LMI 1550 nm – Evaluation technologique
Deshayes, Yannick ; Béchou, Laurent
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01096004
Doctoral thesis → 7 Show

2015


Evaluation of the reliability of electronic packages QFN-based on nanocomposites LCP / SiO2 functionalized
Chenniki, Walide
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01230257

Evaluation of embedded capacitors based on ceramic/polymer materials for high frequency applications
Wade, Massar
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01245642

2014


Reliability investigation of high power white LEDs multichip modules for automotive applications
Chambion, Bertrand
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01148774

2011


METHODOLOGIE D'ANALYSE DE DEFAILLANCE POUR L'EVALUATION DE LA FIABILITE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES GaN
Baillot, Raphaël
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00673985

FIABILITE DE DIODES LASER DE FORTE PUISSANCE 808 nm MICROASSEMBLEES POUR DES APPLICATIONS SPATIALES : Approche expérimentale et modélisations par éléments finis
Rehioui, Othman
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00674044

2006


Etude d'un capteur capacitif différentiel pour la détection de pluie
Bord, Isabelle
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01025459

Etude d'un capteur capacitif différentiel pour la détection de pluie
Bord, Isabelle
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00399619