Analysis & Stand
The STAND platform is dedicated to construction and failures analysis and to the implementation of accelerated aging. this permit to realise the physical caracterization of micro-electronic, to elaborate data bases (geometric, chemical) for thermo-mechanical or electrical simulations model, to localise defaults by non destructive technics (acoustic, EDX analysis, electro-thermic caracterization...)
Parc d'instrumentation :
Préparation des échantillons mécaniques, chimiques et plasma.
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Prépolissage |
Imprégnation sous vide |
Enroubage des composants |
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Finition par polissage automatique |
Découpe de précision diamant |
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Banc d'examen optiques et analyse d'images |
Examen électronique et micro analyse EDX |
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Observation électronique haute résolution + analyse EDX (Plateforme Elorprintech) |
Analyse non destructive par nano foyer RX |
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Microscope acoustique |
Profilomètre à stylet DEKTAK |
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Microscope AFM INNOVA |
Profilomètre optique Mesures de la déformée d’un assemblage (surface 3D, profil 2D) en température jusqu’à 300°C. C’est un appareil de mesure sans contact. (La source lumineuse est un faisceau de lumière blanche) . Profilomètre ALTISURF 500 (Résolution:10nm) |
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Micro-System Analyser MSA 500 Analyse de microstructure en mouvement MEMS, capteurs,.. Dynamic Out of Plane Measurements Laser Doppler Vibrometry Scanning system Frequency: 0 … 20 MHz max. velocity : ± 10 m/s Dynamic In Plane Measurements Stroboscopic Video Microscopy |
