Méthode d'Analyse de Défaillance Innovantes par Stimulation Optique dyNamique a

	Accès direct Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système
LABORATOIRE RECHERCHE ENSEIGNEMENT PROJETS IMS EMPLOIS L'ACTUALITE
Projets IMS Archives
Accueil IMS -> Projets IMS

Tri par

MADISON

Méthode d'Analyse de Défaillance Innovantes par Stimulation Optique dyNamique

Type de projet : DGE pôle de compétitivité SCS
Dates de début et de fin du projet : 01/10/2008 au 30/09/2011
Responsable scientifique IMS : LEWIS Dean

Description et cadre du projet

La finalité du projet MADISON est d'augmenter la fiabilité des circuits intégrés, la robustesse des designs et les rendements de fabrication. L'utilisation de techniques performantes de localisation et de révélation des défauts est en effet un atout majeur pour notre industrie.

Cette investigation intervient pendant toute la durée de vie des circuits intégrés, depuis le débogage des premiers prototypes jusqu'à la production en volume.

L'objectif du projet est de développer des méthodes d'analyse de défaillance des circuits intégrés en appliquant en particulier la stimulation optique dynamique à la réalité des CI complexes, ce qui est une innovation pré-industrielle. Cette méthode, non destructrice, permettra de réduire le temps nécessaire à la mise au point de nouveaux produits et donc de leur introduction sur le marché.

Permanents IMS impliqués

Dean LEWIS
Vincent POUGET

Compétences apportées par le Laboratoire IMS

Test des circuits intégrés par techniques optiques, couplage avec des techniques de test électrique
Développement de techniques à laser impulsionnel en environnement industriel
Développement de techniques optiques émergentes basées sur les propriétés optiques non linéaires des matériaux pour la microélectronique

Partenaires

ATMEL Rousset
ST Microelectronics Rousset
IN2MP Château Gombert
LP3 Luminy