Soutenance de thèse de Hadhemi LAKHDHAR - 20 décembre 2017
Hadhemi LAKHDHAR soutiendra sa thèse intitulée "Reliability assessment of GaN HEMTs on Si substrate with ultra-short gate dedicated to power applications at fréquence above 40 GHz", le mercredi 20 décembre à 11h, dans l'amphi JP.DOM dU laboratoire IMS.