Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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NANOELECTRONIQUE / MODEL
0540002833
A31A A1 07

Total : 83

Articles in peer-reviewed journal → 30 Show

2020


A unified aging compact model for hot carrier degradation under mixed-mode and reverse E-B stress in complementary SiGe HBTs
Chhandak, Mukherjee ; Fischer, G.G. ; Marc, F ; Couret, Marine ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03014952

Scalable compact modeling of trap generation near the EB spacer oxide interface in SiGe HBTs
Couret, Marine ; Jaoul, Mathieu ; Marc, François ; Mukherjee, Chhandak ; Celi, Didier ; Zimmer, Thomas ; Maneux, Cristell
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02541991

A physical and versatile aging compact model for hot carrier degradation in SiGe HBTs under dynamic operating conditions
Mukherjee, C. ; Marc, F. ; Couret, M. ; Fischer, G.G. ; Jaoul, M. ; Céli, D. ; AUFINGER, K. ; Zimmer, T. ; Maneux, C.
Dans : Solid-State Electronics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02475429

2019


Long term accelerated ageing of an ASIC dedicated to cryptographic application
Coutet, Julien ; Doche, Emmanuel ; Guétard, Romain ; Janvresse, Aurélien ; Lavagne, Suzel ; Lebossé, Pierre ; Pastre, Antonin ; Sarlotte, Michel ; Moreau, Christian ; Marc, Francois ; Bayle, Franck
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02394907

2018


Simulation and modelling of long term reliability of digital circuits implemented in FPGA
Aguirre Morales, J.D. ; Marc, F. ; Bensoussan, A. ; Durier, A.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01946442

Influence of temperature of storage, write and read operations on multiple level cells NAND flash memories
Coutet, Julien ; Marc, Francois ; Dozolme, Flavien ; Guétard, Romain ; Janvresse, Aurélien ; Lebossé, Pierre ; Pastre, Antonin ; Clément, Jean-claude
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01946449

2017


Multiscaled simulation methodology for neuro-inspired circuits demonstrated with an organic memristor
BENNETT, christopher ; Lorival, Jean-Etienne ; Marc, François ; Cabaret, Théo ; Jousselme, Bruno ; Derycke, Vincent ; Klein, Jacques-Olivier ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Multi-Scale Computing Systems
https://hal-cea.archives-ouvertes.fr/cea-01656702

Proceedings of the 28th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis
Labat, Nathalie ; Marc, François ; Frémont, Helene ; Bafleur, Marise
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01660958

Reliability-Aware Circuit Design Methodology for Beyond-5G Communication Systems
Mukherjee, Chhandak ; Ardouin, Bertrand ; Dupuy, Jean-Yves ; Nodjiadjim, Virginie ; Riet, Muriel ; Zimmer, Thomas ; Marc, François ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01670929

2016


FPGA LUT delay degradation due to HCI: Experiment and simulation results
Naouss, Mohammad ; Marc, F.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01661820

2015


Editorial, Microelectronics Reliability, Volume 55, Issues 9–10, August–September 2015
Bafleur, Marise ; Perdu, Philippe ; Marc, François ; Frémont, Hélène ; Nolhier, Nicolas
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01257965

Design and implementation of a low cost test bench to assess the reliability of FPGA
Naouss, Mohammad ; Marc, F.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01661808

2013


On the Simulation of HCI-Induced Variations of IC Timings at High Level
Héron, Olivier ; Bertolini, Clément ; Ventroux, Nicolas ; Sandionigi, Chiara ; Marc, François
Dans : Journal of Electronic Testing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00950233

Submicrometer InP/InGaAs DHBT Architecture Enhancements Targeting Reliability Improvements
Koné, Gilles Amadou ; Grandchamp, Brice ; Hainaut, Cyril ; Marc, François ; Labat, Nathalie ; Zimmer, Thomas ; Nodjiadjim, Virginie ; Riet, Muriel ; Dupuy, Jean-Yves ; Godin, Jean ; Maneux, Cristell
Dans : IEEE Transactions on Electron Devices
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00909053

2011


Investigation of the degradation mechanisms of InP/InGaAs DHBT under bias stress conditions to achieve electrical aging model for circuit design
Ghosh, S. ; Grandchamp, B. ; Koné, G.A ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Nodjiadjim, V. ; Riet, M. ; Dupuy, J.-Y. ; Godin, J.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00671676

Impact of Power Consumption and Temperature on Processor Lifetime Reliability
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : American Scientific Publishers in JOLPE
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674305

Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT under thermal and electrical stresses
Koné, G. A. ; Grandchamp, B. ; Hainaut, C. ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Labat, N. ; Zimmer, T. ; Nodjiadjim, V. ; Riet, M. ; Godin, J.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670550

2010


Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT
Gosh, S. ; Marc, François ; Maneux, Cristell ; Grandchamp, Brice ; Koné, Gilles Amadou ; Zimmer, Thomas
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674295

Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/InGaAs DHBT
Koné, Gilles Amadou ; Grandchamp, Brice ; Hainaut, Cyril ; Marc, François ; Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Nodjiadjim, V. ; Godin, J.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585073

2009


Multilevel behavioural modelling for reliability analysis of ionizing dose effects on a n-MOS simple current mirror
Bestory, Corinne ; Marc, François ; Duzellier, Sophie ; Lévi, Hervé
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00499470

Effects of laser beam propagation and saturation on the spatial shape of sodium laser guide stars.
Marc, Fabien ; Guillet De Chatellus, Hugues ; Pique, Jean-Paul
Dans : Optics Express
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983664

2007


Statistical analysis during the reliability simulation
Bestory, Corinne ; Marc, François ; Lévi, Hervé
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326542

2006


Improvement of Aging Simulation of Electronic Circuits Using Behavioral Modeling
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Bestory, Corinne ; Levi, Herve ; Danto, Yves
Dans : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181801

2004


Reliability of Low-Cost PCB Interconnections for Telecommunication Applications
Duchamp, Geneviève ; Verdier, Frédéric ; Deshayes, Yannick ; Marc, François ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181802

2003


Ageing simulation of MOSFET circuit using a VHDL-AMS behavioural modelling: An experimental case study
Mongellaz, Benoit ; Marc, François ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181803

2002


Contribution to ageing simulation of complex analogue circuit using VHDL-AMS behavioural modelling language
Mongellaz, Benoit ; Marc, François ; Lewis, Noëlle ; Danto, Yves
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181804

1997


Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, L. ; Tregon, B. ; Ousten, Y. ; Marc, F. ; Danto, Y. ; Kertesz, Ph. ; Even, R.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00164920

1995


A general methodology using an electron beam tester applied to failure localization inside a logic integrated circuit
Marc, François ; Fremont, Hélène ; Jounet, Paul ; Barre, M. ; Danto, Yves
Dans : Microelectronic Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181885

1994


Functionnal localization in integrated circuits by Signal Selective Voltage Contrast in a scanning electron microscope
Marc, François ; Frémont, Hélène ; Jounet, Paul ; Danto, Yves ; Barré, Michel
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326620

Quick and exhaustive descrambling methodology for high density static random access memories using voltage contrast
Marc, François ; Fremont, Hélène ; Jounet, Paul ; Danto, Yves
Dans : Microelectronic Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181886
Conference with proceedings (national) → 42 Show

2020


3D logic cells design and results based on Vertical NWFET technology including tied compact model
Chhandak, Mukherjee ; DENG, Marina ; MARC, François ; Maneux, Cristell ; Poittevin, Arnaud ; O'Connor, Ian ; Le Beux, Sébastien ; Marchand, Cédric ; Kumar, Abhishek ; Lecestre, Aurélie ; Larrieu, Guilhem
Dans : 28th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC) 2020, Salt Lake City (virtual) (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03166674

2019


Impact of SiGe HBT hot-carrier degradation on the broadband amplifier output supply current
Couret, Marine ; Fischer, Gerhard ; Garcia-Lopez, Iria ; De Matos, Magali ; Marc, François ; Maneux, Cristell
Dans : ESSDERC 2019, Cracow (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02379120

2017


Reliability-Aware Circuit Design for High Speed Communication Systems
Chhandak, Mukherjee ; Ardouin, Bertrand ; Dupuy, Jean-Yves ; Nodjiadjim, Virginie ; Riet, Muriel ; Thomas, Zimmer ; Marc, François ; Maneux, Cristell
Dans : XIIème Colloque du GdR SOC2, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02511649

2016


Modelling delay degradation due to NBTI in FPGA Look-up tables
Naouss, Mohammad ; MARC, François
Dans : 26th International Conference on Field Programmable Logic and Applications (FPL 2016) , Lausanne (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01661828

2011


Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT on Accelerated Aging Tests under Thermal and Electrical stresses
A. Koné, G. ; Grandchamp, B. ; Hainaut, C. ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Labat, N. ; Zimmer, T. ; Nodjiadjim, V. ; Riet, M. ; Godin, J.
Dans : 22th European Symposium on the RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002459

Investigation of the degradation mechanisms of InP/InGaAs DHBT under bias stress conditions to achieve electrical aging model for circuit design
Ghosh, S. ; Grandchamp, B. ; A. Koné, G. ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Zimmer, T. ; Nodjiadjim, V. ; Riet, M. ; Y. Dupuy, J. ; Godin, J.
Dans : 22th European Symposium on the RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002192

System Level Analysis and Accurate Prediction of Electromigration
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : European Workshop on CMOS Variability (VARI), Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674319

Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/GaAsSb DHBT
Kone, Gilles Amadou ; Ghosh, S. ; Grandchamp, Brice ; Maneux, Cristell ; Marc, François ; Labat, Nathalie ; Zimmer, Thomas ; Maher, H. ; Bourqui, M.L. ; Smith, D.
Dans : International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM 2011), Berlin (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00585590

2010


Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT
Ghosh, S. ; Marc, F. ; Maneux, C. ; Grandchamp, B. ; A. Koné, G. ; Zimmer, T.
Dans : Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, gaeta (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01002465

Benchmarking of HBT Models for InP Based DHBT Modeling
Ghosh, S. ; Zimmer, T. ; Ardouin, B. ; Maneux, C. ; Frégonèse, S. ; Marc, F. ; Grandchamp, B. ; Koné, G.A.
Dans : International Conference on Microelectronics, Nis (Serbia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00488687

Predicting Lifetime using power consumption from 'Wattch'
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : 6th International Summer School on Adv. Computer Arch. and Compilation for Embedded Systems, ACACES, Terrassa (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674317

Reliability Aware ArchC based Processor Simulator
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : IEEE Int. Integrated Reliability Workshop Final Report (IRW), lake Tahoe (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674316

High Level Power and Energy Exploration Using ArchC
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : 22nd Int Computer Architecture and High Performance Computing (SBAC-PAD) Symp, Rio de Janeiro (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674311

2009


Effects of various applications on relative lifetime of processor cores
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, T. ; Marc, F.
Dans : IRW, Lake Tahoe (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00674313

Effects of Power consumption and Temperature on Lifetime Reliability of ArchC based Processor Architecture
Gupta, Tushar ; Bertolini, Clément ; Héron, Olivier ; Ventroux, Nicolas ; Zimmer, Thomas ; Marc, François
Dans : Workshop on Design for Reliability and Variability, Austin (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00499484

Effects of various applications on relative lifetime of processor cores
Gupta, Tushar ; Héron, Olivier ; Zimmer, Thomas ; Ventroux, Nicolas ; Marc, François ; Bertolini, Clément
Dans : International Integrated Reliability Workshop, South Lake Tahoe (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00499480

Conception fiabilisée pour les circuits à nanodispositifs
Marc, François
Dans : Atelier du GDR Nanoélectronique / SOP-SIC - De la modélisation des nanodispositifs aux circuits innovants, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00499488

2008


Prévision du vieillissement des composants en utilisation et de l'effet sur l'évolution paramétrique des fonctions analogiques
Marc, François ; Bestory, Corinne ; Lévi, Hervé
Dans : GDR SoC-SiP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326618

Approche statistique de la fiabilité : application à la fiabilité des systèmes et aux mécanismes d'usure
Marc, François
Dans : Atelier ANADEF2008, Port d'Albret (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00326601

2006


Multi-level Modeling of hot carrier injection for reliability simulation using VHDL-AMS
Bestory, Corinne ; Marc, François ; Levi, Herve ; Danto, Yves
Dans : Forum on Specification and Design Languages, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181895

La simulation de l'usure des circuits intégrés analogique : prise en compte de l'interaction fonction, profil de misssion, circuit
Marc, François ; Bestory, Corinne ; Levi, Herve ; Danto, Yves
Dans : ANADEF2006, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181894

2005


Study of Degradations in PCB Interconnections for High Frequency Applications
Duchamp, Geneviève ; Verdier, Frédéric ; Levrier, Bruno ; Marc, François ; Ousten, Yves ; Danto, Yves
Dans : IPFA 2005, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181898

Improvement of ageing simulation of electronic circuits based on behavioural modelling
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Bestory, Corinne ; Levi, Herve ; Danto, Yves
Dans : IPFA 2005, (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181897

First steps toward ageing simulation of complex analogue circuits with behaioural modelling
Marc, François ; Danto, Yves
Dans : International Reliability Workshop 2005 (IRW2005), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181896

2004


Modélisation comportementale de la fiabilité des circuits intégrés complexes
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
Dans : RTP Fiabilité, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181918

CMOS transistor electrical ageing experiments to build VHDL-AMS behavioral models
Mongellaz, Benoit ; Marc, François ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2004, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181900

A CMOS Analogue Function VHDL-AMS Behavioral Ageing Model
Mongellaz, Benoit ; Marc, François ; Bestory, Corinne ; Danto, Yves
Dans : IEEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE) 2004, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181899

2003


Prévision de l'impact du vieillissement des composants sur le comportement des circuits
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
Dans : Workshop MicroNanotechnologies, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181919

Reliability simulation of electronic circuits with VHDL- AMS
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
Dans : Forum on Specification and Design Languages - FDL'03, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181903

Modélisation comportementale et fiabilité des systèmes
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
Dans : Journées électroniques du Club EEA : La fiabilité de microélectronique et microtechnologies, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181902

Modèle Comportemental VHDL-AMS d'un Amplificateur CMOS à Transconductance: Application à la conception de filtres
Mongellaz, Benoit ; Schmitt, Anne ; Lewis, Noëlle ; Marc, François ; Danto, Yves
Dans : SETIT 2003, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181901

2000


Use of Genetic Algorithm for Efficient Integrated Circuits Compact Modelling and Parameter Extraction
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Batiste Duluc, Jean ; Marc, Francois ; Fouillat, Pascal
Dans : ACIDCA'2000, Monastir (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00189377

Genetic Algorithm Optimisation for Evanescent Mode Waveguide Filter Design
Lecouve, Marc ; Jarry, Pierre ; Kerherve, Eric ; Boutheiller, Nicolas ; Marc, François
Dans : 2000 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. Emerging Technologies for the 21st Century, (Switzerland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181906

CAD of evanescent mode waveguide filter with genetic algorithm optimization
Lecouve, Marc ; Boutheiller, Nicolas ; Jarry, Pierre ; Kerherve, Eric ; Marc, François
Dans : IEEE Microwaves Symposium 2000, (Morocco)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181905

Algorithme génétique adapté à la conception d'un filtre en guide d'ondes à modes évanescents
Lecouve, Marc ; Boutheiller, Nicolas ; Jarry, Pierre ; Kerherve, Eric ; Marc, François
Dans : NUMELEC'2000, Conférence Européenne sur les Méthodes Numériques en Electromagnétisme, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181904

1997


Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Bechou, Laurent ; Ousten, Yves ; Tregon, Bernard ; Marc, François ; Danto, Yves ; Kertesz, Philippe
Dans : ESREF 97, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181907

Fault and Diagnosis on a Successive Approximation ADC
Marc, Francois ; Dallet, Dominique ; Danto, Yves
Dans : IMTC97, Ottawa (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01182421

1994


Critères de choix des méthodes et des techniques
Barre, M. ; Marc, François
Dans : S.E.E. 4e atelier du cercle thématique 21-70 - Techniques d'analyse de défaillance des composants électroniques, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181920

Les besoins du test interne pour la localisation de défauts
Marc, François
Dans : S.E.E. Cercle thématique 21-70 - Localisation des défauts sur circuits intégrés, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181908

1993


approach of integrated circuits failure location by voltage contrast in a scanning electron microscope
Marc, François ; Fremont, Hélène ; Jounet, Paul ; Danto, Yves ; Barre, M. ; Nouet, C.
Dans : ESREF, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181909

1992


Méthodologie de test sans contact
Marc, François
Dans : S.E.E. 3e atelier du cercle thématique 21-70 -Techniques d'analyse de défaillance des composants électroniques, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181921

A fast VLSI SRAM mapping methodology using voltage contrast techniques on SEM
Marc, François ; Fremont, Hélène ; Jounet, Paul ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : ESREF, Schwäbisch-Gmünd (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181911
Invited lectures → 3 Show

2021


Electro-thermal limitations and device degradation of SiGe HBTs with emphasis on circuit performance (Invited)
Fregonese, Sebastien ; Chhandak, Mukherjee ; Rucker, Holger ; Chevalier, Pascal ; Fischer, Gerhard ; Céli, Didier ; DENG, Marina ; Marc, François ; Maneux, Cristell ; Zimmer, Thomas
Dans : 2021 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS), Monterey (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03408053

2019


Advances in Aging Compact Model for Hot Carrier Degradation in SiGe HBTs under Dynamic Operating conditions for reliability-aware circuit design
Mukherjee, C ; Marc, F. ; Couret, M ; Fischer, G ; Jaoul, M ; Celi, D. ; Aufinger, K ; Zimmer, T. ; Maneux, C.
Dans : European Microwave Week Workshop Recent advances in SiGe BiCMOS: technologies, modelling & circuits for 5G, radar & imaging, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02386290

2017


Practical implementation of reliability aware compact models in simulation software environnement
Ardouin, Bertrand ; Thomas, Zimmer ; Dupuy, Jean-Yves ; Godin, Jean ; Nodjiadjim, Virginie ; Riet, Muriel ; MARC, François ; Koné, Gilles Amadou ; Gosh, S. ; Grandchamps, B ; Maneux, Cristell
Dans : Bipolar ArbeitsKreis, Erfurt (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02511647
Book chapters → 2 Show

2021


3D Logic Cells Design and Results Based on Vertical NWFET Technology Including Tied Compact Model
Poittevin, Arnaud ; Mukherjee, Chhandak ; O’Connor, Ian ; Maneux, Cristell ; Larrieu, Guilhem ; Deng, Marina ; Le Beux, Sebastien ; Marc, François ; Lecestre, Aurélie ; Marchand, Cedric ; Kumar, Abhishek
https://hal.laas.fr/hal-03371673

2004


Reliability simulation of electronic circuits with VHDL- AMS
Marc, François ; Mongellaz, Benoit ; Danto, Yves
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181922
Directions of work or proceedings → 6 Show

2021


Proceedings of the 32nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Labat, Nathalie ; MARC, François ; Frémont, Hélène ; Nolhier, Nicolas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03408633

2019


Proceedings of the 30th European Symposium on the reliability of electron devices, failure physics and analysis
Nolhier, Nicolas ; Labat, Nathalie ; Frémont, Hélène ; Marc, François ; Caignet, Fabrice ; Bascoul, Guillaume
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02884107

2017


Microelectronics Reliability Volumes 76-77, Pages 1-724
Labat, N. ; Marc, F. ; Fremont, H. ; Bafleur, M.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02519752

2015


Microelectronics Reliability Volume 55, Issues 9–10
Perdu, Philippe ; MARC, François ; Bafleur, Marise ; Fremont, Hélène ; Nolhier, Nicolas
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01257945

2013


Proceedings of 24th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2013 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 53, Issues 9-11) (2013)
Labat, Nathalie ; Marc, François
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00995849

2011


Proceedings of 22nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2011 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 51, Issues 9-11)
Labat, Nathalie ; Marc, François
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00670461