Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système

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NANOELECTRONIQUE / LASER
0540002595
A31A

Total : 150

Articles in peer-reviewed journal → 45 Show

2013


La cobotique. La robotique soumise.
Claverie, Bernard ; Le Blanc, Benoît ; Fouillat, Pascal
Dans : Communication & Organisation (GREC/O)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01014650

2011


L'évolution disciplinaire des sciences de l'information : des technologies à l'ingénierie des usages
Claverie, Bernard ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue Internationale de Projectique -­ International Journal of Projectics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00669468

2009


Pervasion, transparence et cognition augmentée
Claverie, Bernard ; Lespinet-Najib, Véronique ; Fouillat, Pascal
Dans : Revue des Interactions Humaines Médiatisées (RIHM) = Journal of Human Mediated Interactions
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983269

A CMOS Resizing Methodology for Analog Circuits: linear and non-linear applications
Levi, Timothée ; Tomas, Jean ; Lewis, Noëlle ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Design & Test
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00359990

2008


Study of Single Event Transients in High-Speed Operational Amplifiers
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397747

Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401309

2007


Impact of VCO Topology on SET Induced Frequency Response
Chen, W. ; Varanasi, N. ; Pouget, V. ; Barnaby, H. ; Vermeire, B. ; Adell, P. ; Copani, T. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206290

IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : Design&Reuse Articles
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00522419

In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
Wan, Dong Yun ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Jaulent, Patrice ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Semiconductors
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204572

2006


Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13µm CMOS Technology
Chen, W. ; Pouget, Vincent ; Gentry, G.K. ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Bakkaloglu, B. ; Kiaei, K. ; Holbert, K.E. ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397725

Radiation Hardened by Design RF Circuits Implemented in 0.13 μm CMOS Technology
Chen, W. ; Pouget, V. ; Gentry, G.K. ; Barnaby, H. ; Vermeire, B. ; Bakkaloglu, B. ; Kiaei, S. ; E. Holbert, K. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206532

Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Journal of Integrated Circuits and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00359396

A 4 Gsample/s 2 bits flash ADC with 2–4 GHz input bandwidth for radio astronomy application
Deschans, D. ; Bégueret, J.-B. ; Deval, Y. ; Scarabello, C. ; Fouillat, P. ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : Analog Integrated Circuits and Signal Processing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206668

Time resolved imaging using synchronous picosecond Photoelectric Laser Stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; De Matos, Magali ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204571

Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204547

A Radiation-Hardened Injection Locked Oscillator Devoted to Radio-Frequency Applications
Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Hellmuth, Patrick ; Taris, Thierry ; Mazouffre, Olivier ; Fouillat, Pascal ; Deval, Yann
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183155

Laser mapping of SRAM Sensitive Cells : a way to obtain input parameters for DASIE calculation code
Miller, F. ; Buard, N. ; Hubert, G. ; Alestra, S. ; Baudrillard, G. ; Carrière, T. ; Gaillard, R. ; Palau, J.-M. ; Saigné, Frédéric ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206425

2005


Impact of semiconductors material on IR Laser Stimulation signal
Firiti, Abdellatif ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401285

Implementing laser-based failure analysis methodologies using test vehicles
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Phillipe ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397918

2004


Investigation of millisecond-long analog single-event transients in the LM6144 op amp
Boulghassoul, Y. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D. ; Pouget, V. ; Massengill, L.W. ; Fouillat, P. ; Holman, W.T. ; Poivey, C. ; Howard, J.W. ; Savage, M. ; Maher, M.C.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887662

Evaluation of SRAMS reliability for space electronics using ultra short laser pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : Electrochemical Society
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185395

INVESTIGATION OF SINGLE-EVENT TRANSIENTS IN FAST INTEGRATED CIRCUITS WITH A PULSED LASER
Fouillat, P. ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Buchner, S. ; Mcmorrow, D.
Dans : International Journal of High Speed Electronics and Systems
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887658

Time-Resolved Scanning of Integrated Circuits With a Pulsed Laser: Application to Transient Fault Injection in an ADC
Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887656

2003


Thermal laser stimulation and NB-OBIC techniques applied to ESD defect localization
Beauchêne, T. ; Lewis, D. ; Beaudoin, F. ; Pouget, V. ; Desplats, R. ; Fouillat, P. ; Perdu, P. ; Bafleur, Marise ; Trémouilles, David
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887647

A physical approach on SCOBIC investigation in VLSI
Beauchêne, T. ; Lewis, D. ; Beaudoin, F. ; Pouget, V. ; Perdu, P. ; Fouillat, P. ; Danto, Y.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887645

Investigation of single-event transients in voltage-controlled oscillators
Chen, W. ; Pouget, V. ; Barnaby, H.J. ; Cressler, J. D. ; Niu, G. ; Fouillat, P. ; Deval, Y. ; Lewis, D.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887654

Low-cost backside laser test method to pre-characterize the COTS IC's sensitivity to Single Event Effects
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Fouillat, Pascal ; Dufayel, R. ; Carriere, T.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185396

2002


Backside SEU laser testing for commercial off-the-shelf SRAMs
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Herve ; Buard, Nadine ; Mounsi, Faresse ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204728

Single-Event Sensitivity of a Single SRAM Cell
Darracq, Frédéric ; Beauchene, Thomas ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185398

Backside SEU Laser Testing for Commercial-Off-The-Shelf SRAM
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Buard, N. ; Mounsi, F. ; Foucher, Bruno ; Fouillat, Pascal ; Calvet, M. C. ; Dufayel, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185397

Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose-Rate-Hardened Linear Integrated Circuits
Deval, Yann ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J. ; Darracq, Frédéric ; Briand, Renaud ; Lewis, Dean ; Schrimpf, Rd
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184299

Study of the interaction between Heavy Ions and Integrated Circuits using a Pulsed Laser Beam
Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé
Dans : European Physical Journal: Applied Physics
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185399

A VLSI CMOS Delay Oriented Waveform Converter for Polyphase Frequency Synthesizer
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Journal of Solid-State Circuits
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183165

2001


hiperLAN 5.4 GHz Low-Power CMOS Synchronous Oscillator
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Belot, D. ; Badets, Franck
Dans : IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183168

Front side and Backside OBIT Mappings applied to Single Event Transient Testing
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beauchene, Thomas ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185401

Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Beaudoin, Félix ; Perdu, Philippe ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185400

Theoretical Investigation of an Equivalent Laser LET
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Buchner, S.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185402

2000


Application of laser testing in study of SEE mechanisms in 16-Mbit DRAMs
Duzellier, S. ; Falguere, D. ; Guibert, L. ; Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Ecoffet, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887628

Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Darracq, Frédéric ; Touboul, Andre
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185403

SPICE Modeling of the Transient Response of Irradiated MOSFETs
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184300

1999


Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis
Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L. ; Calvet, M. C.
Dans : Microelectronics Reliability
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185404

1997


Modélisation des effets des radiations sur les transistors bipolaires
Montagner, Xavier ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Lapuyade, Hervé ; Schrimpf, Rd ; Galloway, Kf
Dans : REVUE DE l'ELECTRICITE ET DE L'ELECTRONIQUE
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185405

1996


Numerical Modelling of Mechanisms involved in Latchup Triggering by a Laser Beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul ; Gaillard, R.
Dans : IEEE Transactions on Nuclear Science
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185407

Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Microelectronic Engineering
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185406

1994


Implementation of Laser Beam Sensitive Cells : a new approach for integrated circuits testing
Fouillat, Pascal ; Gervais-Ducouret, Stéphane ; Lapuyade, Hervé ; Dom, Jean-Paul
Dans : Quality and Reliability Engineering International
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185408
Articles in journals without review committee → 2 Show

2009


L'innovation comme moteur d'évolution des technologies de l'information ; vers un rapprochement des techniques et des usages
Claverie, Bernard ; Fouillat, Pascal
Dans : I-Revues - Edition Electronique de l'INIST - Information, innovation et interdisciplinarité
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983471

2007


IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, Noëlle ; Tomas, Jean ; Fouillat, Pascal
Dans : Einfochips Dashboard
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00522423
Conference with proceedings (national) → 41 Show

2007


IP-Based Library for Analog Design Reuse
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : GDR SoC-SIP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181424

IP-based design reuse for analogue systems: a case study
Levi, Timothée ; Tomas, J. ; Lewis, N. ; Fouillat, P.
Dans : Proceedings SPIE VLSI Circuits and Systems III, Maspalomas, Gran Canaria (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181417

2005


Intra-IC Inspection and Metrology with Picosecond Laser Ultrasonics
Andriamonje, Grégory ; Pouget, Vincent ; Ousten, Yves ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Danto, Yves
Dans : 22nd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC) 2005, (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00182901

Formations à distance en EEA : Le projet de Master première année M1 e-EEA
Chambrelan, C. ; Gervais, N. ; Grisel, R. ; Horn, R. ; Danto, Yves ; Fouillat, Pascal ; Pellet, Claude ; Bonnaud, O. ; Thouroude, D. ; Despaux, G. ; Glaize, C. ; Nolhier, Nicolas ; Ablart, G. ; Graffeuil, Jacques ; Caignet, Fabrice ; Cazarré, Alain ; Barbier, D. ; Abouchi, N. ; Jourlin, M. ; Garda, Patrick
Dans : 5ème Colloque sur l'Enseignement des Technologies et des Sciences de l'Information et des Systèmes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183071

A Radiation-Hardened Injection Locked Oscillator Devoted to Radio-Frequency Applications
Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Begueret, Jean-Baptiste ; Hellmuth, Patrick ; Fouillat, Pascal ; Deval, Yann
Dans : 8th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS05), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183189

2004


Evaluation of SRAMs Reliability for Space Electronics Using Ultra Short Laser Pulses
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Danto, Yves
Dans : 19th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro 2004), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185409

Test chip for qualification of packaging assemblies
Deletage, Jean-Yves ; Fremont, Hélène ; Puig, Olivier ; Pellet, Claude ; Fouillat, Pascal ; Danto, Yves
Dans : SBMicro 2004, (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183081

Réalisation d un convertisseur 3 bits à 4 Géchantillons/s pour radiotélescopes en bande millimétrique et submillimétrique
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183229

2003


A Non-Linear Model to Express Laser-induced SRAM Cross-sections versus an Effective Laser LET
Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal
Dans : 7th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185410

2002


Caractérisation à distance de circuits radiofréquences
Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Devreese, Regis ; Faurens, Christian
Dans : Septièmes Journées Pédagogiques du CNFM, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00179943

A SiGe 4-Gsps 2-Bits Digitizer with 2-4 GHz Input Bandwidth
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : 9th IEEE Proc. Of International Conf. On Electronics, Circuits and Systems (ICECS'2002), (Croatia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183238

A 4 Gsamples/S with 2-4 GHz Input Bandwidth SIGE Digitizer for Radio Astronomy Applications
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : EEE 15th Symposium on Integrated Circuits and System Design (SBCCI 2002), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183236

A SiGe 4-Gsps 2-Bits Digitizer with 2-4 GHz Input Bandwidth
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : 9th IEEE Proc. Of International Conf. On Electronics, Circuits and Systems (ICECS'2002), (Croatia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183222

A 4 Gsamples/S with 2-4 GHz Input Bandwidth SIGE Digitizer for Radio Astronomy Applications
Deschans, David ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Scarabello, Christophe ; Fouillat, Pascal ; Montignac, G. ; Baudry, Alain
Dans : EEE 15th Symposium on Integrated Circuits and System Design (SBCCI 2002), (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183220

2001


Transit Time Parameter Extraction for the HICUM Bipolar Compact Model
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Berger, Dominique ; Celi, D. ; Mnif, Hassene ; Burdeau, T. ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203974

Direct Method for Bipolar Base-Emitter and Base-Collector Capacitance Splitting using High Frequency Measurements
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hassene ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Bipolar/BiCMOS circuits and technology meeting, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203972

Bipolar Transistor's Intrinsic and Extrinsic Capacitance Determination
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Mnif, Hassene ; Fouillat, Pascal ; Berger, Dominique ; Celi, D.
Dans : SISPAD 2001, International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203971

Clock Generator Using Factorial DLL for Video Applications
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Mazouffre, Olivier ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Benoit, E. ; Mendoza, J.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183241

Clock Generator Using Factorial DLL for Video Applications
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Mazouffre, Olivier ; Spataro, Anne ; Fouillat, Pascal ; Benoit, E. ; Mendoza, J.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183225

Single-event Sensitivity of a single SRAM cell
Darracq, Frédéric ; Beauchene, Thomas ; Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre
Dans : RADECS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185411

Evaluation of a Design Methodology Dedicated to Dose Rate Hardened Linear Integrated Circuits
Deval, Yann ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J. ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Schrimpf, Rd
Dans : European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184303

Test de circuits intégrés par faisceau laser pulsé
Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal
Dans : Colloque Interdisciplinaire en Instrumentation (C2I), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185412

A New Laser System for X-Rays Flashes Sensitivity Evaluation
Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Deval, Yann ; Maidon, Yvan ; Darracq, Frédéric ; Briand, Renaud ; Fouillat, Pascal
Dans : Proc. of the 7th IEEE International On-Line Testing Workshop, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184302

A CMOS VLSI Delay Oriented Waveform Converter Dedicated to the Synthesizer of an UMTS Transceiver
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183239

A CMOS VLSI Delay Oriented Waveform Converter Dedicated to the Synthesizer of an UMTS Transceiver
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : IEEE Proceedings of the Custom IC Conf. (CICC'2001), (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183223

A VLSI CMOS 2 GHz active load body effect mixer
Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Proceedings of the Design of Circuits and Integrated Systems Conf. (DCIS'2001), (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183240

A VLSI CMOS 2 GHz active load body effect mixer
Taris, Thierry ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Proceedings of the Design of Circuits and Integrated Systems Conf. (DCIS'2001), (Portugal)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183224

Transistor model parameter determination with non-conventional optimisation algorithms
Zimmer, Thomas ; Ardouin, Bertrand ; Franze, Francesco ; Berger, Dominique ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Electron Devices Conference, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203973

2000


An Overview of the Applications of a Pulsed Laser System for SEU Testing
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Sarger, L. ; Roche, Fernand-Michel ; Ecoffet, R.
Dans : 6th IEEE International On Line Testing Workshop, (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185413

1999


A New SPICE Model Dedicated to the Analysis of the Transient Response of Irradiated MOSFETS for On Line Testing
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : 5th IEEE International On Line Testing Workshop, (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185414

SPICE Modeling of the Transient Response of Irradiated MOSFETs
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : 5th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184305

Hierarchical Analogue Design and Behavioral Modelling
Zimmer, Thomas ; Lewis, Noëlle ; Fakhfakh, Ahmed ; Ardouin, Bertrand ; Levi, Herve ; Fouillat, Pascal
Dans : Microelectronic Systems Education Conference, MSE99, (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00203979

1998


Evolution of base current in C-In doped GaInP/GaAs HBT under current induced stress
Maneux, Cristell ; Labat, Nathalie ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Danto, Yves
Dans : European Solid State Device Research Conference (Ed. Frontières), ESSDERC, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183480

New Capabilities for SEE Testing with a Femtosecond Pulsed Laser System
Pouget, Vincent ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Sarger, L.
Dans : Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, (United Kingdom)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185416

Elaboration of a New Pulsed Laser System for SEE Testing
Pouget, Vincent ; Calin, T. ; Lapuyade, Hervé ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Velazco, R. ; Maidon, Yvan ; Sarger, L.
Dans : 4th IEEE International On Line Testing Workshop, (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185415

1997


Simulation d upsets dans une mémoire SRAM CMOS utilisant des capteurs de courant intégrés
Calin, T. ; Lapuyade, Hervé ; Nicolaidis, Michael ; Velazco, R. ; Fouillat, Pascal
Dans : Journées Nationales d Etudes de l association RADECS, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185417

1996


Analysis of Latchup susceptibility to internal logical states by using a Laser beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 5th European Conference on Electron and Optical Beam Testing of Electronic Devices, (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185418

Built-In Laser Sensitive Cells For a New Testing Technique
Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 2nd IEEE International On-Line Testing Workshop, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185419

1995


Numerical Modelling of Mechanisms involved in Latchup Triggering by a Laser Beam
Fouillat, Pascal ; Lapuyade, Hervé ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul ; Gaillard, R.
Dans : Proc. of the Third European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185422

A microcontroller failure analysis using a LASER beam latchup triggering technique
Fouillat, Pascal ; Le Calve, Jean-Edmond ; Lapuyade, Hervé ; Maidon, Yvan ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 6th European Symposium on Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185420

Design For Testability of Built-In Laser Sensitive Cells
Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Maidon, Yvan ; Tomas, Jean ; Dom, Jean-Paul
Dans : Proc. of the 6th European Symposium Reliability of Electronic devices, Failure Physics and analysis, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185421
Conference with proceedings (international) → 24 Show

2009


Investigation of single event burnout sensitive depth in power MOSFETS
Darracq, Frédéric ; Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Lorfèvre, E. ; Ecoffet, R. ; Bezerra, F.
Dans : 2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS),, Bruges (Belgium)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00667364

2008


IP-based methodology for analog design flow: Application on neuromorphic engineering
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : IEEE NEWSCAS-TAISA 2008, Montréal (Canada)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00514205

Effect of Physical defect on schmoos in CMOS DSM technologies
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Maastricht (Netherlands)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401696

Scan-based ATPG diagnostic and optical techniques combination: A new approach to improve accuracy of defect isolation in functional logic failure
Machouat, A. ; Haller, G. ; Goubier, V. ; Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Essely, Fabien ; Perdu, Philippe
Dans : 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398000

Dynamic Testing of an SRAM-Based FPGA by Time-Resolved Laser Fault Injection
Pouget, V. ; Douin, A. ; Foucard, G. ; Peronnard, P. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Velazco, R.
Dans : 14th IEEE International Symposium On-Line Testing (IOLT'08), Rhodes (Greece)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00347751

2007


Picosecond Timing Analysis in Integrated Circuits with Pulsed Laser Stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : 45th annual ieee International Reliability Physics Symposium (IRPS), Phoenix (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204584

Jitter Improvement of Time-Resolved Photoelectric Laser Stimulation for Dynamic Imaging of Integrated Circuits
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Philippe
Dans : Instrumentation and Measurement Technology Conference 2007, Varsovie (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00204580

Study of Single Event Transients in High-Speed Operational Amplifiers
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : 9th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS), Deauville (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397836

Scaling Guidelines for CMOS Linear Analog Design
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : International Conference on Ph.D. Research in Microelectronics & Electronics, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00414788

Resizing methodology for CMOS analog circuit
Levi, Timothée ; Tomas, J. ; Lewis, N. ; Fouillat, P.
Dans : Proceedings SPIE VLSI Circuits and Systems III, Maspalomas, Gran Canaria (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181420

Tools and methodology development for pulsed laser fault injection in SRAM-based FPGAs
Pouget, V. ; Douin, A. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Foucard, G. ; Peronnard, P. ; Maingot, V. ; Ferron, J. ; Anghel, L. ; Leveugle, R. ; Velazco, R.
Dans : 8th Latin-American Test Workshop (LATW'07), Cuzco (Peru)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00156318

2006


Time resolved imaging using synchronous picosecond photoelectric laser stimulation
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; De Matos, Magali ; Lewis, Dean ; Perdu, Philippe ; Fouillat, Pascal
Dans : European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Wuppertal (Germany)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401692

IP-based design for analogue ASICs: A case study
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : IP-based SoC Design Conference 2006, IP-SoC 2006, Grenoble (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181401

Scaling Rules for MOS Analog Design Reuse
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2006, Gdynia (Poland)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00181379

In-depth resolution for LBIC technique by two-photon absorption
Wan, Dong Yun ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Jaulent, Patrice ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : Beam Injection Assessment of Microstructurs in Semiconductors (BIAMS), Saint Petersbourg (Russia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401693

2005


Influence of Laser Pulse Duration in Single Event Upset Testing
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Darracq, Frédéric ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Phillipe
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS) 2005, Cap d'Agde (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397942

Electrical Modeling for Laser Testing with Different Pulse Durations
Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal ; Perdu, Phillipe
Dans : 11th IEEE International On Line Testing Symposium, Saint Raphael (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397739

Impact of semiconductors material on IR stimulation signal
Firiti, Abdellatif ; Beaudoin, Félix ; Haller, G. ; Perdu, Philippe ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : European Symposium of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Arcachon (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401389

A radiation-hardened injection locked oscillator devoted to radio-frequency applications
Lapuyade, H. ; Pouget, V. ; Bequeret, J.-B. ; Hellmuth, P. ; Taris, T. ; Mazouffre, O. ; Fouillat, P. ; Deval, Y.
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS 2005), Cap d'Agde (France)
http://hal.in2p3.fr/in2p3-00101436

Identification of Some Key Parameters for Photoelectric Laser Simulation of IC: An Experimental Approach
Perdu, Phillipe ; Desplats, Romain ; Sanchez, Kevin ; Beaudoin, Félix ; Lewis, Dean ; Pouget, Vincent ; Douin, Alexandre ; Fouillat, Pascal
Dans : 12th International Symposium on the Physical and Failure Analysis Circuits (IPFA), Singapour (Singapore)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397736

2001


Improving an SEU Hard Design using a Pulsed Laser
DUTERTRE, Jean-Max ; Roche, Fernand-Michel ; Fouillat, Patrice ; Lewis, Dean
Dans : Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2001. 6th European Conference on, Grenoble (France)
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130950

2000


Use of Genetic Algorithm for Efficient Integrated Circuits Compact Modelling and Parameter Extraction
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Batiste Duluc, Jean ; Marc, Francois ; Fouillat, Pascal
Dans : ACIDCA'2000, Monastir (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00189377

Model parameter extraction with non-conventional optimisation algorithms
Ardouin, Bertrand ; Zimmer, Thomas ; Franzè, F. ; Fouillat, Pascal
Dans : JSFT, (Tunisia)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00187311

1998


Elaboration of a new pulsed laser system for SEE testing
Pouget, V. ; Calin, T. ; Lapuyade, H. ; Lewis, D. ; Fouillat, P. ; Velazco, R. ; Maidon, Y. ; Sarger, L.
Dans : IEEE International On-Line Testing Workshop (IOLTW'98), Capri (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01384704
Conference without proceedings → 26 Show

2008


SET sensitive volume imaging and measurement with two-photon absorption laser testing
Jaulent, Patrice ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Bezerra, F. ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean
Dans : Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), Tucson (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401702

2007


Impact of VCO Topology on SET Induced Frequency Response
Chen, W. ; Varanasi, N. ; Pouget, Vincent ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Adell, P.C. ; Copani, T. ; Fouillat, Pascal
Dans : Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) 2007, Honolulu (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398031

IP-Based Library for Analog Design Reuse
Levi, Timothée ; Lewis, N. ; Tomas, J. ; Fouillat, P.
Dans : GDR SoC-SIP, Paris (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00514216

Single Event Transient Mapping of a Voltage-Controlled Oscillator
Pouget, Vincent ; Chen, W. ; Lewis, Dean ; Barnaby, H. J. ; Fouillat, Pascal
Dans : 16th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398024

Linear Systems Analysis of Single Event Transients in Voltage Controlled Oscillators
Varanasi, N. ; Chen, W. ; Vermeire, B. ; Adell, P.C. ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Barnaby, H. J.
Dans : 16th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398028

2006


Recent developments for SEE testing at the ATLAS laser facility
Pouget, Vincent ; Wan, Dong Yun ; Jaulent, Patrice ; Douin, Alexandre ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : 15th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398021

Single Event Transients (SETs) in RF Circuits
Varanasi, N. ; Chen, W. ; Barnaby, H. J. ; Vermeire, B. ; Cressler, J. ; Lapuyade, Herve ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal
Dans : 15th Single-Event Effects Symposium, Long Beach (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398023

2005


Laser Mapping of SRAM sensitive cells. A way to obtain input parameter for DASIE calculation code
Miller, F. ; Buard, N. ; Hubert, G. ; Alestra, S. ; Baudrillard, G. ; Carriere, T. ; Gaillard, R. ; Palau, J.-M. ; Saigné, Frédéric ; Fouillat, P.
Dans : 8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, Cap d'Agde (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01807197

Banc de génération et détection de faisceau THz par photo commutateur ultrarapide sur GaAs BT
Mounaix, Patrick ; Tondusson, M. ; Sarger, Laurent ; Douin, Alexandre ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Fouillat, Pascal
Dans : 3ème journées Thz, Aussois (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398013

2004


A 1.8 V 4.3 GHz SiGe Tunable Synchronous Oscillator
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Taris, Thierry ; Hellmuth, Patrick ; Mazouffre, Olivier ; Fouillat, Pascal
Dans : IEEE Asian Pacific Microwave Conference (APMC'2002), (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183014

Sorting Out of Analogue IC Architectures using the DOE Method : a New Tool for Quality Design
Deval, Yann ; Tomas, Jean ; Fouillat, Pascal ; Dom, Jean-Paul
Dans : proceeding ESREF 93, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184310

Implementing laser based failure analysis methodologies using test vehicles
Lewis, D. ; Pouget, V. ; Beaudoin, F. ; Beauchene, T. ; Haller, G. ; Desplat, R. ; Perdu, P. ; Fouillat, P.
Dans : 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures, Awaji Yumebutai (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887706

Radiation Hardness Assessment of an ADC for Space Application using a Laser Test Equipment
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Darracq, Frédéric
Dans : Proc. of XIX Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS) 2004, ISBN 2-9522971-0-X, Bordeaux (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887701

2003


Time-resolved scanning of integrated circuits with a pulsed laser: application to transient fault injection in an ADC
Pouget, V. ; Lewis, D. ; Fouillat, P.
Dans : 2003 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 2003), Vail (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01887685

Performance impact of various SEE mechanisms in classical analog-to-digital converter architectures
Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Velazco, R. ; Lewis, D. ; Dallet, D.
Dans : IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC'03), Monterey, CA (United States)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01376266

2002


The Synchronous Oscillator in Frequency Generation : an Overview
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Kerherve, Eric
Dans : 14th IEEE International Conference on Microelectronics (ICM'2002), (Lebanon)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183023

The Synchronous Oscillator in Frequency Generation : an Overview
Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Lapuyade, Hervé ; Fouillat, Pascal ; Kerherve, Eric
Dans : 14th IEEE International Conference on Microelectronics (ICM'2002), (Lebanon)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183003

Laser Utilization for Various Testing Purposes
Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean ; Lapuyade, Hervé ; Pouget, Vincent
Dans : 3rd IEEE Latin American Test Worksop LATW 02, (Uruguay)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185423

A Novel 1-Gbps Clock and Data Recovery Architecture using Synchronous Oscillator in CMOS VLSI technology
Scarabello, Christophe ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Deschans, David ; Fouillat, Pascal ; Pignol, Michel ; Le Gall, Jean-Yves
Dans : IEEE Proceedings of the 28th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC'2002), (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183022

A Novel 1-Gbps Clock and Data Recovery Architecture using Synchronous Oscillator in CMOS VLSI technology
Scarabello, Christophe ; Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Deschans, David ; Fouillat, Pascal ; Pignol, Michel ; Le Gall, Jean-Yves
Dans : IEEE Proceedings of the 28th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC'2002), (Italy)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183001

2001


Videoteaching for RF measurements of ICs in L - S - C bands
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Kerherve, Eric ; Fouillat, Pascal ; Devreese, Regis ; Faurens, Christian
Dans : 12th Conference of the European Association for Education in Electrical and Information Engineering (EAEEIE'2001), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180917

Télé-enseignement de la caractérisation de circuits radiofréquences
Begueret, Jean-Baptiste ; Kerherve, Eric ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Devreese, Regis ; Faurens, Christian
Dans : CETSIS-EEA'01, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00180916

Convertisseur de signaux orienté délai en technologie CMOS dédié à la réalisation d'un synthétiseur 2 GHz
Spataro, Anne ; Deval, Yann ; Begueret, Jean-Baptiste ; Fouillat, Pascal ; Belot, D.
Dans : Journées Nationales Micro-ondes (JNM'2001), (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00183024

1997


Influence des effets de dose cumulée sur les règles de conception des circuits intégrés bipolaires
Montagner, Xavier ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Touboul, Andre ; Dom, Jean-Paul
Dans : Colloque CAO des circuits intégrés et systèmes, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184311

1996


Simulations électriques des effets de débit de dose et de dose cumulée dans les circuits intégrés bipolaires : méthodologie de conception durcie aux radiations
Deval, Yann ; Briand, Renaud ; Montagner, Xavier ; Fouillat, Pascal ; Tomas, Jean ; Dom, Jean-Paul
Dans : Journées d'étude RADECS96, (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00184312

A new approach to determine active doping profiles of bipolar transistors using electrical measurements and a physical device simulator
Hachicha, I. ; Fouillat, P. ; Zimmer, T. ; Dom, J.P.
Dans : International Conference on Microelectronic Test Structures, Trento (France)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01721688
Invited lectures → 4 Show

2006


A Review and some Future Prospects on Laser-Based Techniques for Single-Event Effects Testing and Analysis
Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Lewis, Dean ; Darracq, Frédéric
Dans : International Workshop on Radiation Effects on Semiconductor Devices for Space Applications (RASEDA), Tokyo (Japan)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00398038

Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event effects testing
Mcmorrow, D. ; Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Darracq, Frédéric ; Buchner, S. ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Séville (Spain)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401321

2005


Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for single-event upset testing
Fouillat, Pascal ; Pouget, Vincent ; Mcmorrow, D. ; Darracq, Frédéric ; Buchner, S. ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Manaus (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401314

Laser SEE Testing and Analysis Case Studies
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean
Dans : School on the Effects of Radiation on Embedded Systems for Space Application (SERESSA), Manaus (Brazil)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00401316
Book chapters → 4 Show

2009


Pour un rapprochement des technologies et des usages : le futur du pôle TIC de Bordeaux
Fouillat, Pascal ; Claverie, Bernard
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00983405

2007


Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing
Fouillat, P. ; Pouget, V. ; Mcmorrow, D. ; Darracq, F. ; Buchner, S. ; Lewis, D.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206315

Using the SEEM software for SET testing and analysis
Pouget, Vincent ; Fouillat, Pascal ; Lewis, Dean
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00397867

Using the SEEM Software for Laser SET Testing and Analysis
Pouget, V. ; Fouillat, P. ; Lewis, D.
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00206320
Directions of work or proceedings → 1 Show

2007


Radiation Effects on Embedded Systems
Velazco, Raoul ; Fouillat, Pascal ; Da Luz Reis, Ricardo
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00185087
Preprint, Working Paper, Document sans référence, etc. → 1 Show

2002


Education of reliability in Microelectronics
Danto, Y. ; Verdier, F. ; Fouillat, P. ; Bonnaud, Olivier
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00963643
Patents → 2 Show

2002


Récupération d'Horloge et de Données à Base d'Oscillateur Synchrone
Begueret, Jean-Baptiste ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Le Gall, Jean-Yves ; Pignol, Michel ; Scarabello, Christophe
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178602

2000


Circuits et Procédés de Génération de Signaux en Décalage de Phase
Begueret, Jean-Baptiste ; Belot, Didier ; Deval, Yann ; Fouillat, Pascal ; Spataro, Anne
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00178593